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FUNDAMENTO TEORICO
Historia
1. Rayos x
La historia de los rayos X comienza con los experimentos del científico británico William
Crookes, que investigó en el siglo XIX los efectos de ciertos gases al aplicarles
descargas de energía. Estos experimentos se desarrollaban en un tubo vacío, y
electrodos para generar corrientes de alto voltaje. Él lo llamó tubo de Crookes. Este
tubo, al estar cerca de placas fotográficas, generaba en las mismas algunas imágenes
borrosas. Pese al descubrimiento, Nikola Tesla, en 1887, comenzó a estudiar este
efecto creado por medio de los tubos de Crookes. Una de las consecuencias de su
investigación fue advertir a la comunidad científica el peligro para los organismos
biológicos que supone la exposición a estas radiaciones.
El físico alemán Wilhelm Conrad Röntgen descubrió los rayos X en 1895, mientras
experimentaba con los tubos de Hittorff-Crookes y la bobina de Ruhmkorff para
investigar la fluorescencia violeta que producían los rayos catódicos. Tras cubrir el tubo
con un cartón negro para eliminar la luz visible, observó un débil resplandor amarillo-
verdoso proveniente de una pantalla con una capa de platino-cianuro de bario, que
desaparecía al apagar el tubo. Determinó que los rayos creaban una radiación muy
penetrante, pero invisible, que atravesaba grandes espesores de papel e incluso
metales poco densos. Usó placas fotográficas para demostrar que los objetos eran más
o menos transparentes a los rayos X dependiendo de su espesor y realizó la primera
radiografía humana, usando la mano de su mujer. Los llamó "rayos incógnita", o "rayos
X" porque no sabía qué eran, solo que eran generados por los rayos catódicos al chocar
contra ciertos materiales. Pese a los descubrimientos posteriores sobre la naturaleza
del fenómeno, se decidió que conservaran ese nombre. En Europa Central y Europa del
Este, los rayos se llaman rayos Röntgen (en alemán: Röntgenstrahlen).
La noticia del descubrimiento de los rayos X se divulgó con mucha rapidez en el mundo.
Röntgen fue objeto de múltiples reconocimientos: el emperador Guillermo II de Alemania
le concedió la Orden de la Corona y fue premiado con la Medalla Rumford de la Real
Sociedad de Londres en 1896, con la medalla Barnard de la Universidad de Columbia y
con el premio Nobel de Física en 1901.
El fenómeno de difracción de los rayos X en un cristal fue descubierto mucho más tarde,
en 1912, por Laue, Fridrich y Knipping. Este descubrimiento demostró de forma
convincente la naturaleza ondulatoria de los rayos X, que pasarían a formar parte de la
región de longitudes de onda más corta del espectro electromagnético. Además, la
difracción de rayos X se convirtió en la primera y definitiva prueba experimental de la
estructura periódica de los cristales. Es bien conocido en óptica visible que la radiación
con longitud de onda comparable o menor que la separación entre los elementos de una
rejilla regular experimenta difracción. Por lo tanto, la longitud de onda de los rayos X
debía ser del orden de las distancias entre los átomos.
Estimulado por los resultados del experimento de Fridrich y Knipping, Laue extendió la
teoría de la difracción clásica al caso tridimensional, desarrollando lo que se conoce
como teoría geométrica o cinemática de la difracción. La difracción sirvió como
herramienta para estudiar la estructura atómica de los cristales, provocando el desarrollo
de numerosas técnicas de caracterización de materiales.
Cristalografía
Es una técnica que sirve para determinar la estructura de un material, es decir, permite
conocer la posición que ocupan los átomos, iones y moléculas que lo forman.
Debido a este ordenamiento podemos determinar propiedades, tanto físicas como
químicas de los materiales.
La cristalografía de rayos X es una técnica experimental para el estudio y análisis de
materiales, basada en el fenómeno de difracción de los rayos X por sólidos en estado
cristalino.
Los rayos X son difractados por los electrones que rodean los átomos por ser su longitud
de onda del mismo orden de magnitud que el radio atómico. El haz de rayos X
emergente tras esta interacción contiene información sobre la posición y tipo de átomos
encontrados en su camino. Los cristales, gracias a su estructura periódica, dispersan
elásticamente los haces de rayos X en ciertas direcciones y los amplifican por
interferencia constructiva, originando un patrón de difracción. Existen varios tipos de
detectores especiales para observar y medir la intensidad y posición de los rayos X
difractados, y su análisis posterior por medios matemáticos permite obtener una
representación a escala atómica de los átomos y moléculas del material estudiado.
Efecto Fotoeléctrico
Efecto Compton
Absorción Diferencial
Métodos
Ley de Bragg
Se hace incidir un haz (de electrones, neutrones, rayos X) sobre un cristal que posee
una familia de planos atómicos paralelos definidos por sus índices de Miller (h,k,l) y
separados una distancia d. Cada plano refleja una porción de la radiación. El haz
incidente forma un ángulo q sobre la familia de planos, entonces únicamente se
obtienen haces difractados cuando las reflexiones en los sucesivos planos atómicos
paralelos interfieran aditivamente. Esto sucede cuando la diferencia de trayectoria entre
los rayos reflejados por dos planos adyacentes sea un múltiplo entero de su l, es decir :
nl = 2dsen θ
Siendo la longitud de onda de los electrones muy pequeña esta ley se satisface para
ángulos θ muy pequeños, es decir rayos casi paralelos a los planos cristalinos.
1.- MÉTODO DE LAUE
Se utiliza un monocristal fijo sobre el cual se hace incidir un haz de Rayos X blancos en
dirección perpendicular a la placa fotográfica, ver figura. El haz directo forma una
mancha negra sobre la placa fotográfica, aunque se suele poner una chapa de plomo
para interceptarlo y que no forme tal mancha. Cada familia de planos reticulares formará
su mancha característica.
El ángulo de incidencia entre el haz de Rayos X y los distintos planos reticulares con su
espaciado d es fijo. Pero como se trata de Rayos X blancos, están presentes todas las
longitudes de onda. La Ley de Bragg se cumple siempre y cuando ( 2dsenq )/n esté
incluido en el rango de longitudes de onda producidos por el tubo de Rayos X y
aparecerán las manchas de difracción correspondientes a cada familia de planos
reticulares.
El Método de Laue es útil para estudiar la simetría de los cristales, siempre y cuando el
haz incidente sea paralelo a un elemento de simetría; pero no resulta muy aplicable para
la determinación de estructuras cristalinas pues resulta difícil saber los valores de la
longitud de onda para los que se produce cada señal de difracción.
2.- MÉTODOS DE CRISTAL MÓVIL
Para ampliar las aplicaciones de la difracción de los Rayos X, Bragg consideró que
usando una radiación monocromática la única posibilidad para que se cumpla la
condición de difracción para un espaciado determinado, es variar el ángulo. Esto se
consigue colocando el cristal en un sistema que gire, de tal manera que para cada valor
de que cumpla la condición de difracción se produzca un punto en la película. Con ello
se puede saber cuales son los planos reticulares asociados a cada difracción.
Fue desarrollado por Debye y Scherrer en Alemania durante 1916. La mayoría de las
veces no se dispone de cristales adecuados para realizar el Rayos X del monocristal,
en este caso se utiliza el Método de Polvo. Con este método resulta difícil, aunque no
imposible, la determinación de estructuras cristalinas. Es una técnica muy útil para el
reconocimiento de especies minerales y también para estudiar numerosos procesos que
afectan a las fases minerales.
Para realizar el difractograma de polvo hay que moler el material a un tamaño de 50 nm.
La orientación de los microcristales es aleatoria. El portamuestras se hace girar, según
un ángulo, con el fin de que el haz monocromático incida sobre la muestra en un rango
que permita registrar las reflexiones. Cuando un determinado plano reticular sea capaz
de producir reflexiones que cumplan la condición de Bragg, se producirá una mancha o
un pico en el difractograma, correspondiente a un determinado valor del ángulo
(realmente se considera 2q).
Para cada sustancia hay una ficha en que se dispone, entre otros datos, del listado de
picos de difracción. Esto sirve para comparar con el correspondiente a la muestra que
se está estudiando.
APLICACIONES
En la actualidad, la difracción de rayos X tienen muchas aplicaciones en el estudio de
la materia sólida: Unas veces a partir de mezclas de polvo mono o policristalinas y otras
a partir de cristales con menos de un milímetro de diámetro, pueden realizarse estudios
no destructivos de diversos tipos: análisis cualitativo, análisis cuantitativo, análisis micro
textural, Tamaño de cristalito, Cristalinidad, deformación no homogénea (strain)
Tensores de dilatación térmica (termo difracción), cambios de fase (reacciones en
estado sólido, procesos secuenciales), análisis estructural. Posiciones atómicas,
oscilaciones atómicas de carácter térmico, desorden posicional, etc.)
La difracción de rayos-x es un método de alta tecnología no destructivo para el análisis
de una amplia gama de materiales, incluso fluidos, metales, minerales, polímeros,
catalizadores, plásticos, productos farmacéuticos, recubrimientos de capa fina,
cerámicas y semiconductores. La aplicación fundamental de la Difracción de Rayos X
es la identificación cualitativa de la composición mineralógica de una muestra cristalina
Otras aplicaciones son el análisis cuantitativo de compuestos cristalinos, la
determinación de tamaños de cristales, la determinación del coeficiente de dilatación
térmica, así como cálculos sobre la simetría del cristal y en especial la asignación de
distancias a determinadas familias de planos y la obtención de los parámetros de la red.
Los productos de petróleo son esenciales para casi todo el mundo. Para poder mantener
a las industrias petroleras andando, se necesita reducir la acumulación de sarro. Ya sea
que su interés sea en los sarros, recortes, cementos, o lodos en la industria de
extracción; el análisis de identificación de fase mediante Difracción de Rayos X (DRX o
XRD) es una herramienta muy importante para la industria. La meta primaria de esta
aplicación es rápidamente identificar las fases contenidas dentro del material de
muestra. Es fácil efectuar la recopilación de datos con el MiniFlex en combinación con
los datos de reducción y el análisis de Búsqueda/Coincidencia usando el paquete
software Jade de MDI. Usando los estándares de referencia de la base de datos del
Centro Internacional de Datos de Difraccion (CIDD o ICDD), se pueden usar las
posiciones de los picos para determinar las fases contenidas dentro del material
analizado. En el patrón de difracción de rayos X a continuación, se presenta una muestra
primariamente compuesta de calcita. Sin embargo, si uno no evalúa los datos
cuidadosamente, podría no ver la moscovita. El cuadro izquierdo es un acercamiento a
la línea de 100% de moscovita contenida dentro de la muestra.
El método de recuperación presentado en este trabajo resulta ser una buena alternativa
para la industria petroquímica, por ser factible y a la vez efectivo.