GUIA PRACTICA 3 [MICROSCOPIO ELECTRONICO DE BARRIDO]

UNIVERSIDAD NACIONAL DE CHIMBORAZO

QUIMICA GENERAL

PRACTICA No 3:

MICROSCOPIO ELECTRONICO DE BARRIDO

1. INTRODUCCION

El Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) utiliza un rayo de electrones de alta energía para
generar una variedad de señales al interactuar con la superficie de una muestra. Las señales
detectadas de los Electrones Secundarios (SE) y los Electrones Retrodispersados (BSE)
producen una imagen que proporciona información topográfica y composicional,
respectivamente, sobre la muestra analizada.

Las ventajas de un SEM sobre el microscopio óptico (MO) incluyen:

 Resolución a mayor aumento: un típico SEM tiene una resolución > 10 nanómetros (1
nm = 10-9 m), con la resolución de un MO alrededor de 200 nm.
 Alta profundidad de campo: permite obtener un gran detalle topográfico en un
aspecto tri-dimensional (3D) en la imagen producida, en comparación con el MO.
 Microanálisis: permite el análisis de la composición elemental de la muestra
facilitando información acerca de la composición química y características
cristalográficas, magnéticas y eléctricas.

La técnica es generalmente no destructiva y se requiere que la muestra sea recubierta con un

material conductor para permitir su correcto análisis.

Figura 1. Instrumentación SEM de la UNACH

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2. OBJETIVOS
Presentar al estudiante el uso correcto del Microscopio Electrónico de Barrido y las
aplicaciones del instrumento en los diferentes campos de investigación.

3. MATERIALES
 Muestra (3 tipos)
 Cinta conductora
 Pinzas
 Guantes
 Recubridor de carbono
 Microscopio Electrónico de Barrido (SEM, Vega 3 TESCAN, Bruker)

4. METODO
Preparación de muestras
El SEM se opera en vacío y las muestras deben ser conductoras para su análisis. Esto se logra
mediante el recubrimiento con una capa muy fina de oro o carbono.
a. Anote las partes del recubridor modular (para el Informe)
b. Observe el proceso de recubrimiento de la muestra con oro

Operación
El funcionamiento del SEM está restringido al personal capacitado y familiarizado con el
sistema, la documentación del equipo, medidas de seguridad generales y las normas del
Laboratorio de Microscopia Electrónica de la UNACH.
a. Observe y anote las siguientes partes del SEM:
 Columna de electrones
 Lentes
 Cámara de muestra
 Detector de electrones
b. Obtenga una imagen de la muestra(s) a partir de los Electrones Secundarios
c. Guarde la imagen en archivo para el reporte de la práctica

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Microanálisis
Consiste en la identificación y cuantificación de la composición química de una muestra con
respecto a su distribución y concentración elemental. El SEM es capaz de llevar a cabo tal
análisis por medio de su detector Flash SDD.

a. Observe el proceso de microanálisis de la muestra seleccionada

b. Obtenga una copia del espectro producido
c. Guarde la imagen en archivo para el reporte de la práctica
d. Identifique la muestra según los porcentajes elementales obtenidos (para el Informe)

5. INFORME
El informe de la práctica debe ser entregado acorde a la fecha previamente establecida. El
documento debe incluir las siguientes secciones:
 Titulo (de la práctica)
 Introducción (Que es un SEM; aplicaciones del SEM y EDS)
 Materiales y Métodos (resumen general para cualquier muestra)
 Resultados (información en Tablas/Figuras; fotos del SEM, Analisis EDS, analisis
elemental de la muestra(s); recubrimiento de muestras)
 Discusión (identificación de las muestras; usos del SEM/EDS en la carrera
respectiva: Civil/Electrónica]
 Conclusión (objetivos realizados; resultados obtenidos)
 Cuestionario (respuesta a las pregunta)
 Bibliografía

6. BIBLIOGRAFIA
La bibliografía utilizada debe incluirse dentro del documento como subíndice numérico (e.g.
….la x-radiación que se genera en la interacción de la muestra-electrones en el microscopio
electrónico1…) y constar al final del informe en el siguiente formato:

REVISTA/PUBLICACION
• Autor(es) (apellido, inicial nombre)

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• Título del trabajo

• Revista (cursiva)
• Año (negrilla)
• Volumen, Pagina(s)

Ejemplo:
1.Baath, E., Arnebrant, K., A case study on the fundamentals of learning; Journal of
Biology and Biochemistry, 1994, 26, 996-1001

LIBROS
• Autor(es) (apellido, inicial nombre)
• Titulo (cursiva)
• Edición
• Ciudad
• Editorial
• Año (negrilla)

Ejemplo:
Murray, P.R., Rosenthal, K.S., Kobayashi, G.S., Medical microbiology, 4th ed., St.
Louis: Mosby; 2002.

INTERNET
• Autor(es) (apellido, inicial nombre)
• Titulo (cursiva)
• Año (negrilla)
• Link

Ejemplo:
Evanston, I.L., The American Board of Medical Specialists, 2000. Disponible en:
http://www.abms.org/newsearch.asp

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7. CUESTIONARIO
a. Incluya un ejemplo detallado del uso del Microscopio Electrónico de barrido (SEM) en
la industria de la construcción o de telecomunicaciones

8. REFERENCIAS
1) Swapp, S., Scanning Electron Microscopy (SEM), Carleton College, Science Education
Resource Center, 2017, en:
http://serc.carleton.edu/research_education/geochemsheets/techniques/SEM.html
2) TESCAN, http://www.tescan.com/technology/sem/vega3
3) Pascal, U., Técnicas de microscopía aplicadas a las Ciencias Forenses, 2009, p1-12

Documento elaborado por

David Jaramillo, Ph.D.

Semestre: Abril-Agosto 2018

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