Sistema de detección automático y de no contacto de frecuencias de

oscilación de objetos vibrantes empleando detectores adaptivos

S. García Tobon1, J. Castillo Mixcóatl2, G. Beltrán Pérez2, S. Muñoz Aguirre2
1
Facultad de Ciencias de la Electrónica, 2Facultad de Ciencias Físico Matemáticas
Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Av. San Claudio y Río Verde,
Col. San Manuel, Ciudad Universitaria, Puebla Pue., C.P. 72570
* email: jcastill@fcfm.buap.mx

Abstract
In this work an interferometric experimental setup that allows measuring the oscillation frequencies of vibrating
objects is presented, using the photo-EMF effect. Due to the high sensibility of the interferometers this system
can detect oscillations in the order of some nanometers. At the moment, the system can work in automatic
mode, in a frequency interval from 500 Hz to 5 kHz. However the bandwidth can be enlarged in a very simple
way by changing some electronic elements, such as resistor and capacitors.
Keywords: introduce maximum 5 keywords defining the topics of your work

Introducción
Es bien sabido que los interferómetros son sistemas lentas de fase propias de los sistemas
que pueden ser empleados para realizar una amplia interferométricos convencionales.
variedad de mediciones muy exactas [1]. Como
ejemplo de estas posibles aplicaciones podemos El efecto photo-EMF
mencionar la detección de pequeñas vibraciones, En general el efecto de fuerza foto electromotriz de
detección de ultrasonido [2], medición de índices de estado no estacionario (Photo-EMF) consiste en la
refracción, evaluación de velocidades, etc. Otra generación de una foto corriente a través de una
propiedad muy apreciada en tales sistemas es la muestra fotoconductiva cortocircuitada e iluminada
capacidad de realizar estas evaluaciones sin tener por un patrón de luz no uniforme ni estacionario
contacto con las muestras bajo estudio. Esta I(t,r) (patrón de interferencia en movimiento.
propiedad puede resultar muy interesante en Stepanov [3, 4] et al mostraron que la amplitud de
aplicaciones a nivel industrial en donde sea necesario esta corriente está descrita por la siguiente ecuación:
evaluar alguna variable de una muestra en particular
m2 ∆ 1 Ω Ω0
a la que sea difícil tener acceso directo con ella (sea jΩ = σ 0 ED (1)
por encontrarse en un lugar poco accesible, estar en 2 1 + K LD 1 + i Ω Ω 0
2 2

ambientes hostiles al ser humano o simple y donde m es el contraste de las franjas, ∆ es la

sencillamente por que el contacto puede alterar la
amplitud de modulación de patrón de franjas, σ0 es la
medición de dicha variable) [2].
fotoconductividad promedio, ED es el campo de
Sin embargo debido a la extrema sensibilidad que difusión, K es la frecuencia espacial del patrón de
normalmente exhiben estos sistemas resulta muy franjas, LD es la longitud de difusión de los
complicado poder trabajar con estos arreglos en portadores de carga, Ω es la frecuencia angular de la
ambientes distintos al que se tienen en el laboratorio. señal de modulación y Ω0 es la frecuencia de corte.
Normalmente los sistemas interferométricos La función de transferencia de este detector es del
requieren ambientes libres de vibraciones, con tipo pasa-altas lo que compensa de manera efectiva
temperatura controlada etc. Por esta razón la mayor las fluctuaciones lentas propias de los sistemas
parte de los sistemas interferométricos que se convencionales.
proponen en general son sistemas con complicados
arreglos electrónicos y ópticos que contrastan con la Arreglo experimental: Detección de
sencillez inicial de un interferómetro convencional. frecuencias de oscilación
Una forma elegante y sencilla de mantener la
El arreglo experimental propuesto se muestra en la
simpleza de un sistema interferométrico es utilizar
Fig. 1.
los llamados fotodetectores adaptivos basados en el
efecto Photo-EMF [3]. Este tipo de detectores
permiten mantener la sencillez del sistema
interferométrico junto con su extrema sensibilidad
sin los problemas asociados con las fluctuaciones
 Objeto vibrando
Detector
Láser
Señal visual de “amarre”
ω Amplifier PLL
Amp. PLL en frecuencia

256µW
Cristal Reference
Divisor Ω frequence
De Haz de GaAs Vibrant
Espejo Out
Frecuencia object
de referencia
M2
293µW
Fig. 1. Arreglo experimental propuesto para la detección LCD PIC16F877

293µW
310µW
de frecuencias de oscilación de objetos vibrantes.
La idea principal es emplear el esquema básico de un
interferómetro de manera que se obtengan franjas 760µW M1
399µW
sobre el detector adaptivo. Para realizar la detección Láser HeNe D

se emplea un circuito integrado de uso específico. El
decodificador de tono y frecuencia NE567 es un
circuito de lazo de amarre de fase sumamente estable
con detección de amarre de AM y con circuiteria de
salida de potencia. En su función primaria este
integrado puede manejar una carga cuando cualquier
señal de frecuencia f dentro de la banda de detección
se encuentra presente en la entrada del circuito. La
frecuencia central del ancho de banda de detección y
el retraso de salida son determinados de manera
independiente por medio de 4 componentes externos
(una resistencia y 4 capacitores). Esto hace que sea
sumamente sencillo construir el circuito para la
detección de las frecuencias presentes en la señal
detectada por nuestro sistema. La conexión típica de
este circuito se muestra en la Fig. 2.
Una salida del NE567 (pin 5) otorga una señal de
onda cuadrada la cual permite conocer la frecuencia
de referencia que se proporciona a través de C1 y R1,
otra (pin 8) conmuta su estado lógico cuando la
frecuencia de referencia y de entrada son iguales.
+V
Input
4 RL
3
5
1 NE567
f0 =
R1C1 R1
6
Fig. 4. Arreglo experimental propuesto para medir
frecuencias de vibración automáticamente.
El servomotor se acopló al brazo del potenciómetro
R1 que controla al NE567 (para realizar un barrido
en la frecuencia de referencia), y se controla el
posicionamiento del servomotor a través de la
modulación por ancho de pulso (PWM) que genera
el PIC16F877, también el microcontrolador lee la
señal cuadrada del PLL que contiene el dato de la
frecuencia de referencia y cuando la salida del PLL
conmuta (se amarra a la frecuencia de entrada) se
despliega el valor de la frecuencia a la que se
encuentra oscilando el objeto en el LCD.
Resultados
En la Fig. 5 se muestra el estado de la señal de salida
del PLL (pin 8) cuando se hace un barrido en la
frecuencia de referencia del sistema al variar el
potenciómetro. En este caso en la bocina se aplico
una señal senoidal con una frecuencia de
aproximadamente 1160 Hz.
+V 3.5
3.0
8 Output
2.5
PLL Signal (V)

1 R2
2 7
2.0
C1 C2 C3
Low Output
Pass Filter 1.5
Filter
1.0
Fig. 2. Conexión típica del NE567.
0.5
Para encontrar la frecuencia del objeto, se realiza un
barrido en la frecuencia de referencia con la ayuda 0.0
500 1000 1500 2000 2500 3000
de un potenciómetro. Para que el NE567 trabaje Frequency (Hz)
correctamente necesita una señal de entrada con una Fig. 5. Señal de salida del PLL cuando solo se tenía una
amplitud de entre 100 y 200mVRMS. Para obtener señal de 1160Hz.
estos niveles de señal se amplifico la señal de Photo- En la Fig. 6 se muestra el comportamiento del
EMF, empleando el esquema mostrado en la Fig. 3. sistema para el caso en que se tenían dos señales con
GaAs
PLL
frecuencias f1 = 1071Hz y f2 = 1140Hz.
photo-EMF CLC440 TL084 TL084 NE567
detector (1) (2)
nc
e er er
da ert r ert r
pe ier Inv plifie Inv plifie
im lif am
s
an mp am Visual signal
Tr a (LED)

Fig. 3. Esquema del circuito para la amplificación y

acondicionamiento de la señal de Photo-EMF.
Para efectuar la automatización del sistema se
empleó un microcontrolador PIC16F877, un
servomotor y un modulo LCD para visualizar el
estado del sistema.
 3.5
Antes de la automatización del sistema, se obtiene un
3.0 rango de frecuencia variable entre 450Hz y 4.5kHz y
2.5
con el sistema autónomo tenemos 500Hz y 1.38kHz
con C1=100nF, esta disminución se debe al que el
PLL Signal (V)

2.0
1.5
1.0
0.5
0.0
500 750 1000 1250 1500 1750
Frequency (Hz)
Fig. 6. Respuesta del PLL con dos señales senoidales de
frecuencias f1 = 1071Hz y f2 = 1140Hz.
La Fig. 7 muestra la placa de circuito impreso con
sus respectivos componentes que incluye etapa de
automatización, dicha placa se utilizó para detectar la
señal Photo-EMF que otorga el sistema óptico a
través del GaAs cortocircuitado.
Fig. 7. Placa eléctrica que forma parte del sistema
medidor de frecuencias de oscilación de objetos vibrantes.
Experimentalmente el giro total del servo motor
permite un intervalo de medición entre 500 y 1380
Hz.
Conclusiones
Se ha demostrado experimentalmente que el uso de
fotodetectores adaptivos basados en el efecto de
fuerza Photo-EMF permite la construcción de un
sistema para medir frecuencias de vibración de
objetos por reflexión de luz.
Cuando se introducen 2 señales con diferente
frecuencia de oscilación al sistema, encontramos que
deben tener una separación mínima de 69Hz (1071 y
1140Hz).
servomotor no logra cubrir el rango de giro del
potenciómetro. Por otra parte si se desea un rango de
frecuencia diferente sólo es necesario reemplazar el
valor en C1.
Con el sistema automático se realiza todo el barrido
2000 en frecuencia de referencia y visualización de la
frecuencia medida en el LCD en un tiempo
aproximadamente de un minuto.
En suma se tiene un sistema optoelectrónico,
automatizado y de pruebas no destructivas que es
capaz de medir frecuencias de vibración de objetos
sin que exista contacto físico que puede, en
principio, trabajar en ambientes no controlados.
Referencias
1. Max Born and Emil Wolf, Principles of optics,
Ed. by Pergamon Press. 1987, p. 329.
2. C.B. Scruby and E. Drain, Laser ultrasonics,
techniques applications, Hilguer,Bristol. 1990.
3. S. I. Stepanov, I. A. Sokolov, G.S. Trofimov, V.
I. Vlad, D. Popa and I. Apostol, Opt. Letter. 15,
1239 (1990).
4. S. Stepanov, in "Handbook of Advanced
Electronic and Photonic Materials and Devices"
Vol. 2, Ed. by H. Nalwa (Academic, 2000), p.
205.
5. Carlos Manuel García-Lara, Rubén Ramos-
García, “Medición de frecuencias de vibración
de objetos utilizando el efecto de fuerza foto-
electro-motriz”, Superficies y Vacío 16(2), 29-
33, junio de 2003
6. Datasheet of NE567:
http://www.semiconductors.philips.com/pip/NE5
67_SE567_2.html