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Medidas de posición
a) Serie par
# ∗𝑛
Cuartiles: posición cuartilica 𝑄 = 4
#∗𝑛
Deciles: posición decilica 𝐷 = 10
#∗𝑛
Percentiles: 𝑃 = 100
b) Serie impar
# ∗ (𝑛 + 1)
Cuartiles: posición cuartilica 𝑄 = 4
# ∗(𝑛 + 1)
Deciles: posición decilica 𝐷 = 10
# ∗(𝑛 + 1)
Percentiles: 𝑃 =
100
Datos agrupados
a) DA en frecuencia
b) DA en tablas de distribución de frecuencia
𝑁∗𝑘
−𝑓𝑎𝑎
4
Cuartiles: 𝑄𝑘=𝐿𝑟𝑖𝑐𝑢𝑎𝑟𝑡𝑖𝑙𝑖𝑐𝑎 + 𝑓 ∗ 𝑖𝑐
𝑐𝑢𝑎𝑟𝑡𝑖𝑙𝑖𝑐𝑎
𝑁∗𝑘
−𝑓𝑎𝑎
10
Deciles: 𝐷𝑘=𝐿𝑟𝑖𝑑𝑒𝑐𝑖𝑙𝑖𝑐𝑎 + ∗ 𝑖𝑐
𝑓𝑑𝑒𝑐𝑖𝑙𝑖𝑐𝑎
𝑁∗𝑘
−𝑓𝑎𝑎
100
Percentiles: 𝑃𝑘=𝐿𝑟𝑖𝑝𝑒𝑟𝑐𝑒𝑛𝑡𝑖𝑙𝑖𝑐𝑎 + ∗ 𝑖𝑐
𝑓𝑝𝑒𝑟𝑐𝑒𝑛𝑡𝑖𝑙𝑖𝑐𝑎
2. Métodos abreviados
I. Primer método abreviado
Σ fi ∗ 𝑑2 Σ fi ∗ d 2
𝜎=𝑠= √ −( )
𝑁 𝑁
d) Varianza:
Σ fi( 𝑃𝑚 − 𝑥̅ )2
𝑣(𝑥) = 𝜎 2 = 𝑠 2 =
𝑁
2
Σfi ∗ 𝑑 Σ fi ∗ 𝑑´ 2
𝑣(𝑥) = 𝜎 2 = 𝑠 2 = ( )−( )
𝑁 𝑁
𝜎
e) Coeficiente de variabilidad: 𝑐𝑣 = 𝑥̅
∗ 100%
Escala percentilica
a) Serie de datos:
50(2 𝑓𝑎𝑎 + 𝑓)
𝑥=
𝑁
b) Datos agrupados
𝑥𝑖 − 𝐿𝑟𝑖
𝑃𝑖 = 𝑓𝑎𝑎% + ∗ 𝑓%
𝑖𝑐
Medidas de forma
1. Asimetría
Coeficiente de asimetría de Pearson
3(𝑥̅ − 𝑚𝑒)
𝐴𝑠𝑝 =
𝑠
𝑁
− 𝑓𝑎𝑎
𝑚𝑒 = 𝐿𝑟𝑖𝑚𝑒𝑑𝑖𝑎 + 2 ∗ 𝑖𝑐
𝑓
Estimadores
𝑎 = 𝑦̅ − 𝑏𝑥̅
𝑛 ∑𝑛𝑓= 1 𝑥𝑦 − ∑𝑛𝑖= 1 𝑥𝑖 ∗ ∑𝑛𝑖= 1 𝑦
𝑏=
𝑛 ∑𝑛𝑓= 1 𝑥 2 − (∑𝑛𝑖= 1 𝑥𝑖 )2