ESTUDIO DE LA DIFRACCION DE RAYOS X A TRAVÉS DE UN

MONOCRISTAL DE FLUORURO DE LITIO PARA PARA

DETERMINAR SU PARAMETRO DE RED
Carlos Jiménez ac, Juliana Acosta b y Manuel Mejía a
a
Facultad de Ingeniería eléctrica. Universidad Pontificia Bolivariana de Medellín. Colombia
b
Facultad de Ingeniería electrónica. Universidad Pontificia Bolivariana de Medellín.
Colombia
c
(carlos.jimenesv@upb.edu.co)

RESUMEN

En este artículo se explica el procedimiento mediante el cual se obtuvo el patrón de difracción que resulta de hacer
incidir rayos x provenientes de una fuente de cobre sobre un monocristal de fluoruro de litio y cómo a partir de
dicho patrón se obtienen los ángulos de reflexión de los rayos x en el monocristal; con los cuales se puede
determinar el parámetro de la red del fluoruro de litio.

Palabras clave: rayos x, monocristal, difracción, reflexión.

ABSTRACT

This article explains the procedure by which the diffraction pattern that results from striking x rays from a copper
source on a lithium fluoride monocrystal was obtained and how from this pattern the reflection angles of the x-rays
in the monocrystal are obtained; whit which is possible to determine the network parameter of lithium fluoride.

Keywords: x-rays, mono-crystal, diffraction, reflect

1. INTRODUCCIÓN
En 1895 el físico alemán Wilhelm Roentgen encontró que un haz de electrones a alta velocidad
incidiendo sobre un metal producía un nuevo tipo de radiación muy penetrante; los rayos x, los
cuales tienen longitudes de onda del orden de los Angstrom, el mismo orden de magnitud que
tiene la separación atómica de los cristales [1], debido a esto, se pueden utilizar para determinar
características de las estructuras cristalinas como en este caso el parámetro de red por medio del
patrón de difracción ubicando los máximos de difracción de las líneas espectrales, considerando
al cristal como una rejilla de difracción al tener una estructura atómica organizada y un
espaciamiento entre planos atómicos del orden de los Angstrom.

1
 2. MODELO TEÓRICO

El fenómeno de difracción ocurre cuando la luz pasa por una estructura periódica o es reflejada
por ella; por lo cual se da haciendo pasar la luz en una red cristalina gracias a su estructura
periódica, en esta red cristalina, la distancia entre los átomos y también la distancia que se repite,
es aproximadamente 10-8 cm, y se encuentran, patrones de difracción cuando los rayos X tienen
una longitud de onda aproximada de 10-8 cm, pues para que la difracción sea observable, la
distancia que se repite en la estructura periódica debe ser aproximadamente igual a la longitud
de onda de la luz utilizada.
Los Bragg analizaron lo que ocurría cuando los rayos X de longitud de onda λ inciden sobre
planos de átomos paralelos como se muestra en la siguiente figura.

Figura 1. Esquema que representa la interpretación de la difracción de rayos X por un cristal. Adaptada referencia
[2]

Las ondas difractadas producirán intensidad máxima en un detector si ambos están en cresta o
un valle, es decir si la diferencia entre las trayectorias de los rayos es un número entero de veces
la longitud de onda de los rayos X empleados, nλ, donde n es un número entero. Con lo cual,

2
llegaron a la siguiente ecuación.

𝑛𝜆 = 2𝑑ℎ𝑘𝑙 sen𝜃 (1)

Donde λ es la longitud de onda, los índices de Miller (ℎ, 𝑘, 𝑙), representan los planos cristalinos
y 𝑑 es el espaciamiento entre ellos; 𝜃 representa el ángulo de reflexión de los rayos X y 𝑛 se
denomina orden de difracción.

Para determinar los índices de Miller que caracterizan el plano en consideración, procedemos
de la siguiente manera:
a) Hallamos los puntos de corte x0, y0, z0.

b) Encontramos las relaciones x0 /a, y0 /b y z0/c; en donde las letras a, b, c, son las
magnitudes de los respectivos vectores.
c) Tomamos los inversos de los tres números anteriores, es decir: a/x0, b /y0 y c/z0.
d) reducimos la tripla anterior en su mínimo común denominador; multiplicamos los
inversos (paso c) por este número, y los números que resultan son los 3 índices de Miller
(h, k, l). Adaptada referencia [3].

Figura 2. plano cristalino de un cristal cubico. Adaptada referencia [3]

A partir de la ecuación 1, se puede sacar la relación entre los índices de Miller, la constante de

3
red 𝑎 y el espaciamiento entre planos de reflexión para un sistema cubico:

Figura 3. Sistema de referencia arbitrario en un cristal cubico simple. Adaptada referencia [3]

Cálculo del parámetro de red de una estructura cúbica. Adaptada referencia [4]
1 2sen𝜃
ℎ𝑎 + 𝑘𝑏 + 𝑙𝑐 = = (2)
𝑑ℎ𝑘𝑙 𝜆
elevamos todo al cuadrado y para un sistema cubico donde a=b=c, obtenemos lo siguiente:

1 4sen2 𝜃
(ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙 2 )𝑎2 = 2 = 2
(3)
𝑑ℎ𝑘𝑙 𝜆
Despejando d y sacando raíz:
𝑎
𝑑= (4)
√ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙 2
De esta relación es posible despejar la constante de red a; h, k y l son los índices de Miller y d
es el espaciamiento entre los planos de reflexión.
El proceso por el cual se emiten o liberan electrones de un material, por la acción de la radiación,
es decir, al ser iluminados a cierta frecuencia, se denomina efecto fotoeléctrico o emisión
fotoeléctrica.
Einstein explicó las características del efecto fotoeléctrico, suponiendo que cada electrón
absorbía un cuanto de radiación o fotón. Por lo que la energía de un fotón se obtiene
multiplicando la constante h de Planck por la frecuencia f de la radiación electromagnética.
𝐸 = ℎ𝑓 (5)

La cual podemos usar para el cálculo de la longitud de onda de las líneas espectrales junto a la

4
ecuación de De Broglie
ℎ ℎ𝑓
𝑝= = (6)
𝜆 𝑐
De 5 y 6 se obtiene
ℎ𝑐
𝜆= (7)
𝐸
Donde 𝑝 es el momento lineal, 𝑓 es la frecuencia de la onda y ℎ = 6.62 ∗ 10−34 𝐽𝑠 es la constante de
plank y 𝑐 = 299792458 𝑚/𝑠 es la velocidad de la luz.

3. MÉTODO EXPERIMENTAL Y RESULTADOS

Para obtener los datos que permitirán el cálculo de la constante de red para el cristal de Fluoruro
de Litio se hace uso del equipo de rayos X marca PHYWE X-ray 4.0, que se muestra en la figura
4.

Figura 4. Equipo de rayos X

Con el cual se obtiene la gráfica de la figura 5 que muestra el patrón de difracción para el cristal
de LiF.

5
 12000

10000

8000

Intensidad
6000

4000

2000

0
15 20 25 30 35 40 45 50 55
2θ

Figura 5. gráfica del patrón de difracción para el cristal de LiF de intensidad (Ua) Vs 2Ө (°)

A partir de dicha gráfica se ubican los picos de difracción que se muestran en la tabla 1 donde
se observa en la columna 1 el orden de difracción, en la columna dos se presenta el ángulo donde
se ubican los máximos de difracción generados por el cristal, en la columna tres se observa la
línea que corresponde a cada máximo de difracción, en la cuarta columna se muestra la energía
experimental de cada pico con su respectivo orden de difracción obtenidos de [5] y en la última
columna se presentan las longitudes de onda de los picos calculados con (7)

Orden de difracción 𝟐𝜽(°) Línea 𝐄𝐞𝐱𝐩(𝐊𝐞𝐯) 𝝀(Å)

n=1 25,6 𝑘𝛼 7,974 1,556
23,3 𝑘𝛽 8,830 1,405
n=2 53,3 𝑘𝛼 8,005 1,550
47,1 𝑘𝛽 8,857 1,401
Tabla 1. Valores experimentales para el cristal de LiF

Los índices de Miller se determinan por medio del método anteriormente explicado; teniendo
en cuenta que el plano del corte que se le realiza al monocristal de LiF es paralelo a una de sus
caras se tiene que los índices de Miller son (ℎ=1, 𝑘=0, 𝑙=0).
Para poder determinar la separación entre los planos 𝑑 se utiliza la ecuación (1)
Y según la forma de los índices de Miller y con la ecuación (4) se puede afirmar que el parámetro
𝒂 del monocristal es igual a 𝒅.

6
Se presenta la tabla 2 donde la primera columna muestra los valores obtenidos
experimentalmente para 𝒅 y 𝒂.
𝒅(Å) 𝒂(Å)
3,511 3,511
3,479 3,479
3,455 3,455
3,506 3,506
Tabla 2. Valores calculados para 𝒅 𝒚 𝒂

se promedian los valores obtenidos del parámetro 𝑎 para obtener un estimado de este, con el
cual tenemos un 𝑎 = 3,488 Å.

4. ANÁLISIS DE RESULTADOS Y DISCUSIÓN

A partir del patrón de difracción, fue posible obtener experimentalmente el parámetro de red
para un monocristal de fluoruro de litio, cuyo valor fue 𝟑, 𝟒𝟖𝟖 Å, aunque dado a que es un dato
experimental, se pueden presentar deficiencias.
El método de difracción de rayos x, nos permite averiguar el parámetro de red de las estructuras
cristalinas, para nuestro caso, hallamos el parámetro de red para una estructura cubica, pero
puede procederse de la misma manera para estructuras tetragonales o trigonales, haciendo uso
de la gráfica del patrón de difracción, que, en nuestro caso, podemos apreciar en la figura 5. en
la que cada vez que el ángulo Ө es tal que se cumple la condición de difracción dada por la
ecuación (1), se encuentra un pico de difracción.
Conociendo los parámetros de red de los materiales, puede saberse si existe la coincidencia de
ellos para dos materiales semiconductores, que es lo que ha permitido la construcción de
Leds y diodos láser.

5. CONCLUSIONES
Para obtener información de estructuras tan pequeñas como los átomos cristalinos o estructuras
moleculares de estos átomos resulta muy útil el uso de rayos x y el análisis del patrón de
difracción de estos ya que como se pudo observar en el desarrollo experimental la longitud de
onda del espectro de estos rayos tiene el mismo orden de magnitud que la separación de las
estructuras cristalinas como en este caso el monocristal de fluoruro de litio.

7
REFERENCIAS

[1]. RAYMOND A. SERWAY, CLEMENT J. MOSES and CURT A. MOYER, Modern

Physics, Third Edition, Thomson Learning, 2005.

[2]. A. E. Cordero, Instituto de Física, UNAM y Sociedad Mexicana de Cristalografía, A.C.

A.P. 20-364.
[3]. Introducción a la física moderna, Mauricio García Castañeda, Jeannine Ewert de-Geus,
tercera edición, Universidad Nacional de Colombia, 2003
[4]. Scientia et Technica Año X, No 26, Diciembre, 2004. UTP. ISSN 0122-1701
[5]. PHYWE, Laboratory Experiments, 01200-02. X-Ray experiments.