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TEM y SEM
Anastasiya Kovtun
Alejandro Castedo
Pablo de Viña
Introducción
• Rayos X ??
Microscopios electrónicos
• TEM (transmisión)
• SEM (barrido)
Funcionamiento
• El SEM explora la superficie de la
imagen punto por punto, al
contrario que el TEM, que examina
una gran parte de la muestra cada
vez.
• El SEM tiene menor resolución
pero produce imágenes
tridimensionales realistas de la
superficie del objeto
Tipos de dispersión
• Dispersión elástica: se modifican las trayectorias del
haz de electrones dentro del espécimen sin alterar la energía
cinética de los electrones (electrones retrodispersos)
Ec Lippman Swinger
Formalismo de matriz S
Electrones SE y BSE
• Electrones secundarios (SE):
-Estos electrones tienen baja energía por las colisiones
inelásticas. Son producidos principalmente como resultado
de interacciones entre un haz de electrones energético y un
enlace débil de electrones de conducción en metales, o
electrones de valencia de las capas externas en
semiconductores y aislantes.
• SEM
:
-‐Imagen
topográfica(3D).[SE,bse]
-‐Contraste
por
#
atómico.[BSE]
• TEM:
-‐Transmisión
directa(no
dispersados).
-‐Contraste
de
fase(interacción
inelasHca).
-‐EELS(perdida
energía).
-‐Difracción.
Preparación de muestras
• TEM: Para utilizar un microscopio
electrónico de transmisión debe cortarse la
muestra en capas finas, no mayores de un par de
miles de angstroms. Muchas muestras se
transforman ya que pueden perder el agua de
hidratación o las moléculas orgánicas se pueden
volatilizar o reaccionar