UNIVERSIDAD NACIONAL AUTÓNOMA DE MÉXICO

FACULTAD DE INGENIERÍA

Modelado 1D De Datos
Magnetotelúricos

Profesor: Ing. José Luis Salas Corrales

PRESENTA

Leonel Gerardo Velázquez García

Ciudad Universitaria, Cd. Mx., 2018

INTRODUCCIÓN:

En la práctica trabajamos con datos provenientes de un levantamiento magnetotelúrico. Se trata

de un método el cual trabaja con una fuente natural, misma que operará en el dominio de la
frecuencia. Para frecuencias entre 10,000 y 10 Hz se dice se trabaja con el método AMT (audio
magnetoteliúrico). Este método se origina en 1950 con algunos trabajos que publicaron Tikhonov
en 1950 y Cagniard en 1953, ambos realizaron algunas mediciones donde observaron la variación
que presentaba el campo eléctrico y magnético de forma simultánea. Las variaciones entonces se
ven asociadas a fenómenos de interacción entre el viento solar y nuestra magnetosfera terrestre,
de igual forma las variaciones se asocian a tempestades meteorológicas que se presentan en la
atmósfera (Pous y Marcuello, 2003).

El método magnetotelúrico es entonces una técnica pasiva de exploración, la cual mide variaciones
naturales del campo electromagnético que fluyen el subsuelo a diferentes profundidades, mismas
que nos de forma simultanea variaciones en el campo magnético H y el campo eléctrico E. Debido
a que usa una fuente natural es considerado de gran versatilidad y práctico en el campo. La técnica
se puede ver como la combinación de dos técnicas previas, el sondeo geomagnético profundo
(GDS) mismo que usa las observaciones provenientes de los observatorios geomagnéticos, para
conocer la distribución de la conductividad eléctrica a profundidad y el método telúrico con el cual
podemos medir cambios de conductividad eléctrica a partir de dipolos eléctricos posicionados de
forma horizontal, permitiendo conocer la distribución de la resistividad eléctrica. Se pueden
alcanzar profundidades de exploración desde decenas de metros hasta kilómetros.

DESARROLLO

Para el procesado de los datos se tiene que realizar en primera instancia una edición de los datos
crudos, de tal forma que se eliminen los puntos que salgan de la tendencia observada dentro de
las curvas frecuencia contra resistividades aparentes. Para esta práctica los datos ya estaban
editados de tal forma que no se eliminó ningún dato.

Se prosiguió a transformar los datos de resistividad aparente y fase usando la ecuación de Bostick
y tomando en cuenta el criterio de Goldberg y Rostein. Las ecuaciones que se utilizaron son las
siguientes:

 
 h    a    1 Ecuación (1)
 2 

h
 a   Ecuación (2)
 0

Con la primera ecuación se estima la resistividad real a una profundidad que se calcula usando la
ecuación dos. Usando ambas ecuaciones se tenían valores de resistividad a profundidad. Se
crearon también las siguientes gráficas de cada uno de los puntos.
 Frecuencia Vs Resistividad A. (Punto 13) Frecuencia VS Fase (Punto 13)
60 60
Resistividad Aparente

40 40

Fase
20 rhoxy1 20 phixy1
rhoyx1 phiyx1
0 0
1 10 100 1000 10000 100000 1 10 100 1000 10000 100000
Frecuencia Frecuencia

Frecuencia VS Resistividad A. (Punto 8) Frecuencia VS Fase (Punto 8)

50 80
Resistividad Aparente

40 60
30

Fase
40
20 rhoxy1 phixy1
20
10 rhoyx1 phiyx1
0 0
1 10 100 1000 10000 100000 1 10 100 1000 10000 100000
Frecuencia Frecuencia

Frecuencia VS Resistividad A. (Punto 7) Frecuencia VS Fase (Punto 7)

50 80
Resistividad Aparente

40
60
30
Fase

20 rhoxy1 40
10 phixy1
rhoyx1 20
0 phiyx1
1 10 100 1000 10000 100000 0
Frecuencia 1 10 100 1000 10000 100000
Frecuencia
Frecuencia VS Resistividad A (Punto6)
Frecuencia VS Fase (Punto 6)
40
Resistividad Aparente

80
30
20 60
Fase

rhoxy1 40
10
phixy1
0 rhoyx1 20
1 10 100 1000 10000 100000 phiyx1
0
Frecuencia 1 10 100 1000 10000 100000
Frecuencia
 Frecuencia VS Resistividad A. (Punto 1)
30 Frecuencia VS Fase (Punto 1)
Resistividad Aparente

20 60.00

rhoxy1 40.00

Fase
10
rhoyx1 20.00 phixy1
0
1 10 100 1000 10000 100000 - phiyx1
1 10 100 1000 10000 100000
Frecuencia
Frecuencia
Se realizó lo mismo para cada uno de los puntos donde se tenía información.
Con los valores que se tenían se procedió a crear dos pseudosecciones, para la primera se usaron
los valores de frecuencia y resistividad aparente, para la segunda se hizo uso de los valores de
profundidad y resistividad real. Para la realización de las gráficas fue necesario calcular la distancia
entre los diferentes puntos donde se midió resistividad aparente. Haciendo uso de trigonometría
se estableció la siguiente ecuación.

∆𝑦
𝑥 = √∆𝑥 2 + ∆𝑦 2 cos(tan−1(∆𝑥) − tan−1 (𝑚)) Ecuación 3

A partir de la ecuación se encontró el siguiente perfil:

1.5

0.5

0
0 20 40 60 80 100 120 140 160

Figura 1 Perfil de distancias

Una vez teniendo las distancias, las frecuencias en logaritmo base diez, las resistividades
aparentes, las profundidades y sus respectivas resistividades reales, se usó el software surfer13
con el cual se realizaron mallas utilizando la interpolación de mínima curvatura. Escogí mínima
curvatura pues éste método de interpolación busca producir la superficie continua de mínima
curvatura sobre la cual todos los puntos de resistividad están anclados. Este método se basa en
una regresión polinomial de mínimos cuadrados y es una interpolación iterativa que trabaja con un
parámetro pre-especificado, el método asegura que la superficie no tenga picos ni cambios de
pendiente abruptos. Una vez calculadas las mallas se procedió a generar la imagen para cada
una de las mallas, logrando así generar cuatro imágenes distintas, dos de distancia contra
frecuencia y dos con distancia profundidad, en las cuales se mostraba la resistividad aparente y
real. Para todas las imágenes se utilizó una escala de colores de tipo arcoíris, así como una paleta
de colores que representara a ambas.
RESULTADOS:

Ω∙𝑚

Figura 2 Pseudosección de resistividades aparentes (XY, YX)

En la pseudosección podemos observar que las frecuencias más altas reflejan una resistividad
aparente por encima de 22 ohms por metro, de igual forma a partir de los cincuenta metros de
distancia y para frecuencias más bajas se observa un cambio brusco de resistividad el cual
continúa hasta los ciento cuarenta metros.

Ω∙𝑚

Figura 3 Pseudosección de resistividades verdaderas aproximadas (XY,YX)

Para estas pseudosecciones a profundidad podemos observar que la resistividad comienza a ser
más baja para profundidades mayores a cincuenta metros y hasta los doscientos cincuenta metros,
sobre todo después de los cincuenta metros de distancia.

CONCLUSIONES:

En la práctica trabajamos con valores provenientes de un levantamiento magnetotelúrico. Se

realizó un proceso de inversión en el cual se obtuvieron como resultado las pseudosecciones
(figura 2 y 3). En las primeras pseudosecciones se observan valores de resistividad aparente a
distintas frecuencias, en las siguientes se observan los valores a profundidad y resistividad real.
Conociendo que las bajas frecuencias trabajan a mayores profundidades se puede correlacionar
frecuencia-profundidad observando así una anomalía en el terreno, la cual se encuentra ubicada
entre los cincuenta y doscientos metros de profundidad, siendo observada en frecuencias menores
al Log(2).

BIBLIOGRAFÍA

Bostick, F. X., 1977. A simple almost exact method of MT analysis. Workshop on Electrical Methods
in GeothermalExploration. U.S. Geol. Surv.

Goldberg, S. y Rotstein, Y., 1982. A simple form of presentation of magnetotelluric data using the
Bostick Transformation. Geophysical Prospecting 30, 211-216.

Niblett, E. R. y Sayn-Wittgenstein, C., 1960. Variation of electrical conductivity with depth by the
magnetotelluric method. Geophys. Prospec., 25: 998-1008.

Schmucker, U., 1970. Anomalies of geomagnetic variations in the southwestern United States. Bull.
Scripps Inst. Ocean. Vol. 13.