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FICHA TÉCNICA DE LA ASIGNATURA

TRAYECTORIA EN INGENIERÍA EN NANOTECNOLOGÍA


Materia MICROSCOPÍA
Semestre 7 to Semestre
Profesor/es responsable/s I.Q. Francisco Javier Reynoso Marín

Conceptos básicos
Microscopía Óptica, Electrónica en modo barrido y transmisión, Difracción de
rayos-x por el método de polvos, sólido cristalino, red cristalina, celda, índice de
Miller y ley de Bragg.

Curso precedente
Ciencia de los materiales.

Curso subsecuente
Manufactura de nanomateriales.

Justificación
Como Ingenieros en Nanotecnología, es imprescindible conocer un conjunto de
técnicas mínimas que permitan caracterizar los materiales nano-estructurados.
Entre éstas se encuentra principalmente la microscopía electrónica y la difracción
de Rayos X. Es necesario conocer los elementos y principios de operación de los
métodos.

Objetivos del curso


 Adquirir conocimientos y destreza en el manejo de los principios y
fundamentos básicos de microscopía y difracción.
 Proporcionar explicaciones sencillas, claras y no complicadas
matemáticamente de conceptos físicos y teorías de física moderna
 A través de ejemplos reales de ingeniería, el alumno desarrollará una com-
prensión intuitiva de los principios físicos de la microscopía y difracción.
 Desarrollar habilidades para utilizar e interpretar las micrografías y
patrones de difracción en situaciones enfocadas a la nanotecnología.
Habilidades Adquiridas
 Manejo de Equipos.
 Preparación de muestras.
 Técnicas de Caracterización.
 Interpretación de datos.

Método de trabajo
 Los alumnos investigarán los elementos necesarios para poder llegar a
realizar de manera individual o grupal una síntesis de la información y las
técnicas utilizadas en cada uno de los aspectos a desarrollar.
 Trabajo en equipo e individual (presentaciones).
 Señalamiento de actividades en clase y explicación de conceptos que
luego se ejercitan por parte de los alumnos.
 Tareas semanales.
 Trabajos de investigación o de campo.
 Proyecto final sobre algún equipo usado (video, manual, instructivo,
práctica, etc.).
 Interpretación de difractogramas o patrones de las técnicas de
caracterización utilizados para resolver problemas, análisis de información
o dar resultados sobre la muestra analizada.

Criterios de acreditación
1. 80% mínimo de asistencia para acreditar el curso. Diez minutos de
tolerancia para entrar a clase, considerándose falta después de tiempo de
tolerancia.
2. 90% mínimo de cumplimiento de tareas para acreditar el curso.
3. Disposición al trabajo colaborativo, presentación de trabajos de
investigación y cumplir con el material requerido para cada clase.
4. Acreditar en promedio todos los exámenes parciales.

Evaluación
 Tareas individuales y grupales, 15%.
 Reportes de Practicas 25% .
 Exámenes parciales, 30%.
 Proyecto final (guía de la materia) 30%.
Unidades de Aprendizaje

(Horas de Teoría: 37, Horas de Práctica: 63, Horas Totales: 100 horas).

Unidad Tema
1. Fundamentos de a) Historia
microscopía (2 Horas b) Tipos de microscopios
teórica) c) Elementos Básicos
d) Tipos de lentes
e) Punto Focal
f) Astigmatismo y sus correcciones

2. Microscopía a) Sistema de preparación de muestras


Electrónica de Barrido b) Sistema de Vacío
(10 horas teóricas, 35 c) Sistema de Lentes
horas prácticas). d) Formación de Imágenes
e) Limitaciones e interpretaciones

3. Microscopía a) Sistema de preparación de muestras


Electrónica de b) Sistema de Vacío
Transmisión (5 horas). c) Sistema de Lentes
d) Formación de Imágenes
e) Limitaciones e interpretaciones

4. Estructura Cristalina (5 a) Sólidos cristalinos


horas) b) Tipos de redes
c) Grupo puntual
d) Grupo espacial
e) Sólidos amorfos
f) Tipos de estructuras

5. Cristalografía (5 horas) a) Índices de Miller


b) Planos cristalográficos
c) Direcciones cristalográficas
d) Red recíproca
e) Simetría
f) Operaciones de simetría
g) Tablas de cristalografía

6. Difracción de Rayos X a) Propiedades y generación de rayos-x


(10 horas teóricas y 20 b) Dispersión de rayos-x en los planos
horas prácticas). c) Ley de Bragg
d) Tipos de muestras
e) Configuración de Interferencia constructiva
f) Formación de patrón
g) Limitaciones e interpretaciones

7. Equipo de difracción a) Manual del Equipo de DRX


de rayos-x ( 8 horas b) Preparación y montaje de muestras
prácticas) c) Medición

Bibliografía
 “Cristaloquímica de materiales de la estructura a las propiedades de
los sólidos inorgánicos”, Pico Marín, Carlos, López García, María L. y
Veiga Blanco, María L., 2007, Síntesis S.A. ISBN 978-84-975650-7-3.
 “Física Moderna”, Raymond A. Serway, Clement Moses y Curt Moyer,
2006 Thomson Learning. ISBN 970-686-492-4
 “Física para Ciencias e Ingeniería”, Raymond A. Serway y John W.
Jewett, Jr., 2008, CENGAGE Learning.
 “Física”, Robert Resnick, David Halliday, Kenneth S. Krane, 5 ta edición,
2007, Grupo Editorial Patria.
 “Óptica”, Eugene Hetch, 2001 Addison Wesley ISBN 0805385665
 “Physical Principles of Electron Microscopy”, Roy F, Egerton. 2005,
Springer. ISBN 0-387-25800-0
 “Electron Microscopy: Principles and Fundamentals” Edited by S.
Amelinckx, D. van Dyck, J. van Landuyt , G. van Tendeloo, Wiley, 2007
VCH ISBN 3-527-29479-1
 “X-ray Crystallography”, M. M. Woolfson. 1970, Cambridge University
Press. ISBN 521 07440 1