Capitulo 1

SISTEMAS CONTINUOS Y DISCRETOS
 Introducción.

• Los sistemas continuos: operan con señales

analógicas y su principal característica es
presentar continuidad tanto en magnitud
p g como
en tiempo.
• Los sistemas discretos: p
principal
p característica es
operar con señales discontinuas que presentan su
discontinuidad tanto en magnitud como en
tiempo.
 Sistemas Continuos.
Sistemas Continuos.

• Los primeros sistemas de adquisición de datos

operaron como sistemas continuos. A estos
sistemas actualmente se les conoce como
sistemas convencionales y su principal
característica es que registran y manipulan la
información mediante señales analógicas, tales
como voltaje, corriente, presión, temperatura,
posición o alguna otra variable física.
• La continuidad en magnitud se puede definir
bajo la característica de que ante un rango
definido de la variable o señal se tienen un
número infinito de valores intermedios.

• En relación a la continuidad en tiempo,

p , se p
puede
decir que una señal o variable que muestra
continuidad en el tiempo es aquella que
“siempre” esta presente.
 Continuidad en Magnitud

Continuidad en Tiempo.
 Sistemas Discretos.
Sistemas Discretos.
• Tienen la característica de operar con
información o señales que presentan
discontinuidad tanto en magnitud como en
tiempo.
tiempo
• Las computadoras operan y manipulan
información en forma de códigos digitales,
digitales es
decir, en grupos de bits Cuando varios bits se
agrupan
g p de alguna
g forma forman un código g
digital, lo que permite representar la información
con un mayor número de estados.
• En una señal continua tenemos que en cualquier
intervalo definido se tiene un número infinito de
valores intermedios y por otra parte en la señal
discreta se tiene un número finito de
combinaciones. Así, en el proceso de conversión
se tendrá que “aproximar” la magnitud de la
señal continua a la combinación digital que mejor
represente su magnitud.
Discontinuidad en Magnitud.
• La operación con códigos digitales hace que un
valor solo pueda ser representado por una de un
número finito de combinaciones,
combinaciones esto genera una
discontinuidad en magnitud porque entre un
valor y el siguiente no existen valores
intermedios.

• La discontinuidad en tiempo se produce al 
realizar una secuencia de instrucciones
realizar una secuencia de instrucciones.
Di
Discontinuidad
i id d en Tiempo.
Ti
 Precauciones en el diseño de sistemas 
di
discretos.

• 1.‐ El tamaño de la palabra.‐

1 palabra Lo que va a fijar
el error de cuantización, producido por el
redondeo o truncamiento producido en la
conversión de la variable continua a un código
digital.
• 2.‐ El tiempo entre muestreos.‐ Que evitará
que se “escapen
escapen eventos
eventos” o se produzca
distorsión en la información.
 Investigación Capitulo 1

• Investigar las ventajas y desventajas con las que

cuentan los sistemas discretos respecto a los
continuos, redactar con que tipo de sistema
prefieren trabajar y explicar sus razones de
manera convincente.
• Investigar la definición de señal y sus
clasificaciones.
Capitulo 2
Capitulo 2

Señales
 Definición y Clasificación 
y
de las Señal
• Se puede definir como señal a toda aquel
parámetro físico suya magnitud y variación con
respecto all tiempo
i contiene
i i f ió .
información
 Grupos de Señales
Grupos  de Señales

• Señales digitales: las señales digitales pueden

entregar dos tipos de información.

a) Estado de la señal: 0 o 1, on – off.

b) Cantidad de pulsos: es posible que con la
cantidad de pulsos de un sistema se obtenga
i f
información
ió como ell ángulo
á l de
d giro
i de
d un motor
t
 Grupos de Señales
Grupos  de Señales

• Señales Analógicas:
Analógicas de estas señales
puede obtenerse este tipo de
i f
información:
ió
a) Nivel o Valor Analógico de la señal:
permite apreciar el valor que a tomado la
señal, la cual será de lenta variación, por
ejemplo un sensor de caudal.
b) Forma o Contorno de la Señal:
i
importantísimo
t tí i cuandod se adquieren
d i
señales analógicas a alta velocidad y se
grafica
fi con respecto t all tempo.
t
c) Dominio de la frecuencia: es necesario
muestrear la misma a alta velocidad y
realizar la transformada de Fourier para
hacer el análisis con frecuencias o
Armónicos.
 Señales Digitales
Señales Digitales
• Señales digitales de estado ON‐OFF.
El sistema DAQ posee entradas digitales que son
capaces de detectar nivel TTL, si se trata de un ON
o de un OFF, y visualizarlo con un led o algún otro
dispositivo visual.
 Señales Digitales
Señales Digitales

• Señal Digital de Cantidad de Pulsos:
Señal Digital de Cantidad de Pulsos:
 Señales Analógica
Señales Analógica
• Señal Analógica
g DC o Lenta Variación:
Es utilizada generalmente para medir presiones,
flujo de un fluido, temperaturas.
 SSeñal Analógica DC o 
ñ l A ló i DC
Lenta Variación:
En síntesis se puede resumir que cuando se
adquieren señales analogías de variación lenta
es necesario:
• Una adecuada resolución por parte del sistema
DAQ como para medir el nivel de la señal de
l t variación
lenta i ió con la
l precisión
i ió deseada.
d d
• Velocidades de Muestreo Lentas, controladas
por el software.
• Evitar adquirir las señales de variación lenta a
Altas Velocidades de Muestreo para no
generar rápidamente voluminosos archivos
que ocupan espacio i en la
l PC y dificultan
difi lt ell
posterior análisis de los parámetros
adquiridos.
adquiridos
Señales Analógicas en el 
Señales Analógicas en el
Dominio del Tiempo:
 Señales Analógicas en el Dominio 
del Tiempo:
• Señales Analógicas
g en el Dominio del Tiempo:
p
A la hora de adquirir Señales Analógicas en el
Dominio del Tiempo se requiere que el
sistema DAQ tenga l
las siguientes
características:
• Un gran ancho de banda para poder
muestrear la señal analógica a altas
velocidades.
• Relojj interno lo suficientemente ppreciso ppara
muestrear la señal a intervalos determinados
de tiempo.
• Disponer de d un Controll por Trigger para
comenzar la Adquisición de Datos en un
instante preciso de tiempo para permitir que
en un ciclo y el siguiente se pueda tomar la
muestra en el mismo instante y poder emular
con ell Sistema
i DAQ un osciloscopio
il i sini que l
señal se desplace entre un ciclo y el siguiente.
Señales analógicas en le dominio 
de la Frecuencia
 Señales analógicas en le dominio 
d l
de la Frecuencia
i
• Señales Analógicas en el Dominio de la
Frecuencia:
Cuando se adquieren Señales Analógicas en el
D i i de
Dominio d lal Frecuencia
F i es necesario
i que ell
sistema DAQ tenga las siguientes
características:
• Un gran ancho de banda para poder muestrear
la señal a altas velocidades.
• Un reloj en el sistema DAQ muy preciso y
estable para poder muestrear la señal a
tiempos determinados.
determinados
• Es necesario un Trigger que permita
comenzar ell muestreo
t en un instante
i t t
preciso o cuando se da una cierta
condición.
condición
• Se requiere funciones de análisis
avanzado para convertir la información
adquirida que esta en función del tiempo
al campo de la frecuencia. Por ejemplo:
La Trasformada de Fourier, Filtros
Digitales,
g etc.
 Señales Referenciadas o no a tierra 
y Técnicas de Medición

En el proceso de realizar mediciones,

indefectiblemente, se deberá conectar a la
fuente de tensión o sensor con el Sistema
DAQ. El sensor puede tener cualquiera de las
siguientes
g configuraciones:
g
• Referenciado a Tierra (Grounded)
• Flotante o aislado de Tierra (Floating)
( g)
Por otro lado el Sistema de Medición tiene
generalmente 3 formas posibles de conexión
en sus entradas, las cuales son:
• Diferencial
f l
• Referenciado a tierra single ended
(Referencede Single Ended o RSE)
• No Referenciado a tierra single ended
(Nonreferenced single ended o NRSE)
 SSensores o Fuentes de Señal 
F d S ñ l
Referenciadas a Tierra
Referenciadas a Tierra

Una fuente de señal o sensor referenciado a 
tierra es aquel que cuenta con uno de sus
tierra es aquel que cuenta con uno de sus 
terminales conectado a la tierra o masa 
común de la instalación
común de la instalación.
• En la practica, entre dos puntos en un Sistema
de Tierra de un mismo edificio, puede haber
de 10 mV a 200 mV de diferencia de potencia.
Estas diferencias de potencia puede aun ser
mayor si la calidad constructiva de las
conexiones a tierra no es buena, esta
diferencia será fuente de problemas cuando
se conecten ciertos tipos de sensores a
algunos Sistemas DAQ.
 Sensores o Fuentes de Señal 
Sensores o Fuentes de Señal
Flotantes de Tierra
Una fuente de señal o sensor flotante de tierra
es aquel que no cuenta con ningún terminal o
conector de salida conectado eléctricamente
a tierra.
tierra
En síntesis y tal como se ve en la figura, en un
sistema
it d este
de t tipo
ti cada
d terminal
t i l del
d l sensor
es independiente de tierra.
 Sistemas de Medición con 
Sistemas de Medición con
Entrada Diferencial
En un sistema de Medición con entrada
Diferencial
if i l ningún
i ú borne
b o conector de
d
entrada es conectado a una referencia fija de
tensión
ió tall como la
l tierra
i eléctrica
lé i o masa
 Sitemas de Medición 
Single Ended Referenciado a Tierra
• Es similar al concepto de Fuente de Señal
Referenciada a tierra que ya se ha visto
aunque cambiando el punto de vista por que
ahora no es el sensor sino el Sistema de
Medición o Sistema DAQ el que esta referido
a tierra.
tierra
• En el Sistema de Medición o Adquisición
la medición se realiza entre un terminal
d
de entrada
t d all Amplificador
A lifi d d
de
Instrumentación con respecto a Tierra.
 Sistema de Medición 
Single‐Ended No Referenciado

• En un Sistema de Medición NRSE, todas

las mediciones son hechas con respecto
a una referencia común.
• El terminal AISENSE es la referencia común
con respecto a la cual cada entrada del
Amplificador de Instrumentación esta siendo
adquirida y medida.
• AIGND es la tierra eléctrica de todo el Sistema
de Tierra y eléctricamente no esta unida al
AISENSE.
 Capitulo 3

FUNDAMENTOS DE MUESTREO
FUNDAMENTOS DE MUESTREO
 Introducción.

• Uno de los problemas fundamentales en el

diseño de un sistema de adquisición de datos
discreto es determinar el número de muestras
requerido para representar una señal continua
cuya amplitud cambia en el tiempo. Como se
obtiene un conjunto finito de muestras para
representar una variable o señal continua, se
pierde información en el proceso de muestreo.
• En consecuencia, la pregunta que se debe
contestar es si los datos obtenidos mediante
muestreo son o no suficientes para describir la
variable continua. Una mala definición de las
características de muestreo afectará la función
del sistema de adquisición de datos
introduciendo errores que pudieran ser,
cuantitativamente, mucho más grandes que
todos los demás errores del sistema.
 El proceso de muestreo.
El proceso de muestreo

• Considere que una función en el tiempo

denotada por f1 (t) es la entrada a un
muestreador .
• El muestreador actúan como un interruptor,
que permite que su salida se iguale
instantáneamente a la función f1 (t) cuando se
cierra el interruptor.
interruptor
Diagrama simplificado del proceso de muestreo digital.
• Matemáticamente,
á podemos representar al
muestreador con una función de transferencia
cuyo valor
l numérico
é i es uno en ell instante
i t t en que
se cierra el interruptor y cero en cualquier otro
instante.
instante

• Si denotamos
d l función
la f ó ded transferencia
f d l
del
muestreador como f2(t), entonces.
∞
f 2 (t ) = ∑ δ (t − nT )
n =−∞
• Donde d (t nT) es un impulso unitario que
ocurre en t = nT y f2 (t) consiste de un número
infinito de impulsos con período T.

Número infinito de funciones de muestreo impulso.
• Aplicando esta analogía para describir el proceso
de muestreo digital, la salida del muestreador en
el dominio del tiempo se puede considerar como
el p
producto de f1 ((t)) y f2 ((t).
)

∞
salida = f1 (t ) ⋅ f 2 (t ) = ∑ ∞
n=−∞
f1 (t )δ (t − nT )
• Al realizar el muestreo se pierde información
dado a que ahora representamos una señal
continua con un número finito de muestras. ¿Es
significativa la información perdida? Para
contestar esto, se requiere determinar si
podemos o no reconstruir la función de entrada
f1 (t) a partir de este conjunto de muestras
discretas.
• La siguiente figura muestra una forma sencilla de
tener una visión del proceso de reconstrucción.
A í una señal
Aquí ñ l senoidal
id l de
d 3 Hz H ha
h sidoid
muestreada cada 0.2 seg. Como resultado de
esta frecuencia de muestreo de 5 Hz,
Hz aparece una
señal extraña, como formada por señales
senoidales de 2 y 8 Hz.
Hz Existen,
Existen de hecho,
hecho un
número infinito de señales senoidales que pasan
por los puntos muestreados.
Señales equivalentes (alias) que tienen el mismo valor en los 
tiempos de muestreo.
• Un estudio cuidadoso de esas señales
equivalentes, que llamaremos “alias”, indican que
l señal
la ñ l de
d 2 Hz
H representa
t la
l diferencia
dif i entre
t lal
frecuencia de muestreo y la frecuencia de
entrada senoidal,
senoidal y que la señal de 8 Hz
representa su suma. Con esto, intuitivamente
pudiéramos sospechar que existe una relación
entre la frecuencia de muestreo y la de la señal.
Para establecer esta relación, se requiere
considerar el proceso de muestreo en el dominio
de la frecuencia.
 Espectros.
• Una función en el dominio del tiempo, denotada
f(t) puede
f(t), d ser transformada
t f d a una función
f ió del
d l
dominio de la frecuencia equivalente, F(t),
usando la transformada de Fourier.
Fourier
• La transformada de Fourier es una
transformación integral de la forma.
forma
∞

Donde “f” es frecuencia y “j” es la variable 
F (t ) = ∫
−∞
f (T )e − j 2π ft dt
compleja igual a la raíz cuadrada de  1. 
• Las gráficas de Frecuencia contra Amplitud se
conocen como “gráficas de espectro”.
• La figura
g muestra una función senoidal en el
dominio de la frecuencia como líneas verticales.
• En la figura
g siguiente
g se hace evidente la riqueza
q
en armónicas de una onda con forma de pulso.

• LLa figura
fi il
ilustra l transformación
la f ió de
d la
l función
f ió
de muestreo impulso.
• La función mostrada en la figura es típica del tipo de
entradas a sistemas de medición; esto es, la entrada
es una forma de onda compleja que consiste en
varias frecuencias con diferentes amplitudes. Como
se muestra, la función tiene una representación
ú i en ell dominio
única d i i de d lal frecuencia
f i caracterizada
i d
por la presencia de energía en varias frecuencias
discretas extendiéndose desde cero hasta fc.
 Convolución.

• En el dominio del tiempo, tiempo la salida del

muestreador es el producto de la función de
entrada f1 ((t)) y la función del muestreador f2 ((t).
)
Si ambas funciones se transforman al dominio de
la frecuencia, la operación de multiplicación
equivalente es conocida como convolución.

Donde F1 (t) es la transformada de f1 (t) y el 

símbolo * representa la operación de 
f1(t)⋅ f2(t) = F1( f )*F2( f )
convolución. 
• Si hacemos la convolución de F1 y F2 el resultado
será la transformada de la salida del muestreador.
Esta tendrá el contenido en frecuencia resultante
del proceso de muestrear y proveerá mayor
conocimiento sobre el fenómeno que referimos
como “alias”.

• La convolución de F1 y F2 se expresa como:

∞
F1 ( f ) * F2 ( f ) = ∫ F (λ ) F ( f − λ ) d λ
−∞
1 2
• Debido a que es una variable compleja,
compleja la
evaluación de la integral requiere la aplicación del
teorema del residuo. Para nuestros p propósitos,
p , la
interpretación gráfica del proceso de convolución
es suficiente para ilustrar lo que ocurre en el
proceso de muestreo.
 Método gráfico para la convolución.
Método gráfico para la convolución.
• El procedimiento gráfico de la convolución consiste
en cuatro operaciones:
• 1.‐ Doblar F2 : F2 ( ) es la imagen espejo de F2 ( )
• 2.‐ Desplazar F2 : F2 ( ) se mueve una cantidad igual a
f dándonos F2 (f )
• 3.‐ Multiplicación: La función desplazada F2 (f ) se
multiplica por F1 (f)
• 4.‐
4 Integración:
I ió LosL resultados
l d ded los
l pasos 1 all 3 se
suman de ∞ a ∞ .
• Para ilustrar este procedimiento,
procedimiento considere las
siguientes funciones que se les aplica la
convolución.
convolución
• En la figura, F2 se ha doblado sobre sí misma y 
sobrepuesto en F1. 
• En la figura, F2 se ha desplazado una cantidad
igual a fs / 2.
2 Al hacer esto,
esto el pulso número 3
queda fuera de la región “b” de F1. El producto
y la suma se muestran como la región
sombreada.
• En
En la figura, F
la figura F2 se ha desplazado una cantidad 
se ha desplazado una cantidad
adicional igual a fs/2.  Durante este tiempo, el 
pulso 4 ha barrido la región “a”
pulso 4 ha barrido la región  a  de F
de F1 creando 
creando
una segunda región sombreada. 
• Continuando este p proceso hasta el infinito
obtenemos la convolución, donde se tiene el
p
espectro original
g de F1 alrededor del espectro
p
de F2. Los lóbulos adyacentes infinitos
p
confirman la sospecha de qque no existe una
relación única entre los datos muestreados y
la función sin muestrear.
• Si se selecciona fs menor que 2fc, los lóbulos
adyacentes se traslapan produciendo
distorsión.
• Si el problema es el análisis de datos obtenidos
mediante muestreos, se debe primero
seleccionar una frecuencia de muestreo que sea
cuando menos dos veces la frecuencia de corte, y
segundo,
g , se tienen q que pprocesar los datos
obtenidos por muestreo a través de un filtro
“pasa banda” cuya frecuencia pasante sea fc < f
< fc. Esto permitiráá recuperar la
l información
f ó de
d
frecuencia contenida en F1 y asegura que no
exista distorsión.
distorsión
• Hasta ahora se ha asumido muestreo mediante
impulsos
impulsos. Esto se hace frecuentemente al
describir el proceso para facilitar su presentación.
Sin embargo,
embargo en la práctica sabemos que
convertir de analógico a digital requiere un
tiempo
p finito,, y p por lo tanto los p pulsos de
muestreo tienen un ancho (duración) diferente a
cero.
• Así, la función de muestreo consiste en pulsos de
amplitud t repitiéndose con un período T. La
envolvente de amplitud se describe mediante la
siguiente ecuación:
ó

τ ⋅ sen(ωτ / 2)
envolvente =
T ⋅ ωτ / 2
 Errores de muestreo tipo 1.
Errores de muestreo tipo 1.
Intervalo de muestreo.

• Para las aplicaciones, que involucran solamen te

análisis en el dominio del tiempo, catego
rizaremos los errores que son atribuibles al
muestreo como Errores Tipo 1.
• Suponga que tenemos un sistema cuya entra da
puede ser representada por una señal senoidal
de la forma mostrada en la figura.
figura La entrada del
sistema se puede expresar como:

f (t ) = F0 + Asen(ωt )

Donde FF0 es el valor promedio, A es la 
Donde es el valor promedio, A es la
amplitud pico de la señal senoidal y w 
es la frecuencia angular.
• Para esta entrada, considere que se tiene interés
en detectar los extremos.
extremos Como se va a
representar una señal continua con un conjunto
de muestras discretas, es poco probable que las
muestras contengan estos valores extremos. El
conjunto
j de muestras,, sin embargo,
g , sí tendrán
extremos.
• ¿Qué error se introduciría si, por ejemplo,
eligiéramos utilizar los valores extremos
encontrados en el conjunto de datos obtenidos
mediante muestreo para representar los
extremos de la entrada? Esto es otra manera de
preguntar
p g ¿Que tan rápido
¿Q p debemos muestrear la
señal de entrada para asegurar que capturaremos
los extremos dentro de cierta tolerancia?.
• Una forma de determinar la
razón de muestreo es
cuantificar el cambio de la
función de entrada en
función del tiempo. Como
una primera aproximación,
podemos hacerlo utilizando
una simple expansión
punto pendiente, como se
muestra
t en lal figura
fi .

Expansión punto pendiente

Expansión punto‐pendiente.
• El cambio de la función de entrada que ocurre en un
incremento de tiempo se puede aproximar por:
δ f = f '((t )Δt
Donde f’ (t) es la derivada y es igual a:
df (t ) d f '((t ) = Aω ⋅ cos(ωt )
f '((t ) = = [ F0 + Asen(ωt ) ]
dt dt
• Así, el cambio es:
δ f = [ Aω ⋅ cos((ωt )] ΔT
• Como la magnitud de la función coseno no
puede exceder la unidad,
unidad entonces:

δ f ≤ AωΔT
• Si el objetivo es determinar un tiempo de
muestreo T que asegure que nuestras
muestras nunca presenten un error mayor que
df entonces podemos utilizar la expresión
df,
anterior para determinar T.
• Una forma de determinar la razón de muestreo
basado en consideraciones de precisión de
amplitud es calculando el cambio de amplitud, f,
que ocurre durante el tiempo de muestreo T.
• P
Para h
hacer esto tenemos que saberb l
la
frecuencia de la señal de entrada y la magnitud
de estas variaciones.
variaciones Con esta información y
asumiendo que la entrada es senoidal, podemos
determinar una frecuencia de muestreo que
asegurará que el error de amplitud es menor que
el error establecido.
• Definir la razón de muestreo basado en el criterio
de máximo error en amplitud genera una presión
significativa en la razón de muestreo. Usando la
ecuación,, ppodemos determinar q que si nuestro
cambio permisible, f, es del 1 % de la amplitud
pico A, entonces la razón de muestreo requerida
es 100 .

δ f ≤ AωΔT
• Aún y cuando este método no es razonable y para
la mayoría de los casos impráctico, si indica
claramente lo siguiente:
• El criterio de muestreo de Nyquist de 2 fS no es
suficiente ppara describir una forma de onda.
• El número de muestras requeridas para definir
una forma de onda depende de cómo se
analizarán los datos (cuales pudieran ser los
puntos de interés) tanto como de los criterios de
precisión.
precisión
 Tiempo de Apertura.
Tiempo de Apertura.

• Existen dos puntos clave en el teorema de

muestreo: Primero, la señal debe de ser limitada
en banda,, y segundo,
g , la señal debe de ser
muestreada por impulso. Ambos puntos
presentan problemas prácticos difíciles. Como se
ha visto, una falta de limitación en el ancho de
banda introduce distorsión como consecuencia
del traslape en frecuencia.
• Esto se puede minimizar utilizando un filtro antes
del muestreador (denominado filtro antialias) con
características de corte brusco,, en conjunción
j con
la selección de una razón de muestreo cuando
menos dos veces más alta al ancho de banda
efectivo de la señal.
• La segunda consideración es debida al hecho de
que los muestreadores no son ideales; esto es, se
requiere un tiempo finito para muestrear la señal
y por lo tanto la señal no es muestreada en forma
de impulso.

Efecto de un tiempo
finito de conversión
(apertura) en la
precisión de amplitud.
• Como la entrada esta cambiando constante
mente, nuestra inquietud es ver cómo este
tiempo de conversión afecta la precisión de
amplitud. La siguiente técnica se puede
utilizar para determinar el tiempo de
apertura: Para entradas senoidales, el cambio
durante el tiempo se puede aproximar
como:
δ f = [ Aω ⋅ cos(ωt )] Δτ
• Seleccionando el peor caso (los puntos donde
la función f es máxima), aplicamos la técnica
max min.
min La función f,f esta en un extremo
cuando la primer derivada, f’, es cero, así:
δ f = [ −(ω ) Aω ⋅ sen(ωt )] Δτ = 0
• Esto se cumple cuando sen( t) = 0. Por lo
tanto, lal función
f ó estaráá en un extremo cuando d
t = 0, , 2 , ...., n . Para estos valores de t,
ell valor
l absoluto
b l d cos(( t)) es 1. Por lo
de l tanto:
δ f = AωΔτ
• Esta última expresión se utilizará para definir
un límite superior para . Para hacer esto,
tenemos que establecer un valor aceptable de
lo que la función puede cambiar. Una forma
de hacerlo es especificar que el cambio debe
de ser menor o igual a la resolución del
convertidor.
convertidor
• Por
Por lo tanto, si estamos usando un convertidor 
lo tanto si estamos usando un convertidor
de “n” bits (excluyendo el signo) cuya plena 
escala de entrada es B podemos establecer el
escala de entrada es B, podemos establecer el 
tiempo de conversión  como:

resolucion, V B
Δτ = Δτ =
Aω Aω 2n
 Errores de muestreo tipo 2.
Errores de muestreo tipo 2
Concepto de distorsión en frecuencia.

• Un muestreo inadecuado produce resultados

erróneos y engañosos.
g Así,, si no muestreamos
con una razón suficientemente alta, podemos
obtener resultados que indiquen que la función
de entrada contiene energía en frecuencias no
existentes. Además, pudiera desaparecer la
energía de frecuencias reales.
• Para mostrar esto,
considere la forma de
onda de la figura. Esta
f
forma d
de onda
d esta
t
formada por la suma de
tres señales senoidales
diferentes, cada una con
diferente amplitud. En
este caso,
caso el objetivo es
establecer una razón de
muestreo de tal forma
que no existan errores de Forma de onda compleja 
distorsión. de entrada.
• Al obtener su transformada de Fourier, encon
tramos los espectros mostrados en la figura.
figura
Así, tenemos que no existe energía mas allá de
5 Hz.
Hz

Espectros correspondientes
Espectros correspondientes
• La aplicación
p del teorema de muestreo de
Nyquist para esta señal de banda limitada arroja
una frecuencia de 10 Hz (fS = 2fc). La figura
siguiente presenta los espectros resultantes con
lóbulos adyacentes infinitos. Cuando analicemos
estos datos se aplicarán técnicas para excluir las
frecuencias altas adicionales.

Espectros resultantes muestreados con lóbulos 
Espectros resultantes muestreados con lóbulos
adyacentes infinitos.
• Observe que para el rango de frecuencia de
interés,, p
podemos recuperar
p las amplitudes
p
apropiadas en frecuencias de 2, 3, y 5 Hz.
• Revisando este procedimiento, determina
mos el contenido en frecuencia de la forma de
onda y sobre esa base seleccionamos la
frecuencia de muestreo. Generalmente no
conocemos el contenido en frecuencias y por lo
tanto no podemos determinar fácilmente la razón
de muestreo.
 Lóbulos adyacentes infinitos.
Lóbulos adyacentes infinitos.
• Los datos obtenidos por muestreo, en el dominio
de la frecuencia,
frecuencia reproducirán la señal de entrada
y un número infinito de lóbulos adyacentes.
• Si se seleccionó adecuadamente la razón de
muestreo fs, en conjunto con la frecuencia de
corte de la función de entrada fc, entonces
podemos determinar, a partir de los datos
resultantes del muestreo, el contenido exacto de
f
frecuencia
i de
d la
l señal
ñ l de
d entrada
t d y asíí no habrá
h bá
distorsión.
• Para eliminar los lóbulos laterales simple
p mente
se procesará el resultado del análisis en
frecuencia mediante un filtro paso bajo
implementado por software, cuya frecuencia de
corte sea menor o igual a fs/2. La figura presenta
este proceso.

Filtrado paso bajo requerido para eliminar 
lóbulos adyacentes.
y
 Consideraciones de la razón de
caída del filtro.
íd d l fil
• Es necesario filtrar adecuadamente la señal de
entrada antes del proceso de cuantización para
asegurar
g que no se p
q presente distorsión en el
dominio de la frecuencia. Como pocas veces
conocemos el contenido de frecuencia de la
función de entrada, es esencial que
determinemos el rango de frecuencias de interés
y en esta forma establecer la frecuencia de corte,
fc.
• El objetivo es seleccionar una frecuencia de
muestreo, fs, que asegure que el rango de
frecuencias entre cero y fc no sufran distorsión.
Con esto no habrán frecuencias desaparecidas,
no habrá “alias” y las amplitudes serán
representaciones precisas de la señal de entrada.
• El teorema
t d muestreo
de t establece
t bl que la
l señal
ñ l de
d
entrada a un muestreador tiene que ser limitada
en banda.
banda
• De acuerdo a esto, es crítico que establezcamos la
frecuencia fc* después de la cual no exista
energía y que utilicemos fc* para definir la
frecuencia de muestreo fs como:
f s ≥ 2 fc *
• Asumiendo que no conocemos la amplitud de
banda de la función de entrada, la tarea es limitar
la amplitud de banda estableciendo fc* basada en
fc.
• Considere la función
presente en la figura, que
tiene energía a frecuencias
que se extienden hasta fc*. *
Si seleccionamos una razón
de mues treo fs tal que fs =
2fc*,
* l
los espectros
t
muestreados resultantes
serán como los mostrados
en la figura,
f en los cuales no
hay distorsión presente. En
este caso se ha determinado
que solamente interesan las
frecuencias que se
extienden hasta fc.
• C
Como se utilizará
ili á un filtro
fil paso bajo
b j (implementado
(i l d
en software) para procesar los resultados del análisis
en frecuencia, la distorsión a frecuencias mayores a fc
será aceptable. Así, se puede disminuir la razón de
muestreo de tal forma que la distorsión inicie en fc, lo
cuall implica
i li menos carga a la l computadora
t d d bid a
debida
la razón de muestreo. Esto se presenta en la figura.
Si conocemos fc*,, ppodemos establecer la frecuencia
de muestreo fs como:
fs ≥ 2 fn
• Donde fn es la frecuencia de traslape.
 Espectro donde se muestra distorsión y lóbulos adyacentes.

• En aplicaciones, como la ilustrada en la figura,

donde queremos asegurar que no ocurra
distorsión en el rango de frecuencia que se
extiende hasta fc, podemos calcular la frecuencia
de traslape como:
 l f c * − log
⎡ log l fc ⎤
log f n = log f c + ⎢ ⎥
⎣ 2 ⎦
1
log f n = (log f c + log f c *)
2

• Con esto, la frecuencia de muestreo es:
Con esto la frecuencia de muestreo es:

fs ≥ 2 fn
• Como la razón de caída natural de la variable
normalmente es inadecuada para establecer una
fn* razonable,, se implementa
p un filtro p
paso bajoj
en hardware antes del muestreador.
Funcionalmente, el filtro se utiliza para limitar la
amplitud de banda y por lo tanto se refiere a él
como “filtro antialias”.
 Estableciendo  ffC*  y  f
Estableciendo * y fS aplicando el
aplicando el
rango dinámico del convertidor.
• El nivel de amplitud que usamos para definir fc*
se puede basar en la resolución del convertidor.
Esto es, si tenemos un convertidor de “n” bits
(excluyendo el signo), el rango dinámico del
convertidor se puede expresar como:

Rango Dinámico, dB = 20 log (2n)
• Podemos utilizar esto para definir fc* dado que
cualquier distorsión a niveles menores no podrá
ser detectada por el convertidor de “n” bits. El
número de octavas requerido
q para lograr
p g un nivel
de atenuación igual al rango dinámico del
convertidor para un filtro dado es:

Rango Dinámico,
R Di á i dB
N=
Razón de caida del filtro, dB /octava
• Esto se puede utilizar para establecer la
frecuencia normalizada de corte de acuerdo a la
siguiente relación:
fc *
= log
l −1
[ N log(2)
l (2) ]
tc
• La frecuencia de traslape,
traslape fn, se puede determinar
utilizando la ecuación

−1 1
f n = log ( log f c *)
2
• La figura ilustra la relación entre la frecuencia
normalizada y el rango dinámico del convertidor
para varias razones diferentes de caída de filtro.
filtro
 Definiendo fC* Y fS usando 
especificaciones de distorsión en fC.
• Aplicar la resolución del convertidor para definir
una frecuencia de corte efectiva fc* pone una
presión
ió significativa
i ifi i sobre
b l frecuencia
la f i ded
muestreo fs. Un método alterno es especificar
una distorsión aceptable en fc. Por ejemplo,
ejemplo
considere la función muestreada ilustrada en la
figura siguiente.
siguiente
• La figura siguiente muestra la relación entre la
frecuencia de muestreo normalizada y el error
de distorsión dinámica. Aquí la especificación
de distorsión se expresa como porcentaje de
plena escala en fc.
• Si estamos dispuestos a aceptar una distorsión
máxima posible en fc del 1 %, la razón de
muestreo para un sistema que emplea un filtro
de 12 dB/octava sería de aproximadamente 7.5.
• Si esta
t especificación
ifi ió de d distorsión
di t ió se cambia bi a 5
%, la razón de muestreo se reduciría a
aproximadamente 4.5.
4 5 Se debe enfatizar que si
no hay energía presente entre fc** y fc*, no habrá
distorsión.
 Investigación Capitulo 3
Investigación Capitulo 3

• Buscar información sobre el criterio de Nyquist,

Nyquist
analizarlo y explicar su importancia en el
muestreo.
• Realizar una investigación respecto a los
diferentes tipos de error que se presentan en los
sistemas de adquisición de datos.
 Capitulo 4
p

EL CONCEPTO DE ERROR DE MEDICIÓN

EL CONCEPTO DE ERROR DE MEDICIÓN
 Introducción.
• Toda medición presenta error. Con esto queremos
d a entender
dar t d que siempre
i h una discrepancia
hay di i
cuando la salida de un sistema es comparada con su
entrada. Desafortunadamente se han utilizado
diversos términos como sinónimos para describir
dicha discrepancia, estos incluyen exactitud, error
fijo y aleatorio,
aleatorio error sistemático,
sistemático precisión,
precisión
resolución y sesgo. Además existen numerosas
definiciones de estos términos lo cual ggenera y
mantiene un mal entendimiento de lo qué es un
error de medición.
 Error aleatorio.
Caracterización estadística del error.
• Podemos cuantificar
el error de un
sistema de medición
aplicando
l d entradas
d
conocidas a dicho
sistema y obser
vando su respuesta.
La figura muestra un
ejemplo de relación
entre entrada y
salida. Medición de la relación entrada/salida del sistema.
• Idealmente la salida correspondería a la entrada
exactamente, sin producir error, sin embargo,
esto
t no ocurre en lal realidad.
lid d Para
P cada
d entrada
t d
discreta, el error se define como la diferencia
entre la entrada y la salida.salida Si nuestro
experimento consiste de “n” diferentes entradas,
tendremos “n” diferentes mediciones de error, las
cuales asumimos, tendrán una función de
distribución probabilística como la que se
muestra en la figura siguiente.
siguiente
• Aquí se asume una distribución normal o
Gausiana Para este caso la mayoría de los
Gausiana.
errores son pequeños y aparecen agrupados
cerca de la media. La relación estadística entre la
magnitud del error y su probabilidad puede ser
expresada en términos de un parámetro llamado
DESVIACIÓNÓ ESTÁNDAR.
Á

F
Función
ió de
d distribución
di t ib ió del
d l
error.
• La desviación estándar es un cálculo estadístico
que se obtiene a partir de un conjunto de errores
de medición, El valor de la desviación estándar
describe la dispersión o variabilidad de dicho
error. Si denotamos a “ei“ como el conjunto de
“n”
n errores determinados experimentalmente
(con valores de “i” desde 1 hasta “n”), la
desviación estándar de este conjunto j de
muestras puede calcularse como:
1
⎡ n 2
⎤ 2

⎢ ∑ ei − e ⎥
S = ⎢ i =1 ⎥
⎢ n −1 ⎥
⎢ ⎥
⎣ ⎦
• Donde la media aritmética puede calcularse 
como:
n

∑e 1
e= i =1

n
 • Si asumimos que nuestros errores de medición
tienen una distribución normal, podemos
establecer estadísticamente la probabilidad del
error en un cierto rango. Partiendo de una
di t ib ió normall como la
distribución l que muestra t la
l
figura.

El área bajo la curva de probabilidad normal 
es función de “s”, de la desviación estándar.
• Si estamos interesados en determinar cual es la
probabilidad de que un error caiga dentro del
á
área sombreada,
b d es necesario i encontrar
t ell área
á
bajo la curva de probabilidad normal entre Z= 2 y
Z= 2.
2 Esto puede ser calculado evaluando la
siguiente integral:
2z
1 z2
f ( z) =
2π
∫−2 z e − 2 dz
• Donde:
e−e
z= y “ “ es la desviación estándar de 
esta población.
bl ió
• El nivel de confianza será
igual al área sombreada
bajo la curva y se expresa
en porcentaje.
porcentaje La tabla
lista el nivel de confianza
como una función del
parámetro Z.
 Relacionando estadísticos de 
muestreos a la población.
l bl ió
• La cuestión aquí es decidir que también la
desviación estándar calculada a partir de una
muestra finita de tamaño “n”,, se aproxima
p a la
desviación total de la población . En 1907, W.S.
Gosset, un químico ingles que en aquella época
era estudiante, tuvo un problema similar. Gosset
determinó que la Desviación Estándar de una
muestra subestima la Desviación Estándar de
población.
• Gosset desarrolló una tabla
d
de multiplicadores
lti li d que
pueden ser utilizados para
artificialmente aumentar la
Desviación Estándar calcula
da de una muestra, y así,
reducir el error asociado con
estimar a partir de S.
• Esta tabla, la cual se basa
tanto en el tamaño de la
muestra como en el nivel de
Histograma de los 
confianza, se le conoce muestreos de error.
d
como la distribución de la T
de Student.
• Al cuantificar el error de medición, estamos
siempre trabajando con una muestra extraída de
l población
la bl ió total.
t t l D acuerdo
De d a esto, t
calcularemos la medida y la desviación estándar
de la muestra utilizando las ecuaciones.
ecuaciones Sin
embargo, en lugar de utilizar el valor de dos como
multiplicador de S, como se hizo anteriormente,
seleccionaremos el multiplicador de la tabla T de
Student basado tanto en el tamaño de la muestra
como en el nivel de confianza.
confianza
Distribución T de Student compensada.
 Otros efectos de variabilidad.
• Pudiéramos preguntarnos si habría o no variabilidad en
el error de medición si estuviéramos interesados
solamente en hacer mediciones en un solo punto
específico. La respuesta es que sí. En cualquier punto,
la repetibilidad de la medición es influenciada por los
siguientes factores:
• Histéresis
• Ruido
id Eléctrico
lé i
• Variaciones en el tiempo de la medición.
• Corrimiento térmico.
térmico
• Interferencia
• Voltaje de modo común.
común
 Errores fijos.
S
Sesgo, bias ó polarización.
bi ó l i ió
• Si
S pa
paraa u
un valor
a o de medición
ed c ó hacemos
ace os repetidas
epet das
mediciones, y comparamos cada una de ellas con
un valor real conocido, observaremos alguna
variabilidad
b l d d en las
l mediciones.
d Adicionalmente,
d l
es probable que cada medición estará en error en
una cantidad fija.
fija Esta diferencia fija entre el
valor real y el promedio de todas las mediciones
repetidas
p se muestra en la figura
g siguiente
g y se
conoce como sesgo, polarización o bias.
 • Como es posible cuantificar 
el sesgo (bias), podemos 
eliminar este error fijo 
mediante compensación, 
esto es:

Efecto de errores positivos 
fijos en cada medición.

SESGO (BIAS) = VALOR PROMEDIO ‐ VALOR       
REAL
• Así, para este ejemplo, donde hemos indicado el
sesgo (bias) con un valor positivo, podemos
reducir cada medición con el sesgo (bias)
calculado. Esto tendrá el efecto de forzar el valor
promedio medido a ser igual al valor real.
• En
E esta t forma
f podemos
d aseverar que, para estet
ejemplo, tenemos un 95% de confianza de que
cualquier medición dentro del rango estará en el
intervalo:
((VALOR REAL ‐ 2S)  < m <  (VALOR REAL + 2S)
) ( )
• Así
Así, podemos establecer que el error en este
valor de medición es ± 2S.

Medición centrada alrededor del valor real 
Medición centrada alrededor del valor real
cuando el sesgo (bias) es eliminado.
 Tipos de sesgos (bias).
• Para calcular el sesgo es necesario conocer el valor
real. Desafortunadamente el valor real no siempre es
cuantificable Esto es debido a que existen dos tipos
cuantificable.
de errores fijos que afectan el valor real: sesgos (bias)
conocidos y desconocidos.
• Los sesgos conocidos son aquellos que llegaron a ser
cuantificables a través de calibración. Dependiendo
p de
la magnitud y el nivel de complejidad asociado con
compensarlo podemos elegir el no aplicar alguna
compensación y así tolerar, con conocimiento, un
sesgo de medición.
• Unas, potencialmente más serias, fuentes de
errores de sesgos desconocidos son aquellos
atribuibles a errores humanos o efectos
ambientales
ambientales. Desafortunadamente no hay
forma de eliminarlos. Sin embargo, con
ingeniería y prácticas de instalación adecuadas
podemos reducir su probabilidad.
 Incertidumbre de la medición.
C l l d i
Calculando incertidumbre
id b .
• En las secciones p previas,, se ha definido qque
existen dos componentes del error de medición
precisión y sesgo. Como se ha establecido,
precisión
i ió es un estadístico,
dí i en tanto que sesgo es
un estimado de error fijo. Aún cuando son
drásticamente diferentes
diferentes, ambas son
componentes del error de medición y por lo tanto
deben ser combinadas en una forma aceptable si
queremos cuantificar el error de medición.
• U
Una técnica
té i para cuantificar
tifi ell error ded
medición, que ha estado ganando amplia
aceptación,
t ió es utilizar
tili ell sesgo y sumarle l algún
l ú
múltiplo de precisión para calcular la
i
incertidumbre
tid b de
d medición,
di ió U. U En
E su forma
f
más simple, la incertidumbre a un nivel de
confianza
fi d 1 a puede
de d establecerse
t bl como:
(U = ± (B + t S)

Donde t es el multiplicador de la T de Student.

• Aquí, hemos utilizado un solo número para
estimar tanto el sesgo positivo como el
negativo. Sin embargo, pudiera ser posible
que estableciéramos diferentes valores (por
ejemplo, B1 y B2) para los límites positivo y
negativo de sesgo. En este caso, la
incertidumbre de medición estaría dada por:
‐ (B1 + t S) U + (B2 + t S)
• Otro
Ot método
ét d aceptable
t bl (ver
( ejemplo
j l 4.2)
4 2) de
d
establecer la incertidumbre es:
(B ‐ t S) U (B + t S)
• En cualquier caso, la incertidumbre de la
medición
di ió refleja
fl j la
l naturaleza
t l probabilística
b bilí ti ded la
l
medición. Es preferible indicar que tenemos un
95% de confianza de que cualquier medición en
el sistema tendrá un error menor a ± 0.1% de
escala plena en lugar de decidir que el error es ±
0.1% de escala plena. Esto nos dirá que la
mayoría de los errores estarán mas cerca de cero.

La mayor parte de los errores

estarán cercanos a cero.
 Reportando incertidumbre de la 
medición.
d ó
• Debido a que no existe un estándar para
definir la incertidumbre, es importante
reportar todos los elementos utilizados en su
cálculo. Así, se tienen que reportar los
siguientes datos:
• LIMITE (S) DE SESGO (BIAS)‐ ‐ ‐‐ ‐ ‐ B
• PRECISIÓN ‐ ‐ ‐ ‐ ‐ ‐ ‐ ‐ ‐‐ ‐ ‐ ‐ ‐ ‐ ‐ ‐ ‐ S
• NIVEL DE CONFIANZA ‐ ‐ ‐ ‐ ‐ ‐ ‐ 1 ‐ a
• GRADOS DE LIBERTAD ‐ ‐ ‐ ‐ ‐ ‐ ‐‐ ‐ df
• Los grados de libertad se relacionan con el
número de muestras q que se tienen p para
establecer S y se obtiene en la siguiente forma:
df = número de muestras ‐ 1

• Reportar el error en esta forma no solamente

permite a otros redefinir la incertidumbre de la
medición como sea mejor para su aplicación,
aplicación
además permite combinar el error de un sistema
con los errores de otros sistemas.
 Combinando errores.
Combinando errores.
Establecimiento del sesgo y precisión total
utilizando la técnica de la raíz cuadrada de la
suma ded los
l cuadrados.
d d

• LLa manera ideal id l de d d t

determinar
i l
la
incertidumbre de medición es realizar un solo
eexperimento
pe e to co con eel ssistema
ste a co
completo.
p eto Aúnú
cuando esto pudiera ser lo ideal, por lo
general no es práctico. Por ejemplo,
podríamos tener un sistema que consiste de
varios tipos de sensores y un sistema de datos
común.
• P
Para este tipo
i ded sistemas,
i podríamos
dí elegir
l i
que todos los sensores fueran calibrados en
un laboratorio y calibrar el sistema de datos
en su lugar. De acuerdo con nuestra definición
de incertidumbre de medición,
medición tendríamos
valores separados de B, S, , y df para el
sensor y el sistema de datos. Así,, p para
establecer la incertidumbre de medición total
para cualquier canal de sensor, necesitamos
combinar los errores de medición tanto del
sensor como del sistema de datos.
• Existen varias formas de combinar los errores.
Por ejemplo, podríamos simplemente sumar
los errores. Sin embargo, esto es demasiado
conservador, especialmente cuando consi
deramos que con toda probabilidad va a
ocurrir alguna cancelación de errores.
• Una técnica ampliamente
p aceptada
p para
p
combinar errores, que a la vez permite algo de
cancelación,, es la técnica de la raíz cuadrada
de la suma de los cuadrados. Para aplicar esta
p
técnica, simplemente determinamos la raíz
cuadrada de la suma de los cuadrados de cada
p
componente de error. Esto es, p podemos
calcular el sesgo total y precisión como:
1
BT = ⎣ B1 + B2 ⎤⎦
⎡ 2 2 2
1
ST = ⎡⎣ S1 + S 2 ⎤⎦
2 2 2
• Donde el subíndice 1 se utiliza para indicar
errores de sensor y el subíndice 2 para indicar
errores del sistema de datos. Como se
mencionó antes, existen otras técnicas que se
pueden utilizar para calcular el sesgo total del
sistema, tales como seleccionar el valor
absoluto mayor. Sin embargo, debido a que
no existen
i estándares,
á d se deja
d j a lal discreción
di ió
del experimentador que técnica utilizar. Aquí,
utilizamos la técnica de la raíz cuadrada para
combinar tanto sesgo como precisión.
Estableciendo incertidumbre total.
Estableciendo incertidumbre total.
• Como se presentó, la incertidumbre se calcula
como ell límite
lí i del
d l sesgo más á un múltiplo
úl i l ded
precisión que corresponde al nivel de
confianza
fi d
deseado.
d Esto
E es:
UT = ± ( BT + Tc ST )
• Para establecer t requerimos calcular los
ggrados de libertad equivalentes
q correspon
p
dientes a df1 y df2 y utilizar esto con 1
la
distribución T student. B = ⎡ B 2 + B 2 ⎤ 2
T ⎣ 1 2 ⎦ 1
ST = ⎡⎣ S + S 2 ⎤⎦
1
2 2 2
• Existen varios métodos para establecer los grados
de libertad equivalentes. Dos de estos métodos
son: ⎡ n ⎤
⎢∑ i ⎥
2
S
DF = ⎣ in=1 4 ⎦
n
DF = ∑ df 1 −n Si
i =1
∑i =1 df i

• Donde para ambos métodos, “n” denota el

número de fuentes individuales de error. Una vez
calculados
l l d losl grados
d ded libertad
lib d equivalentes,
i l su
valor en conjunto con la confianza deseada a
permite la determinación del valor
alor de t .
 Capitulo 5
EL ERROR COMO UN CRITERIO 
FUNDAMENTAL DEL DISEÑO
FUNDAMENTAL DEL DISEÑO
 Parámetros de comportamiento.
Parámetros de comportamiento.
• Las mediciones se hacen con el propósito de
producir información que se pueda utilizar para la
toma de decisiones. Aún cuando es cierto que
frecuentemente hacemos mediciones para p
monitorear el estado operacional de un equipo o
proceso, estas mediciones también se consideran
como producción
d ió de d información;
i f ió en este t caso la
l
información puede permitir concluir que el
equipo o proceso esta operando en forma
adecuada o no. En caso de que la información
indique una operación anormal, tomaríamos
algún curso de acción.
• En contraste con esta clase de información de
monitoreo,
i generalmente
l tomamos
mediciones para producir información que
cuantifique
ifi y documente
d l resultados
los l d de d un
experimento. El término utilizado para
d
describir
ibi estat segunda
d clasificación
l ifi ió es
parámetro de desempeño.
• Independientemente del objetivo de la
medición, se debe prestar especial atención a
la precisión de las mediciones utilizadas para
producir esa información. Dado a que hay
incertidumbre asociada en cada medición,
medición
siempre hay incertidumbre en la información
producida mediante estas mediciones.
mediciones
• Como se van a tomar decisiones basándose en
esta información,
i f ió es esencial
i l ell que
cuantifiquemos los efectos de la
i
incertidumbre
id b d
de medición
di ió y asíí
establezcamos un intervalo de incertidumbre
para cada
d parámetro
á t de d desempeño.
d ñ
• Como un ejemplo,
ejemplo considere el parámetro
F, que es función de la medición m1. En un
punto P, P donde m1 = , existe una
incertidumbre de medición para m1 de Dm.
Como se muestra en la figura 5.1,
5 1 F puede
tomar un rango amplio de valores (d ) que
corresponden a la incertidumbre para m1.
 • La figura también ilus
tra el rango de valores
( F ) que puede tomar
F en un segundo punto
(P ) dentro de ese
rango. En este punto,
m1 es igual pero el
cambio correspondien
Efectos de los errores de medición (m1)  te en F es mayor.
sobre el parámetro F en diferentes 
puntos.
• Haciendo una aproximación de primer orden, el
cambio en F, se puede establecer multiplicando
la pendiente en el punto en cuestión por el
cambio total en m1.

df
δF Δm1
dm1
• Podemos representar esto construyendo una
tangente a la curva en el punto en cuestión y
extendiéndola de tal manera que intersecte
los límites inferior y superior para m1 en ese
punto. Los dos valores de parámetro
correspondientes a estas intersecciones
definen la incertidumbre en F, denotada como
F, que es atribuible a la incertidumbre en m1 .
• Si en vez de una función que involucra una
medición,
d ó tenemos un parámetro á d desem
de d
peño que es función de “n” mediciones,
tendremos
d que revisar como ell error de
d las
l “n”
“ ”
mediciones afectará al parámetro.
• Para cuantificar estos efectos,
efectos necesitamos
explorar alrededor de un punto y establecer la
sensibilidad de la función a cada medición.
medición La
técnica matemática que nos permite llevar a
cabo esta exploración es la expansión en
series de Taylor.

F = f (m1 , m 2 .....,m n )
• Si
Si en un punto P, definido como , la función y 
en un punto P definido como la función y
sus derivadas parciales son continuas, luego el 
cambio en F que resulte de cambios en las “n”
cambio en F, que resulte de cambios en las  n  
mediciones, se pueden expresar como:
0 0 0
f f f
δ F= Δm1 + Δm 2 +....+ Δm n +R
m m2 mn
1
• Donde las derivadas parciales, deben ser
evaluadas en el punto p, y el término de
residuo R contiene todas las derivadas de
mayor orden y productos cruz parciales. Si F
fuera función de una medición en vez de “n” n
mediciones, la expresión anterior sigue siendo
válida y la derivada parcial se vuelve la
derivada total.
f df df
= δF= Δm1
m1 dm1 dm1
d
• Con toda probabilidad, existirá en un
momento dado algo de error de medición
positivo y algo negativo, y así podemos
anticipar que ocurra algo de cancelación de
errores. De acuerdo a esto, una técnica que
permite algo de cancelación de errores es la
de la raíz de la suma de los cuadrados.
0 0 2 0 2 1/2
2
f Δ m1 f Δ m 2 +. . + f Δ mn
δ F= +
m m m
1 2 n
 Estableciendo el error de medición 
Estableciendo el error de medición
individual basado en especificaciones 
d l
del parámetro de desempeño.
á d d ñ

• Como se ha mencionado, las mediciones se

hacen para obtener información. Así, si nuestra
tarea es diseñar un sistema de medición, el punto
de inicio natural para el proceso de diseño es
examinar las relaciones de los parámetros de
desempeño. Esto es, necesitamos determinar
que mediciones
di i se requieren
i y porqué.
é
• Para cada parámetro de desempeño, expan
di
diremos l función
la f ió Fi en una serie i de
d Taylor
T l
para establecer la relación entre error de
medición,
di ió mj y ell criterio
it i del
d l parámetro
á t ded
desempeño Fi como se describe en la sección
anterior.
t i E un punto
En t P definido
d fi id por las
l
derivadas parciales se pueden evaluar como:
f
0
δFi=a1Δm1 +...+a n Δm n ak = i
mk

• Lo que Indica que cada derivada parcial se debe

evaluar en el punto P.
• Dado que Fi se especifica en el punto P, lo
anterior representa una ecuación lineal con “n”
incógnitas. La aplicación de la técnica de la raíz
de la suma de los cuadros da:
δ Fi2 =a12 Δm12 + ... + a n2 Δm n2
• Así en el punto P,P hemos establecido la
relación deseada entre los errores de
medición mn , y las especificaciones del
medición,
parámetro de desempeño Fi.
• Se debe enfatizar que,
que a menos que las
derivadas parciales sean constantes, la
relación antes mencionada es valida solo en
un punto.
• De acuerdo a esto, y ya que generalmente
q
requerimos el análisis de los p
parámetros de
desempeño sobre un rango de a Fi b,
tenemos q que seleccionar el p
punto qque p
produce
el máximo error. Esto es, aún cuando la relación
puede ser válida sobre un rango
p g amplio,
p nuestro
interés es solo en un punto específico dentro de
g
ese rango.
• En su forma más simple,
simple el sistema que
diseñaremos consistirá de un solo parámetro
de desempeño,
desempeño que es función de “n” n
mediciones, denotadas mn. La aplicación de lo
anterior producirá una relación no lineal con
“n” incógnitas.
• Para esto, estamos en libertad de seleccionar “n
1” valores
l d errores de
de d medición.
di ió Estos
E t son los
l
errores permitidos en el punto P. Si en vez de un
parámetro de desempeño,
desempeño tenemos K
parámetros, la aplicación de lo anterior nos dará
un conjunto de K ecuaciones no lineales con “n” n
incógnitas.
• Si todas las derivadas parciales de todas las
ecuaciones se evalúan en el mismo punto P,
podemos resolver el sistema mediante
ecuaciones simultáneas.
• Sin embargo,
embargo si se utilizan diferentes puntos
para evaluar las derivadas parciales, esta
solución simultánea del sistema de ecuaciones
se deberá ver con cautela.
 I
Interpretando la solución.
d l l ió

• La aplicación de la técnica mencionada

permitirá obtener las máximas variaciones
permisibles para cada medición en el punto P.
Así, dados criterios globales de desempeño
Fi, establecemos los límites para mm:

Δm m ≤ Cm
• Si repetimos esto en otros puntos, podemos
establecer las variaciones permisibles para cada
medición mm en diferentes puntos dentro del
rango de medición.

Características de variación de medición permisible sobre el rango de interés.
• Como se muestra, se han determinado los
errores en varios puntos dentro del rango y
hemos presentado estos tanto en términos de
variaciones permitidas como en porcentaje de
lectura.
• La interpretación se presenta interesante,
pues pudiera implicar que una sola medición
puede que no exhiba las características de
variación requeridas sobre el rango completo.
Esto es especialmente cierto ya que las
especificaciones de los fabricantes
generalmente se enuncian en términos de un
porcentaje de la escala plena y no en
porcentaje de lectura.
• Así
Así, se puede requerir subdividir la medición
en varias mediciones, cada un a de las cuales
tenga un rango que es subconjunto del rango
total requerido.
• Como
C sabemos
b que la
l variación
i ió en lal medición
di ió
consistirá tanto de componentes fijos como
aleatorios,
l i l variaciones
las i i en la
l medición
di ió que
hemos determinado en cada punto se pueden
ver como intervalos
i l d incertidumbre
de i id b d
de
medición.
Cm   mm  C
Cm
• En vista de la naturaleza probabilística de los
errores, podemos agregar un nivel de confianza a
este intervalo. El intervalo de confianza que
utilicemos debe basarse en el criterio global del
parámetro de desempeño Fi.

• P
Por ejemplo,
j l sii queremos asegurar que ell 95%
de las veces la incertidumbre en Fi sea menor
que Fi, agregaríamos
í un nivel
i l de
d confianza
fi d l
del
95% a los diferentes intervalos mm.
 B
Bases para diseño.
di ñ
Significancia de la propagación de error.

• Como hemos dicho,

dicho las mediciones se hacen
con el propósito principal de producir
información
información. Dado que las decisiones se
hacen en base a esta información y como
sabemos que cada medición tiene error,
error es
esencial que cuantifiquemos la confiabilidad
de la información.
información
• Esto es,, sabemos q que hayy algo g de
incertidumbre asociada con la información
que es atribuible a error de medición;; en
q
consecuencia, las decisiones no deben ser
basadas en valores absolutos de información
sino en intervalos de confianza. Con este
q , cualquier
enfoque, q información p producida
tendría una incertidumbre asociada.
• Como un ejemplo de la significancia de este
concepto de intervalo de confianza, considere
el programa de investigación y desarrollo de
inyectores, donde el desempeño de la inyector
se define por el parámetro F,
F que se puede
representar como:

F = f (m1, m2, . . . .,mn)
• Donde las mi son mediciones. Sabemos q que
hay errores asociados con cada medición y
que p
q por lo tanto hayy incertidumbre con F de
F que está basada en un nivel de confianza
deseado de 1 . Si q
queremos determinar si
un cambio en el diseño afecta o no
g
significativamente el desempeño,
p llevamos a
cabo el cambio, repetimos las mediciones,
calculamos el valor del p parámetro de
desempeño F´, y comparamos esto con el
valor del parámetro de desempeño (F0) antes
del cambio.
• LLa preguntat que se debe
d b contestar
t t es sii la
l
diferencia entre F´ y F0 es significativa. Si la
dif
diferencia
i (F´ F0) es menor que la l
incertidumbre en F de F, podemos confiar
h t un nivel
hasta i l ded 1 que all cambio
bi no es
significativo. También, existe una probabilidad
d que ell cambio
de bi sea significativo
i ifi ti pero que no
sea detectado. La consecuencia de decisiones
erróneas
ó es la
l base
b en las
l cuales l se debe
d b
establecer el intervalo de confianza 1 a.
• La técnica de propagación de error provee un
mecanismo con el cual el intervalo de
incertidumbre para un parámetro de
desempeño F = f(m1, m2 . . .mn) puede
establecerse sobre la base del error asociado
con cada medición individual mn. Esto es,
i i i
iniciamos ell proceso haciendo
h i d las l siguientes
i i t
preguntas fundamentales:
¿Q i f
¿ Que información se requiere?
ió i ?
¿ Que tan buena tiene que ser la información?
• Luego utilizamos esto para establecer los
requerimientos de error de medición
individual mm. Si el sistema esta diseñado y
construido para satisfacer estas especifica
ciones en error de medición individual,
podemos estar seguros que la incertidumbre
asociada con la información que se producirá
será aceptable hasta el nivel de confianza
deseado de 1 .
 Estableciendo presupuestos de 
error del subsistema basados en mm.
error del subsistema basados en 

• Los requerimientos individuales del error de

medición, mm, lo hemos establecido basados en
el criterio del parámetro de desempeño Fi, que
representa el error total de medición.
• Sabemos
Sabemos, sin embargo,
embargo que el sistema que
usamos para medir mm consistirá de varios
subsistemas Esto es,
subsistemas. es tendremos sensores,
sensores
acondicionadores de señal, etc., cada uno de
estos subsistemas tendrá características de
error que, para la cadena de medición mm
total se combinarán para producir mm.
total,
 • Como el error combinado debe ser menor que
el error total de medición,
medición es de interés,
interés desde
el punto de vista del diseñador, determinar si
hay una manera sistemática de presupuestar
errores para cada subsistema basándose en
mm. De ser así,
así esto nos daría criterios sanos
de selección de subsistemas basados en el
desempeño del sistema total,total considere el
sistema de medición mostrado en la figura.

Cadena de sistema de medición con 
C d d it d di ió
errores en sus elementos.
• Como se puede observar,
observar el sistema consiste
de varios elementos, cada uno de los cuales
introduce un error ei a la cadena de medición.
medición
El error total de medición, mm, es una
función de los errores individuales de los
elementos ei:

mm = f (ei )
• Postulamos que cada elemento tiene una
di t ib ió normall de
distribución d error y utilizamos
tili l
la
técnica de la raíz de la suma de los cuadrados
para estimar
ti ell error total
t t l de
d medición
di ió mm
como:
mm =  ±
= ± ( B
( Bm + t
+ t S m)
2 1/2
Bm = ⎡⎣ B12 + B22 + .... + Bn ⎤⎦
2 1/2
Sm = ⎡⎣S + S + .... + S
2
1
2
2 n⎤
⎦
donde t se selecciona usando la tabla de la T Student basada 
en el nivel de confianza deseado de 1  .
• Si tenemos un sistema ya existente, podemos
cuantificar el error total de medición mm,
mediante un experimento. Idealmente,
diseñaríamos un experimento que probara la
cadena de medición completa en vez de cada
elemento. Así no tendíamos que cuantificar el
error de cada elemento ei, sino el error total.
• En el caso de un sistema nuevo, en la fase de diseño
no tenemos el sistema,, en cambio,, tenemos una
especificación para el error total de medición mm, y
por lo tanto estamos interesados en especificar el
desempeño de piezas individuales de equipo de tal
manera que cuando estén integrados tengan un
error total de medición de mm. Esto es, es queremos
distribuir el error total de medición de mm de tal
manera que cuando sean combinados provean una
estimación de error total que sea menor o igual a
mm.
• El presupuestar es un proceso mediante el
cual distribuimos el error total de medición
entre diferentes elementos basándonos en un
juicio de ingeniería con respecto a lo que es
razonable y su disponibilidad en el mercado.
• Si asumimos que el error total de medición
para el sistema de la grafica anterior puede
ser aproximado como: Δm 2 = e 2 + e 2 + ..... + e 2
m 1 2 8
• D
Donde se hace distinción entre error fijo y 
d h di ti ió t fij
aleatorio, luego podemos agrupar términos 
como: 2 2 2 2 2
Δm m = e1 + e 2 + e3 + .... + e8

• También puede plantearse como:
1/2
2 2⎤
Error total medición =  ⎡⎣ error sensores + error sistema de datos ⎥
⎦
• La figura es una representación gráfica de la
relación cuadrática de la raíz de la suma de los
cuadrados. Por simplicidad, hemos restrin
gido la presentación a la relación circular en el
primer cuadrante.

La raíz de la suma de los cuadrados descrita como una relación circular.
• Como se muestra, el radio es igual al error total
de medición.
medición Podemos usar esta representación
gráfica como un auxiliar en el diseño
especificando el error del componente que
deseamos presupuestar y luego resolver para el
otro.
otro
• Por ejemplo,
j p ,p podemos decidir,, basados en el
conocimiento de sistemas de datos
p , q
disponibles, que el error p presupuestado
p del
sistema de datos debe tener un valor de “a”.
p
Esto automáticamente implica que los errores
q
de sensor deben de ser menores que o iguales
p
a “b” si ha de ser satisfecha la especificación
de error total de medición. Usando un valor
presupuestado
p p para los errores de sensor de
p
“b”, podemos construir otra relación como:
Errores de sensor 2 = e12 + e 22 = b 2
• Esto se puede utilizar para establecer un
presupuesto para el sensor.
sensor Similarmente,
Similarmente el
valor que presupuestamos para el sistema de
datos se p
puede usar ppara crear otra relación
como:
sistema de datos2 = ee32 + …. +e
Errores sistema de datos
Errores + +e82 = aa2 2

• Agruparíamos
g p en forma lógica
g los elementos e3 a
e8 en dos elementos y estableceríamos un
presupuesto para cada grupo. Esta
d
descomposición
i ió binaria
bi i continuaría
ti í hasta
h t que
hallamos establecido un valor de presupuesto
para cada error de elemento.
elemento
• En general, tenemos n subsistemas y por lo
tanto la
l relación
l ó deld l error totall de d medición
d ó
sería dada por:
1/2
Δ m = ⎢⎣e1 +e2 +...+en ⎥⎦
Δm ⎡ 2 2 2 ⎤

E 2 2 2
e + e + ..... + e
=
2 E 22,1 =e2 + e 2 + ..... + e2
11
1,1 k+1 k+2 n
1 2 k
1/2
⎡ ⎤
Δm ⎢ 2
m=⎢ E +E 2 ⎥
,
⎣ 1,1 , ⎥⎦
2,1

• Si seleccionáramos valores para satisfacer la

relación para E1,1 y E2,1 de C1 y C2, tendríamos
las siguientes dos relaciones:
2
E1,1 = e12 + e 22 + ..... + e 2k = C12 E 22,1 = e 2k+1 + ek+2
2
+ ..... + en2 = C 22
• Para cada uno de estos, podemos además
descomponer en dos elementos.
elementos
2
Por ejemplo la relación:E1,1 = e12 + e22 + ..... + e k2 = C12
Se puede descomponer en:C12 = E1,2 2
12 + E 2
11,3
3
Donde:
2 2 2
2
E1,2
12 = e12 + e22 + ..... + e12 E1,3 = e1+1 + e1+2 + ..... + e k2
• Podemos construir un círculo de radio C1 y usarlo
para presupuestar errores para E1,2 y E1,3. Este
proceso de descomposición binaria se puede
extender hasta que hayamos establecido un
presupuesto para el error de cada elemento.
• La siguiente figura muestra la representación
gráfica de este proceso de descomposición
binaria.
binaria
Estableciendo
presupuestos
t
de error
elemental
basados en
especificacion
es globales.
 Investigación capitulo 5

• Explicar la razón por la cual es imposible

eliminar el error, y redactar alguna manera de
disminuirlo.
 Capitulo 6
MODELOS Y PRESUPUESTOS DE 
ERROR
 Introducción.

• SSuponga que se lal ha

h dado
d d lal tarea de
d diseñar
di ñ
un sistema de medición que será utilizado
para recopilar
il información.
i f ió Estos
E d
datos serán
á
tomados en consideración en decisiones
críticas.
íi D d esta tarea, ¿quéé acción
Dada ió se
pueden tomar para asegurar que la calidad de
l resultados
los l d medidos
did sea aceptable?.
bl ?
 Hay dos formas diferentes de hacer esto.
• Primero,
Primero se puede optar por comprar los
mejores sensores y equipo de sistema de
adquisición de datos disponible y esperar que
el desempeño total del sistema, ya instalado,
sea aceptable.
aceptable Si se toma este camino,
camino se
tiene que conducir un experimento una vez
que el sistema este instalado para asegurarse
de las características de medición globales.
Si hay decisiones que se van a basar en los
resultados
l d obtenidos
b id por este sistema,
i es
esencial cuantificar las características del
sistema
i d medición.
de di ió
• Segundo
Segundo, se puede elegir utilizar técnicas
ingenieriles de análisis que sirvan de guía en el
diseño del sistema y la selección de equipo,
equipo
esto se hará basado en los requerimientos
generales Idealmente,
generales. Idealmente este camino analítico
dará la seguridad de que el desempeño global
del sistema será aceptable desde antes de su
construcción.
• Previamente se ha establecido que el error de
medición es un criterio fundamental de diseño.
Dado que las mediciones se hacen para producir
información, es fundamental que el diseñador
inicie el proceso estableciendo las relaciones
entre las diferentes etapas de señal,
procesamiento de información y los reque‐
rimientos de precisión asociados con cada una
de ellas.
• U
Una vez concluido
l id lo
l anterior,
i se pueden
d
utilizar estos resultados para establecer las
i
incertidumbres
id b permitidas
i id en cadad medición
di ió
utilizando técnicas de propagación de error.
 Tipos de error y clasificaciones.
Tipos de error y clasificaciones.
• El
El error total de medición individual consiste 
error total de medición individual consiste
tanto de componentes fijos como aleatorios, 
que se combinan conforme a la siguiente
que se combinan conforme a la siguiente 
relación:
U = +/ (BT + t
U = +/‐ + t∝ST)
Donde:
BT = (B12 + B22 + … +Bn2)1/2
( 12 + S22 + … +Sn2)1/2
ST T = (S
• B1 y S1 son errores de elementos asociados con
q p de la cadena de medición y t∝ es el
el equipo
multiplicador de la T student seleccionado
basado en los ggrados equivalentes
q de libertad y
nivel de confianza deseado.
• Como no existen estándares disponibles,
disponibles el
diseñador esta en libertad de seleccionar algún
método alterno para combinar errores.
• Desafortunadamente la falta de estándares
dificulta la interpretación de las
especificaciones de desempeño, tanto de los
errores fijos como de los aleatorios. Así, las
especificaciones deben interpretarse con
buen juicio, se debe tener especial atención
con errores de precisión, se asume que todos
son 1 sigma.
• Si examinamos los elementos de la cadena de
medición, se puede definir que funcional‐
mente están dispuestos como:
Sensor.
Acondicionador de señal.
Amplificador y filtro
Amplificador y filtro.
Multiplexer y convertidor.
Reducción de datos y análisis.
• Cada uno de estos elementos tiene errores
individuales, los cuales se revisarán en las
siguientes secciones.
secciones
 Errores de sensores.
Errores de sensores.

• Funcionalmente los sensores se utilizan para

convertir fenómenos físicos en variables
eléctricas. Para sensores pasivos, las
especificaciones críticas generalmente
incluyen características de desempeño tales
como precisión, linearidad, histéresis,
repetibilidad y estabilidad térmica.
Precisión.
• Siempre existe un error en la conversión de
fenómenos físicos a variables eléctricas. eléctricas
Generalmente los fabricantes lo especifican en
relación con la plena escala del sensor.
sensor Como es
un error fijo y cuantificable, se clasifica como un
error de corrimiento (offset).
(offset)
 Linearidad
Linearidad.
• La linearidad es una medida de la desviación
de la relación entrada/salida con la relación
lineal ideal y se determina analizando la
relación de entrada a salida del dispositivo.
dispositivo
• Como se muestra en la
figura, la linearidad se define
como la desviación observa‐
da entre la respuesta
entrada/salida real y la
respuesta lineal definida por
l puntos
los t terminal.
t i l Dado
D d
que es un error fijo y por lo
tanto clasificado como corri‐
miento, se puede cuantificar
y compensar. La compen‐
Error de linearidad.
sación se puede lograr me‐
diante el uso de un
polinomio.
Histéresis.
• La
L histéresis
hi é i se caracteriza i por
el hecho de que la salida del
di
dispositivo,
ii ante una entradad
dada, varía con relación a la
di
dirección
ió ded llegada
ll d y lal
magnitud de su cambio.
G
Generalmente
l t lal histéresis
hi té i se
clasifica como error aleatorio y
generalmente
l t no se Error de histéresis.
compensa.
Repetibilidad.
• La repetibilidad
b l d d se presenta como la
l variación
ó
en la salida al aplicar una entrada igual
repetidamente.
d Esto se considera
d como un
error aleatorio.
Estabilidad térmica.
• Cuando un dispositivo esta sujeto a un cambio
de temperatura,
temperatura pueden variar tanto el
desplazamiento (offset) como su sensibilidad.
Ambos errores se consideran como aleatorios.
aleatorios
 Errores de acondicionamiento de señal.
Errores de acondicionamiento de señal
• El acondicionador de señal utilizado depende
p
de los requerimientos del sensor. Aquí
solamente consideramos sensores p pasivos,, así
los errores estarán relacionados con
excitación y supresión.
p Los p
principales
p errores
se atribuyen a variaciones en la fuente de
poder e incluyen
p y ondulación ((rizado o ripple),
pp ),
estabilidad y regulación. Cada uno de estos
errores es considerado como aleatorio.
• Se puede lograr supresión ya sea por inserción
de voltaje o balance resistivo.
resistivo Si se utiliza la
técnica de inserción de voltaje, deberán
considerarse importantes los parámetros de
ondulación (rizado), estabilidad y regulación
de la fuente de voltaje de supresión.
supresión
• Si se utiliza
ili lal técnica
é i de d balance
b l resistivo,
i i
tiene que considerarse el error de no
li
linearidad
id d introducido
i d id por las
l resistencias
i i
(potenciómetro de balance en conjunto con la
resistencia
i i en serie).
i )
 Errores del amplificador.
Errores del amplificador.
• Generalmente el amplificador es el primer
dispositivo activo en la trayectoria de la señal
y se utiliza para discriminar voltaje de modo
común, compensar diferencias que pueden
existir en potencial de cero, proveer
amplificación
lifi ió para señales
ñ l ded bajo
b j nivel
i l y
limitar el ancho de banda de la señal a través
de filtros.
filtros Los errores asociados con cada una
de estas funciones se describen en las
siguientes secciones.
secciones
Voltaje de modo común.
• La medida de la capacidad
p de un amplificador
p
diferencial para discriminar voltajes comunes
a ambas líneas de entrada se presenta en las
especificaciones del fabricante como Razón de
Rechazo de Modo Común (CMRR).
• Esto normalmente se define, para
amplificadores, como la razón de la ganancia
de señal a la razón de la señal de modo
normal que aparece en la salida (esto es,
entre las dos terminales de salida) al voltaje
de entrada de modo común. Esto se puede
representar como:
CMRR = Ganancia / (êvmc / evmc)
• Donde êVMC es el voltaje j de modo normal q que
aparece en la salida como resultado del
j de modo común eVMC en la entrada.
voltaje
Frecuentemente se expresa en términos de
dB ((decibeles)) utilizando la siguiente
g relación:
CMRR, dB = 20 log (CMRR)
• Si podemos medir o estimar el VMC, podemos
cuantificar el error utilizando la siguiente
relación:
êvmc = (G) (e
(G) (evmc  ) / log 
) / og ‐1 (( CMRR, dB/20)
C , d / 0)
vmc
• EEs importante
i t t indicar
i di que como losl errores
atribuibles a voltajes de modo común a
menudod se relacionan
l i con las
l diferencias
dif i ded
potencial a tierra, frecuentemente se ignoran.
E aplicaciones
En li i d medidores
de did d esfuerzo
de f con
una fuente de poder aterrizada, existe un
voltaje
lt j de
d modod común ú ded aproximadamente
i d t
la mitad de la excitación. Este tipo de
d l
desplazamiento
i t constante
t t se clasifica
l ifi como
error de corrimiento y se puede compensar.
Modo normal.
• Las diferencias en potencial cero (tierra o
común) pueden generar voltajes de modo
normal si las líneas de la señal no están
balanceadas. Este error se presenta como
una diferencia en voltaje entre las terminales
de entrada del amplificador y por lo tanto no
se pueden distinguir de una señal de entrada
real. Debido a la variabilidad de este error, se
le clasifica como un error aleatorio.
Amplificación.
• Las especificaciones de desempeño estático
para amplificadores típicamente incluyen
linearidad, precisión de ganancia y coeficiente
de temperatura. Como se mencionó, la
linearidad se considera como error de
corrimiento.
• La precisión de ganancia se define como la
desviación de la ganancia nominal. Como se
muestra en la figura siguiente, este error es
constante a un voltaje de entrada específico.
Así, la precisión de ganancia se clasifica como
un error de corrimiento.
Error de precisión de ganancia.
p g
• La precisión de ganancia, desfasamiento y
linearidad de un dispositivo se ven afectados por
variaciones en la temperatura ambiente. Las
especificaciones generalmente se expresan en
términos de partes por millón (ppm) de plena
escala por grado Centígrado.
• Así, si un dispositivo que tiene un coeficiente
de temperatura (Cotemp) con ganancia de ±
20º ppm / C está sujeto a variaciones de ± 5º
C de su temperatura media,media entonces el
cambio resultante en la ganancia expresado
en porcentaje de plena escala es:
Cambio en ganancia, % =(Cotemp)(Cambio Temp.)(100)
= (±
( 20 ppm / ºC)(5ºc) (100)
20 / ºC)(5º ) (100)
= ± 0.01 %
• Debido a la variabilidad de los errores atribuibles
ante cambios en la temperatura ambiente, se les
clasifica como errores aleatorios.
aleatorios En este caso,
caso
cuando se calculan los efectos, se está
expresando el cambio máximo esperado.
esperado
Filtrado
Filtrado.
• El propósito primordial del filtrado es limitar
ell ancho
h de d banda
b d para reducir d i errores
asociados con el muestreo. El filtro introduce
tanto errores estáticos
ái como dinámicos.
di á i L
Los
errores estáticos se restringen generalmente a
errores relacionados
l i d con ganancia i tales
l como
precisión de ganancia, linearidad y errores
i d id
inducidos térmicamente
é i tales
l como
desplazamiento y ganancia.
 Multiplexado y conversión.

• Los errores estáticos asociados con el

multiplexado generalmente se restringen a
interferencia del canal adyacente (cruce de
señales) y precisión de transferencia (errores
relacionados con ganancia). El cruce de señales
se clasifica como error aleatorio.
• Los errores estáticos asociados con la
conversión de analógico a digital muestra
errores relacionados con la ganancia (si el
convertidor incluye, ya sea un amplificador de
ganancia programable PGA o un circuito de
muestreo y retención de señal), así como el
error de cuantización atribuible a la
conversión.
• La cuantización se clasifica como un error
aleatorio igual a ± 1/2 LSB, donde LSB es el
valor del bit menos significativo.
significativo Por
definición, los extremos de este error
aleatorio son +/‐ 1/2 LSB.
LSB
 Reducción de datos y análisis.
• Otras fuentes de error (que a menudo se
ignoran)
g ) son la reducción de datos y análisis.
Así, aún cuando se presta especial atención al
error atribuible a redondeo y truncamiento
(especialmente para parámetros que requieren
cálculos de doble p precisión),
), los errores más
significativos son los de corrimientos grandes
desconocidos.
• Estos errores son aquellos causados por malas
prácticas de operación y una falta de atención
a los detalles de implementación por el
ingeniero del sistema.
• Así,
Así por ejemplo,
ejemplo los diseñadores pueden
tomar una decisión sin estar conscientes de
las consecuencias de utilizar una sola muestra
para caracterizar una medición que tiene una
variación de amplitud con el tiempo,
tiempo o el usar
polinomios de interpolación no estándares
para termopares.
termopares
 Modelos de error.
Modelos de error.

• Los modelos de error ofrecen un apoyo

sistemático al establecer el error del sistema,
sistema
donde un sistema es la integración de equipo
de diferentes fabricantes.
fabricantes
• Esencialmente, un modelo de error es un plan
p
estructurado de los diferentes componentes
del sistema que se requieren para realizar una
medición. Una vez establecido el arreglog de
los componentes y seleccionado el equipo, se
puede determinar el desempeño
p p compuesto
p
analizando las especificaciones de los
diferentes fabricantes.
• Primeramente se identifican los errores para
cada componente del sistema y luego se
clasifican como corrimiento o precisión. Estos
errores elementales luego se combinan usando la
técnica de la raíz de la suma de los cuadrados
para producir los errores de precisión y
corrimiento del componente.
componente Los diferentes
errores de precisión y corrimiento de los
componentes
p del sistema a su vez se asocian
para establecer la precisión y corrimiento total
del sistema y así la incertidumbre de medición.
• Dependiendo de la medición que se vaya a
hacer, se pudieran requerir diferentes tipos de
modelos
d l de d error para un sistema
it multicanal.
lti l
En esta forma se pudiera requerir desarrollar
varios modelos de error para representar
diversas mediciones a realizar. Para ilustrar
esta técnica, en las siguientes secciones se
presentan modelos de error para medición de
voltajes analógicos, temperatura (tanto con
termopares como RTD’s) y con sensores
medidores de esfuerzo.
 Modelo de error para mediciones de 
M d l d di i d
voltaje analógico.
j g

• El modelo de error estático de voltaje j

analógico es el más sencillo, dado que se
q
requiere menos equipo.
q p Para qque este
completo cada componente, con la excepción
del sensor y el ADC,, asuma q que tiene una
etapa de ganancia y, por lo tanto, mostrará
errores relacionados con la ganancia.
g
• Los errores atribuibles a voltaje de modo común
(VMC) son parte de los errores del amplificador
diferencial, estos incluyen el de corrimiento êvmc
atribuible a las características inherentes al CMRR
del amplificador diferencial y el de precisión de
modo normal atribuible al VMC en conjunción
con el desbalance en la línea de señal. Si êvmc no
es constante,
constante este error debe clasificarse como
aleatorio y no como error de corrimiento.
Posteriormente se incluirán los errores
relacionados con el VMC con los de los otros
componentes del sistema.
 Para cuantificar los errores,
errores es necesario
primeramente hacer lo siguiente:

• 1.‐ Definir niveles de señal. Se debe definir

primeramente el rango de salida del sensor así
como el punto que será analizado. Teniendo
esto, se seleccionan simultáneamente las
ganancias tanto del amplificador diferencial
como del PGA, esto con el propósito de cubrir
el rango completo del sensor y maximizar la
resolución del ADC.
• 2.‐ Cuantificar el máximo cambio de
temperatura ambiente para cada componente.
Esto se usa, en conjunción con las
especificaciones de desempeño térmico de cada
componente, para establecer la variación
máxima que se puede esperar.
• 3
3.‐‐ Cuantificar VMC.
VMC Esto se utiliza en
conjunción con el CMRR del amplificador para
establecer el error fijo de desfasamiento.
desfasamiento

• 4.‐ Cuantificar desbalance de línea. Esto se

utiliza en conjunción con el VMC para
determinar el error de modo normal.
 Modelo de error para mediciones de 
temperatura utilizando termopares
temperatura utilizando termopares.

• Los termopares son dispositivos

d d medición
de d ó
diferencial; esto es, la FEM generada es
f
función
ó de
d lal diferencia
df d temperatura entre
de
la temperatura sensada desconocida y la junta
d referencia
de f
• Primeramente, existe una diferencia en la
característica FEM‐temperatura entre el
alambre de termopar fabricado y los
estándares publicados por el Buró Nacional de
Estándares. Esto es consecuencia tanto de la
pureza como la homogeneidad del material
utilizado. La tabla siguiente lista estos errores
para varios termopares estándar, estos
errores son errores de corrimiento.
Errores típicos publicados para termopares.
• Segundo, hay errores asociados con la
medición del voltaje analógico. Las señales
j nivel ((menos de 100 mV).
son de bajo ) Como
el rango de entrada del ADC es típicamente ±
5V o ± 10V, las señales de bajo nivel del
termopar deben ser amplificadas f para
maximizar la resolución de la medición.
• Las ganancias se seleccionan
l b á d
basándose en ell
rango del termopar y la plena escala de
entrada del ADC y se utilizan para calcular los
errores asociados con la medición de este
voltaje.
voltaje
Curvas de FEM vs temperatura para termopares (0ºC ref).
• TTercero, hay
h un error asociado i d con lal junta
j d
de
referencia. Debido a que los termopares son
dispositivos diferenciales,
diferenciales se requiere una junta
de referencia.
• Las juntas de referencia de temperatura pueden
ser juntas de temperatura ambiente o juntas de
temperatura constante. Si se utiliza una junta de
temperatura ambiente, la temperatura debe de
medirse en forma precisa. Esto normalmente se
logra utilizando un RTD. RTD Así,
Así existen errores
asociados con la medición de la temperatura de
la jjunta utilizando un RTD.
• Si en vez de la junta de temperatura ambiente
se utiliza una junta de temperatura constante,
hay errores asociados con el mantener esta
temperatura constante. Existirá oscilación
(ciclado) en la temperatura como resultado de
la acción regulatoria del controlador de
temperatura de la junta.
• Independientemente del tipo de junta, el
error total de medición es la raíz de la suma
de los cuadrados del error de medición del
voltaje analógico y el error asociado con, ya
sea el medir la temperatura de la junta, o
mantener esa temperatura constante.
• Finalmente, existe un error asociado en
j analógico
convertir la medición del voltaje g en
temperatura. Tradicionalmente se utilizan las
tablas de FEM vs temperatura, que han sido
publicadas
bl d por ell Buró ó Nacionall de d
Estándares, para convertir la medición de FEM
a temperatura.
temperatura Como las tablas son grandes y
requieren interpolación, se han desarrollado y
utilizado polinomios de varios tipos.
tipos Estos
típicamente producen errores menores a ±
0.2º C.
 Modelo de error para medición de 
p
temperatura usando RTDs.
• Los detectores de temperatura por
resistencia (RTD) se utilizan frecuentemente
en aplicaciones donde se requiere una
medición más precisa que la que se puede
lograr utilizando termopares. Los RTD operan
bajo el principio de que la temperatura afecta
la resistencia eléctrica de un metal.
• Así
Así, si para un material dado se pueden
determinar las características de resistencia vs
temperatura y se puede desarrollar un medio
para medir los cambios en la resistencia,
entonces a través de él se podrá medir
entonces,
temperatura.
• Aún y cuando los RTD se consideran
resistencias variables, y por lo tanto sólo
tienen dos líneas,
líneas a menudo se proveen en
configuraciones de dos, tres ó cuatro líneas.
• Como se muestra, tanto la configuración de
dos como la de tres líneas se conectan
normalmente como puentes de Wheatstone
con un voltaje j de excitación constante. La
configuración de cuatro líneas generalmente
g de p
no se utiliza en un arreglo puente;; en este
caso se aplica una corriente constante para
excitar el sensor.
Configuraciones comunes del circuito con RTD.

Los errores asociados con los RTD

incluyen aquellos por autocalen‐
tamiento, acondicionamiento de señal
y medición de voltaje analógico. Para
identificar y cuantificar los errores en
configuraciones de dos y tres líneas se
puede analizar la relación de voltaje de
salida del sensor con los diferentes
componentes.
componentes
Para configuraciones de tres líneas, se 
puede utilizar la siguiente relación:
⎡ R3 + RL R2 ⎤
eo = V ⎢ − ⎥
R
⎣ S + 2R L + R 3 R1 + R 2⎦
 • Donde R1, R2 y R3 son resistencias p para
completar el puente, RL es la resistencia de
línea,, V es el voltaje
j de excitación y Rs es la
resistencia del sensor.
• Usando la serie de Taylor podemos obtener:
∂ eo ∂ eo ∂ eo ∂ eo ∂ eo ∂ eo
Δeo = ΔRS + ΔRL + ΔV + ΔR1 + ΔR2 ΔR3 + R
∂ RS ∂ RL ∂ V ∂ R1 ∂ R2 ∂ R

• También interesa como cambia la salida (eo)

como resultado de los cambios en el sensor
RTD. −(R3 + RL ) V
Δeo = 2
ΔR S
(RS + 2RL + R3 )
• Esta relación es no lineal. Este efecto de no
linearidad se puede minimizar haciendo la
resistencia R3 mucho mayor que RS (esto
también es deseable para reducir el flujo de
corriente a través del sensor y así minimizar
efectos de calentamiento). Típicamente, si R3
se escoge para que sea 100 veces mayor que
RS, el error de no linearidad es
aproximadamente 0.1 porciento.
• Para evaluar los efectos de las fluctuaciones
en la fuente de poder, podemos usar:
∂ eo
Δeo = ΔV
∂ V
• Donde:
∂ eo ⎡ R3 + RL R2 ⎤
=⎢ − ⎥
∂ V ⎣ RS + 2RL + R3 R1 + R2 ⎦

• Con esto tenemos un método para cuantificar

los efectos de variaciones en la fuente de
poder.
poder
• Los únicos errores de acondicionamiento de
señal son aquellos atribuibles a variaciones en
la fuente de poder (clasificados como errores
aleatorios) y el error de no linearidad
atribuible a la resistencia R3 (clasificado como
error de corrimiento).
• Las ecuaciones se pueden utilizar para
cuantificar estos errores, así como para
investigar los efectos de la resistencia de línea
(clasificado como corrimiento) y las
variaciones resultantes por cambios de
temperatura en las resistencias para
completar el puente (clasificados como
errores aleatorios).
 Modelo de error para 
Modelo de error para
mediciones de esfuerzo.

• Fenómenos
ó fí
físicos como presión
ó y fuerza
f
utilizan técnicas de medición de esfuerzo para
convertir su valor
l a magnitudes
d eléctricas.
lé
• LLos medidores
did d esfuerzo
de f son sensores
pasivos y por lo tanto requieren excitación.
Adi i
Adicionalmente,
l ell puente puede
d tener un
desfasamiento constante en medición cero a
consecuenciai de
d la l degradación
d d ió de d losl
componentes.
• Para maximizar la resolución del sistema, es
deseable suprimir este desfasamiento. Esto
se puede lograr ya sea insertando un voltaje
igual de polaridad opuesta en serie con la
línea de señal o aplicar resistencias distintas a
las líneas activas del puente.
• Los errores principales asociados con sensores
medidores de esfuerzo son aquellos q
relacionados con acondicionamiento de señal,
medición de voltaje
j de salida analógico
g y error
de VMC inherente (asumiendo que se utiliza
una fuente de excitación aterrizada).
)
• EEn los
l errores de d acondicionamiento
di i i t ded señal
ñ l
están las variaciones en la fuente de poder de
excitación
it ió ( l ifi d
(clasificados como errores
aleatorios) y errores relacionados con la
supresión
ió de
d desfasamiento.
d f i t
• Si se utiliza la técnica de supresión con voltaje,
entonces las variaciones en la fuente de poder
de supresión son errores críticos. Estos
generalmente se clasifican como errores
aleatorios.
• Si en vez de supresión con voltaje, se utiliza la
técnica de balance resistivo,, el error p
principal
p
que resulta de aplicar resistencias a los brazos
activos del p
puente es no linearidad ((clasificado
como corrimiento).
• El error de VMC inherente es resultado de
tener un VMC de aproximadamente la mitad
de la excitación del puente presente en todo
momento, este se clasifica como error de
corrimiento.
• Para evaluar los efectos de variaciones en la
fuente de poder de excitación, se utiliza la
siguiente técnica.
técnica La sensibilidad del medidor
de esfuerzo generalmente se expresa en
términos de voltaje de salida (e0) por volt de
excitación (por ejemplo, 3 mV/ V para plena
escala) Si se aplica una excitación de E,
escala). E la
salida es:
e0 = C E

• Donde C es la sensibilidad a plena escala.
• El efecto de un cambio en el voltaje de
excitación (ΔE) es: Δe = ∂ eo ΔE
o
∂E
∂ eo
Donde: =C
∂E

Así, Δe0 = C ΔE
Δeo C ΔE
=
En términos de porcentaje, tenemos: eo eo

Δeo C ΔE ΔE
Substituyendo
y para e0:
p = =
eo C E E
• Así
Así, una variación porcentual en el voltaje de
excitación produce un cambio porcentual
equivalente en la sensibilidad del puente.
puente De
acuerdo a esto, si el voltaje de excitación
cambia en ± 0.1
0 1 porciento,
porciento esto es equivalente
a un cambio de ± 0.1 porciento en la salida del
puente.
puente
 Capitulo 7
FUNDAMENTOS DE DISEÑO 
DE SISTEMAS
DE SISTEMAS
 Introducción.
• El objetivo de incrementar la productividad
mediante el monitoreo de la eficiencia y
mejora de la calidad en las plantas
manufactureras, preocupadas con niveles y
costos de producción, ha llevado a la
proliferación de sistemas de adquisición de
datos basados en computadoras (medición
computarizada).
• En realidad,
realidad para mejorar hay que medir,
medir
¿como estamos?, ¿a donde queremos llegar?,
y proponer estrategias para lograrlo.
lograrlo Esto
implica una medición inicial y mantener la
medición para ver si vamos avanzando en la
dirección correcta o se requiere hacer alguna
corrección.
corrección
• El problema
bl puede
d ser de
d eficiencia
fi i i en la l
operación de un equipo o proceso, de calidad
en una característica
í i particular
i l d algún
de l ú
producto, pero en cualesquier caso se
requiere
i medir.
di
• Actualmente los sistemas desarrollados en
computadoras varían desde simples
computadoras personales hasta equipo
computacional interconectado en red con
sistemas de automatización, procesadores
digitales y controladores programables
operando en numerosas aplicaciones en
tiempo real que incluyen control,
control monitoreo y
adquisición de datos de variables de proceso.
• Las computadoras son equipos que permiten
realizar en una forma muy eficiente y flexible
la tarea de medición.
medición ¿Cómo hacer que una
computadora realice esta tarea y permita
obtener información adecuada para poder
tomar decisiones? Este es el objetivo de este
tema.
tema
• Esto genera la necesidad de poseer la
metodología
g y herramientas de conocimiento
para la adecuada selección de dispositivos y
equipos
q p que cumplan
q p los requerimientos
q
específicos de la aplicación.
• Así uno de los p principales
p problemas,, desde el
p
punto de vista de diseño, es la adecuada selección
e integración de dispositivos y equipos en un
sistema.
• ¿Qué tan rápido y qué tan exacto? 
p yq
• ¿Cómo seleccionar el sensor a usar, qué tipo de
equipo
q p computacional
p se requiere,
q ,qqué frecuencia
de muestreo e interfaces se necesitan?
• ¿Cómo estar seguro de que cuando el equipo este
integrado en forma de sistema, sus características
de desempeño
p gglobales cumplirán
p con los
requerimientos?
• Estas son preguntas fundamentales que
deben ser contestadas.
L objetivos
Los bj i d este tema son dos.
de d
• Primero, desarrollar una técnica que permita
aplicar una metodología en el proceso de
diseño.
• El segundo objetivo es presentar técnicas
analíticas q
que p
permitan establecer y jjustificar
tanto el diseño funcional como
p
especificaciones de equipo.
q p
 Fundamentos de una técnica 
d d
de diseño.
• El
El diseño es un proceso obscuro.
diseño es un proceso obscuro Es obscuro 
Es obscuro
porque usualmente se pide un sistema a partir 
de requerimientos establecidos vagamente
de requerimientos establecidos vagamente.
Es obscuro porque a frecuentemente 
producimos un diseño
“producimos un diseño” pero no tenemos 
pero no tenemos
otro recurso mas que construirlo y probarlo 
para asegurarnos que dicho diseño satisface
para asegurarnos que dicho diseño satisface 
los requerimientos, lo cual muestra una 
técnica cuestionable
técnica cuestionable.
• El diseño pudiera parecer un proceso
ambiguo por el hecho de que existen varios
términos (conceptuales, funcionales,
preliminares finales,
preliminares, finales de detalle) utilizados
para distinguir diferentes fases de un proceso
no claro.
claro Desafortunadamente estos términos
tienen diferentes connotaciones que llevan a
una interpretación dudosa ó errónea de lo
que hay que hacer.
• Si queremos lograr los objetivos presentados
anteriormente es esencial que primero
formulemos un esquema que clarifique el
proceso del diseño del sistema, y por otra
parte que identifiquemos o desarrollemos
parte,
técnicas analíticas que puedan ser utilizadas
para conectar el vacío entre requerimientos y
especificaciones.
• P
Para nuestros propósitos,
ói consideremos
id que ell
diseño de sistemas consiste en dos fases diferentes:

El diseño funcional incluye todas las actividades

necesarias para
p establecer requerimientos
q
particulares y para desarrollar un concepto de
sistema con características bien definidas que
muestre congruencia con las necesidades de la
aplicación específica.

El diseño final comprende definir todos los detalles

necesarios para implementar el diseño funcional.
 Diseño funcional.
Diseño funcional.
• El primer paso en el diseño funcional es
establecer los requerimientos en común
acuerdo con el usuario. Aún cuando esto
parece intuitivo, se debe tener especial
cuidado para asegurar que los requerimientos
son comprensibles, no sean exagerados y que
no impongan restricciones severas al
diseñador.
• Los requerimientos involucran mucho más
que los aspectos técnicos del problema. Por
ejemplo, debe considerarse lo que el usuario
quiere y desea, así como todas las
restricciones. Así, aún y cuando muchos
sistemas pueden cumplir los requerimientos,
algunos serán considerados más aceptables
que otros.
• Es importante indicar, por principio, que
independientemente de que tan ingenioso
parezca el diseño, con toda probabilidad
habrá resistencia a aceptarlo si el usuario
piensa que el sistema está desarrollado como
quiere el diseñador y no como piensa él.
él Así,
Así
el usuario juega una parte integral en el
desarrollo de los requerimientos.
requerimientos
• El siguiente
i i paso es establecer
bl una solución
l ió a
los requerimientos definidos en común
acuerdo
d con ell usuario.
i Para
P ell diseñador
di ñ d la l
solución es un sistema. Cuando describimos
un sistema
i l hacemos
lo h en términos
é i d
de
exactitud, respuesta, tipos de entradas/salidas
y costo.
• El segundo paso del proceso de diseño
funcional es traducir los requerimientos
generales en características específicas del
sistema. A este proceso le llamaremos
análisis.

• Con esto,
esto como base de nuestro análisis,
análisis nos
concentraremos en las características de
exactitud ancho de banda y desempeño.
exactitud, desempeño
• El tercer paso del
d l diseño
di ñ funcional
f i l involucra
i l
establecer una configuración funcional global
y especificaciones de equipo.
equipo
• Utilizamos los resultados del análisis así como
los requerimientos no técnicos para
establecer la configuración y finalizar las
especificaciones El resultado es un conjunto
especificaciones.
de diagramas funcionales que establecen la
forma del sistema y las especificaciones
p que
q
fijan las características de comportamiento de
los equipos.
 Sistematización del proceso 
de diseño.
• Los tres pasos descritos anteriormente
constituyen lo que creemos es una
metodología de diseño. Esto permite al
diseñador desarrollar un sistema empezando
con los requerimientos generales,
utilizándolos para desarrollar niveles
mayores de detalle, y finalmente establecer
una configuración y seleccionar el equipo.
• Como resultado de esta metodología, el
di ñ d
diseñador puede
d f d
fundamentar adecua‐
d
damente la definición de la configuración del
sistema
it asíí como justificar
j tifi ell proceso de
d
selección del equipo basándose en
requerimientos
i i t generales
l d fi id
definidos en
común acuerdo con el usuario.
• Una vez más,
más el primer paso en el proceso de
diseño funcional consiste en establecer
requerimientos que sean claros,
claros completos,
completos y
cuidar que no sean exagerados.
• Para el diseño del sistema esto no parece ser
demasiado complejo,
complejo podemos darnos una
idea de qué se requiere examinando como se
definen dichos sistemas.
sistemas Generalmente esto
involucra definir entradas, establecer
requerimientos de exactitud y ancho de
banda, analizar el medio ambiente donde va a
operar el sistema y algunas otras
características deseables relacionadas con
calibración mantenimiento y flexibilidad.
calibración, flexibilidad
• Aún cuando esto parezca simple, es
importante mencionar que establecer
requerimientos es la parte confusa del diseño.
Hay que asegurar que los requerimientos sean
consistentes y que no generen excesivas
restricciones.
• Al final
fi l de
d este paso inicial
i i i l del
d l proceso de
d
diseño es cuando ocurre la primera revisión
f
formall entre ell usuario i y ell ingeniero
i i
diseñador del sistema. Al revisar estos
requerimientos
i i en forma
f conjunta
j se llega
ll a
un entendimiento de que puntos son críticos y
cuales
l son flexibles.
fl ibl
• La definición de requerimientos es un paso
crítico pues forma la base para todas las
crítico,
actividades de diseño posteriores. Así, se
recomienda se formalicen sus resultados.
resultados
• Una vez aprobado, el “documento de
requerimientos” es utilizado para propósitos
de control de calidad. Esto es, el diseño debe
ser comparado periódicamente y demostrarse
su cumplimiento.
• Siempre existe la posibilidad de que algunos
requerimientos cambien durante el diseño
funcional Por lo tanto,
funcional. tanto debe incorporarse un
mecanismo que permita que ocurran dichos
cambios en una forma controlada y visible.
visible
• El segundo paso de diseño funcional es
analizar los requerimientos generales para
establecer características específicas del
sistema. Para hacer esto, nos
concentraremos en requerimientos de
exactitud, ancho de banda y desempeño
global.
EEn relación
l ió con exactitud,
tit d se aplicarán
li á técnicas
té i d
de
propagación de error y presupuesto de errores
(
(por presupuesto
t entendemos
t d l distribución
la di t ib ió de d
errores parciales entre los diversos componentes
d l sistema
del it para lograr
l ell error definido
d fi id por los
l
requerimientos globales de exactitud) para
establecer,
t bl en cadad medición,
di ió la l exactitud
tit d del
d l
sensor y las características de exactitud para
t d los
todos l componentes t analógicos
ló i d l sistema
del it
tales como acondicionadores de señal,
amplificadores
lifi d y filtros.
filt
• Se definirán las características de filtrado y
frecuencia de muestreo conjuntamente para
satisfacer requerimientos de distorsión por
muestreo y ancho de banda. Finalmente se
revisará la carga de cómputo (timming) del
sistema global para asegurar los
requerimientos globales de desempeño.
desempeño
• El tercer paso de diseño funcional es
considerar colectivamente los resultados de
mediciones
di i i di id l y análisis
individuales áli i de
d tiempos
ti
para establecer la configuración del sistema.
En este punto del proceso de diseño funcional
es donde la solución toma forma. Así, se
determinarán tanto el número y tipo de
interfaces y procesadores, se especificarán sus
características de desempeño y se establecerá
una especificación de diseño funcional de
software.
• U
Una vez que ell diseño
di ñ funcional
f i l a sido id
completado y revisado contra los
requerimientos,
i i t ell diseño
di ñ es considerado
id d fijo fij y
puede empezar el diseño detallado. Por fijo
queremos decir
d i que no se podrán d á hacer
h
cambios posteriores sin aprobación formal de
l administración.
la d i i t ió E all final
Es fi l de
d este t tercer
t
paso cuando ocurre la segunda revisión del
di ñ entre
diseño t ell usuario
i y ell ingeniero
i i di ñ d
diseñador
del sistema.
• El propósito de esta revisión, la cual es
comúnmente llamada “revisión preliminar”
del diseño, es verificar que el diseño funcional
satisface el documento de requerimientos. En
este punto, el ingeniero debe ser capaz de
defender rigurosamente el diseño funcional y
demostrar su congruencia con los
requerimientos.
 Panorama.
• En este capítulo se ha mostrado la necesidad
de una metodología de diseño que permita,
partiendo del análisis de los requerimientos,
requerimientos
definir la configuración del sistema y
establecer las especificaciones del equipo.
equipo
Para sistemas de medición o de adquisición de
datos basados en computadoras y aplicados
en tiempo real, este proceso es crítico para
asegurar un buen resultado.
resultado
• Diseñarlo mediante métodos convencionales
y construirlo para ver si el desempeño global
satisface los requerimientos es riesgoso y
generalmente resulta en un rediseño costoso
y comprometedor para los requerimientos.
• La técnica de diseño debe incluir métodos
analíticos que ayuden al diseñador a dividir
q
sistemáticamente los requerimientos y en
esta forma establecer especificaciones de
q p
equipo.
• En los capítulos anteriores se presentaron
técnicas
é i analíticas
lí i b d en los
basadas l dos
d criterios
i i
fundamentales de diseño: exactitud y ancho
d banda.
de b d
• También se fueron introducidos los conceptos
de errores de medición fijos y aleatorios.
Además se estableció el concepto de
incertidumbre de la medición debido a la
naturaleza probabilística del error.
 Capitulo 8
C it l 8
Acondicionadores de
Acondicionadores de 
señal
 I
Introducción
d ió
• A las operaciones electrónicas que se realizan
sobre una señal para adecuarla a los niveles de
tensión o al tipo de parámetro eléctrico que
acepta una DAQ se le llama acondicionamiento
d una señal.
de ñ l
• Estas operaciones se deben realizar tanto en
entradas como en salidas analógicas y digitales
de una tarjeta DAQ.
 Análisis teórico y cálculos de algunos 
acondicionadores de señal.

• Se
S desarrollara
d ll un análisis
ál teórico
ó y los
l
correspondientes cálculos para quien desee
encarar un proyecto
t básico
bá i ded diversos
di modelos
d l
de acondicionadores de señal.

• Hay que notar que el análisis se realiza en una

sola etapa del OPAMP, en la practica será
necesario colocar mas de una etapa.
 Acondicionador cambiador de escala
Acondicionador cambiador de escala

• Este es simplemente una etapa amplificadora.

amplificadora Su
misión es cambiar de escala entre entrada y
salida.

• Por ejemplo,
ejemplo se supone una entrada de +/‐100
mV y se intenta elevarla hasta +/‐10 Va los
efectos de cubrir toda la excursión de la DAQ.
• La solución es sencilla:
Se utiliza la configuración
de OPAMP Inversor .

• La ganancia de esta
configuración
fi ió es:
Vo -ZF -F
Av=
Av = =
Vs ZR R
• Si llamamos k a la relación
d resistencias
de i i y se define
d fi
como factor de cambio:
Vo
Av= =-k
Vs
• La excursión de +/‐100 mV es en realidad una
excursión de 200 mV,, según
g el ejemplo
j p es
necesario elevarlo a +/‐10 V la cual es una
excursión de 20 V.

• Se tendrá entonces la siguiente relación:

Vo 20V 20V
-k= = = =100
Vs 200mV
200 0.2V
02
• Con lo cual la relación de resistencias seria:

F
-k=
k =100
100
R
• Si se supone F= 100 K , entonces R= 1 K , con
lo cual se ha dimensionado el acondicionador.
 Aspectos a tomar en cuenta
Aspectos a tomar en cuenta

• Que Av= ‐k,

‐k esto significa que entre Vi y
Vo existe un desfase de 180° ya que se
trata de la configuración inversora.
inversora Esto
se soluciona colocando a continuación
otra etapa idéntica con ganancia 1, 1
entonces la señal de salida estará en fase
con la entrada.
entrada
• A la entrada de la primer etapa inversora se
colocara una etapa de alta impedancia no
inversora, conocida como seguidor inversor.
 Acondicionador Integrador
Acondicionador Integrador

• También llamado Convertidor

de frecuencia‐tensión.

• Si en el modelo de amplificador
inversor se reemplaza F por un
capacitor C se obtiene el
circuito de las figuras.
• Se p
puede demostrar qque el circuito realiza la
operación de integración, la entrada no tiene
por q
p que ser senoidal;; p
puede ser cualquier
q
onda que evolucione en función del tiempo y
que p
q pueda representarse
p por v= v(t).
p ()
• Esa tensión en función del tiempo mas el
fenómeno de carga del capacitor C generaran
una i= i(t).
• A partir de lo anterior es posible expresar lo
siguiente:
1
Vo= ixdt
C
• Recordando que i = Vs/R según el circuito
equivalente:
1
Vo=- Vsxdt
RC
• LLa tensión
t ió de d salida
lid Vo
V hah resultado
lt d igual
i l a la
l
integral de la tensión de entrada.
• Suponiendo un caso en el cual Vs sea constante,
la integral queda de la siguiente manera:
Vsxt
Vo=-
RC
• Conforme transcurre el tiempo la tensión de
salida Vo ira creciendo en forma de rampa.
rampa
 Acondicionador convertidor de 
T ió
Tensión a corriente.
i
• Para ello se utilizara un circuito amplificador
inversor, sin embargo F será cambiada por la
entrada del equipo
q p q que se desea alimentar con
cierta corriente. Esto correspondería por ejemplo
a un actuador que necesitara ser excitado con
una corriente de 0 a 20 mA.

• Se simbolizara con ZL al actuador que

reemplazara
p a F.
• De esta forma se tiene un
convertidor de tensión a
corriente porque la corriente i
es la misma que circula por ZL.
ZL
Esta corriente será llamada iL y
será expresada como:
Vs(t)
iL=
R
• La Vs puede variar en función
del tiempo y la iL la acompaña
debido a que es directamente
proporcional a Vs(t).
• EEn esta configuración
fi ió la
l impedancia
i d i de d entrada
d
no es muy alta, por lo tanto la fuente debe estar
en condiciones de suministrar la corriente iL.
iL
 Acondicionador Convertidor de 
corriente a Tensión.
i T ió

• En la practica muchos de los sensores que se

usan con sistemas DAQ tienen salidas de
corriente 0 a 20 mA o 4 a20 mA. Por otro lado,
las DAQ tienen entradas de tensión. De aquí se
d d
deduce que seráá necesario i colocar
l un
acondicionador de señal que convierta la
corriente de un
n censar en tensión para ingresar a
la DAQ.
• En la figura se muestra un OPAMP empleado
como convertidor de corriente a tensión. A la
entrada del mismo se a conectado el sensor que
tiene salida de corriente Is en paralelo con la
resistencia
i t i Rs.R
• Como consecuencia de la tierra virtual a la
entrada del terminal inversor del OPAMP la
corriente de la resistencia Rs es 0 e Is circula
completamente por F. Como la terminal inversor
se encuentra en tierra virtual se puede decir que
la tensión Vo es igual a la caída de voltaje en F
pero con signo
i contrario.
t i

Vo=-isxF
• Hay que destacar que el limite inferior de la
medida de la corriente en el circuito esta
determinado por la corriente de polarización de
la entrada inversora, a partir de la cual el OPAMP
comienza a trabajar normalmente.
 Acondicionador con entrada 
diferencial y salida referida a tierra.

• Frecuentemente en un acondicionador es
necesario introducir una señal diferencial y
que su amplificación este referida a tierra.
• La configuración mostrada en la figura nos
muestra una forma de lograrlo, esta
configuración también es llamada de
instrumentación.
• En el circuito equivalente es de notar que la 
corriente es cero alas terminales, por lo tanto 
ambas se encuentran a igual potencial.
• Por lo tanto:
Vo = ( R 2 + R 4)i
• También: (V 2 - V 1)
i=
R1 + R3
• Reemplazando:
⎡ V 2 -V1 ⎤
V = ( R 2 + R 4) ⎢
Vo
⎣ R1 + R3 ⎥⎦
• Si hacemos R2=R4 y R1=R3 tenemos que:
R2
Vo = (V 2 - V 1)
R1
 Acondicionador adaptar 
de impedancia.
• La configuración de la figura es un seguidor de
emisor, en el capitulo 5 se demostró que Vo = Vs.
Esto puede explicarse fácilmente por que las
terminales del OPAMP se encuentran
virtualmente unidas.
• En la practica existen OPAMPS que han sido
diseñados para ser usados como seguidores de
voltaje. Tienen una resistencia de entrada
cercana a los 10 000 M , una corriente de
entrada aproximada
p de 3nA y una resistencia de
salida cercana a 0.
 Acondicionador con entrada para 
sensor en puente y salida referida a tierra.

• En ocasiones se utiliza la entrada de un

acondicionador diferencial para amplificar las
pequeñas señales diferenciales que genera un
sensor de tipo Strain Gauge o de temperatura.
• Los 4 brazos del puente tienen resistencias
iguales R, pero una de las ramas tiene
resistencia que varia en R + ΔR cuando se le
aplica una fuerza o cuando varia algún
parámetro físico.
• El objetivo
bj ti d las
de l f
formulas
l a desarrollar
d ll es
encontrar el cambio producido en la salida por
efecto de la variación en el brazo activo.
activo
• La variación se define como =ΔR/R.
• El amplificador
lifi d tiene
ti gananciai Ad.
Ad

Hay que señalar que

V2 se colocara en la
terminal inversora y
V1 en la no inversora.
• Al ser diferencial tenemos que:
Vo=Ad(V1-V2)
• Podemos encontrar V1 y V2 pos las relaciones
de resistencia:

V VR
V2= V1=
2 R+(R+ΔR)

ΔR δxR
ΔR=δxR
V
V1=
2+δ
• Reemplazando V1 y V2:

V V
Vo=Ad( - )
2+δ 2
• Entonces la tension de salida esta en función
de , también de Ad,, de V.
 Aislación eléctrica de 
señales digitales.
• Cuando en dos canales analógicos de una DAQ se
leen dos señales analógicas de una planta
industrial es p
prudente hacer lo siguiente:
g Estas
señales provienen de otras señales que son
generadas por distintas fuentes de tensión,
puede suceder que entre ambas señales exista
una gran diferencia ( 500 o 1000V), aunque los
niveles de cada señal analógica, por ejemplo
menos de 5 o 10 V.
• Por lo expuesto podría decirse que se esta
aplicando
p una tensión de 500 o 1000V entre
dos canales adyacentes de la DAQ.
• Eso
so dañara la tarjeta.
• Para evitar eso es conveniente colocar una
asolación eléctrica en cada una de las
entradas analógicas de la tarjeta.
 Borneras y cables.

• Los cables aunque

q no son
acondicionadores cumplen la misión de
conectar la tarjeta
j con la bornera y esta
a su vez con los elementos de campo.
Acondicionamiento de señales 
Acondicionamiento de señales
industriales
 Concideraciones generales
Concideraciones generales

• Medir para conocer y controlar.
ed pa a co oce y co t o a .

• La
La instrumentación a llegado a ser el cerebro del 
instrumentación a llegado a ser el cerebro del
la industria moderna.

• Su gran evolución a permitido a la industria tener 
mejores controles en sus procesos.
 Uso de las mediciones industriales
Uso de las mediciones industriales
• Medición solo para indicación.
• Medición de control.
• Mediciones medio ambientales.
Mediciones medio ambientales.
• Mediciones de seguridad. 

Entorno de medición industrial
A) Campo
B) B) Sala de control
B) Sala de control
 Sensores y transmisores
Sensores y transmisores

• Sensor: es un dispositivo que convierte una

cantidad física en un parámetro que mas tarde
será utilizado p para indicar o controlar una
variable.

• Transmisor: se encarga de trabajar sobre la señal

a través de la amplificación, filtrado, aislamiento
o algún tipo de manipulación electrónica.
Ejemplo 
 Linealización de sensores
Linealización de sensores

• Los acondicionadores de señal que poseen

linealización incorporada tienen una función de
transferencia igual
g que el sensor real p
q pero
simétrica a la que describe el sensor real.

• Esta herramienta nos permite obtener una mejor

fidelidad en nuestros sensores.
linealización de sensores
linealización de sensores
 Clasificación de Sensores
Clasificación de Sensores

• A)) Sensores Autoexcitados ((self exited):

) Estos
sensores pueden no necesitar una fuente de
excitación externa para producir salida de
tensión
ió o de
d corriente.
i

• B)) Sensores Excitados

d externamente: Necesitan
de una fuente externa de tensión o de corriente
para poder ser leídos por el sistema de
adquisición de datos.
Técnicas de reducción de ruido y 
aislamiento
 Consideraciones Generales
Consideraciones Generales

• En todo equipo de medición es necesario

controlar el ruido ya que puede ocasionar
ggrandes p
problemas.

• Para evitar este se conocen varias tecnicas de

eliminación de ruido como el blindaje, filtrado,
etc.
 Fuentes de Ruido
Fuentes de Ruido

• En los sistemas de adquisición de datos hay un

gran numero de equipos que generan ruido y
dichos equipos
q p no p pueden ser eliminados del
sistema por que cumplen con una función
especifica.
• A continuación presentamos las distintas fuentes
de ruido y las técnicas p para minimizar sus
efectos.
 Ruido de Origen Capacitivo.
Ruido de Origen Capacitivo.

• En cualquier planta existen áreas que pueden

cargarse eléctricamente, si esta carga permanece
constante el efecto de inducción electrostática sobre
el sistema de adquisición de datos es despreciable.
• Pero en la práctica no ocurre así, las cargas varían
eléctricamente en el tiempo, esto genera un campo
electrostático variable que se acopla
capacitivamente al sensor,
sensor al acondicionador de
señal del sistema.
 Ruido de Origen Magnético
Ruido de Origen 
• El ggran numero de camposp magnéticos
g en el área de
trabajo e incluso en la sala de control provocan
inducciones en el cableado del sistema el cual tiende
a tener perturbaciones debido a estas cargas
magnéticas.
• Es por eso que el aislar los cables es un buen recurso
además de las técnicas de eliminación de ruido
mediante amplificaciones de la señal antes de
t
transmitirla
iti l a través
t é de d todo
t d ell cableado
bl d y ser leída
l íd
por la tarjeta de adquisición de datos.
 Loops de tierra o Ground Loops
Loops de tierra o Ground Loops

• Su nombre indica que el propio suelo que se transita

es el lugar donde se referirán todas las corrientes y
tensiones.
• El hecho de que este referenciada la tierra ocasiona
problemas cuando ocurren cambios de tensión muy
grandes, estos cambios de tensión en un corto
tiempo provoca una caída de tensión muy grande en
un punto con respecto a otro,
otro ocasionando ruido y
perturbaciones en el sistema de adquisición de
datos.
 Interferencias de Radio Frecuencias
Interferencias de Radio Frecuencias

• Las fuentes mas comunes son los transmisores de

televisión y de radio.
• El cableado que va desde el sensor hasta el
acondicionador
di i d de d señal
ñ l actúan
ú como verdaderas
d d
antenas estando inmersos en los campos generados
por es
po estas
as es
estaciones
ac o es de radio
ad o o televisión,
e e s ó , es
estas
as
señales solo algunos acondicionadores de señal la
rectifican aumentando la componente de continua
d la
de l misma
i en ell acondicionador
di i d alterando
lt d lal
lectura real que efectuó el sensor.
 Técnicas para prevenir  y evitar los ruidos 
electrónicos o para preservar la integridad de la 
l tó i l i t id d d l
señal de los sensores.

• La integridad de la señal comienza con una buena

calidad en la medición y un buen equipo q p
acondicionador de señal.
• La integridad de la señal es seriamente afectada
por malos blindajes o pro las prácticas de
cableado de instalación y también p por ciertas
decisiones tomadas durante el diseño.
 Blindaje
• Es usado ppara disminuir la interferencia p
producida
por el acoplamiento capacitivo y para disminuir los
errores producidos por la interferencia de
radiofrecuencias.
radiofrecuencias

• Blindaje significa envolver los cables desde el sensor

al acondicionador de señal con una malla metálica
de tal forma que los campos eléctricos externos
terminen en la superficie equipotencial del blindaje.
 Cable de Par Trenzado
Cable de Par Trenzado

• El principio para evitar ruidos e interferencias con

cable de par trenzado es el siguiente:

• Juntando los pares y trenzándolos se anulan

entre si las diferencias de potencial o voltajes
inducidos en el cable cuando el mismo se
presenta en presencia de un campo magnético.
 Acondicionadores de 
Acondicionadores de
señal Digital.
• Existen muchas tecnologías electrónicas
digitales Las más conocidas son: la Lógica
digitales.
Transistor Transistor (TTL) y la
Complementary Metal Oxide Semiconductor
(CMOS).
• Se consideran dos estándares en cuanto
entradas y salidas digitales de Tarjetas de
Adquisición y Tomas de Datos
• 1)) Estándar TTL Se usa mucho a nivel
laboratorios, Universidades, Centro de
Investigaciones. Las tarjetas de Adquisición o
toma de datos generalmente vienen con
entradas y salidas digitales a nivel TTL (5 Vdc)
• 2) Estándar Industrial de 24V muy usado en
fábricas, plantas industriales, PLC, autómatas,
adquisidores distribuidos, etc. Hay líneas de
Tarjetas y Sistemas de Adquisición de Datos que
se proveen con entradas digitales a 24Vdc.
(Normalmente de procedencia europea).
 Interface con Interruptores o 
Interface con Interruptores o
Swiches Mecánicos.
• Los interruptores mecánicos son conectados a
las entradas digitales usando un resistor
llamado “pull‐up resistor”, cuando el resistor
esta abierto, la entrada Digital de la Tarjeta
DAQ esta a V+ con lo cual esta en alto (ON).
En cambio cuando el interruptor esta
conectado en el resistor, la entrada digital
resulta puesta a tierra (OFF).
 Rebote de Contactos
• Cuando un switch mecánico se cierra o conecta 
eléctricamente, hay un periodo de tiempo muy  
breve durante el cual los 2 contactos metálicos 
del interruptor rebotan entre sí. En algunos 
controles digitales esto produce acciones muy 
rápidas ON y OFF las cuales pueden afectar el 
sistema.
• Existen varias soluciones para evitar el efecto 
de rebote, estos pueden ser implementados
de rebote, estos pueden ser implementados 
por software o por hardware. 
• EEn la
l figura
fi podemos
d observar
b una configuración
fi ió de
d
compuertas que tienen como función eliminar el
rebote de los contactos,
contactos es una configuración muy
sencilla pero eficiente, aunque produce una
inversión en hardware, lo cual es algo que debe
minimizarse lo mas posible, para eliminar el rebote
por medio de software seria necesario codificar que
l cambios
los b bruscos
b d 0 a 1 no sean cuantificados
de f d
por el sistema hasta que se vuelvan estables, sin
embargo esto trae consigo una gran demora en el
sistema.
 Señales digitales de variación lenta o 
de baja pendiente de cambio.

• Los dispositivos digitales de entrada TTL no

pueden producir una salida predecible cuando
la misma esta entre 0.8 y 2 V
• Un
U cambiobi suave ded 0 a 1 en ell valor
l de
d la
l
tensión de entrada, en lugar de producir un
suave cambio
bi en la l transición
i ió de
d 0 a 1, 1
produce una serie o descarga “nerviosa” de
valores
l d 0 y 1.
de 1
 Hay varios caminos o soluciones para evitar
este problema, a saber:
• A) Corregir la señal del sensor digital que entra en la
tarjeta DAQ para que la misma cambie más
rápidamente.
• B) Usar comparadores analógicos que a partir de
cierto nivel conmuten la salida para que no haya un
rango indefinido, produciendo el efecto de un
disparo digital cuando se produce un cambio de nivel
d
deseado.
d
• C) Utilizar un disparador de Schmidt (Schmidt
Trigger).
Trigger)
 Disparador Schmidt Trigger
Disparador Schmidt Trigger.

• En la figura podemos ver la configuración de

un schmidt trigger y el grafico de transición
del mismo.
• Este disparador funciona de la siguiente
manera: la histéresis que se busca cuando
cambia de estado el mismo, la produce una
realimentación positiva del comparador a
través del divisor de tensión formado por las
resistencias R1 y R2.
• Analicemos el funcionamiento tomando en
cuanta que se ha aplicado en la entrada un
voltaje negativo muy grande,
grande que llamaremos
Vi, el voltaje de salida tendrá el valor máximo
cuando se tenga Vomax. En la terminal no
inversora tendremos el siguiente voltaje:
R1
Vpmax = Vomax
R1 + R 2
• Si variamos el voltaje de entrada Vi a valores
positivos, el voltaje de salida no cambiara hasta que
Vi alcance el valor de Vpmax, el voltaje a la salida se
reduce y por lo tanto también Vp.

• Entonces el voltaje diferencial Vd= Vp – Vn a ala

entrada del amplificador operacional se vuelve
negativa. Este voltaje diferencial obviamente es la
diferencia de las terminales inversora y no inversora.
Como el voltaje diferencial cambio de signo la salida
del amplificador se volverá Vomin.
R1
Vpmin = Vomin
R1 + R 2
• Esto hace que al variar la entrada, la salida
dependa del valor que se encuentra saliendo
del amplificador, por lo cual se arroja un
grafico de operación con histéresis, es decir el
paso de un estado a otro depende del estado
inicial.
 Optoaislación Digital para señales 
Digital para señales
de Entrada y Salida

• La optoaislación Digital es más sencilla y 
económica que la analógica. Un optoaislador 
provee una barrera eléctrica entre la señal 
digital de entrada o salida y el equipo externo.
• Generalmente los optoaisladores son
elementos electrónicos que manejan poca
potencia pero pueden ser conectados,
conectados a relés,
relés
transistores de potencias u otros dispositivos
con el fin de manejar altas corrientes o altos
voltajes de señal.
• Los optoaisladores pueden ser añadidos
externamente a las entradas y salidas digitales
de una tarjeta DAQ que no la posea.
• En las siguientes figuras podemos apreciar la
manera en la cual se realiza el
optoasilamiento de una entrada y de una
salida digital, la parte sombreada de la figura
representa el optoaislador.
 Interruptores Digitales
Generalidades.

• Estos pueden ser físicamente implementados

con Relays, Dry Reed Relays, Solid State
Relays FET,
Relays, FET Triacs,
Triacs etc
 Cl ifi ió
Clasificación

• Comúnmente se usan tres términos para describir la

configuración
g de un switch:
• Polo (Pole): Se refiere al número de terminales
comunes contenidos en un Switch o interruptor.
• Vías (Trow): Se refiere al número de posiciones en el
cual es Switch puede colocarce para crear una
conexión o una ruta a la señal en cuestión.
• Tipo (Form): Es la otra de las especificaciones usada 
p
por los fabricantes de Switch, Interruptores o Relays. 
, p y
Se refiere o describe la configuración de contactos 
del ralay. Existen tres tipos:
– Form A: Se refiere a un relay polo simple, simple 
vía, normalmente abierto.
– Form B: Se refiere a un relay polo simple, simple 
vía, normalmente cerrado.
– Form C: Se refiere a un relay polo simple, doble 
vía.
 Elementos Interruptores

Características de un Switch ideal:

• Resistencia Ohmica cerrado igual a 0
• Resistencia Ohmica abierto igual a infinito o lo mas alta
posible.
• Sentido de circulación de corriente, Bidireccional.
• Duración de los contactos,
contactos infinito o lo mas alta posible.
posible
• Aislación entre entrada y salida, infinita o lo mas alta posible.
• Comportamiento frente al control o la acción, bueno
• Tiempo de cierre y apertura igual a 0,
• Costo, lo mas económico posible.
 Tipos de Relays.
Relay Electromecánico.

• Consta de una bobina que al ser energizada

atrae una armadura de hierro; esta a su vez
acciona una laminilla flexible que es la que
cambia de estado la conexión entre el polo y
las vías. Es decir que si estaba conectada a
una entonces al ser energizada la bobina la
abre y viceversa.
• Cuando la energía
g dejaj de fluir p
por la bobina
trae el inconveniente de efecto de la
autoinducción. Cuando se alimenta la bobina
con corriente continua se forma un arco en el
p , p
interruptor, para evitar daño q que ppueda
producir se coloca un diodo semiconductor en
paralelo en sentido contrario de
p la
alimentación de corriente continua.
 Contactores.
Contactores
• En este los contactos están sobre la armadura
formando una sola pieza.
pieza Esto logra que el
aislamiento no sea muy fácil de lograr y no se
pueden obtener aislaciones muy grandes.
grandes
• Como generalmente se usa para manejar
potencias muy grandes,
grandes los contactos deben ser
de dimensiones grandes. Como la armadura y los
contactos son una misma pieza, la armadura
tiene una masa muy grande imposibilitando altas
velocidades de conmutación.
 Dry Reed Relays.

• También esta operado por la energización de

una bobina. Esta bobina es enrollada
alrededor de los contactos del interruptor de
tal forma que el campo magnético inducido
por ella, cierra los contactos del switch o del
interruptor.
 Relay de Estado Sólido.
• Es una de las más modernas opciones en
cuanto a relays del mercado. Constan en
principio de 2 partes,
partes la primera es el circuito
de entrada que es un optoaislador que activa
el control de un segundo elemento
semiconductor que puede ser un Triac, SCR, o
un FET el que finalmente termina accionando
el circuito o dispositivo bajo control.
 Capitulo 9
Capitulo 9

MULTIPLEXADO EN LOS SITEMAS 
DAQ
Diagrama de Bloques de 
un Sistema DAQ
 Multiplexores
• El Multiplexor es un elemento fundamental en un
sistema DAQ.
• La Finalidad del mismo es abaratar el costo del
Sistema DAQ ya que si no habria que disponer de un
Aplificador de Instrumentación, un circuito de
Muestreo y Mantenimiento S/H y un Conversor
Analógico a Digital.
• Estos Multiplexores
l l pueden
d ser implementados
l d con
algunos relés o relays.
 Principios de Funcionamiento 
p
de los Interruptores Electrónicos
• Un conmutador o interruptor analógico debe
p de conmutar una señal analógica
ser capaz g de
entrada para conectarla y desconectarla.
• Las condiciones ideales del mismo son:
Cuando el conmutador o el interruptor esta
cerrado en la posición de conducción, la
tensión
ó de d salida
l d del
d l interruptor debe
d b ser
igual a la tensión de entrada.
 Conmutadores Electrónicos
Conmutadores Electrónicos

• Interruptor con transistor de Efecto de

Campo:p Un Transistor de Efecto de Campop
utilizado como switch es tecnológicamente
p
bastante aceptable yya q
que cuando conduce
tiene una resistencia menor a 100 ohms y
cuando no conduce p puede llegar
g a varios
gigaohmios.
 Interruptores implementados 
con Diodos
• Los diodos son ideales para implementar
circuitos de conmutación porque tienen una
resistencia de conducción muy baja y una
resistencia inversa muy elevada.
• En la figura se muestra Ui es la tensión
analógica de entrada a conmutar, Uo es la
tensión de Salida ya conmutada, mientras que
U es la
Uc l tensión
ió de
d controll del
d l interruptor.
i
• Si se aplica una tensión positiva de control al
circuito, entonces el diodo D5 queda
polarizado inversamente y por efecto del
inversor que tiene el diodo D6, la tensión Uc
de control se transforma en –Uc con lo que el
diodo D6 queda polarizado inversamente.
Entonces la corriente circula perfectamente
por los diodos D1,D4 y D2,D3.
 Necesidades de le Sample and  h old

• Se supone que se desea realizar la conversión

analógica a digital de una señal senoidal e(t),
de frecuencia f y con resolución de n bits.
• La ecuación que describe la señal a adquirir es 
q q
la siguiente:
e(t ) = Esen( wt ) = Esen(2 ft )
• e(t) =   V alor de la señal senoidal en cualquier 
instante t de tiempo
instante t de tiempo.
• E = Amplitud máxima de la señal de entrada.
• f = Frecuencia de la señal expresada en Hz.
• t = Tiempo expresado en segundos en el cual 
p p g
se desea conocer e(t).
• LLa velocidad de variación de dicha señal con 
l id d d i ió d di h ñ l
respecto al tiempo viene dada por la primera 
d i d d l f
derivada de la formula:
l de(t )
= wECoswt
dt
• La formula anterior  se vuelve máxima al 
tener un valor de ± 1 en la función 
trigonométrica y tiene un valor absoluto de 1 
por lo tanto se puede expresar en la siguiente 
ecuación: de(t )
= wE
dt
• Como la ecuación anterior corresponde a un
caso particular de e(t) es decir cuando la
ecuación toma un valor máximo,
máximo se puede
expresar que:
Δe
Δe
= wE
Δt
 Antes de despejar Δe es posible hacer algunas
consideraciones:
• Δe es la excursión máxima que permitirá
como error y que
q e no vaa a superar
s perar 1 LSB o sea
el bit menos significativo.
• Δt es el tiempo que tarda el convertidor A/D /
en convertir la señal durante el tiempo Δt la
señal no puede tener una variación mayor a la
expresada en el punto anterior.
• Entonces:
Δe = wE ( Δt )
• Para obtener una precisión de n bits, bits la
variación de la entrada durante el tiempo de
conversión no debe ser superior al bit de
menor peso. 2E
1LSB =
2n
• Si se designa como Δe como la variación
máxima permitida mientras se produce la
conversión se cumple que:
2E
2 E
Δe 1LSB = n
2
• Igualando algunas de las ecuaciones y 
tomando en cuenta el menor de los casos 
podemos afirmar que: 2E
E Δt =
wE
2n
• Simplificando
Simplificando los valores de E e
los valores de E e igualando w = 
igualando w =
2 f y despejando f podremos obtener la 
frecuencia máxima de muestreo que permite
frecuencia máxima de muestreo que permite 
el sistema DAQ.
1
f =
Δt 2n
 Funcionamiento de un circuito 
Funcionamiento de un circuito
de Muestreo y Mantenimiento S/H
• Básicamente el mismo consiste en un
condensador C que se carga a través de Ra
cuando el interruptor se cierra y cuando el
interruptor se abre, el condensador queda
cargado a la última tensión aplicada y sufre
una descarga muy lenta a través de RL O
resistencia de carga de la siguiente etapa.
• Lo ideal es que la resistencia Ra sea lo más
pequeña posible para la carga del
condensador C se produzca lo más rápido
posible ya que la constante de carga de un
condensador es igual al producto de R por C y
que la resistencia de carga de la siguiente
etapa RL,
RL sea lo más grande posible para que
el condensador mantenga su carga constante.
• La Resistencia Ra representa la resistencia de la
fuente mas la resistencia del interruptor cuando el
mismo está cerrado. RL es la resistencia de la etapa
siguiente.
• EEn la
l figura
fi 2 se observa
b l siguiente:
lo i i t La L grafica
fi a))
es la onda de entrada; la Grafica b) son los pulsos
digitales que cierran el interruptor que puede ser
electrónico, y finalmente, la grafica c) indica el
valor de tensión en le condensador C que es ni mas
nii menos que la
l memoriai analógica.
ló i
• Cuando se cierra el interruptor,
interruptor el Condensador C
adquiere el valor que la señal analógica de
entradas tiene en ese momento. Luego, g , al abrir el
interruptor, el condensador mantiene la carga
todo el tiempo hasta que nuevamente se cierra el
i
interruptor S y ell condensador
d d aumenta su carga
hasta igualar el valor de la onda analógica de
entrada Luego se abre el interruptor S y el
entrada.
condensador C mantiene el último valor de
tensión adquirido constante. Como se ve el
condensador C se esta comportando como una
memoria analógica de la señal de entrada.
• Este principio permite construir un
circuito de Muestreo y Mantenimiento o
Sample and hold.
Circuitos de Muestreo y Mantenimiento 
con componentes acti vos
• El funcionamiento del circuito es el siguiente:
g
El momento de conducción del FET es cuando
su gate se pone a 0 V y entonces el
Condensador C se carga a la tensión Vo de
salida del amplificador operacional.
operacional
• Cuando la gate pasa por el valor positivo
de 5 V, el FET se abre y el Condensador C
queda abierto y cargado al ultimo valor
obtenido. La Resistencia R2 no queda en
paralelo con el condensador quien
permanece cargado con el valor Vo
colocado sobre la salida.
salida
El condensador solamente se descarga
conforme a la corriente de p polarización q
que
consume el amplificador operacional, por lo
que conviene q
q que esta sea lo mejorj p posible.
Esto se logra usando un amplificador
p
operacional con transistor de efecto de campo
p
en sus entradas.
Con esto Hemos obtenido un circuito que
realiza el Sample and Hold requerido y
construido con elementos activos.
 Muestreo Multiplexado 
o Round Robin
• La figura
g la muestra
esquemática el diagrama
en bloques y la grafica de
un sistema de Adqui‐ q
sición de Datos de dos
Canales Multiplexados y
con Sample and Hold.

• También se ha incluido la
gráfica de las muestras
obtenidas con respecto al
tiempo
p
 1
• Para calcular la frecuencia f =
fs
de Muestreo podemos tacq + tconv
hacerlo con la siguiente
fórmula:
Tacq=tiempo de adquisición de S/H
Tconv=tiempo que tarda el convertidor A/D

• Si el sistema de Adquisición fs 1
en lugar de dos canales fsc = =
tiene M canales entonces la M M (tacq + tconv)
frecuencia de muestreo por
canal (fsc) dividida por M:
• En la figra se observa que para un instante de
p no se p
tiempo puede tener la información de
ambos canales en el mismo instante de
p
tiempo.
• En ocasiones no es necesario obtener la
información de ambos canales
simultáneamente es el caso cuando estamos
obteniendo lecturas de temperatura, presión,
etc, ya que son parámetros de lenta variación.
• Pero en algunos
g casos p
puede ser importante
p
conocer lo que sucede en todos los canales en
el mismo instante de tiempo, p , un ejemplo
j p es
cando sse examina transitorios en lineas
electricas donde frente a una p perurbación en
un msegundo es neceasrio saber que sucedió
en los otros canales p
para el mismo msegundo.
g
Muestreo Simultaneo
Muestreo Simultaneo
 Muestreo Simultaneo
Muestreo Simultaneo
• Se tiene un sistema DAQ de dos canales con
muestreo simultaneo. Se puede observar
que cada canal tiene un Amplificador
q p de
Instrumentación y un Circuito de Muestreo
y Mantenimiento (Sample and Hold), luego
se conecta con el multiplexor analógico y
finalmente con el convertidor analógico
Digital.
• El circuito funciona de la siguiente manera:
para un instante de tiempo dado se realiza
la amplificación y el sample and hold de
todos los canales de la tarjeta.
tarjeta Luego en
forma digerida y a través del multiplexor, se
van enviando al convertidor analógico a
digital los valores analógicos adquiridos en
cada uno de los canales pero para el mismo
i
instante d tiempo.
de i
• En la figura podemos observar la grafica que nos
ilustra dos valores analógicos adquiridos en el mismo
instante de tiempo.
• Obviamente un Sistema de Adquisición de Datos de
MUETREO Simultaneo es mucho más costoso ya que
por cada canal se requieren un amplificador de
instrumentación y un circuito de muestreo y
mantenimiento (S/H) que encarece apreciablemente
el Sistema DAQ pero hay aplicaciones en las cuales
un Sistema DAQ de muestreo simultaneo es
imprescindible.
 Interval Scanning o 
Seudo‐Muestreo Simultáneo
 Interval Scanningg o 
Seudo‐Muestreo Simultáneo

• El dispositivo o Sistema DAQ propio para usar

este muestreo debe ser de Muestreo
Multiplexado o Round Robin y tener la
funcionalidad de permitir cambiar la velocidad
de muestreo, por software, mientras se
realiza la Adquisición de Datos y sin detener la
misma.
• La ventaje de este tipo de Muestreo es que con
Placas de Muestreo Simultáneo que son
relativamente económicos y con velocidad de
Adquisición variables, mientras se esta Adquiriendo
se puede obtener un Cuasi‐Muestreo Simultaneo
que resultaría
l í muy costoso si se lo
l implementara
l con
una Placa de Muestreo Simultáneo.

• Es importante recalcar que la única condición

requerida
q para usar el interval Scanningg es q
p que la
velocidad de adquisición necesaria por el tipo de
señal a muestrear sea lenta.
 Impedancia del Sensor o 
A di i
Acondicionador y su efecto sobre 
d f t b
la velocidad de Multiplexado
 Impedancia del Sensor o 
Impedancia del Sensor o
Acondicionador y su efecto sobre 
l
la velocidad de Multiplexado
l id d d M lti l d

• Sensores o Acondicionadores de Señal con Altas

impedancias se salida y Sistemas DAQ
M li l d
Multiplexados pueden,
d a veces, enfrentar
f
problemas cuando se muestrea la señal a altas
velocidades.
velocidades
• Esto Sucede porque los multiplexores
presentan generalmente una pequeña
capacidad parásita ente todos los canales de
entrada de señal y también de su salida, con
respecto a tierra.
• Las capacidades parásitas del Multiplexor son
generalmente de 100 pF.

T = R C = 0 ,0000000001 F 10000 Ohm = 1 seg

• Se supone que se trata de un sistema DAQ de alta

velocidad de adquisición donde el switch o
interruptor del multiplexor va a permanecer
conectado 2 microsegundos que es el tiempo de
establecimiento o settling time del amplificador
• SSe a estudiado
t di d que all dejar
d j pasar 5 constantes
t t
de tiempo a un condensador este se carga un
99% de
d su capacidad.
id d
• Para hacer esto en el amplificador de
Instrumentación debemos aumentar 5 veces
la constante de tiempo, esto se logra
colocando un Acondicionador con Alta
Impedancia de Entrada, Baja Impedancia de
Salida y Ganancia Unitaria al Sensor de tipo
emisor seguidor
 Capitulo 10
Capitulo 10

Convertidor Digital a Analógico y 
C id i i l ló i
Analógico a Digital.
 Teorema del Muestreo
Teorema del Muestreo

• Acorde con lo que propone el teorema de

Nyquist o Teorema de Muestreo, cualquier señal
analógica variable en el tiempo debe ser
muestreada a una frecuencia como mínimo del
doble de la frecuencia de la armónica de mayor
frecuencia como mínimo del doble de la
f
frecuencia
i de
d la
l armónica
ó i mayor que compone la l
señal en cuestión.
 Introducción

• Conceptualmente el proceso global para

convertir una señal Analógica a Digital implica
una secuencia de cuatro p
pasos a saber:
1) Muestreo
2) Mantenimiento
2) Mantenimiento
3) Cuantificación
4) C difi ió
4) Codificación
 Cuantificación

• Gracias al muestreo es pposible p

procesar una señal
analógica.
• No es necesario tomar nota de todos los instantes de
la señal sino únicamente en los intervalos de
muestreo.
• En dichos intervalos es necesario hacer
aproximaciones
i i cuando
d dicha
di h señal
ñ l no varíaí nii ell
dígito menos significativo en la representación
digital.
• A este proceso de aproximación se le llama
Cuantificación.
 Convertidores DACs
( i i l
(Digital a Analógico
ló i )
• Antes de entrar en detalles sobre el funcionamiento de los
convetidores D/A, es necesario recordar que las funciones de
las señales a analizar deben ser monotónicas o biunívocas.
 Divisor de Kelvin
Divisor de Kelvin

• Considere una cadena de resistencias de igual

valor en serie; un extremo de los mismos se
encuentra conectado a tierra y el otro a un
voltaje de referencia.

• La figura propone 8 switch, es decir el nivel de

cuantificación
ifi ió es de
d 8 escalones
l d tensión.
de ió
• Estos interruptores son direccionados por un
decodificador de 3 bits digitales que entrega una
salida secuenciada de 8 posiciones que activan
cada uno de los 8 bits independientemente.
independientemente

• La resolución del convertidor se da por 2n,

donde n es la cantidad de bits que contiene en
su entrada digital, en este caso es de 2n = 23 = 8.
• La salida analógica
g es de voltaje,
j ,p
por lo q
que se
recomienda que la impedancia de entrada del
p
dispositivo a alimentar sea de una impedancia
p
muy alta.

• Es oportuno agregar que la salida será

monotónica y también lineal si se cumple que
todos los resistores sean iguales.
 Convertidor Escalera de Corriente

• El circuito nos muestra un convertidor de 3 Bits

digitales y 7 salidas, la forma de activar las
salidas es la siguiente: Cundo se tiene el valor
mas bajo de corriente es decir el valor 0 no hay
interruptor conectado, cuando se produce el
siguiente valor cuantificado se conecta el primer
interruptor, cuando se produce el siguiente valor
cuantificado se conecta el segundo sin
desconectar el primero y así sucesivamente.
• Cuando se pasa del valor 0 al primer valor se
conecta el primer interruptor y se obtiene la
unidad del valor transitorio de conexión
“unidad conexión” si
se pasa de 0 a el segundo valor se obtendrán
dos unidades del valor transitorio de
“dos
conexión” y así sucesivamente.
 Convertidor Digital a Analógico 
Convertidor Digital a Analógico
Segmentado
• Se ha concluido que los convertidores de escalera
necesitan una gran cantidad de resistencias y
switches cuando se requiere de alta resolución.
• Para evitar dicho inconveniente se diseña un CDA
segmentado d .
• El circuito de a figura consta de dos convertidores
D/A en escalera
l d tensión
de t ió y su funcionamiento
f i i t es
muy simple.
• El pprimer convertidor se encarga g de la
conversión gruesa: Los interruptores de este
primer convertidor se situaran entro los
p
valores más cercanos al valor de voltaje que
se qquiere obtener en la salida,, le segundo
g
hace una especie de zoom en el área
seleccionada,, de tal modo de aproximar
p la
salida analógica al valor deseado.
 Convertidor Digital a Analógico 
con Resistores Ponderados
• Consiste en un Amplificador Operacional en
Montaje Inversor donde la resistencia de entrada
al Terminal (‐) del Amplificador varia conforme
que interruptores estén conectados
• Como calcular esta resistencia de entrada:

1 1.z3 1.z2 1.z1 1.z0

= + + +
Re Ro/ 8 Ro/ 4 Ro/ 2 Ro
• Tomando z0,z1,z2,z3 valores de 0 y 1 según
su estado.
• De esta manera al p polinomio multiplicado
p p
por
z le llamaremos “Z” que varia ente 0 y 15,
debido a las combinaciones de los
i t
interruptores.
t
• Lo cual nos dice que se logra convertir la
señal digital dada por z0
z0,z1,z2,z3
z1 z2 z3 en una
salida analógica cuantificada de 0 a 15.
Convertidor Digital 
Analógico R‐2R
ló
• Para explicar el peso relativo de cada
p , se supone
interruptor, p que So=1 y q
q que
S1=S2=S3=0.
• El hecho que S0S0=1
1 implica que a So se le ha
conectado a fuente de tensión Vr.
• Aplicando el teorema de Thevenin entre los
puntos AA´ resulta una fuente de tensión Vr/2
en serie con R.
R
• Viendo el circuito desde los puntos BB´,CC´
y DD´ y aplicando el teorema de Thevenin,
se concluye que en cada uno de ellos la
tensión resulta sucesivamente dividida por
2 mientras que la resistencia equivalente
permanece constante e igual a R.
• El circuito final equivalente la tensión que
se ve es Vr .
24
• Obteniendo se la Formula:

S 3 S 2 S1 So
Vo = Vr 1 + 2 + 3 + 4
2 2 2 2

• Formula generalizada:
Formula generalizada:

Vr
S −1.2n−1 + Sn
V = n Sn
Vo S − 2.2n−2 +........+ S1.21 + So
S .2o
2
 Convertidores ADCs
(
(Analógico a Digital)
ló i i i l)
• Conversor A/D Flash y Half‐Flash.
C A/D Fl h H lf Fl h

• Conversor A/D de Aproximaciones Sucesivas. 
Conversor A/D de Aproximaciones Sucesivas

• Conversor A/D Integrador de Doble Rampa.
/ g p

• Conversor A/D Voltaje a Frecuencia

• Conversor A/D Sigma Delta.
 Conversor Flash y 
Flash y
Half‐Flash

• Es el más rápido de todos los convertidores

Analógico a Digital. Es uno de los más simples en
contracción p
pero uno de los más costosos cuando se
trata de conseguir una buena resolución a alta
velocidad.
• Para un CAD Flash de n bits, la entrada de voltaje
es aplicado directamente a una de las terminales
d 2n‐1
de 1 comparadores
d l otra
la t terminal
t i l de
d cadad
comparador se encuentra conectada a un voltaje
de referencia,
referencia que determinara el rango máximo
de la señal analógica que se le puede aplicar al
convertidor este voltaje de referencia se aplica a
convertidor,
cada comparador por medio de un divisor de
voltaje que posee 2n resistencias, todas excepto
las de los extremos tienen el valor R, solamente
los extremos tienen el valor de R/2.
• Si la tensión aplicada
p a cualquiera
q de los
comparadores es mayor a su voltaje de
referencia,, la salida del comparador
p será 1,, en
otro caso será de 0. La inconveniencia es que
el número de comparadores p aumenta
exponencialmente con la resolución que se
desee en la salida.
 Conversor A/D de 
Aproximaciones Sucesivas
i i S i

• Este tipo de convertidor emplea un CDA y un 
comparador analógico, todo esto coordinado
comparador analógico, todo esto coordinado 
por un circuito de control.

• El principio de funcionamiento es hacer una 
bi
bisección o búsqueda binomial, lo cual quiere 
ió bú d bi i l l l i
decir lo siguiente:
• Al principio de las comparaciones se coloca un valor
de 1 en el bit mas significativo, el resto de los bits
toman el valor de cero,, se realiza la comparación
p
entre el valor digital convertido a analógico y el valor
analógico de entrada, dependiendo del resultado es
la siguiente acción, si el valor digital convertido es
mayor al analógico de entrada, se cambia el valor
digital por la mitad del valor digital,
digital en caso de que el
analógico sea mayor al digital convertido se realiza
una suma entre el valor digital y ½ del valor digital, y
se reinicia la comparación, esta acción se realiza
mientras los valores no sean iguales. La resolución
esta en función de el numero de ciclos.
 Convertidor A/D de Integración 
d
de Doble Rampa
bl
• El principio de funcionamiento de este convertidor
es el siguiente: Durante un tiempo fijo se carga el
capacitor al voltaje analógico cuyo valor se desea
convertir a digital, luego se le descarga hasta el valor
de 0 Vdc a un voltaje contrario conocido voltaje de
referencia.
f i
• Se mide este último tiempo de descarga que será
función del voltaje analógico desconocido que se
desea convertir.
• Si la tensión analógica desconocida es más
grande el tiempo de descarga el tiempo de
grande,
descarga para que el capacitor llegue a 0 será
mayor que si el voltaje de entrada fuera
menor.
• Por conclusión podemos asegurar que existe
una proporcionalidad entre el tiempo de
descarga y la tensión analógica que se desea
digitalizar.
 Conversor A/D Basado en 
A/D Basado en
Tensión a Frecuencia.

• Básicamente consta de un circuito que

convierte la tensión aplicada en un tren de
pulsos cuya frecuencia es proporcional a la
tensión aplicada.
aplicada
• Esa frecuencia luego es medida por un
contador
t d
 Convertidor Analógico Digital 
Si
Sigma Delta
l
• Se basa en cualquier valor analógico que este
entre dos extremos numéricos que serán
llamados +Vref y –Vref
Vref puede ser expresado
como el promedio de una serie de n términos
de valores de +Vref y –Vref
Vref.
• La mejor aproximación se obtendrá cuando el
numero de términos de la serie (n) tienda a
infinito.
 Capitulo 11
Capitulo 11

Entradas Analógicas de Sistemas de 
Adquisición de Datos
Partes Constitutivas y Señales 
a Ingresar en un Sistema DAQ
 Parámetros Analógicos 
d
de Entrada Salida
d S lid

• La Entradas y Salidas Analógicas en los

sistemas de adquisición de datos se
ven afectadas
f t d por parámetros
á t t l
tales
como:

– Resolucion.
– Rango.
– Ganancia.
 Resolución

• Se refiere al número de bits que usa el

Convertidor Análogo Digital del sistema
DAQ para representar una señal
analógica.
ló i L semejanza
La j d la
de l señal
ñ l
digitalizada y la original (analógica)
depende ampliamente de la resolución.
• La cantidad de bits de resolución define la
cantidad de divisiones en que se divide el
rango voltaje de entrada del sistema DAQ e
indirectamente define el mínimo cambio en la
variación de la entrada que puede ser
detectado por el sistema.
 Rango
• El rango se refiere a los niveles mínimos
y máximos
á i d voltaje
de lt j que ell sistema
it es
capaz de digitalizar. Los sistemas DAQ
tienen normalmente un par de rangos
que pueden programarse por software o
por hardware.
• Si se hace coincidir lo más cerca posible
el rango del sistema DAQ con la señal de
entrada
t d all mismo
i se obtendrá
bt d á ell máximo
á i
potencial del convertidor análogo digital
del sistema DAQ.
 Ganancia

• La ganancia de un sistema DAQ esta

vinculada a toda amplificación o
atenuación qque se efectúa sobre la señal
que se adquiere y ocurra antes de que la
señal sea digitalizada.
digitalizada
• Aplicando una ganancia adecuada a la
señal se logra leer una señal con la
máxima
á resolución
l ó que permite ell
sistema DAQ y hacer uso del máximo
rango del convertidor.
 Consideraciones
• La resolución, el rango y la ganancia de
un sistema
it DAQ determinan
d t i ell mínimo
í i
cambio detectable de la señal de entrada
que se desea medir.
• Este cambio en el voltaje va a estar
representado por un cambio en el bit
menos significativo (LSB) del convertidor
A/D.
/ Este mínimo cambio detectable de
voltaje en la entrada es llamado ancho
de código (Code Width) y puede ser
calculado por la siguiente formula:
rango
CW=
CW n
ganancia(2 )
Metodología para selección de la máxima
precisión en la medición del sistema:

1.‐ Seleccionar el rango

g adecuado
considerando una ganancia de 1, para obtener
la excursión máxima.
2.‐ Seleccionar la ganancia adecuada, para eso
se utiliza la formula:
Rango
Ganancia=
Excurcion MAX
• De la ganancia calculada se escoge un valor de
ganancia valido para la tarjeta pero este no
debe ser mayor al calculado.

3.‐ Calcular el CW por medio de la formula

correspondiente.
4.‐ En caso de ser necesario leer mas señales
con el sistema DAQ se recalculan los
parámetros para cada señal.
 Velocidad de Muestreo
Velocidad de Muestreo

• Para determinar la velocidad de Muestreo

apropiada es indispensable conocer
estimativamente la máxima frecuencia que se
necesita adquirir.
• Hay que recordar que la velocidad de
muestreo determina cuan rápido se lleva a
cabo la adquisición y la conversión A/D de la
señal.
• Existe un problema, al muestrear una señal
con una velocidad que no sea el doble de la
señal
ñ l que se desea
d adquirir
d i i aparecen los
l
llamados “Alias de la señal” puesto que se
generan señales reflejadas a menor
frecuencia que la señal que se adquiere.
• Teorema de Nyquist: para reproducir una
onda sin alias de la señal esta se debe
muestrear a una frecuencia del doble que la
que se desea adquirir.
• La forma de evitar que sean digitalizadas
frecuencias por arriba de la frecuencia de
Nyquist es utilizando filtros pasa bajas.
 Formas de adquisición a 
Formas de adquisición a
través de las entradas analógicas.
• A partir de este momento se comienza un
camino en el cual el software y el hardware
están muy relacionados. Esto se debe a que se
parte del concepto de instrumentación virtual,
donde la zona de separación software‐
hardware se vuelve difusa.
• Las funciones de adquisición de datos en un
g p
software suelen estar agrupadas por orden de
p
complejidad, de menor a mayor:

– Funciones de adquisición de fácil manejo

(Easy I/O).
– Funciones de adquisición intermedias
((Intermediate I/O).
/ )
– Funciones de adquisición avanzadas
(Advanced I/O).
• Cada vez que se ejecuta la función de
software que realiza la adquisición analógica,
independientemente de que la adquisición
sea de un solo canal o de múltiples canales,
existen dos formas
f de adquisición:
ó

– Adquisición de datos de un valor analógico a la

vez.
– Adquisición de una serie de valores.
– Adquisición de datos continúa.
 Adquisición de datos de 
Adquisición de datos de
un valor analógico a la vez.
• El sistema adquiere un solo punto cada vez
que el procesador el usuario o el programa lo
solicitan, la operación lógica de los pasos a
seguir es la siguiente:
• 1. Configurar la placa ante de comenzar la
adquisición:
En este paso es necesario especificar tres
cosas las cuales
cosas, c ales son el dispositivo
dispositi o a utilizar,
tili ar el
canal o los canales que se utilizaran para
adquirir los datos y la ganancia o rango por
canal, algunos sistemas suelen pedir
solamente el rango y calculan la ganancia más
eficiente para la medición.
• 2. Realizar la adquisición:
Cada vez que se ejecute la función se
adquirirá un valor analógico de un canal o de
múltiples canales, según lo que se halla
establecido en el paso anterior, lo importante
a mencionar es que por cada llamada a la
función, esta regresa un valor
correspondiente al canal a una lista.
•3
3. Cerrar
C l adquisición:
la d i i ió
Generalmente cuando ya no se desea adquirir
datos se cierra la adquisición para liberar los
recursos de software y hardware y así poder
utilizarlos en otro proceso.
•4
4. Control de errores:
En los procesos de adquisición, al igual que en
l
los d lectura
de l t y escritura
it d archivos,
de hi es
importante realizar un control de errores
adecuado.
d d Aunque
A se ponga máximo
á i cuidado
id d
en la operación no se podrá evitar que
sucedan
d errores en la l adquisición
d i i ió pero se
debe tener control sobre ellos. Generalmente
se programan condiciones
di i d verdadero
de d d y
falso para indicar la existencia de errores en el
sistema.
it
 Adquisición de una 
Adquisición de una
serie de valores.
• Para independizar la adquisición de la
p
velocidad de respuesta del software se aplica
p
el método de adquisición de una serie de
valores,, este método requiere
q un sistema
DAQ que cuente con memoria FIFO, que el
sistema maneje j doble buffer o asignar
g un
espacio en la memoria del sistema, los pasos a
g son los siguientes:
seguir g
•1
1. Configurar la placa ante de comenzar la
adquisición:
E este
En t paso es necesario i especificar
ifi t
tres
cosas, las cuales son el dispositivo a utilizar, el
canall o los
l canales
l que se utilizaran
tili para
adquirir los datos, la ganancia o rango por
canal,l ell tamaño
t ñ de
d buffer
b ff o espacio i en
memoria que se utilizara para guardar la
columna
l d valores
de l y en algunos
l sistemas
it es
necesario agregar un retardo de intervalo.
• 2. Iniciar la adquisición:
Comienza la adquisición y los datos son
puestos en el buffer, generalmente en este
punto se suele fijar la velocidad de la
adquisición y las opciones de trigger.
• 3. Realizar la adquisición:
Los datos son leídos por el software,
software desde la
memoria al programa propiamente dicho.
• 4. Cerrar la adquisición:
Generalmente cuando ya no se desea adquirir
datos se cierra la adquisición para liberar los
recursos de software y hardware y así poder
utilizarlos en otro proceso.
• 5. Control de errores: 
En los procesos de adquisición, al igual que en
los de lectura y escritura de archivos,
archivos es
importante realizar un control de errores
adecuado Aunque se ponga máximo cuidado
adecuado.
en la operación no se podrá evitar que
sucedan errores en la adquisición pero se
debe tener control sobre ellos. Generalmente
se programan condiciones de verdadero y
falso para indicar la existencia de errores en el
sistema.
sistema
• Es importante verificar la ausencia de errores 
antes de iniciar ciclos de larga duración, pues
antes de iniciar ciclos de larga duración, pues 
es posible que se realicen ciclos de varios días 
de adquisición y al final solamente obtener un
de adquisición y al final solamente obtener un 
mensaje de error.
 Adquisición de datos 
d i i ió d d
continúa.
• Es una técnica importante de adquisición, ya
que en esta se realiza una iteración del
programa y un manejo de memoria, esto
permite emular instrumentos tradicionales
tales como osciloscopios, multímetros etc.
• El ciclo de adquisición continua se puede
resumir en lo siguiente:
El sistema DAQ almacena una colección de
valores muestreados en un paquete, cuando
el software pide el primer paquete el sistema
DAQ continua adquiriendo valores de manera
ininterrumpida y almacenándolos en
paquetes, los cuales serán pedidos por el
software cada vez que termine de analizar el
paquete actual.
 Modos de disparo de 
Modos de disparo de
adquisición – Triggering.
• Existen varias formas de iniciar la adquisición
a partir de un evento, estos se conocen como
trigger, principalmente existen dos tipos de
disparo:
1. Trigger por hardware.
2 Trigger
2. Ti por hardware.
h d
• 1. Trigger por hardware: Como su nombre
lo indica es suministrado por el hardware
de adquisición, a su vez se encuentra
dividido en:
• Trigger digital por hardware: Su
funcionamiento se basa en la transición de
estado es similar a un switch,
estado, switch se inicia con un
valor digital, al cual se encontrara
normalmente el trigger,
trigger y cuando este cambia
de estado (por ejemplo de 0 a 1) se comienza
la adquisición.
adquisición
• Trigger Analógico por hardware: Su
funcionamiento es mas sofisticado que el
anterior ya que cuenta con un circuito de
muestreo de la entrada, el cual debe medir la
magnitud de la entrad asi como la pendiente
de crecimiento de la misma, con el fin de
iniciar la adquisición cuando se cumplan las
condiciones de pendiente y magnitud fijadas.
• 2. Trigger por hardware: Este disparo es
totalmente administrado por el software
de adquisición, al igual que en el punto
anterior este también cuenta con
anterior,
diferentes modalidades:
• Trigger digital por software: Este tipo de
disparo es muy simple, consta solamente
crear un interruptor virtual e iniciar la
adquisición cuando se cumpla la
condición de inicio.
• Trigger analógico por software: Es similar al
gg analógico
trigger g por hardware,, este tipo
p p de
trigger se basa en adquirir los datos,
gguardarlos en un buffer y analizar la magnitud
g
y la pendiente para asi disparar la adquisición.
 Capitulo 12
p
Salidas Analógicas de sistemas 
d Ad i i ió d d t
de Adquisición de datos.
 Introducción
• Los sistemas DAQ Multifunción pueden tener
salidas de tipo analógica. Este tipo de salidas
entregan valores de voltaje que generalmente
pueden variar en forma continua entre dos
extremos llamados rangos. Los valores de las
salidas analógicas oscilan entre ‐10V
10V a 10V,
10V ‐5V
5V a
5V, 0 a 5V, etc. Estos valores pueden variar en el
tiempo, con lo cual se pueden crear ondas en la
salida.
lid
• Existen sistemas DAQ que pueden entregar
corriente en las salidas analógicas.
analógicas
 Parámetros de salida Analógica
Parámetros de salida Analógica
• Existen varios parámetros para caracterizar
las salidas analógicas de un sistema DAQ res‐
pecto a otros. Entre estos parámetros se
tienen los siguientes:
‐Rango ‐Error de offset
‐Resolución ‐Error de ganancia
‐Monotónico
Monotónico Tiempo de respuesta
‐Tiempo de respuesta
‐Linealidad ‐Pendiente máxima de salida.
1.‐ Rango
El rango define los valores máximos y
mínimos entre los cuales la salida puede
variar estos valores pueden ser :
variar,
Bipolares: Los mas comunes son de ‐10V a
10V ‐5V
10V, 5V a 5V.
5V
Unipolares: Los mas comunes son de 0 a
10V 0 a 5V,
10V, 5V 0 a 20mA.
20 A
2 Resolucion
2.‐Resolucion
Es el numero de bits que tiene el convertidor
Digital a analógico de la tarjeta.
tarjeta Si se divide el
rango por 2n , se obtiene el valor cambio mas
pequeño que puede ser medido a la salida, ya que
las 2n posibles combinaciones digitales son
convertidas en 2n valores analógicos.
Si en un sistema DAQ se aumenta el rango se
disminuye la exactitud y definición a alcanzar en la
onda de salida.
Resoluciones habituales: 12 bits, 14 bits, 16 bits.
3. Monotónico:
• Un convertidor digital a analógico es
monotónico cuando el valor analógico de
su salida aumenta cada vez que se
incrementa el valor digital de su entrada.
Esto significa que existe una relación
biunívoca y creciente entre aumento del
valor digital y el analógico.
analógico
4. Linealidad
4 Li lid d
• La función de transferencia del convertidor
analógico
ló i id l seráá una línea
ideal lí recta que
pase por el origen, cualquier desviación de
dicha función de transferencia ideal será
una alinealidad. Este error se define como la
máxima desviación de la función de
transferencia que un convertidor digital a
g p
análogo produce comparado
p con la función
de transferencia rectilínea de un
convertidor a análogo digital ideal.
• Esto se puede visualizar gráficamente en la
siguiente figura . En el eje X se han graficado
los respectivos códigos digitales y en el eje Y
la respectiva salida analógica. En dicha figura
el error de linealidad se expresa como una
fracción de 1 LSB o el digito de menor
significado del convertidor digital a análogo.
5. Error de offset
Se define como el error que tiene la salida
analógica cuando el convertidor digital a
análogo se le ingresa un valor de digital de 0
este valor
l ded offset
ff generalmente
l se puede
d
corregir por medio de un potenciómetro o un
timer al igual que el caso anterior se expresa
timer,
como fracción de LSB.
En la siguiente figura se observa fácilmente.
fácilmente
6. Error de ganancia
6 E d i
• En los convertidores digital a análogo, el
error de
d gananciai se define
d fi a partir ti del
d l
punto de escala máxima, como la
diferencia entre la función de
transferencia ideal y la real cuando la
entrada digital
g que comanda al
q
convertidor adopta el máximo valor
digital que la misma permite. Todos los
otros puntos tendrán
d á porcentualmente
l
errores semejantes.
• Este error es usualmente ajustado a cero
con un timer o p potenciómetro de
calibración variable que puede poseer la
j
tarjeta.
El error de ganancia se define en la
siguiente figura como la diferencia entre los
puntos de ganancia real y de ganancia
nominal de la función de transferencia del
convertidor luego de que se ha efectuado la
corrección a cero del error de offset.
• 7. Settling Time o tiempo de respuesta
S define
Se d fi como ell tiempo
ti necesario
i para
que la salida se situé en un determinado
valor
l para una exactitud
tit d definida
d fi id como
banda porcentual en +/‐.
• Este tiempo o settling time es normalmente
especificado para un cambio del rango
completo de tensión. Por ejemplo si el rango
mayor de la salida analógica de la tarjeta fuera
de ‐10V
10V a 10V y el porcentaje de exactitud
fuera de +/‐ 1%; el settling time estaría
representado
p por el tiempo
p p qque insume la
salida analógica para cambiar de ‐10V a 10V y
que el valor final de salida no oscile mas que la
tolerancia
l i permitida,
i id para nuestro ejemplo
j l
esa oscilación debe ser menor a +/‐ 1%.
• 8.Pendiente máxima de salida o Slew Rate
Se define como la máxima velocidad de
cambio que el convertidor digital a
analógico logra sobre una señal analógica
de salida,
salida se calcula de la misma manera
que el settling time.
• En la figura anterior el slew rate se calcula
dividiendo el cambio ΔV p producido ppor el
tiempo ΔT transcurrido para ese cambio
hasta qque el valor final mantenga g dentro
del porcentaje de exactitud requerido.
 Formas de salidas
Formas de salidas
• Al igual que las entradas analógicas , los
diferentes software gráficos poseen
funciones de salidas analógicas que suelen
estar agrupadas por orden de complejidad
de uso, de menor a mayor en:
Fácil manejo o Easy I/O.
Manejo intermedio o Intermediate I/O.
I/O
Avanzadas o Advanced I/O.
• Existen dos formas de generar una salida
analógica:
• Salida de un valor analógico por cada vez
que se llama a la función de salida
analógica.
• Salida
S lid ded una serie i de
d valores
l analógicos
ló i
con la misma y única llamada de función,
generandod una forma
f d onda
de d sobre
b lal
salida analógica de un sistema DAQ.
 Salida analógica de 
un solo valor
• Genera una salida analógica de un valor
determinado cada vez que lo solicite el
programa o el operador a través del
programa.
La operación lógica de pasos a seguir para
obtener una salida analógica de un solo
valor analógico es la siguiente.
• 1. Configurar la placa ante de comenzar la
salida:
En este p paso es necesario especificar
p tres
cosas, las cuales son el dispositivo a utilizar,
el canal o los canales q
que se utilizaran ppara
adquirir los datos y el voltaje deseado en la
o las salidas.
• 2. Cerrar la función o funciones de salida:
Generalmente cuando ya no se desea
adquirir datos se cierra la adquisición para
liberar los recursos de software y hardware
y así poder utilizarlos en otro proceso.
• 3
3. Control de errores:
En los procesos de adquisición, al igual que en
los de lectura y escritura de archivos,
archivos es
importante realizar un control de errores
adecuado Aunque se ponga máximo cuidado
adecuado.
en la operación no se podrá evitar que
sucedan errores en la generación de salidas
pero se debe tener control sobre ellos.
Generalmente se programan condiciones de
verdadero y falso para indicar la existencia de
errores en el sistema.
sistema
 Salida analógica de una 
g
serie de valores
• Para independizar
d d l frecuencia
la f d
de
variación de las salidas de la velocidad
de respuesta del software se aplica este
método también conocido como
generación de ondas, a grandes rasgos
consiste en los siguientes pasos:
• 1
1. Configurar la placa ante de comenzar la
adquisición:
E este paso es necesario
En i especificar
ifi tres
cosas, las cuales son el dispositivo a utilizar,
ell canall o los
l canales
l que se utilizaran
ili para
adquirir los datos, los canales, el tamaño de
b ff o espacio
buffer i en memoria
i que se utilizara
ili
para guardar la columna de valores y en
algunos
l sistemas
i es necesario
i agregar un
retardo de intervalo.
• 2. Iniciar la escritura sobre la salida:
Esta operación debe realizarse antes
de p poner en funcionamiento los
bloques de generación de salida, esto
con el fin de que cuando comience la
generación, la salida ya contara con
una colección de valores que definen
una onda especifica.
• 3. Iniciar
i i lal generación:
ió
En este ppaso se inicia la ggeneración de
la onda, cuyas propiedades fueron
descritas en el paso anterior.
anterior
• 4.Realizar la escritura de la onda:
La escritura de la onda se realiza
normalmente a partir de un vector
columna en el cual se insertan los
valores
l d la
de l onda d deseada
d d a lal salida,
lid
en caso que se deseen varias ondas a la
salida se utilizaría un matriz de datos.
• 5
5. Cerrar la función de escritura y
actualización:
Generalmente cuando ya no se desea
adquirir datos se cierra la adquisición para
liberar los recursos de software y
hardware y así poder utilizarlos en otro
proceso.
proceso
• 6. Control de errores:
En los procesos de adquisición, al igual que
en los de lectura y escritura de archivos,, es
importante realizar un control de errores
adecuado. Aunque q se ppongag máximo
cuidado en la operación no se podrá evitar
que sucedan errores en la adquisición
q q pero
p
se debe tener control sobre ellos.
Generalmente se p programan
g condiciones de
verdadero y falso para indicar la existencia
de errores en el sistema.
• Es importante verificar la ausencia de
errores antes de iniciar ciclos de larga
duración , pues es posible que se realicen
ciclos de varios días de adquisición y al final
solamente obtener un mensaje de error.
error
 Sistemas DAQ con salidas 
analogicas y memoria FIFO
• Al igual que en las entradas analógicas
existen sistemas DAQ que cuentan con
memorias tipo FIF O, con lo cual se permite
una actualización de datos sin necesidad de
la intervención del procesador y la
memoria de la PC, la forma de trabajo con
memorias FIF O :
• En la memoria FIF O del sistema DAQ deben
de colocarse todos los puntos que definen un
ciclo de la onda completo.
Al poner en funcionamiento las salidas con
p
los correspondientes valores gguardados la
placa se encarga de actualizar los canales de
p
salida con los correspondientes valores
guardados.
 Capitulo 13
Capitulo 13

Entradas y Salidas Digitales en los 
Sistemas DAQ
 Introducción
• En los sistemas DAQ las entadas y las salidas
Digitales suelen organizarse en Líneas y
Puertos una línea es la unidad fundamental
Puertos,
de una entrada digital, entrega un valor ya sea
on u off y un puerto es la agrupación de
varias líneas, en los sistemas DAQ los puertos
cuentan con 8 líneas.
líneas
Al igual que en las entradas y salidas
analógicas las funciones de las I/O digitales se
pueden ordenar de la siguiente manera según
su facilidad de uso:
– Funciones de Entrada y Salida Digital de Fácil
Manejo o Easy I/O.
– Funciones de Entrada y Salida Digital de Manejo
Intermedio o intermediate.
– Funciones de Entrada y Salida Digital Avanzadas o
Avanced.
 Secuencia para lectura o escritura 
Secuencia para lectura o escritura
de líneas de entrada y salida digital 
y g
usando funciones de fácil manejo.
• EEs necesarioi aclarar
l previamente
i t que se
denomina escritura cuando se produce una
salida
lid digital
di it l y lectura
l t cuando
d se muestrea
t
una entrada digital. Este tipo de operación
generalmente
l t se realiza
li sobre
b funciones
f i que
son directas y que pueden ser divididas a
grandes
d rasgos en:
 Escritura de línea digital
Escritura de línea digital
Esta función debe ser utilizada para escribir
una salida de una línea digital y necesita la
siguiente información:
• Numero de dispositivo:
p Con esto se define el
sistema DAQ a utilizar.
• Numero de puerto: Con esto se define el
puerto a utilizar, generalmente un puerto
consta de 8 líneas.
líneas
• Ancho del puerto: En sistemas DAQ
sofisticados se puede fijar el ancho del puerto
que se desea tener, normalmente el ancho de
un puerto digital en un sistema DAQ es de 8.
• Numero de línea elegida: Con este número se
g la línea elegida,
designa g , es equivalente
q a la
elección de canal analógico.
• Valor a escribir sobre la línea: Aquí se colocara
el valor booleano deseado en esa línea.
 Lectura de línea digital
Lectura de línea digital 
• Numero de dispositivo: Con esto se define el
sistema DAQ a utilizar.
• Numero de puerto: Con esto se define el
puerto a utilizar, generalmente un puerto
consta de 8 líneas.
líneas
• Ancho del puerto: En sistemas DAQ
sofisticados
fi i d se puede d fijar
fij ell ancho
h del
d l puerto
que se desea tener, normalmente el ancho de
un puerto digital
di i l en un sistema
i DAQ es de
d 8.
8
• Numero de línea elegida: Con este número se
designa la línea elegida, es equivalente a la
elección de canal analógico.
analógico
• Valor a escribir sobre la línea: Aquí se colocara
ell valor
l booleano
b l que se encuentra t en esa
línea.
 Secuencia para lectura y escritura 
de puertos digitales usando
de puertos digitales usando 
funciones avanzadas.

• SSe supone realizar

li l secuencia
la i de
d lectura
l o
escritura recurriendo a las funciones
avanzadas
d y no con las
l de
d fácil
fá il manejo.
j
• La secuencia que se debe seguir aumenta en
complejidad pero las funciones resultan más
poderosas ya que permiten realizar
operaciones y tener acceso a opciones no
disponibles con las funciones de fácil manejo.
 1) Función de configuración del puerto digital:
• Numero de dispositivo: Con esto se define el
sistema DAQ a utilizar.
• Ancho del puerto: En sistemas DAQ
sofisticados se puede fijar el ancho del puerto
que se desea tener, normalmente el ancho de
un puerto digital en un sistema DAQ es de 8.
•NNumero de d puerto:t ConC esto
t se define
d fi ell
puerto a utilizar, si nuestro sistema DAQ
cuenta
t con 24 I/O se podría d í decir
d i que se
cuenta con 3 puertos
• Definir función: En este paso se define si el
puerto será entrada o salida, en sistemas
sofisticados es posible asignarlo por líneas.
• Valor a escribir sobre la línea: Aquí se colocara
el valor booleano que se encuentra en esa
línea.
 2) Función
F ió de d escritura
it o lectura
l t d un puerto
de t
digital:
• Los parámetros que deben ser
suministrados para cualquiera de los dos
casos son los mismos. En ambos casos es
posible ordenar que cambien todas las líneas
o decidir cuales son las líneas que van a
cambiar mediante el comando de mascara.
• Antes de continuar se dará una breve
explicación sobre el funcionamiento de una
mascara.
• La mascara tiene la misma cantidad de bits
digitales que las líneas del puerto que se van a
manejar. Si en la información que se va a
escribir se ordena que todas las salidas
puestas en 1 pero en la mascara solo se
permite que cambie la línea 3, 3 es decir la
cuarta línea solo se escribirá 1 en la línea 3. El
estado de las líneas 0,
0 1,
1 y 2 no se afecta,
afecta esto
se puede apreciar en la siguiente figura.
Estado Previo 0 1 0 1
Valor 15 1 1 1 1
Mascara 1 0 0 0
N
Nuevo estado
t d 1 1 0 1
 3) Función cerrar las operaciones de lectura y
escritura sobre el puerto digital.
• Con esta función se cierran las operaciones de
entradas o salidas digitales y se liberan los
recursos de sistema para ser utilizados por
otras funciones.
 4) Función de control de errores.
• Al igual que con las entradas y salidas
analógicas, es importante tener un control
sobre los errores que se pueden encontrar en
los sistemas DAQ y proponer soluciones para
los mismos.
mismos
 Comunicación por medio 
de I/O Digitales.
/
• Se le llama I/O Digitales controladas o temporizadas
a aquellas cuya ejecución se encuentra condicionada
por la
l recepciónió ded una señalñ l de
d confirmación
fi ió
llamado handshaking, también pueden estar
condicionadas por cierto periodo de tiempo,
tiempo entre
una acción y la siguiente. Ambos casos mencionados
definen los pprincipios
p fundamentales en los q que se
basan los protocolos de transmisión digital, desde el
simple RS232 hasta protocolos paralelos.
 Capitulo 14
Contadores por hardware
Contadores por hardware.
 Necesidades

• De alguna manera se podría imaginar que

es posible
ibl contar pulsos
l h i d uso
haciendo
simplemente de las entradas digitales de
una tarjeta
j y un software
f programado
d para
tal fin. Esto podría conocerse como
contador
d por software.
f
• Por esa razón es necesario construir
contadores por hardware en los equipos de
adquisición de datos,
datos de tal modo que
independientemente del sistema operativo y
el procesador de la PC,PC ellos cuenten la
cantidad de pulsos que les han sido enviados.
• Ell inconveniente de
d esta propuesta es
que si el sistema operativo no puede
responder
d entre una lectura
l d
digital
l y la
l
siguiente con suficiente rapidez se
podrían perder valores o pulsos que no
serian contados. Es necesario recordar
que los sistemas operativos gráficos
existentes actualmente en el mercado no
disponen de la velocidad requerida para
este tipo de procesos.
• Por otro lado, el procesador de la pc también
puede ser interrumpido por eventos tales
como presionar una tecla, mover el mouse
entre otras situaciones y en esos casos el
procesador dejaría de trabajar en el conteo
para dar respuesta a las actividades antes
mencionadas, por lo cual produciría un error
de conteo.
 Como usos y aplicaciones de los contadores por
hardware que se desarrollaran en este capitulo
podemos mencionar los siguientes:

• Conteo de pulsos.
p
• Medición de tiempos.
• Medición de duración de pulsos.
• Medición de frecuencias.
• Generación de pulsos de duración determinada.
• Generación de trenes de pulsos.
• Lectura de encoders ópticos.
 Características de las señales 
que ingresan a un contador.
d
• Las señales que ingresan a un contador son del tipo digital y 
q g p g y
en la mayoría de las tarjetas comunes del mercado son de 
niveles TTL, tal como se ilustra en la figura.
• Se observa que la señal de nivel TTL tiene el
nivel bajo digital de entre 0 y 0.8 V y el nivel
alto entre 2 y 5 V. V Las ondas medidas o
contadas por un contador deben tener un
cierto ancho de pulso indicado en la figura
anterior y un cierto tiempo de pendiente
ascendente y descendente.
descendente Es de notar que
las pendientes perpendiculares con respecto
al eje de los tiempos son solo ideales dado
que un sistema real nunca puede responder
de manera inmediata.
inmediata
• Las especificaciones mínimas de un
contador por hardware son: ancho de
pulso, tiempo de asenso y tiempo de
disenso.
disenso
 Partes que componen un 
Partes que componen un
contador por hardware

• Un contador es un dispositivo que cuenta

pulsos digitales o también puede generar
varios tipos de señales de tiempos como
pulsos o trenes de pulsos.
• La figura muestra un modelo simplificado de
un contador por hardware:
 Un contador por
p hardware consiste
principalmente de los siguientes elementos:
Terminales de entrada:

• SOURCE: Terminal en la cual se introducen los

pulsos a contar y cuyo valor queda registrado en
el COUNT REGISTER.
• GATE: Terminal cuyoy estado p permite o no q que
cada pulso que ingresa a la terminal SOURCE
incremente la cuenta del COUNT REGISTER. Si la
GATE no habilita la cuenta,
cuenta los pulsos que en ese
momento ingresen no serán contabilizados por el
COUNT REGISTER.
 La habilitación de la terminal GATE
GATE, puede
realizarse generalmente de 5 formas
diferentes:

1 Que cuente mientas el nivel de la GATE este

1.
en alto.
2 Que cuente mientras el nivel de la GATE este
2.
en bajo.
3 Que inicie la operación de conteo cuando el
3.
GATE pase de alto a bajo.
4. Que inicie la operación de conteo
cuando el GATE pase de bajo a alto.
5. Que la GATE no trabaje, es decir que no
sea la q
que defina cuando se trabaja j y
cuando no. En este caso el comienzo del
conteo lo define el software.
Terminales de salida:
• OUT: Terminal que generalmente puede
tener dos formas de trabajo:
–Genera
Genera un pulso cuando COUNT
REGISTER ha llegado a su máximo
valor este pulso tiene un valor de
valor,
cierta duración luego del cual el valor
d la
de l terminal
i l OUT regresa all que tenia
i
antes de la aparición del pulso.
–Se pone en alto cuando el COUNT
REGISTER ha llegado
g a su máximo valor
y permanece en ese valor durante las
siguientes cuentas.
cuentas
• COUNT REGISTER: No es precisamente una
terminal o conector físico,, p pero si un
elemento de salida. Se encarga de entregar a
la PC,, a través del bus el valor de la cantidad
de pulsos administrados, contados hasta ese
momento. Se p puede configurar
g para q
p que inicie
las cuentas por medio de transición ata a baja
j a alta de la señal introducida en la
o baja
terminal SOURCE. También es imposible
g
configurar incrementos o decrementos.
 Secuencia de funcionamiento 
d
de un contador por hardware
d h d
• Las distintas graficas que muestran el
funcionamiento de un contador por hardware están
representadas en la siguiente figura:
 Comenzando de arriba hacia abajo en el
dibujo anterior se observa:
• Los pulsos que están ingresando a la terminal
SOURCE son pulsosp lsos periódicos.
periódicos También
podrían ser aperiódicos: sucede un evento y
se dispara un pulso que es contado;
contado si no
sucede nada no se dispara pulso hacia la
terminal SOURCE.
SOURCE
• LLa segundad grafica
fi corresponded a la l GATE
que es la terminal que permite que los pulsos
sean contabilizados
t bili d o no.
• La tercera es una secuencia de números que
muestran el valor que toma el registro del
contador. Mientras la GATE permite la
cuenta, cada pulso que ingresa al SOURCE es
contado por el contador y su valor es puesto
en el COUNT REGISTER que son los valores
representados en la grafica.
• Se observa que la GATE esta baja por más que
entren pulsos l all SOURCE,
SOURCE estos no son
contados hasta que la GATE vuelva a pasar a
alto.
l El valor
l TC representa ell máximo
á i valor
l
que puede contar el contador. Luego de
alcanzar
l ell valor
l TC ell contador
t d comienza
i d 0
de
nuevamente. Esta opción permite ampliar las
posibilidades
ibilid d de d cuenta t y conectar
t contadores
t d
en cascada, como se mostrara mas adelante.
• La cuarta grafica representa la salida de la
terminal OUT como cambio de nivel. El
terminal OUT esta en bajo mientras el
COUNT REGISTER no se encuentre al máximo
nivel, al llegar al máximo OUT cambia de
estado y permanece.
• La última grafica representa la segunda
opción
p de la salida OUT,, q
que es la forma de
pulso, esta otra forma es muy útil cuando se
requiere
q conectar contadores en cascada.
 Conexión de contadores 
en cascada
• Haciendo
Haciendo uso de OUT en forma de pulso es posible 
uso de OUT en forma de pulso es posible
conectar varios contadores en cascada, eso queda 
representado en la grafica siguiente:
Comenzando de izquierda a derecha es
posible observar que la conexión realizada
es de cascada, repitiendo esa configuración
es posible conectar n contadores.
El funcionamiento se describe a continuación:
• El primer contador realiza su tarea hasta
que llega a su valor máximo,
máximo al llegar a su
valor máximo dispara el pulso OUT y este es
contabilizado por el siguiente contador,
contador
ahora el primer contador vuelve a 0 y
comienza a contar repitiendo el ciclo.
ciclo
• Comenzando el análisis de la grafica de
i i d a derecha
izquierda d h podría
d í decirse
d i que ell
primer contador tiene los dígitos menos
significativos,
i ifi i y hacia
h i lal derecha
d h ell peso de
d los
l
valores se incrementa, lo que es decir, los
dí it mas significativos
dígitos i ifi ti se encuentran
t en ell
contador mas alejado hacia la derecha (en la
grafica
fi mostrada).
t d )
 Agrupación de las funciones 
de contadores por hardware.
Al igual que en los capítulos anteriores el
software que comandan a los contadores por
hardware pueden ser agrupados en:
• Funciones
u c o es de Co
Contadores
tado es de fácil
ác manejo.
a ejo.
• Funciones de contadores de manejo
intermedio.
intermedio
• Funciones de contadores avanzadas.
 Funciones para 
Funciones para
medir tiempos.
• Generalmente la función que cuenta
eventos es la
l misma que sirve para
medir tiempos.
• En el caso de contar eventos, todos los
puntos que se introducen en el SOURCE
serán contados.
contados
• Cuando se usa la función para medir
tiempos el contador cuenta pulsos de la
base del tiempo del sistema DAQ. Las
f
frecuencias
i de
d estas
t bases
b d tiempo
de ti
pueden ser de 100 KHz o de 20 MHz.
• Los
L parámetros
á t que requiere
i l función
la f ió
anterior pueden ser divididos en
parámetros de entrada y parámetros de
salida.
 Parámetros de entrada:

–SOURCE
SOURCE EDGE: Determina si el
contador va a contar el evento cuando
suceda el flanco creciente o el
decreciente.
– EVENT SOURCE/ TIMEBASE: Con este
parámetro se selecciona si se van a medir
tiempos o contar eventos.
– DEVICE: Al igual que en las funciones de
entradas analógicas y el resto de las
funciones vistas en capítulos anteriores,
este parámetro determina cual dispositivo
es el que se va a utilizar.
– COUNTER: En caso de que la tarjeta
di
disponga d
de varios
i contadores,
d este
parámetro determina cual es el contador a
usar.
– COUNTER SIZE: Selecciona el máximo
numero de eventos que se contabilizaran
antes de que el contador se reinicie.
–START/RESTART: Sirve para poner en
funcionamiento el contador
seleccionado.
–STOP:
STOP Detiene
D ti l cuenta
la t del
d l contador
t d
elegido.
 Parámetros de salida:
Parámetros de salida:

–COUNT: Devuelve la cantidad de

eventos que han sido contabilizados.
–SECONDS SINCE START: Exhibe el
ti
tiempo t
transcurrido
id desde
d d que ell
contador se puso en marcha.
–SECONDS SINCE LAST CALL: Informa
sobre el tiempo transcurrido desde la
ultima llamada.
Los últimos dos parámetros de salida
antes
t mencionados
i d son validos
lid solo
l sii
se ha seleccionado la función para que
trabaje midiendo tiempos con la base
de tiempos interna del sistema DAQ.
 Tipos de pulsos 
p p
característicos.
• En la siguiente figura se muestran distintos
tipos de pulsos con sus diferentes
características.
características
 Comenzando de arriba hacia abajo se
muestran primero los dos tipos de pulsos que
se pueden tener y que son:
• Pulsos de polaridad positiva: Teniendo una
línea base de valor digitalg bajo
j el p pulso
positivo es aquel que a partir de la line base se
eleva y permanece durante cierto tiempo en
valor alto,
alto para finalmente volver a la línea
base, el tiempo previo a la aparición del pulso
es llamado delayy y a la duración del ppulso se le
llama width.
• Pulso de polaridad negativa: Es aquel que
partiendo de una línea base de valor
digital alto produce un pulso negativo de
una duración,
duración para luego volver al valor
alto.
• Con respecto a las características de los
pulsos, se observa en la figura lo que se
d
denomina
i factor
f t de d forma
f o simetría
i t í del
d l
pulso (duty cycle) y que resulta ser:

Width
DutyCycle
DutyCycle=
Delay+Width
• Función para generar pulsos:
Distintos lenguajes cuentan con
funciones que permiten que los
contadores por hardware generen
pulsos con un delay y un width
especificado en dicha función y en
una determinada polaridad.
polaridad
• Función para generar un tren de pulsos: Es
otra función que se puede realizar sobre los
contadores por hardware y que consiste en
generar un tren de n cantidad de pulsos en
esta función se puede definir la polaridad del
tren de pulsos,
pulsos numero de pulsos que se
desea a la salida, la frecuencia de esos pulsos
y el duty cycle.
cycle Con esos parámetros quedan
definidas las características de un tren de
pulsos.
pulsos
 Medición de parámetros:
Medición de parámetros:

• Usando contadores se pueden medir los

parámetros width o delay de un pulso como
así también el periodo del mismo. Tal como se
visualiza en la siguiente figura se supone que
se intenta medir el width del pulso.
• Se introduce en la GATE del contador por
hardware el pulso cuyo parámetro width se
hardware,
desea medir. EN el SOURCE del mismo se
ingresa una base de frecuencia de tiempo
conocida y dentro de lo posible bastante
exacta y patrón.
patrón
• El COUNT REGISTER constara de pulsos
de esta base de tiempo conocida,
conocida solo
durante el tiempo que suceda el pulso,
ese es ell tiempo
i conocido
id como width
id h
del pulso.
Cuando el pulso termina, el contador ya
no incrementa su cuenta y el valor
almacenado en el mismo es la cantidad
de ppulsos q que han ingresado
g en el
SOURCE durante el width del pulso
desconocido.
Como se deduce el método es sencillo y
su exactitud dependerá de dos factores a
tener en cuenta:
• La exactitud de la base de tiempo y la
estabilidad de la misma. Para tener una buena
precisión, seria deseable introducir por el
SOURCE del contador la frecuencia de un
generador de frecuencia cuadrada de calidad
de instrumentación o mejor si es un
ggenerador de inda cuadrada p patrón.
• Para obtener mejor resolución en la medición
es necesario que el width del pulso
d
desconocido
d sea mucho h mayor que ell periodo
d
de la frecuencia base.
 Medición de frecuencias 
d
desconocidas.
d
• La figura siguiente sugiere un método para
medir frecuencias desconocidas utilizando
contadores por hardware:
• El proceso consiste
i a grandes
d rasgos en
introducir un pulso de width conocido en la
GATE y en ell SOURCE se ingresa
i l onda
la d de
d
frecuencia desconocida.
• Mi
Mientras
t ell pulso
l d duración
de d ió conocida id y
patrón permanece, el COUNT REGISTER
cuenta
t los
l pulsos
l d la
de l onda
d rectangular
t l de d
frecuencia desconocida. Si el pulso de
d
duración
ió conocidaid conectado
t d a la
l GATE durad
exactamente 1 s, entonces los pulsos que
conto
t ell COUNT REGISTER durante
d t ell tiempo
ti
permitido por la GATE es exactamente la
f
frecuencia
i expresada d en HzH ya que son los l
pulsos suministrados en un segundo.
 La exactitud de la medición dependerá de dos
factores:
• La exactitud de la duración del pulso
introducido en la GATE.
• La
L diferencia
dif i entre
t ell WIDTH introducido
i t d id en la l
GATE y el periodo de la función introducida en
l SOURCE.
la SOURCE
 Encoders Ópticos:
Encoders Ópticos:
• En la figura se observa un tipo de sensor
llamado encoder de cuadratura.
• Consiste en dos discos en cuyas
circunferencias se han distribuido
uniformemente ranuras.
• Por algún medio magnético u óptico se leen
cada uno de los discos de tal forma que a
través de las ranuras se obtiene un tren de
pulsos cuando el encoder gira, os pulsos serán
proporcionales al Angulo de giro del encoder.
encoder
• Para discriminar si el giro es horario o anti
h
horario,
i se ha
h desfasado
d f d ligeramente
li uno de
d
los discos de modo que se producen dos
ondas
d cuadradas
d d d f d
desfasadas 90 ParaP
discriminar si el giro es horario o anti horario,
se ha
h desfasado
d f d ligeramente
li t uno de
d los
l discos
di
de modo que se producen dos ondas
cuadradas
d d desfasadas
d f d 90 °, ° cuando
d ell giro
i es
continuado.
• En un instante cualquiera, se comienza la
cuenta de los pulsos que generan cada uno
de los discos: se observa que si el encoder gira
en sentido horario,
horario el canal A supera en 1 o es
igual al canal B en la cantidad de pulsos
contados; mientras que si el giro es anti
horario el canal B supera en 1 o es igual al
canal A. Por lo tanto verificando el canal
mayor es posible determinar el sentido del
giro.
 Capítulo 15  
Software Driver de sistemas DAQ
 Repaso de 
Repaso de estructuras
de sofftware

Un ejemplo típico de software puede ser

representado por una serie de niveles o
“
“capas”.
”

Si se trabaja en Windo ows, la aplicación se

comunica con una API y con el driver del
dispositivo para realizar la prueba y medición
requeridos.
requeridos
 Drivers de d
dispositivos

Un driver
U di d dispositivo
de di i i o es la
l interfase
i f d
de
software entre el sisteema operativo y el
sistema DAQ. Es la capa que separa al
desarrollador
desa o ado de p progr
ogramas
a as DAQ Q de laa
complejidad del hardware del sistema DAQ.
All iguall que ell driver
d de una impresora o
mouse, los drivers deel sistema DAQ son
esenciales, pues el usuario requiere de un
driver que funja como mediador entre la
aplicación y el núcleo (kernel) del sistema
operativo.
operativo
 Desarrollo
o del driver
o del driver

Cada driver debería estar diseñado idealmente

p
para:

Coexistir con los demáss drivers sin conflicto.

conflicto
Ser robusto, es decir, resistente a choques
f i
funcionales
l con drivers
di d otros
de t dispositivos.
di iti
Consumir la menor caantidad de recursos de
sistema posibles
La tarea de desarrollar un
n driver de dispositivo
p
robusto puede ser difíccil, dada la sensible
relación entre el driver y el SO, así como la
limitada cantidad de co ondiciones donde el
driver deberá trabajar.
trabajar
 Evolución d
Evolución d
desde DOS
desde DOS 
hasta W
Windows

Bajo DOS,
DOS programar un dispositivo era
relativamente fácil. El usuario tenía pleno
control
t l de
d lal computad
t dora
d y ell sistema
it era
monotarea. El acceso a las direcciones I/O se
hacía con comandos simples en C o BASIC.
 IInterfase
t f d programa de
de  d
aplicación (API)
ón (API)

El API (Application pro ogramming interface)

actúa
tú como unión ió e t
entre ell driver
di d
de
dispositivo y el programaa de aplicación final de
usuario. Por ésto, el usuaario rara vez tiene que
comunicarse directamentte con el dispositivo.
p
El API forma parte de d lo que se llama
“
“paquete
t ded driver”.
d i ” El API debe d b ser la
l
primera pieza diseeñada cuando se
desarrolla el driver del dispositivo.
 El rol de
El rol de
e un API
e un API
A partir de su definición see desprende que el API
puede ser un factor de importtancia en la obtención de
resultados.
resultados

Suponga un sistema DAQ con una frecuencia de

muestreo de 100KHz, y una velocidad de
almacenamiento en disco duro igual. Éste sistema no
solo requeriría el hardware necesario para cumplir
con éstas especificaciones,
p , sino también un API
apropiado para éstas caractterísticas. Por ello debe
prestarse atención a las limitaaciones del API.
 Indepen ndencia
del harrdware
La independencia del hardware es una
funcionalidad importantee en los API ActiveX.
Si el API es portable,
portable es decir,
d
decir independiente
del hardware, no hab brá necesidad de
reprogramar la aplicació ón del usuario cada
vez que cambia la platafoorma de trabajo.
 Controless ActiveX

Appesar de qque el driver camb

bie dependiendo
p el hardware,,
gracias a los controladores AcctiveX, no es necesario que el
API cambie.

Los controladores ActiveX están basados en la tecnología

COM (Component Object Model),
M que representa una
arquitectura de software que permite construir
aplicaciones a partir de componentes de software.
 Beneficios de ActiveX
de ActiveX

El mayor beneficio de ActiveX es el uso de un simple

objeto para reemplazar muchaas líneas de código para
funciones comunes.
comunes Ésto perm mite a los programadores
crear componentes de softwaree reusables, que pueden
ser intercambiados sin necesidaad de ser re‐escritos.

Por ejemplo,
j p una aplicación
p esccrita p
para una p
placa de 16
entradas continuas de 100KHz puede
p ser usada con una
placa de 64 entradas de 300KHzz.
 Funcionam
miento de 
de
las memoorias FIFO

Una memoria FIFO es un bloque de

almacenamiento temporrario de datos que se
encuentra p presente en
e casi todos los
sistemas DAQ. Opera seegún el principio de
que “el
el primero que enttra es el primero que
sale”, y de ésta forma maaneja los datos.
Para hacerlo
P h l másá eficiente,
fi i l memoria
la i FIFO envía
í
una interrupción cuando estáe medio llena, para
advertir
d i all driver
di d que es
de e tiempo
i d capturar
de
datos.

Las memorias FIFO fueeron diseñadas para

compensar las
l demoras
d dell SO,
SO y asíí evitar
i l
la
pérdida de datos.
 Funcionamiento del DMA
nto del DMA

El DMA ((Direct Memoryy Access)) es el medio de

implementar las I/O sin la intervención del CPU de la
p
computadora, , permitiend
p do flujo
j de datos
directamente del sistema DA AQ a la memoria. Durante
la transferencia, el CPU pueede ser usado para realizar
otras tareas, sin afectar al sisstema DAQ.

El DMA se puede implementtar usando bus PCI o ISA, el

primero siendo más rápido y eficiente.
 Acceso por
p lista o o
secuencial vs. accceso conducido
por evventos
En un acceso por lista,
li l computadora
la d analiza
li
muchos dispositivos para determinar si están
listos para enviar o recibir datos. Esto implica un
multiplexado que sigu ue el orden de una
secuencia o lista programmada por el software del
sistema DAQ.
DAQ
En contraste, un sistem
ma DAQ determinístico
es aquel
q en el qque los datos deben ser
adquiridos cuando succede un cambio en el
fenómeno que see está analizando. analizando
Normalmente esto correc en un proceso
paralelo a los que maneeja el CPU.
CPU
 Consideracciones para
programaciónn por eventos

El programador
d puede d tomar
t ventajas
t j ded los
l
eventos de Wondows ussando Visual C o Visual
Basic, para crear una aplicación determinística
p
rápida que dé un co
q ontrol fino sobre los
tiempos de adquisición de
d datos.
Para aplicaciones
p DAQ de tiempo
p real en
Windows puede ser necesario desarrollar
hardware específico.
específico

Para algunas aplicacionees en tiempo real,

real la
programación por evento os puede ser necesaria,
pero no siempre suficiente
f e.

Algunas aplicaciones trabaajan mejor en DOS.

 Software de a
Software de aplicación final 
plicación final
del usuario – Generalidades
G
La práctica indica qu ue el 80% de las
aplicaciones
p DAQQ se conntrolan p por medio de
una computadora person nal.
La elección del softwaree apropiado para una
aplicación depende de la configuración y
capacidades de la PC, PC sistema operativo,
operativo
habilidades del usuario y tipo de aplicación.
El sistema operativo másm difundido como
entorno es Windows.
 Sistemas d
Sistemas de
de entorno 
d entorno
abierto vss cerrado
Desde la aparición de Wiindows 95, la tendencia
en generall en ell softwar
ft re ha
h sido
id simplificar
i lifi ell
uso de las computado oras, para facilitar al
usuario el aprendizaje.

Ésta concepción fue asocciada a la adquisición de

datos y al control basado en la PC.
 Breve historia
Breve h
h
Antes de Windows, se usaban n dos tipos de software DAQ.
La mayoría de los fabricantess proveían drivers o librerías
para sus productos. Los lenguuajes eran basados en texto,
donde el programador debía desarrollar toda la interfase
con el usuario. Se decía que éste
é entorno era abierto por
varias
i razones:

El programa era desarrollado

o por el usuario final.
El usuario podía modificar y distribuir
d la aplicación.
aplicación
El lenguaje y el hardware pod
dían coexistir
Por otro lado, se puede optar por un software
de arquitectura cerradaa, propiedad de una
determinada persona.
Estos paquetes de softw
ware “propietarios” son
generalmente desarrollados por terceras
personas que no son los fabricantes del
hardware.
Este tipo de software ha sido asociado al
concepto
p de “no‐program
p g mable”.
 Actuaalidad
En la actualidad, Windo
ows ha desplazado a
DOS como el sistema más difundido. Muchos
fabricantes de h
hardware p
proveen
controladores ActiveX compatibles con
Windows También haan sido introducidos
Windows.
nuevos paquetes como o LabVIEW, DasyLab,
HPVEE y Testpoint.
T t i t
Laa p
pregunta
egu a cclave
a e ssigu
gu
ue ssiendo:
e do ¿Usa
¿Usar uun
lenguaje de programacióón? ¿O una aplicación
propietaria?
Será muy conveniente considerar
c los siguientes
factores al momento de tom
mar la decisión:

Ti
Tiempo d entrenamiento
de t i t .
Software basado en texto o sintaxis gráfica.
g
Eficiencia en la programación.
Mensajes de Windows y manejo
m de eventos.
Depuración.
epu ac ó
Despliegue de la aplicación
n.
 Clasificación del software DAQ
Clasificación de l software DAQ

L
Los sistemas DAQ se clasifican
it DAQ l ifi n en dos grupos principales:
d i i l

Cerrados o propietarios.
− Li t
Listos para usar.
− Post‐análisis
Abiertos o lenguajes.
− Lenguajes no desarrollados por el fabricante
Lenguajes no desarrolla dos por el fabricante
− Lenguajes desarrolladoss por el fabricante.
 Software listto para usar
Software list
to para usar

Generalmente es provisto por 
G l t it el fabricante del hardware, a 
lf b i t d lh d
veces sin costo y a veces por seeparado. 
Las principales funcionalidadess son:
Datalogger
gg (p(para señales de lenta variación).
)
Osciloscopio (ondas en funció
ón del tiempo).
M lí
Multímetro.
Transformadas de Fourier y A
Análisis de espectros.
Integración con Excel.
 Software de post‐análisis
Software de 
Está totalmente orientado aa análisis posteriores a la 
p
captura de los datos. Sus prrincipales funcionalidades 
son:
Es posible intercambiar daatos adquiridos.
G
Gran gama de funciones m
d f i matemáticas.
t áti
Graficación en 2D y 3D.
Automatización de análisis.
Almacenamiento y conecttividad con otros softwares.
Almacenamiento y conecttividad con otros softwares
Reportes impresos.
 Lenguajes no desarrollados 
por el fabricante
Aunque se podrían
A d í incluir
i l i muchosh llenguajes
j en ésta
ét
sección, los más difundido os en la actualidad son el
Lenguaje C y el Visual Basic.
Basic.

Para entrenarse en el uso del Lenguaje C se requiere

un tiempo muy largo compaarado con otros lenguajes.

Visual Basic es un lengu uaje muy popular en la

actualidad y cuenta con un
na arquitectura orientada a
objetos.
 Lenguajes de
g j esarrollados 
por el fabricante
SSe trata
t t en su mayoría
í de
de software
ft ti gráfico.
tipo áfi
La programación está to
otalmente orientada a
objetos.
En un panel o “pizarra”
pizarra virtual se colocan los
objetos, luego, la secuencia o programación es
d fi id cableando
definida bl d los
l objbjjetos.
j t
Siempre se debe recordar que ningún objeto
entrega salida hasta quee no tenga disponibles
todos los datos en sus enttradas
tradas.
 Toollkits
En el mercado se ofrecen diversos toolkits para
aplicaciones
li i DAQ que pueden
DAQ, d mejorar
j y ampliar
li sus
capacidades. Se dispone toolkkits para:

Procesamiento de señales.
Análisis de imagen.
Control de motores.
motores
Driver para instrumentos.
Conectividad (bases de dato
os, internet, etc.).
PID y automatización.
automatización
 La DAQ y el tiempo real
La DAQ y el  tiempo real
Como se analizó anteriormeente, la demora de ciertos
sistemas operativos impide adquirir datos y controlar
en tiempo real. Para logrrarlo se han desarrollado
diversas soluciones:

Se han desarrollado driveers para Sos que pueden

realizarlo sin hardware especial
cial.
Alternativamente, se puede dotar al sistema DAQ de
una memoria, i capaz ded alm
lmacenar la
l aplicación,
li ió de
d
forma que el sistema DA AQ realice el proceso sin
intervención de la PC.
PC
Adquisición
n de Datos 
desde SCADAS
 Concepto de SCADA/HMI

Un software SCADA/HMI consiste en un entorno

de software en el cual el operador interactúa
con el proceso industrial. Los SCADAS,
SCADAS por más
que estén orientados a objetos, no son
l
lenguajes gráficos
áf en si mismos.
Con un software SCADA A se puede programar
fácilmente la visualizaación de un proceso
industrial pero no pued
industrial, de ser configurado para
otras funcionalidades.
 Arquitectura de SCADA/HMI
Arquitectura d
de
d SCADA/HMI

La información entra al sistema a partir de

una tarjeta DAQ, un PLC o algún l ú otro
dispositivo compatiblee. La información
adquirida es registrada en
e una base de datos
en tiempo real con su respectivo valor de
fecha y hora. Finalmente, los datos son
enviados a la interfaz grááfica del usuario.
usuario
Con respecto
p a como es
e examinada la base de
datos por el software SC
CADA existen 2 filosofías
bien diferenciadas:

a) Procesamiento en lista o secuencial.

b) P
Procesamiento
i conduc
d cido
id por eventos.
Arquitectura de objetos – Cuando se desarrolló el
concepto de procesos conducidos por eventos se dijo
que en su mayoría,
que, mayoría fu
uncionaban en entornos
orientados a objetos.

Se simbolizó al objeto commo una entidad compuesta

por 3 partes importantes:

Parámetros.
Base de
d datos.
d
Funcionalidad
Conexión de objetos en ntre si – La conexión de
objetos en un SCADA se puede llevar a cabo de 2
formas:
B
Base d datos
de d t con paráámetros
á t – Si se conecta
t
un elemento de base de datos de un objeto con
un parámetro
á d otro
de o, se puedend cambiar
b
propiedades del objeto.
Base de datos con basee de datos – Esto es para
sincronizar los valores ad
dquiridos.
dquiridos
 Módulos fuuncionales 
de softwaare SCADA
Algunos módulos que debe ten
ner un software SCADA son:
Mímico de p permite la visualización del proceso.
planta – p p
Históricos de planta – muestrra la evolución de los valores.
C
Conexión
ió con bases
b d datos
de d s corporativas.
i
Post‐análisis y control estadísstico de procesos.
Conectividad con otros equip
pos de cómputo.
Conectividad con sistemas DA
AQ remotos.
remotos
 ¿Qué es OPC?
¿Qué e
es
e OPC?

OPC (OLE for

f Process
P C ntrol)
Con l) es un estándar
á d para
conectar fácilmente un software
s SCADA/HMI con
di
dispositivos
ii d campo com
de mo PLC,
PLC RTU,
RTU DCS,
DCS Sistemas
Si
DAQ, etc.

Con la aparición del OPC se logró estandarizar algo

muy crítico: los diferentes drivers que soporta un
software SCADA/HMI.
 Arquitectura actual de un 
Sistema de Conntrol Industrial
Actualmente,
A l un software
f S
SCADA pueded administrar
d i i y
controlar diferentes sistem
mas DAQ, PLCs, dispositivos
con conectividad
i id d de
d reded s, análisis
áli i ded imágenes
i á o
cualquier módulo de adquissición distribuida.

La información puede ser accesible mundialmente a

través de uno de los divversos protocolos que se
crearon con el propósito,
propósito y puede ser consultada y
analizada con otro softwaree SCADA.
 Conclusión

Con la incorporación deel software SCADA a la

adquisición de datos se logrró introducir sistemas DAQ
en la industria, reduciendo o costos y aumentando la
eficiencia de las entras y salidas analógicas.
analógicas