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Gisela Páez
Directora de la División de Postgrado
RESUMEN
ABSTRACT
E-Mail: dflores@fing.luz.edu.ve
DEDICATORIA
A mi familia paterna.
A mi familia por venir encarnada en Yuliana Méndez y
los hijos que tendremos.
A Willmar para celebrar tu vida.
TABLA DE CONTENIDO
Página
RESUMEN ................................................................................................... 4
ABSTRACT.................................................................................................. 5
DEDICATORIA............................................................................................. 6
LISTA DE TABLAS...................................................................................... 10
INTRODUCCIÓN ........................................................................................ 11
CAPITULO I
EL PROBLEMA ........................................................................................... 12
CAPITULO II
CAPÍTULO III
CAPITULO IV
CONCLUSIONES ........................................................................................ 74
RECOMENDACIONES ................................................................................. 75
EL PROBLEMA
Este capítulo comprende los aspectos que permiten la focalización del evento de
estudio y la delimitación de la investigación. Como apertura, concierne a este
capítulo dar la respuesta a porqué y para qué se realizóla investigación.
A principios del siglo XX, un físico alemán llamado Arthur Von-Hippel desarrolló
un método para la determinación de Permitividad Dieléctrica Compleja para
materiales no magnéticos utilizando ondas electromagnéticas en la banda
microondas confinadas en una guía de onda cortocircuitada [1]. Por tanto la
investigación está circunscrita a materiales dieléctricos no magnéticos y a la
medición del parámetro permitividad dieléctrica compleja.
Sin embargo, el manejo matemático de los datos que arrojan las mediciones una
vez realizado los experimentos asociados a la técnica desarrollada por Von-Hippel
pierde sensiblemente la sencillez de las mediciones. Las ecuaciones involucradas en
el método conllevan a la solución de una ecuación conocida como Ecuación de Von-
Hippel que es trascendental con infinitas soluciones [2].
Los objetivos permiten conocer los principales logros que a los que se quiere
llegar con la presente investigación. A continuación, se presentan los objetivos
clasificados de acuerdo a su amplitud y ordenados de menor a mayor complejidad.
1.3. Justificación
En el país hay muy poca experiencia registrada con respecto a este campo del
conocimiento, por tanto muy poco desarrollo en este tipo de técnica. El resolver las
dificultades que representa para el método, la resolución de la ecuación de Von-
Hippel y con el agregado de poder comprobar su eficacia con mediciones reales
entregará al Electromagnetismo Aplicado en la Maestría en Física Aplicada una
herramienta que lo llevará a nuevos estadios en cuanto a su relación con la
industria y colaborará al desarrollo nacional en función a las líneas estratégicas
antes expuestas.
16
Por otro lado, esta investigación permitirá la experticia para desarrollar nuevos
trabajos desde el punto de vista académico de forma que permitan a los estudiantes
de la Escuela de Ingeniería Eléctrica de la Universidad del Zulia y los de la Maestría
en Física Aplicada experiencias de laboratorio de Microondas y aplicado a la
caracterización de materiales de forma que se gana la experticia para resolver
problemas comunes en la industria de alimentos, petroquímica, petrolera, entre
otras.
1.4. Delimitación
CAPITULO II
MARCO TEÓRICO
2.1. Antecedentes
En este sentido, Pérez R. Willmar A., Briceño P. Manuel J., Marín S. Emily G.,
Zambrano A. Jorgenson J. y Flores G. Daniel J., titulan el trabajo “Medición de la
Permitividad Eléctrica del Petróleo a 9.51GHz” [1],2009, los autores realizan la
medición de permitividad dieléctrica compleja utilizando el método de la guía en
cortocircuito a la frecuencia en Banda X de 9,51 GHz. En el desarrollo del trabajo el
equipo elaborador se enfrentó al problema de la ecuación de Von Hippel en el
análisis de los datos obtenidos para fijar un valor de permitividad el cual se resolvió
con el uso de un algoritmo desarrollado en una Universidad española para el libro
“Ingeniería de Microondas” que aunque aproximado fue suficientemente preciso
para la medición en cuestión. Éste trabajo permite la descripción del método
utilizando los equipos de Laboratorio de Comunicaciones de LUZ, específicamente el
montaje de los mismos y el uso de un primer software aunque primitivo y de baja
precisión, muy útil para comenzar el desarrollo de uno más avanzado que resuelva
el problema de la baja precisión de su antecesor.
19
Por otro lado, Von Hippel Arthur R., presento el libro: “Dielectric and Waves” [4],
(1964) p73-77, donde se presenta un conjunto de técnicas desarrolladas por el
autor para la caracterización de dieléctricos a frecuencias de microondas. Von Hippel
fue uno de los primeros estudiosos de los fenómenos presentes en materiales ante
la presencia de campos y ondas electromagnéticas. Además de ser un teórico de la
materia que explica el comportamiento de materiales ante campos
Electromagnéticos es un desarrollador de técnicas para la medición de permitividad
y permeabilidad de los mismos de forma de llevar a nivel macroscópico y aplicable a
la ingeniería el conocimiento microscópico que se tuviera de los materiales.
Por otra parte, T.P. Iglesias, A. Seoane, and J. Rivas. “An Algorithm for Solving
Roberts-von Hippel Equation: Separation of Close Solutions” [6]. En ésta
investigación los autores manipulan la ecuación de Von Hippel y los gráficos de
Roberts-Von Hippel para dar solución a la misma. En él los autores parametrizan la
ecuación como la razón de una función tangencial y otra lineal y se definen unas
variables acotadas que toman ciertos valores según las mediciones de permitividad
en los extremos ópticos y cuasi estáticos de frecuencia presentado así un método
útil y práctico para dar solución a la ecuación de Von Hippel, sin embargo, es
necesario conocer otros valores para poder utilizar el algoritmo planteado. El aporte
de éste trabajo a la presente investigación es la manipulación de la ecuación de Von
Hippel como una razón de una función y otra relacionado con la variación de dichas
funciones en función a un parámetro en común lo cual suministra detalles
matemático-físicos para el desarrollo de un nuevo algoritmo para dar solución a la
mencionada ecuación.
En las bases teóricas se presentan las principales teorías que sirven para
desarrollar la investigación o basamento al trabajo. Se tratan los conceptos
establecidos que permitieron la comprensión de los distintos aspectos de la
investigación.
yB
⃗ la respuesta.
⃗𝐃 = 𝑓 (𝐄
⃗ (𝑡)) (1)
⃗ (𝑡))
𝐉 = 𝑔 (𝐄 (2)
⃗ = ℎ (𝐇
𝐁 ⃗⃗ (𝑡)) (3)
22
Así se escribe de forma general, que no son más que las expresiones generales
de las ecuaciones constitutivas la funciones f, g y h dependen del medio
considerado y pueden ser muy variadas, desde la más simple relación de
proporcionalidad para medios lineales, isótropos, homogéneos y en reposo hasta
funciones integrales dependientes del tiempo para poder incluir toda la historia del
medio anterior al instante considerado. Para campos con dependencia temporal
armónica, estas ecuaciones se suelen escribir de la forma:
⃗D = εE
⃗ (4)
⃗
J = σE (5)
⃗B = μH
⃗⃗ (6)
Un estudio general que sirva globalmente para todos los medios es una tarea
imposible, de hecho, ni las ecuaciones (4), (5) y (6) son totalmente generales. Los
materiales dieléctricos que normalmente se encuentran en éste estudio son lineales,
isótropos y homogéneos y se limitará, por tanto, a dieléctricos con estas
características para garantizarlo la muestra debe ser un diferencial de volumen. Por
otro lado, causa (E ⃗⃗ ) y respuesta (D
⃗ ,H ⃗ ) no siempre están en fase respecto a su
⃗ , J, B
variación temporal, por tanto, dentro de la notación compleja usual, se debe admitir
la posibilidad de que ε, σ y μ sean magnitudes complejas y se escribe, en general.
ε = ε´ − jε´´ (7)
σ = σ´ + jσ´´ (8)
μ = ´μ − j´μ´ (9)
23
Un aspecto que conviene resaltar es que las Ecuaciones (7) y (8) representan la
respuesta del medio al campo eléctrico, mientras que la (9) representa la respuesta
al campo magnético. Ambas coexisten formando parte de la respuesta global del
medio al campo electromagnético. Pero dentro de la respuesta eléctrica se puede
discriminar entre un conductor y un dieléctrico se toma la Ley Ampere-Maxwell,
teniendo en cuenta las anteriores expresiones para ε y σ
∇ × ⃗H
⃗ = − jωD
⃗ + J = jω(ε´ − jε´´)E
⃗ + (σ´ + jσ´´)E ⃗ (10)
⃗ = j(ωε´ + σ´´) + (σ´ + ωε´´)E
⃗⃗ = Jt = JD + JC = σeff E
∇×H ⃗ (11)
Donde
∇ × ⃗H
⃗ = jωD
⃗ t = jωεeff ⃗E (13)
Donde
σ´´ σ´
εeff = (ε´ + ω
) − j (ε´´ + ω ) (14)
ε´con la energía de formación de los dipolos y ε´´ con las pérdidas de energía debido
a la interacción dipolar con el entorno. Macroscópicamente el efecto, de ε´ y σ´´ por
una parte, y el de σ´ y ε´´ por otra son indistinguibles y solo se utiliza una magnitud
compleja, cuyas partes real e imaginaria engloban los pares de mecanismos
equivalentes; entonces se utiliza la conductividad efectiva o la permitividad efectiva
según el mecanismo dominante.[7]
2.2.1.- Dieléctricos
⃗ = ε0 𝑋𝑒 𝐄
𝐏 ⃗ (15)
⃗𝐃 = 𝛆𝟎 𝐄
⃗ +𝐏
⃗ = 𝛆𝟎 (𝟏 + 𝑿𝒆 )𝐄
⃗ = 𝜺𝐄
⃗ (16)
Cuando el campo aplicado es variable con el tiempo, los dipolos intentan seguir
las variaciones del campo, pero su respuesta no es instantánea y depende de la
inercia propia de los dipolos y de la interacción con las partículas vecinas.
Consecuentemente el tiempo de respuesta es distinto para los dipolos asociados a
cada uno de los mecanismos descritos. Ordenándolos de mayor a menor tiempo de
respuesta se tiene: orientación, iónicos y electrónicos, que corresponde a grupos de
mayor a menor masa. Para campos armónicos los dipolos siguen las variaciones del
campo eléctrico mientras el tiempo de respuesta es menor que el periodo del campo
(frecuencias bajas). Cuando son comparables, los dipolos siguen al campo eléctrico
con un cierto retraso que se traduce en un desfase temporal entre 𝐏
⃗ o ⃗𝐃 y 𝐄
⃗ , lo que
viene caracterizado, por la permitividad compleja [7]. Cuando el periodo es mucho
menor que el tiempo de respuesta, los dipolos no pueden seguir al campo y dejan
de contribuir a la polarización, bien porque desaparecen (dipolos por distorsión),
bien porque quedan orientados al azar (dipolos por orientación). Como el tiempo de
respuesta es distinto para cada tipo de dipolo, este proceso ocurre a periodos
distintos o lo que es lo mismo a frecuencias distintas dando lugar a una variación de
la permitividad con la frecuencia que se conoce como dispersión dieléctrica. Para los
dipolos generados por orientación ocurre en la banda de radiofrecuencias y
microondas, para los iónicos a microondas e infrarrojo y para los electrónicos en el
ultravioleta. [7]
1
𝑊 = ∫𝑉 𝜀́ 𝐸 2 𝑑𝑣 (17)
2
𝜀´ Orientación
IónicaElectrónica
𝜀´´
MicroondasIRVisibleUV
Frecuencia (Hz)
El cálculo se puede hacer por similitud del efecto de 𝜀´´ con la conductividad puesto
de manifiesto en la ecuación (14) y resulta
𝑃𝑑 = ∫𝑉 𝜔𝜀´´𝐸 2 𝑑𝑣 (18)
𝜀 𝜀′ 𝜀´´
𝑃𝑒𝑟𝑚𝑖𝑡𝑖𝑣𝑖𝑑𝑎𝑑𝑟𝑒𝑙𝑎𝑡𝑖𝑣𝑎: 𝜀𝑟 ≜ 𝜀 = 𝜀 − 𝜀0
= 𝜀´𝑟 − 𝜀´´𝑟 (19)
0 0
𝜀´´
𝑇𝑎𝑛𝑔𝑒𝑛𝑡𝑒𝑑𝑒𝑝𝑒𝑟𝑑𝑖𝑑𝑎𝑠: 𝑡𝑎𝑛 𝛿 ≜ 𝜀´
(20)
Si se supone guías de onda rectangulares para banda X (8-12 GHz) (ver figura 2)
denominadas WR-90 las cuales son utilizadas en el laboratorio de comunicaciones
de LUZ, se tiene que sus dimensiones son 1,016cm x 2,286cm (Y x X). La
30
𝑐 3.108
𝑓𝑐 = = = 6,556𝐺𝐻𝑧 (23)
2𝑎 2.(0,02286)
En la que:
fc:Frecuencia de corte en Hz.
a: Longitud trasversal en metros.
La constante característica del medio dentro de la guía de onda para el modo TE10
para condición de corte es:
𝜋 𝜋 𝜋
𝐾𝑐 = 𝑎.𝑏 = (0,0286).(0,01016) = 0,0232 = 135,2633 𝑟𝑎𝑑/𝑚 (24)
31
Donde:
a: Longitud trasversal de la cota X de la guía de onda WR-90.
b: Longitud trasversal de la cota Y de la guía de onda WR-90.
Con:
fc = 6,557GHz
fc: Frecuencia de corte de la guía de onda WR-90
C0= 3.108m/s
C0: velocidad de la luz en el vacío.
Con:
Kc = 135,2633 rad/m
Kc: Constante característica de la guía de onda WR-90
K0 = 137,4246 rad/m
K0: Constante de corte de la guía de onda WR-90
β0 = 24,2766 rad/m
β0: Constante de propagación en la guía de onda WR-90.
Las técnicas en guía o libre serán útiles cuando se desea medir con buena
precisión a frecuencias bajas y medias dentro del rango de microondas. Son
aplicables a los materiales con bajas o altas pérdidas pero inapropiadas cuando no
permiten un fácil mecanizado. También resultan adecuadas cuando el objetivo es el
estudio de la variación de los parámetros del material en función de la
temperatura.
Las técnicas en medio libre resulta más adecuada para caracterizar materiales
con pérdidas importantes, aunque no admitan un fácil mecanizado. Su aplicación es
más fácil cuanto mayor es la frecuencia, pero no resultan útiles cuando se desea
control de temperatura. Precisan de gran cantidad de material. Son las precisas
para medidas en control en procesos industriales.
Las técnicas de puente son técnicas muy precisas al estar basadas en detección
por cero, pero de aplicación limitada ya que necesitan buenos patrones de
impedancia, lo que resulta difícil de conseguir.
Las técnicas en resonadores son las más sensibles, por lo que son las más útiles
para medidas precisas en materiales de bajas pérdidas. Por lo contrario, resulta
imposible utilizarlas para materiales con altas pérdidas y solo permiten medidas a
frecuencia fija. Con una elección adecuada del resonador pueden ser utilizadas a
cualquier frecuencia: resonador en coaxial para bajas frecuencias, en guías para
medias y resonador tipo Fabry-Perot para altas. Pueden ser utilizadas para control
de temperatura y solo precisan de pequeñas cantidades de material a medir pero
fácilmente mecanizable. Pueden ser aplicables para materiales en formas irregulares
si se utiliza teoría de perturbaciones para su análisis.
35
Base teórica de la técnica: La técnica fue inventada por el científico Arthur Von
Hippel y perfeccionada por el profesor de la Universidad de Oxford Steven Roberts
quien agrega un método gráfico para el desarrollo de la ecuación que describe el
método.
Se denomina:
𝛾0 = 𝑗𝛽0 (27)
𝛾 = 𝑗𝛽 (28)
Zona vacía:
𝐸1 = ̅̅̅̅
̅̅̅ 𝐸1+ (𝑒 −𝑗𝛽0 𝑧 + 𝛤1 𝑒 𝑗𝛽0 𝑧 ) (29)
−
̅̅̅̅
̅𝐻̅̅1̅ = 𝐸1 (𝑒 −𝑗𝛽0 𝑧 − 𝛤1 𝑒 𝑗𝛽0 𝑧 ) (30)
𝑍 1
𝜔𝜇0
𝑍1 = (33)
𝛽0
𝜔𝜇0
𝑍2 = (34)
𝛽
𝛤2 = −𝑒 −2𝑗𝛽𝑑 (36)
38
1+𝛤 1+𝛤
𝑍1 1−𝛤1 = 𝑍2 1−𝛤2 (39)
1 2
𝑡𝑎𝑛(𝛽𝑑) 𝑗(1+𝛤1 )
=− =𝐾 (40)
𝛽𝑑 𝛽0 𝑑(1−𝛤1 )
𝛽 2 +𝐾2
𝜀𝑟 = 𝛽2 +𝐾𝑐2 (41)
0 𝑐
1−𝑆 2𝑗𝛽 𝑙
𝛤1 = 𝑒 0 𝑚𝑖𝑛 (42)
1+𝑆
tan(𝛽0 𝑙0 ) = 0 (44)
Se obtiene
1 1−𝑗𝑆𝑡𝑎𝑛[𝛽0 (𝑑+𝑙0 −𝑙)]
𝐾 = −𝑗 . (45)
𝛽0 𝑑 𝑆−𝑡𝑎𝑛[𝛽0 (𝑑+𝑙0 −𝑙)]
Una sonda (antena diodo actuando como receptora) acoplada a un sistema que
permite su desplazamiento a lo largo de la guía. El movimiento se realiza a partir de
un tornillo micrométrico que nos proporciona la posición de la sonda respecto a una
cierta posición de referencia
Con
𝑆 = 2,2
𝑑 + 𝑙0 − 𝑙 = 0,06𝑚
𝑓 = 9,51 𝐺𝐻𝑧
Tales valores son insumo para cualquier desarrollo matemático que resuelva la
ecuación de Von Hippel para la técnica SCL, sólo es aplicable en el Laboratorio de
Comunicaciones de LUZ o ambientes similares. Hay que tener en cuenta que la
frecuencia debe ser fijada con anterioridad, debido a que si se especifica un rango,
en este caso Banda X (8 a 12 GHz) el resultado pudiera ser drásticamente diferente,
esto es por el carácter dispersivo de la muestra.
43
CAPÍTULO III
CRITERIOS METODOLÓGICOS
Para Arias [9] el nivel de investigación se refiere al grado de profundidad con que
se aborda un objeto o fenómeno.
Para realizar esta fase es necesario cumplir con las siguientes actividades:
Planteamiento de premisas para el algoritmo de solución.
Planteamiento de herramientas matemáticas para ser ejecutadas en un
algoritmo.
Implementación del software en Matlab para simular el análisis de datos
obtenidos de la aplicación de la técnica SCL en el Laboratorio de Comunicaciones.
Una vez llevada a cabo la parte del software se procede a recopilar los datos
obtenidos para ser analizados. Para ello se procederá a observar y comparar con
casos de estudio previamente seleccionados el comportamiento de los datos de
manera visual en cada una de las simulaciones ejecutadas.
Para llevar a cabo esta fase de la investigación es necesario realizar las siguientes
tareas:
Para la descripción de los pasos que dan solución a la ecuación de Von Hippel se
deben definir unas premisas mediante las cuales se considera en primer lugar que
condiciones aseguran que está resuelto el problema, un punto de partida y al menos
un método de ejecución.
K ≡ constante ∈ C
βd ≡ incógnita ∈ C
Fácilmente se puede ver que es posible definir dos funciones de variable compleja
que deben coincidir para que se cumpla la condición de la ecuación (46):
Esto se logra a través del valor absoluto del error entre ambos lados de la
ecuación (46) luego aplicando la ecuación (48) descrita en el capítulo 2 para tener
una función R2 a R2 donde el dominio son todos los números complejos y la salida es
el valor complejo de permitividad utilizando como medio o función de relación las
ecuaciones (47) y (48).
50
Donde:
K: Constante conocida producto de la medición
β0: Constante de fase en el vacío.
d: Profundidad del porta muestras, conocido.
l: Distancia del cortocircuito al primer mínimo con muestra.
l0: Distancia del cortocircuito al primer mínimo sin muestra.
S: Relación de Onda Estacionaria con muestra, parámetro conocido producto de
la medición.
tan 𝑥
𝑥
=𝐾 (51)
tan 𝑥 = 𝑥 (52)
𝑆→∞ (53)
Desde el algoritmo base se tiene una aproximación cercana del valor de β que
ofrece un resultado que para la investigación que generó el artículo referenciado en
[1] se considera aceptable. Sin embargo el valor obtenido es uno que es complejo
que está cercano al valor inicial dado como primera aproximación (aproximación
temprana)
Eso quiere decir que si se definen dos funciones de dominio y rango complejo:
Con
𝑧 = 𝑥 + 𝑗𝑦
Claramente se puede decir que la intersección entre las funciones (56) y (57) es
la correspondiente a f(z).
200 -10.5
150
-11
100
50
-11.5
-12
-50
-100
-12.5
-150
-200 -13
-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100 -3.5 -3 -2.5 -2 -1.5 -1
Figura 10. Gráfica de tan(βd) con β obtenido del algoritmo base (derecha) y gráfico de tan(z)
con z todo el plano complejo.
Fuente: Flores, Daniel.
-10.5 -10.5
-11 -11
-11.5 -11.5
-12 -12
-12.5 -12.5
-13 -13
-3.5 -3 -2.5 -2 -1.5 -1 -3.5 -3 -2.5 -2 -1.5 -1
Figura 11 Gráfica de tan(βd) con β obtenido del algoritmo base (derecha) y gráfico de tan(z)
con z todo el plano complejo en el mismo rango y escala.
Fuente: Flores, Daniel.
Existe otra forma de determinar el nuevo valor. Se toma que el nuevo valor
determinado responde también a g(z) de tal forma que es solución de Kβd, ecuación
60
Para comenzar se debe tener claro las premisas expuestas en el inciso 4 de éste
capítulo.
𝑆−1
|Γ| = | | (58)
𝑆+1
Es decir, se puede obtener un gráfico de la función (58) donde se toma como eje
de las abscisas la relación de onda estacionaria “S” y para el eje de las ordenadas la
magnitud del coeficiente de reflexión de tensión.
Este artificio se hace para “acoplar” el gráfico de la función (58) que es S vs. ΙΓΙ
con el gráfico en la figura 8 que es ε’rvs. ΙΓΙ. Ambos gráficos comparten el eje de las
ordenadas. De ésta forma se han acoplado los gráficos. En la Figura 14 se puede
mostrar el resultado que se constituye en la primera parte de la cartilla.
Figura 14. Gráfico que relaciona S con la permitividad para independizar el método a
mediciones anteriores.
Fuente: Flores, Daniel
67
El modo de uso es que una vez medido el valor de “S”, el usuario se introduce en
el gráfico de la izquierda que desde ahora en adelante se llamará “g2.3” para de esa
forma encontrar el valor de ΙΓΙ y con ese valor ir al gráfico adjunto a la derecha que
relaciona las variables ε’r y ΙΓΙ que desde ahora en adelante se llamará “g1.3” y así
encontrar el valor de ε’r.
Se asume εr.= ε’r.-j ε’’r.= ε’r.-j0, así que queda totalmente determinado el valor
de permitividad para iniciar el método numérico que determine el verdadero valor
de permitividad dieléctrica compleja.
Kc = 137,4246 rad/m
68
A partir de las ecuaciones (60) y (61) se pueden construir ejes coordenados para
β2 sobre los ejes coordenados de la permitividad dieléctrica compleja tan solo con
las modificaciones de la variable independiente desplazamiento y/o escalamiento.
Los pares ordenados se pueden expresar con las tablas de la figura 15.
Tabla 1 . Tabla de valores de las funciones (60) y (61)
ε’r Re(β2) ε'’r Im(β2)
1 589,353308 1 19474,874
2 20064,2273 2 38949,748
3 39539,1013 3 58424,622
4 59013,9753 4 77899,496
5 78488,8493 5 97374,37
6 97963,7233 6 116849,244
7 117438,597 7 136324,118
69
8 136913,471 8 155798,992
9 156388,345 9 175273,866
10 175863,219 10 194748,74
20 370611,959 20 389497,48
30 565360,699 30 584246,22
40 760109,439 40 778994,96
50 954858,179 50 973743,7
60 1149606,92 60 1168492,44
70 1344355,66 70 1363241,18
100 1928601,88 100 1947487,4
Fuente: Flores, Daniel
Luego, el modo de uso de los valores hallados a través de los ejes coordenados
determina un número complejo en el plano complejo que es el gráfico “g1.3” que
gráficamente tiene magnitud y ángulo, fácilmente se puede determinar la raíz
cuadrada del dato hallado.
Donde:
Luego se define una nueva área de la cartilla de gráficos llamado g3.3 que tendrá
en el eje vertical la parte real de K y el eje horizontal en orden inverso tendrá
asociada la variable Imaginario de K. Con el valor de K complejo ya determinado y
graficado en g3.3 es fácil determinar Kβd, debido a que el primer cálculo de βd será
siempre real de forma que será igual que K escalado.
Puntualizando, la cartilla tiene tres áreas o divisiones llamadas g1.3, g2.3 y g3.3
cada área representa un plano cartesiano que puede ser real o complejo según sea
el caso.
g2.3.3 g1.3.3
g3. g1.3.1
g2.3.1
3
g2.3.2 g1.3.2
Con Kβd encontrar el punto contenido en tan[z] más cercano a Kβd , tal
punto será el nuevo valor que asumirá Kβd.
Luego dividir ese valor nuevo por el antiguo K.
El resultado ubicarlo en g.1.3.2 o g.1.3.3 según aplique y encontrar (βd)2
que será ahora un número complejo.
Con ese valor entrar en g.1.3.1 y hallar el nuevo y definitivo valor de εrc.
CONCLUSIONES
A.R. Von-Hippel. “Dielectric Materials and Applications”, 4th ed. Cambridge, MA:
MIT Press, 1966.
err_ini=Hippel_err([erp1 ers1])
epsilon=fminsearchbnd('Hippel_err',[erp1 ers1],[erpminersmin],[])
err_fin=Hippel_err([real(epsilon) imag(epsilon)])
for m=1:N
for n=1:N
z(m,n)=Hippel_err([x(n) y(m)]);
end
end
pcolor(x,y,z);
shading interp;
caxis([0 5]);
title('Err=|tg(z)-Kz|');
xlabel('Real(epsilon)');
ylabel('Imag(epsilon)');
colorbar
figure
ktrue=2*pi*fc*(muo*eo*(epsilon(1)-i*epsilon(2)))^0.5;%esta contiene la
variable que no
%se%
betatrue=(ktrue^2-kc^2)^0.5;%depende de k%
ftrue=abs(tan(betatrue*d)-K*(betatrue*d));%se le aplica el metodo desde dond
se llama
epsilontrue=(betatrue^2+kc^2)/(betao^2+kc^2)
xx=linspace(-5,5,N); yy=linspace(-5,5,N);
for m=1:N
for n=1:N
zs(m,n)=xx(m)+i*yy(n);
end
end
subplot(1,2,1)
plot(tan(zs(1:N,1:N))),grid on;
subplot(1,2,2)
plot(tan(betatrue*d),'+r'),grid on
def=betatrue*d;
der=zs(1:N,1:N);
realder=real(der);
imagder=imag(der);
realdef=real(def);
imagdef=imag(def);
dert=abs(der-def);
[plm,pln]=min(min((dert)));
qwe=dert(:,pln);
qwer=qwe';
[we,ws]=min(qwer);
rty=(1/d)*zs(ws,pln);
ratye=(1/d)*atan(rty);
betatrue2=abs(real(rty))+i*(imag(rty));
epsilontrue2=(betatrue2^2+kc^2)/(betao^2+kc^2)
Apoyo: Hippel_err
function f=Hippel_err(er)
lo=14.6e-2;%distancia cc 1er min sin muestra%
l=11.8e-2;%distancia cc 1er min con muestra%
co=299792458;%velocidad de la luz%
muo=4*pi*1e-7;
eo=1/(muo*co^2);
a=2.322576e-2;%area de la guia de onda WR-90%
fc=6.557e9; %frecuencia de corte para guias de onda WR-90%
kc=pi/a;%valor caracteristico de k en el vacio y en la guia de onda tipo WR-
90%
d=3.2e-2; %longitud de la muestra%
lmin=d+lo-l;%parametro de Beta ara hallar "K"%
S=2.0503;%Razon de Onda Estacionaria%
ko=2*pi*fc/co; %numero de onda de corte%
betao=(ko^2-kc^2)^0.5;%beta en el vacio tomando en cuenta las dimensiones de a
guia%
NumK=-i*(1-i*S*tan(betao*lmin));
DenK=betao*d*(S-i*tan(betao*lmin));
K=NumK/DenK;%Valor de "K"%