Red de Difracción

1. Introducción:

La difracción es la desviación hacia una nueva dirección de las ondas que encuentran
un objeto (una barrera o una abertura) en su camino. La difracción es un fenómeno que ocurre
para todos los tipos de ondas.
Para que se presente la difracción, el tamaño del objeto debe ser del mismo orden de
magnitud que la longitud de onda de las ondas incidentes; cuando la longitud de onda es mucho
menor que el tamaño del objeto, por lo general, la difracción no se observa y el objeto forma una
sombra definida. Los patrones de la difracción constan de bandas claras y oscuras, semejantes a
los patrones de interferencia. Mediante el análisis de estos patrones podemos aprender acerca del
objeto difractante. La difracción tiene también efectos indeseables, como el esparcimiento de la
luz al entrar en la abertura de un telescopio, lo cual limita su capacidad para resolver o separar las
estrellas que se ven una cerca de la otra.
Cada parte infinitesimal de una superficie difractora actúa como una fuente de ondas, y
el patrón resultante de luz y oscuridad es producto de la interferencia entre las ondas que emanan
de estas fuentes. La luz que emerge de sistemas de aberturas como las redes de difracción forma
patrones, cuyo carácter depende de la longitud de onda de la luz, así como del tamaño y la
separación de las aberturas.
Una extensión lógica de la interferencia producida por una rendija doble es aumentar el
número de rendijas desde dos hasta un número N más grande. Un arreglo de rendijas múltiples
(donde N puede ser tan grande como 300 rendijas por mm) se llama rejilla de difracción. Como
en el caso de la rendija doble, se produce un patrón de franjas de interferencia cuando luz
monocromática incide sobre dicho arreglo de rendijas múltiples. A una longitud de onda dada, el
espaciamiento de las franjas está determinado por la separación entre rendijas, mientras que las
intensidades relativas de las franjas está determinada por los efectos de difracción asociados con
la anchura de la rendija. En este trabajo analizaremos patrones de interferencia producidos por
rendijas múltiples. Consideramos sólo la región de Fraunhofer, donde existe una distancia que se
supone infinita entre la fuente de luz y las rendijas así como entre las rendijas y la pantalla.

2. Objetivos

Determinar la constante de red de una red de difracción utilizando una fuente de luz
monocromática de longitud de onda conocida.

3. Desarrollo

Las dobles ranuras demuestran que la luz puede tener patrones de interferencia. Si
dirigiésemos un láser como se muestra en la siguiente figura, observaríamos una imagen difusa
de los puntos brillantes del láser, es decir que los puntos oscuros se encontrarían en una especie
de mezcla con los brillantes.
 Pese a que se pueden observar los puntos en forma destacable, no se llegan a ver puntos
nítidos que permitan hacer mediciones precisas entre los puntos brillantes que permitan calcular
los ángulos de incidencia, ya que dichos puntos se encontraran bastantes difuminados.
Ante esto, ¿existe alguna forma de conseguir puntos completamente nítidos que ayuden
a la medición? La respuesta es sí. lo que podemos hacer es colocar más agujeros, a una distancia
d entre ellos (pueden ser cientos y hasta miles), los cuales se encuentran extremadamente juntos,
tal como se muestra en la figura siguiente. Lo importante es que, si tenemos todos estos agujeros
separados a una distancia d, ya no tendremos el patrón anterior, sino que vamos a tener puntos
nítidos y oscuridad a su alrededor, con una cierta separación entre unos y otros (los mismos son
ampliados en la figura a fin de lograr una comprensión cabal del suceso)

Pero, ¿Por qué es que ahora podemos ver el patrón ahora de esta forma? La realidad es
que la primera onda que sale desde el primer agujero sale en dirección al primero de los puntos
del patrón como se observa a continuación. En ese punto que se observa habrá interferencia
constructiva. Posteriormente la onda que saldrá desde el segundo agujero también tendrá
interferencia constructiva sobre el primer punto del patrón, sucediendo lo mismo con los
posteriores agujeros. Para la demostración particular solo nos centraremos en este segundo
agujero.
Cabe observar que si la primer onda tuviese un ∆𝑥 = 1𝜆, la segunda tendrá 1𝜆 y asi
posteriormente. Pero si desde el primer agujero trazaramos una recta en forma permendicular
hacia la onda producida por el segundo agujero, obtendríamos la diferencia del camino de onda
entre las mismas, tal como se detalla en la siguiente figura:

Diferencia de camino óptico

La realidad es que lo que está sucediendo en el punto A del patrón, es que se está
produciendo una interferencia constructiva de las diferentes ondas que atraviesan los respectivos
agujeros. Si observáramos el perfil de la onda observaríamos que la onda del primer agujero
estaría en el primer máximo del ciclo, mientras que la onda del segundo agujero estaría llegando
en el segundo máximo del ciclo, y así sucesivamente.

Máximo onda 2do agujero

Máximo onda 1er agujero

Cabe destacar que si observamos la onda que atraviesa al tercer agujero, la misma viajará
respecto a la segunda onda, la misma diferencia de camino que se produce entre la primera y la
segunda, pero respecto a la primera, la diferencia será dos veces dicha distancia. Es decir que la
onda que viaja desde el tercer agujero viaja dos longitudes de onda más que la que salió del primer
agujero.
Es decir que las diferencias de longitudes son múltiplos enteros de landa, es decir que
coinciden sus máximos con sus máximos
Pero ante esta situación, lo importante es observar las partes oscuras del patrón. Para esto,
sobre la figura en la que se muestran los máximos, desplegaremos las ondas que llegan en las
inmediaciones de los máximos. Si trazamos las ondas en forma similar a lo anterior, acá ya no
habrá una diferencia de una longitud de onda, sino que la diferencia será apenas mayor a una
longitud. para mostrarlo en forma práctica, diremos que dicha diferencia será de 1,1𝜆. Pero si
extendemos hacia el mismo punto la tercera onda que parte desde el tercer agujero, la diferencia
respecto al primero será de 2,2𝜆, y asi sucesivamente con los siguientes agujeros.

Diferencia de camino óptico

(mayor al del máximo)

Es decir que alrededor de nuestro punto brillante, la onda ya no estará viajando un valor
entero más que la anterior, sino que estará viajando unas décimas más. Si esto lo quisiéramos
mostrar en el perfil de la onda, observaríamos que la diferencia entre las ondas no se dará
exactamente en los máximos, sino que serán a una décima más de dicha longitud.
 Onda 2do agujero

Onda 1er agujero

En si lo que se está produciendo en las inmediaciones de los puntos brillantes, es una

interferencia destructiva, entre las diferentes ondas a que se producen a través de los diferentes
agujeros en las cuales la diferencia del camino de onda no es exactamente un valor entero.
Ahora bien, veamos lo que sucede analíticamente para poder alcanzar los objetivos del
trabajo. Sabemos que los máximos ocurrirán cuando  = n con n. esta afirmación nos llevará
a la expresión denominada ecuación de red.
𝑎𝑠𝑒𝑛𝜃 = 𝑚𝜆
Sabemos que el objetivo del trabajo de laboratorio es averiguar el valor de a. Conocemos
el valor de m, el cual dependerá del número de punto el cual se esté midiendo y conocemos la
longitud de onda utilizada. (632,8nm). Lo que no conocemos es el ángulo 𝜃 ni tampoco el valor
del seno de ese angulo. Ahora bien sabemos que el valor del seno del ángulo  se puede obtener
midiendo la distancia entre la red y la pantalla y la distancia sobre la pantalla entre el máximo
central y el máximo de orden n bajo análisis. Pues:

𝑦
𝑠𝑒𝑛𝜃 =
√𝑥 2 + 𝑦 2

Entonces

𝑚𝜆√𝑥 2 + 𝑦 2
𝑎=
𝑦

A su vez la propagación correspondiente de errores es:

𝜕𝑎 𝜆√𝑥 2 + 𝑦 2
=
𝜕𝑚 𝑦

𝜕𝑎 𝑚√𝑥 2 + 𝑦 2
=
𝜕𝜆 𝑦
𝜕𝑎 𝑚𝜆𝑥
=
𝜕𝑥 𝑦√𝑥 2 + 𝑦 2
 𝜕𝑎 𝑚𝜆𝑥 2
=−
𝜕𝑦 𝑦 2 √𝑥 2 + 𝑦 2

𝜕𝑎 𝜕𝑎 𝜕𝑎 𝜕𝑎
∆𝑎 = √( ∆𝑥)2 + ( ∆𝑦)2 + ( ∆𝑚)2 + ( ∆𝜆)2
𝜕𝑥 𝜕𝑦 𝜕𝑚 𝜕𝜆

𝑚𝜆𝑥 𝑚𝜆√𝑥 2 + 𝑦 2 − 𝑥 2 𝜆√𝑥 2 + 𝑦 2 𝑚√𝑥 2 + 𝑦 2

∆𝑎 = √( . ∆𝑥)2 + ( . ∆𝑦) 2+( . ∆𝑚) 2+( . ∆𝜆)2
𝑦√𝑥 2 + 𝑦 2 𝑥 2 + 𝑦2 𝑦 𝑦

Como ∆𝑚 = 0 y ∆𝜆 = 0

𝑚𝜆𝑥 𝑚𝜆𝑥 2
∆𝑎 = √( . ∆𝑥)2 + (− . ∆𝑦)2
𝑦√𝑥 2 + 𝑦 2 𝑦 2 √𝑥 2 + 𝑦 2

Veamos los datos que hemos medido:

Pantalla/Pared

m3=1490±9mm m2=868±9mm m1=398±9mm m1=398±9mm m2=868±9mm m3=1490±9mm

m

Distancia red-pantalla

X=2040±1mm

Red de difracción

Láser

NOTA: Nótese que asumimos un error absoluto de 9mm. Esto responde a que el diámetro
del punto proyectado era de 8mm y el error asumido por el trabajo con la cinta métrica es de 1mm.
 Tabla de cálculos (todos los valores expresados son en nanómetros) :

Valor de X Valor de Y Longitud de Valor de a Error

onda absoluto
m=1 2,04 x109±1x106 3,98x108±9x106 632,8 3304 0,5
m=2 2,04 x109±1x106 8,68x108±9x106 632,8 3233 2,2
m=3 2,04 x109±1x106 1,49x109±9x106 632,8 3218 5

NOTA: Valor de referencia para a otorgado por la cátedra:

7500 líneas por pulgada
Entonces:

2,54𝑥107 𝑛𝑚
≅ 3386𝑛𝑚
7500

4. Conclusiones:

Como podemos apreciar los valores alcanzados durante la experiencia no son acordes a
los esperados. Si bien los datos del error absoluto de la cantidad de líneas por pulgadas no fueron
entregados por el fabricante, los valores que se observan hacen pensar que, en caso de que existan
los mismos, los intervalos de error no serán concurrentes en los tres casos.
Ahora bien, analizando la situación podemos observar que:
 Si bien los valores obtenidos no llevan a la intersección de intervalos, podemos
observar una cierta relación entre los mismos, teniendo en cuenta de que todas
las mediciones fueron ejecutadas con elementos (cinta métrica) fraccionados en
milímetros y que por el contrario estamos apuntando a un resultado final en
nanómetros.
 Otro aspecto que pudimos observar y analizar fue el error absoluto tomado en
relación a la variable Y. analizando las causas de la no concurrencia de los
intervalos, podemos pensar que una mínima desviación longitudinal o
transversal en la cinta pudo crear un error absoluto mucho mayor, lo que
acercaría un tanto más los valores obtenidos al valor de referencia.
 Además, la puntera de la cinta métrica con la que medimos presentaba un
“juego” de importancia, lo que incrementaría el margen de error.
 La alineación de la red de difracción se hizo sin ningún elemento de precisión,
tomando como parámetro la visión de los integrantes del grupo.
 Finalmente, un tercer punto a destacar en relación a las causas por las cuales las
mediciones no fueron completamente acertadas, es el estado del material,
fundamentalmente el estado de la propia red de difracción. Un pequeño
deterioro en la misma llevaría a que la proyección de los puntos no sea tal cual
los valores de referencia otorgados por el fabricante del mismo. Todo esto
llevaría a pensar que las mediciones no serían del todo desacertadas, sino que
harían referencia a un valor de “a” diferente al analizado.
Para concluir, debemos destacar que, como se destacó anteriormente, si bien los valores
arrojados no llegan a ser coincidentes con los valores de referencia, los mismos se ven bastantes
cercanos, y que, si a ello sumamos una combinación de las otras causas anteriormente citadas,
todo haría pensar que estaríamos en valores aceptables para la medición.