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Universidad de Ibagué, Ingeniería Industrial.
Resumen
El presente artículo de investigación pretende mostrar los resultados de un proyecto de investigación de convocatoria interna de la
Universidad de Ibagué, con el titulo de “TÉCNICAS DE MEDICIÓN Y MEJORAMIENTO DE CAPACIDAD DE PROCESO
ORIENTADAS A SEIS SIGMA EN LAS PYMES” (DATOS CUALITATIVOS). El objetivo de este proyecto es contar con una guía
completa que contenga los procedimientos y las herramientas requeridas para apoyar a los empresarios de las Pyme, en la mejora de la
calidad a partir de la disminución de la variación de sus procesos productivos.
La clasificación de la investigación es teórica, ya que se recogió bibliografía de libros, artículos de investigación, tesis y demás
documentos, para dar como resultado un documento donde se muestran las técnicas para medir la capacidad de proceso para
características de calidad de tipo atributo, ya que tradicionalmente la capacidad de procesos se ha medido para características
cuantitativas por medio de estadísticos como el Cp y Cpk.
Palabras clave: Control Estadístico del Proceso, Métricas Seis Sigma, Fracción Defectuosa, Rendimiento del Proceso, Nivel Sigma.
Abstract
This article aims to show the research results of a research project internal call Ibagué University, with the title "MEASUREMENT
TECHNIQUES AND CAPACITY IMPROVEMENT PROCESS ORIENTED SIX SIGMA IN SMES" (qualitative data). The objective
of this project is to have a comprehensive guide that contains the procedures and tools required to support entrepreneurs of SMEs,
improving quality from decreasing variation of their production processes.
The classification of research is theoretical as it collected bibliography of books, research papers, theses and other documents, to result
in a document that shows the techniques to measure the ability of process quality characteristics attribute type, as process capability
traditionally has been measured for quantitative traits using statistics such as Cp and Cpk.
Keywords: Statistical Process Control, Six Sigma metrics, fraction defective, Throughput Yield, Sigma Level.
[ ] [ ] (11)
Donde: no
Una manera de calcular el nivel sigma para datos La relación que tiene el nivel sigma con las partes
cualitativos o discretos se muestra en el siguiente por millón por medio de la ecuación de Schmidt y
diagrama de flujo. Lausbyn, se evidencia en la siguiente tabla:
Tabla 3: Defecto por millón de oportunidades Ecuación 15 (Abromovitz & Stegun, 1972)
relacionadas con el nivel de sigma
Donde;
DPMO Calidad en Sigma
542000 1 C0=2,515517
308700 2 C1=0,802853
66807 3 C2=0,010328
6210 4 d1=1,43278
233 5
3,4 6
d2=0,189269
d3=0,001308
Hay que tener en cuenta que para un valor mayor a
553.365 DPMO la raíz de la (13) es negativa por lo Capacidad de Proceso por medio del DPU
tanto es indeterminado, es por eso que se recomienda Los defectos por unidad (DPU) tienen una relación
buscar en la tabla de la norma o por medio del con el valor del parámetro λ de la distribución de
software de Excel. Poisson. Debido a que tienen la misma unidad de
También se puede obtener la relación contraria que medida (Defecto/Unidad), o como lo define Issa
es de la ecuación despejar a DPMO, y teniendo el Bass, “En este caso, la probabilidad de encontrar
valor sigma (Zc), se obtiene a DPMO. defectos en una unidad sigue una distribución de
Poisson debido a que los defectos pueden ocurrir al
azar a lo largo de un intervalo que se puede
* + subdividir en sub-intervalos independientes”. (Bass,
2007) Se tiene la función de probabilidad de
Poisson:
Nivel Sigma de Calidad por medio del
Rendimiento (Abramowitz y Stegm)
Esta técnica esta planteada en el libro de Kumar, En el caso que se conozca el valor de DPU, es decir
Crocker y Chitra en la página 60-61 para hallar el que DPU= λ, la ecuación anterior se puede
nivel sigma a partir del rendimiento del proceso. sobrescribir de la siguiente manera:
(Kumar, Crocker, & Chitra, 2006) Esta técnica se
base es en una aproximación polinómica para
calcular el valor Z de la distribución normal
estándar. (Abromovitz & Stegun, 1972) Debido a (Bass, 2007)
que los autores del libro donde se extrajo la teoría Siguiendo con la metodología de Bass para buscar
afirmar que el “El nivel Sigma es nada más que el esta relación, se dice que “El objetivo de un
valor Z de la distribución normal estándar, bajo el fabricante es producir productos libres de defectos.
supuesto de que la media del proceso cambia La probabilidad de producir sin defectos (cero
alrededor 1,50 desviaciones estándar. defectos) será”, a partir de esta afirmación se obtiene
La principal variable de la técnica es el rendimiento, la siguiente ecuación:
esta es la fracción conforme del proceso es decir el
producto libre de defectos, por ser una fracción se
representa de manera porcentual. En el desarrollo de
la técnica se tomara como Y. Teniendo ha Y se Donde DPU0=1 y 0!=1, se tiene:
calcula a P utilizando la siguiente relación
matemática:
La anterior es la probabilidad de que una unidad pase
libre de defectos, que una unidad pase libre defectos
√ ( ) se conoce como rendimiento de proceso o Yield, este
( ) se representa por la letra Y, debido a esta relación se
obtiene
Ecuación 14 (Abromovitz & Stegun, 1972)
Tipo de
IC inferior: Este valor corresponde al límite de
transformación
especificación inferior de la carta de control
Transformación
Box-Cox
Transformación
Johnson
disconforme, en términos de partes por millón.
Análisis de la
capacidad
Análisis de la
capacidad
Análisis de la
capacidad no
Análisis de la
capacidad no Análisis Binomial Análisis Poisson
Ic Superior: Este valor corresponde al límite de
normal normal normal normal
especificación superior de la carta de control
Fuente: (Minitab Statistical Software, 2009) disconforme, en términos de partes por millón.
En este caso se explica sobre lo concerniente a los Z del proceso: Es el valor z del proceso, también
datos de atributos, que en ese caso seria análisis de la definido como la métrica de Seis Sigma, conocida
capacidad por binomial y análisis de la capacidad por como “nivel sigma”, este es el valor de la normal
Poisson. estándar con μ= 1,5 y σ=1.
4.1.3.1.1 Análisis Binomial IC inferior: Este valor corresponde al límite de
Gráfica 5: Análisis de la capacidad binomial especificación inferior de la carta de control
disconforme, en términos de la normal estándar.
IC superior Este valor corresponde al límite de
especificación superior de la carta de control
disconforme, en términos de la normal estándar.
4.1.3.1.2 Análisis de Poisson
Gráfica 6: Análisis de la capacidad Poisson
Fuente: Minitab
Gygi, C., DeCarlo, N., & Williams, B. (2005). Six Sigma for
Dummies. United States: Wiley Publishing, Inc.
John, A., Meran, R., Roenpage, O., & Staudter, C. (2008). Six
Sigma + Lean Toolset. Berlin - Alemania: Springer.