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TransistorTester com o microcontrolador AVR

e um pouco mais
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Karl-Heinz K ubbeler
kh kuebbeler@web.de

01 de dezembro de 2012
Conteúdo

1 Recursos 4

2 Hardware 6
2.1 Circuito do TransistorTester. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
2.2 Sugestões para a construção do TransistorTester. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
2,3 programação do microcontrolador. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.4 Solução de problemas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8

3 Instruções para uso 10


3.1 A operação de medição. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
3,2 Selftest e calibração. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
3,3 especiais usando dicas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
3.4 compoments com problemas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
3.5 Medição de PNP e NPN. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
3.6 Medição de JFET e D-transistores MOS. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13

4 Con fi guring o TransistorTester 14

5 Descrição dos processos de medição 19


5.1 Medição de Semicondutores. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
5.1.1 Medição do transistor PNP ou P-Channel-MOSFET. . . . . . . . . . . . 21
5.1.2 Medio da transistor NPN ou N-Channel-MOSFET. . . . . . . . . . . . 23
5.1.3 Medição de diodos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
5.1.4 Resultados das medições erent di ff. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
5.2 Resistência Medição. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
5.2.1 Resistor de medição com 680 Ohm resistores. . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
5.2.2 resistor de medição com 470 resistências kOhm. . . . . . . . . . . . . . . . . 30
5.2.3 Resultados das medições de resistência. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
5.3 Medição dos condensadores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
5.3.1 descarga de capacitores. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
5.3.2 Medição de grandes capacitores. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
5.3.3 Medição de pequenos capacitores. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38
5.3.4 Medição da Equivalent Series Resistance ESR. . . . . . . . . . . . . . 40
5.3.5 Resultados da medição do capacitor. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
5.3.6 calibração automática da medição condensador. . . . . . . . . . . . . . . 47
5.4 Medição da indutância. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
5.4.1 Resultados das medições de indutância. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
5.5 Função Selftest. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
5.5.1 Alguns resultados da função Selftest. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56

6 erros conhecidos e problemas não resolvidos 59

1
7 Peças de software especiais 60

8 para fazer a lista e novas idéias 61

2
Prefácio

basicamente Motive

Cada aquarista sabe o seguinte problema: Você disassemle um transistor fora de uma placa de circuito impresso ou você recebe
um fora de uma caixa de coleta. Se você achar o número de identificação e você já tem uma folha de dados ou você pode obter os
documentos sobre esta parte, está tudo bem. Mas se você não achar nenhum documento, você não tem idéia, que tipo de parte
isso pode ser. Com a abordagem convencional de medição é di ffi culto e demorado para achar o tipo de parte e parâmetros. Pode
ser um NPN, PNP, N ou P-Channel-Mosfet etc. foi a ideia de Markus F. para entregar o trabalho a um microcontrolador AVR.

Como meu trabalho já começou

Meu trabalho com o software do TransistorTester de Markus F. [1] começou, porque eu tive problemas com o meu programador.
Eu tinha comprado uma placa e componentes impressos, mas eu não podia programar na EEPROM do ATmega8 com o driver do
Windows sem mensagens de erro. Por isso tomei a software de Markus F. e mudou todos os acessos a partir da memória
EEPROM de memória fl ash acessos. Ao analisar o software, a fim de economizar memória em outros locais de programa, tive a
ideia, para alterar o resultado da função ReadADC de unidades ADC às unidades milivolt (mV). A resolução mV é necessária para
qualquer saída de valores de tensão. Se ReadADC retorna diretamente a resolução mV, eu posso salvar a conversão para cada
valor de saída. Esta resolução mV pode ser obter, se você primeiro acumular os resultados de 22 leituras ADC. A soma deve ser
multiplicado com dois e dividido por nove. Então nós temos um valor máximo de 1023 · 22 · 2

9
= 5001, o que corresponde perfeito para o querido
mV de resolução de valores de tensão medidos. Então, eu também tinha a esperança de que o aumento da resolução ADC por
oversampling poderia ajudar a melhorar a leitura da tensão da ADC, como descrito na AVR121 [5]. A versão original ReadADC
acumulou o resultado de 20 medições ADC e divide depois em 20, então o resultado é igual a resolução ADC originais. Por este
caminho nunca é um aumento da resolução ADC pode ter lugar. Então, eu tinha que fazer pouco de trabalho para mudar a
ReadADC, mas isso forçou analisar todo o programa e mudança de tudo “se-declarações” no programa, onde os valores de tensão
são consultados. Mas isso foi apenas o começo do meu trabalho!

Mais e mais idéias para fazer a medição mais rápido e preciso foi implementado. Além disso, a gama de de resistência e de
capacidade medições são estendidos. O formato de saída para LCD-Display foi alterada, de modo símbolos são tomados por
diodos, resistores e capacitores em vez de texto. Para mais detalhes dê uma olhada para o trabalho planejado recurso real lista
capítulo 1. e novas idéias são acumulados em To Do List no capítulo 8. A propósito, agora eu posso programar o EEPROM do
ATmega com sistema operacional Linux sem erros.

Neste lugar que eu gostaria de agradecer o criador e software autor Markus Frejek, que permitiu a continuação com seu
trabalho inicial. Além disso, eu gostaria de agradecer aos autores de numerosos entrada para o fórum de discussão, que têm me
ajudar, de encontrar novas tarefas, pontos fracos e erros. Em seguida, gostaria de agradecer Markus Reschke, que me dar a
permissão, a publicar seus alegres versões de software no servidor SVN. Além disso, algumas idéias e parte de Markus software

R. foi integrado na minha própria versão do software, mais uma vez muito obrigado. Tenho que agradecer também Asco B., que desenvolveu
uma nova placa de circuito impresso, para permitir que as reproduções para outros aficionados. Outra agradecer gostaria de enviar para Dirk
W., que lidou com a ordem omnibus para esta placa de circuito impresso. Nunca tive tempo anough para lidar com essas coisas ao mesmo
tempo com a minha developement software, em nenhum momento o estado de mais developement de software teria o mesmo nível.

3
Capítulo 1

Características

1. Funciona com ATmega8, ATmega168 ou ATMega328 microcontroladores.

2. Exibindo os resultados para um personagem 2x16 LCD-Display.

3. Uma operação chave com desligamento de energia automático.

4. Operação da bateria é possível pois a corrente de desligamento é apenas cerca de 20nA.

5. versão de baixo custo é viável sem cristal e auto poder o ff.

6. Detecção automática de NPN e PNP transistores bipolares, N e canal P MOSFET, JFETs, diodos, diodos duplas, tiristores e
Triacs.

7. Detecção automática de pinagem da parte detectada.

8. Medição da corrente de factor de ampli fi cação e base-emissor tensão de limiar dos transistores bipolares.

9. transistores Darlington podem ser identi fi ed pela tensão de limiar e factor de corrente de alta catião ampli fi.

Detecção 10. do diodo de proteção de transistores bipolares e MOSFETs.

11. Medição da tensão de limiar Gate e Portão valor capacidade de MOSFETs.

12. Até duas resistências são medidas e mostradas com símbolos e os valores com até quatro
dígitos decimais na dimensão certa. Todos os símbolos são cercados pelos números de sonda do dispositivo de teste (1-3). Então
potenciômetro também pode ser medido. Se o potenciómetro é ajustado a uma das suas extremidades, o testador pode não di ff er o
pino do meio e o pino terminal.

13. resolução de medição de resistência é agora 0.1Ω, valores até 50 M Ω são detectados.

14. Um capacitor pode ser detectado e medido. Ele é mostrado com o símbolo e valor com até
a quatro dígitos decimais na dimensão certa. O valor pode ser de 25pF (relógio de 8MHz, relógio de 1MHz 50pF @) para
100mF. A resolução pode ser de até 1 pF (@ relógio 8MHz].

15. Para capacitores com um valor de capacidade acima de 2 mF o Resistência Equivalente de série (ESR) é
medida com uma resolução de 0.01Ω e mostrado com dois dígitos decimais significativa fi. Esta funcionalidade só está disponíveis para
ATmega com pelo menos 16K fl memória de cinzas (ATmega168 ou ATmega328).

16. Até dois diodos são mostrados com o símbolo ou símbolo na ordem correta. Além disso
as tensões fl ux são mostrados.

4
17. LED é detectado como díodo, a tensão de fl uxo é muito mais elevado do que o normal. Dois-em-um LEDs também são detectados como dois
diodos.

18. Zener-diodos pode ser detectada, se quebrar inversa para baixo de tensão é inferior a 4,5V. Estes são mostrados como dois diodos,
você pode identificar esta parte apenas pelas tensões. Os números de sondas externas, que circundam os símbolos diodo, são
idênticos neste caso. Você pode identificar o verdadeiro ânodo do diodo apenas por aquele com quebra (limiar) Tensão nas
proximidades 700mV!

19. Se as partes de tipo mais do que três diodos são detectados, o número de diodos funda é mostrada adicionalmente, para a mensagem de
falha. Isto só pode acontecer, se diodos estão associadas a todas as três sondas e pelo menos um é um Z-diodo. Neste caso, você
deve apenas conectar duas sondas e começar a medição novamente, um após o outro.

20. A medição do valor da capacidade de um único diodo na direcção inversa. Transistores bipolares também pode ser analisado, se
você se conectar a base e apenas um dos Collector ou emissor.

21. Apenas uma medição é necessária para achar as conexões de uma ponte recti fi cador.

22. Condensadores com valor abaixo 25pF geralmente não são detectet, mas pode ser medido em conjunto com um diodo ou paralelo de
um condensador em paralelo com pelo menos 25pF. Neste caso, você deve subtrair o valor capacidade da parte ligada paralelo.

23. Em resistências abaixo 2100Ω também a medição da indutância será feito, se o seu ATmega tem pelo menos 16K fl
memória cinzas. O intervalo será de cerca de 0,01 mH a mais do que 20 H,
mas a precisão não é bom. O resultado da medição é mostrado apenas com um único componente ligado.

24. Teste de tempo é cerca de dois segundos, apenas a capacidade de medição ou indutância pode causar um período mais longo.

25. O software pode ser con fi gurado para permitir a série de medições antes de poder irá ser desligado.

26. Desenvolver em função de autoteste com gerador de 50 Hz de frequência opcional para verificar a precisão da freqüência do relógio e esperar
chamadas (somente ATmega168 e ATMega328).

27. instalação de seleccionável para calibrar a resistência interna da porta de saída da porta e a zero o conjunto de medição ff
capacidade com o auto-teste (ATmega168 e apenas ATmega328). Um condensador externo com um valor entre 100 nF e 20 mF
ligada ao pino 1 e pino 3 é necessário para compensar a tensão conjunto ff o do comparador analógico. Isso pode reduzir os
erros de medição de capacitores de até 40 mF. Com o mesmo capacitor uma tensão de correção para a tensão de referência
interna é encontrada para ajustar o ganho para o ADC medição com a referência interna.

Tiristores e Triacs só pode ser detectado, se a corrente de teste é superior à corrente de retenção. Alguns tiristores e Triacs precisa
quanto maior corrente gatilho portão, que este Tester podem entregar. A corrente testando disponível é apenas cerca de 6mA! Observe
que todos os recursos só pode ser usado com microcontrolador com mais memória programa como o ATmega168.

Atenção: Allways ser com certeza irão proporcionar a capacitores de descarga antes de os ligar ao Tester! O testador
pode ser danificado antes de ter o ligou. Há apenas um pouco de proteção nos portos ATMEGA.

causion extra é necessário se você tentar testar os componentes montados em um circuito. Em ambos os casos o equipamento deve
ser desconectado da fonte de energia e você deve ser shure, que nenhuma tensão residual permanece no equipamento.

5
Capítulo 2

ferragens

2.1 Circuito do TransistorTester


O circuito do TransistorTester na figura 2.1 é baseado no circuito de Markus F. lançado em Abb. 1 de relatório
AVR-Transistortester [1]. peças alterado ou movido são marcadas com cor verde, peças opcionais são marcadas com cor
vermelha.
Algumas mudanças são feitas porque o interruptor eletrônico tornar problemas em algumas implementações. Por conseguinte, a
resistência R7 é reduzida para 3,3 k Ω. O condensador C2 é reduzida para 10nF e R8 é movido de modo que a saída PD6 não tenta
mudar o condensador C2 directamente. condensadores adicionais de bloqueio são adicionados e deve ser colocada perto da ligação
de energia do Atmega e perto do regulador de tensão.

Uma vez que a entrada e PC6 (RESET) PD7 são os únicos onde pinos, puxam-se as resistências, onde necessário, um extra de 27 k Ω
resistor é adicionado ao (13 pinos) de entrada PD7. Com esta modi fi cação do software pode desativar todos os tração interna de resistores do
ATmega.
O cristal adicional com seus capacitores 22pF são opcionais adicionados. A precisão de um cristal tem o benefício de medição de
tempo mais estável para obter os valores de capacitores.
Nova versão do software pode usar um interruptor de escala de tensão da ADC. A velocidade de comutação é reduzida pelo
condensador C1 externo no (21) do pino AREF do ATmega. Para evitar a diminuição da velocidade de medição mais do que o
necessário, o valor deste condensador deve ser reduzida para 1nF. A remoção do condensador C1 também é possível. Para
adaptar o software ao circuito real dar uma olhada para a Make fi le opções no con fi guring capítulo 4.

Algumas versões di ff erent de combinações resistor R11 / R12 circula na internet. Eu adaptei meu software para o original de
Markus F. [1] com 10 k Ω e 3,3 k Ω.
A tensão de referência de precisão 2.5V adicional ligado em PC4 pino (ADC4) pode ser utilizado para verificar e calibrar a tensão
VCC, mas não é necessário. Um conector ISP opcional foi adicionado a mais fácil de carga novas versões de software para o testador.

6
VCC
Ubat VCC

10u C10

R15
10k

2k2
R11
R13
ATmega8 / 168/328

10k
1 23
(Reset) TP1
24 TP3
C3 TP2
20 25
9V AVCC
26
100n LT1004
21 27

470k
470k

470k
AREF

R4

R6
R2
28
C1 1N PC5 (ADC5 / SCL) R12 2.5V
22 (ADC4 / SDA)
AGND (ADC3) PC4

680
(ADC2) PC3 3K3

R1

680

680
R3

R5
(ADC1) PC2
PC0 (ADC0) PC1 14
PB0 (ICP)
D1 9 15
VCC
PB6 (XTAL1 / TOSC1) PB1 (OC1A)
R10 22p 16
PB2 (OC1B)
8MHz 17
(MOSI / OC2)
10k
33k 10
18
PB7 (XTAL2 / TOSC2) PC6
T3 (SCK) PB3
22p 19
BC557C (MISO) PB5
R14
3K3
R7

2
(RXD) PB4 2
Ubat 10k + 5V
VCC
27k
T2 (TXD) PD0 3

4
LED1 VCC 7 PD2 (INT0) PD1
Teste BC547 5
C4 PD3 (INT1)
1
GND
IC2 VCC
100n 6
PD4 (XCK / T0)
VEE

LCD 2x16
11
IN OUT T1 R8 GND 8 PD5 (T1)
8
12 D5W3 RS
10u GND PD6 (AIN0)
C5-C9 C2 27k 13
69 7
D0 ER /
100k
R9

10
5
BC547 PD7 (AIN1)
100n C6 100n 10n D2 D1
11
12
D4 D3
VCC

13
ISP VCC D6
14 4
1 2
MISSÔ VCC R14
3 4
SCK MOSI
33-270 16 15 D7
5 6
Reset RESTABELECER GND

Figura 2.1: Nova circuito de TransistorTester

O software pode seguir a uma outra atribuição de pinos de porta D para uma ligação mais simples do visor LCD. O quadro 2.1 a
seguir mostra as atribuições de fi cados modi.

Sinal circuito tira diagrama versão placa de grade


entrada botão PD7 PD0
LCD-RS PD4 PD7
LCD-E PD5 PD5
LCD-D4 PD0 PD4
LCD-D5 PD1 PD3
LCD-D6 PD2 PD2
LCD-D7 PD3 PD1

Tabela 2.1: Mudanças para placa de rede tira

2.2 Sugestões para a construção do TransistorTester

Cada visor LCD com pelo menos 2x16 caracteres e um controlador compatível com HD44780 pode ser usado com o
TransistorTester. Você deve respeitar a corrente necessária para a iluminação, alguns LCD menor necessidade atual do que outros.
Eu já havia tentado tipo displays OLED, mas este tipo causa interferência com medições do ATmega e são não recomendado.
Também o carregamento de caracteres especiais para exibir o símbolo resistor tem causado problemas com o OLED.

As resistências R1 a R6 são críticos para medições e esta 680Ω e 470 k resistores w deve ser resistores tipo de medição
(tolerância de 0,1%) para obter a precisão total. Você deve usar uma tomada de precisão para o microcontrolador ATmega para
permitir a substituição do microcontrolador. O microcontrolador ATmega8, ATmega168 e ATmega328 pode ser usado.
Recomendado é um ATmega168 ou ATmega328, se você quiser usar todos os recursos.

De qualquer forma você deve reunir todas as partes a placa de circuito impresso sem o microcontrolador. Um regulador de queda de baixa tensão
up-to-date como MCP1702-5002 é recomendado como IC2, porque só precisa de 2 mA do

7
corrente de espera e ainda pode entregar 5V, se a sua tensão de entrada é de apenas 5.4V. Mas esta parte não é pino compatível para o bem
conhecido 78L05 com o corpo TO92!
Depois de verificar que todas as peças necessárias estão no lugar correto, você deve primeiro se conectar a bateria ou fonte de
alimentação à placa de circuito impresso, sem visor LCD e microcontrolador. Você deve verificar a tensão nos pinos de alimentação do
terminal microcontrolador e visor LCD durante a chave de teste é pressionado. A tensão deve desaparecer, se você soltar a tecla de
teste. Se a tensão tinha polaridade e valor correto, você deve desligar o poder e montar o microcontrolador com o alinhamento correto.
Tenha cuidado e fazer shure, que todos os pinos do microcontrolador estão nos buracos de soquete. Agora você também pode conectar
o LCD. Verifique se os pinos de alimentação do LCD tem a conexão correta para GND e VCC de sua placa.

Se você é shure que está tudo bem, volte a ligar a alimentação. Se você já tiver programado os ATmega, você pode
pressionar o botão de teste. Ao pressionar a tecla de teste, a luz do LCD de fundo deve ligar. Se você soltar o botão de teste, o
LED deve iluminar fraco. Observe, que o software para o microcontrolador deve ser compilado para o tipo de processador correto.
Um programa para o ATmega8 não é executado em um ATmega168!

2,3 programação do microcontrolador


I liberar o software para o microcontrolador com o código fonte. O developement é feito com Linux sistema operationg (Ubuntu) e é
controlado com uma Marca fi le. Make fi le faz Shure, que o seu software será compilado com a Make antes selecionada fi le
opções. Algumas constelações são pré-compilados com a fonte. Por favor, dê uma olhada para o ReadMe.txt fi le no diretório
Sourcecode / default e para o capítulo 4. O resultado da compilação ter as extensões .hex e .eep. Normalmente, os nomes serão
TransistorTester.hex e TransistorTester.eep. O .hex fi le contém os dados para a memória de programa (cinzas fl) do processador
ATmega. O .eep fi le contém os dados para a memória EEPROM do ATmega. Ambos os dados fi les deve ser carregado para a
memória correta.

Além disso, o estado de funcionamento do processador ATmega deve ser programado com os “fusíveis”. Se você pode usar
minha maquiagem fi le e, adicionalmente, o avrdude programa, é necessário nenhum conhecimento exato dos detalhes sobre os
fusíveis. Você só tem que digitar “fazer fusíveis” se você não tem cristal ou “fazer fusíveis de cristal” se você tiver instalado o cristal de
8MHz a sua placa impressa. Com a série ATmega168 do microcontrolador você também pode usar “fazer fusíveis-crystal-lp” para usar
um crytal com o modo de baixa energia. Nunca escolher o modo de cristal de geração de relógio, se você não tiver instalado o cristal
de 8MHz. Se você não está com certeza irão proporcionar com os fusíveis, deixá-los como padrão definida pelo manufactor e primeira
trazer o testador para a operação neste modo. Talvez o seu programa é executado muito lento, se você usar dados de programas
compilados para a operação de 8MHz, mas você pode corrigir isso mais tarde!

2.4 Solução de problemas

Na maioria dos casos de problemas que você vai perder a saída de texto para o visor LCD. No primeiro você deve verificar se o LED
foi iluminada fraco, se você soltar o botão de teste.

Poder não liga. Se o LED está sem luz eo poder VCC tem tensão 5V correta
durante segurando o botão de teste, o microcontrolador não muda o poder corretamente. O microcontrolador deve manter
o poder, alternando a saída PD6 a 5V, o que geralmente é feito como uma das ações primeiros. Se você segurar a tecla
Test pressionado, o poder está ligado de qualquer maneira. Então você pode verificar o valor da força de VCC e,
adicionalmente, o valor da tensão da saída PD6, se você mantiver a tecla pressionada. Se a tensão VCC tem valor correto
(5V), mas tensão PD6 está abaixo 4V, o microcontrolador não iniciar o programa. Neste caso, você deve

8
verificar se o microcontrolador fl ash foi carregado com dados apropriados para o seu tipo instalado e se ATmega é
corretamente fi con gurado com os fusíveis. Se seus ATmega colocar a saída PD6 a 5V eo poder não ficar se você soltar a
tecla de teste, é mais di ffi cult de encontrar a razão. Primeiro, você pode encurtar o LED e tente novamente. Se o seu Tester
agora começa, o seu LED pode estar com defeito ou montado com a polaridade errada. Se esta não é a razão, o atual fator fi
cação ampli do seu transistor T3 (BC557C) é insu ffi ciente. A corrente para a base da T3 é menor no estado
microcontrolador como na “tecla pressionada” estado.

Nada é legível no visor LCD Verifique a tensão no pino contraste no LCD


display (pino 3). Ajuste para corrigir o valor especificados na folha de dados da tela e otimizar vendo. Se você tem um tipo de
exibição de alta temperatura, você deve fornecer uma tensão de contraste negativo para a operação. Neste caso, você pode
usar o dispositivo ICL 7660 para gerar uma tensão negativa de 5V positivo.

Se não há saída legível no LCD e a luz de fundo é, você deve desligar a energia e verifique todas as quatro dados mais as duas
conexões de sinais de controle. Se todas as conexões estão bem, a única razão que vejo é um momento uncorrect de sinais de
controle. Isso pode ser causado por um controlador de LCD mais lento do que o esperado pelo software ou os ATMEGA software
é executado em velocidade de relógio errado. Verifique para o qual relógio acelerar seus dados de programação foi compilado e
se os fusíveis dos ATmega são conjunto correto para essa velocidade. Você achar o parâmetro relógio no correspondente Faça fi
le.

Algo, mas não tudo é legível no visor LCD Verifique se os dados .eep são carregados para
a memória EEPROM do ATmega. Se todos os dados são carregados corretamente, você deve verificar a velocidade de clock de seus dados de
programação (Adicione fi le) e configurações do processador ATMEGA (fusíveis).

A medição é lento e capacitores são medidos cerca de 8 vezes demasiado pequeno Você corre soft-
utilidades domésticas compilado para o relógio 8MHz na velocidade clock real de 1 MHz. Por favor, defina os fusíveis do ATmega corretamente.

Medição tem valores estranhamente Verifique se o seu programador ainda está ligado ao ISP-plug.
A interface ISP deve ser desligado para a medição. Muitas vezes, a razão de medições erradas é o uso de software
compilado com a opção AUTOSCALE ADC e com a opção NO REF CAP, mas o capacitor no pino AREF ainda tem um
valor de 100nF. montagem errada dos componentes restantes ou solda mole fl uxo pode perturbar as medições também.
Por favor, verifique com a função de auto-teste do seu software TransistorTester se possível. Para mais detalhes, vide
Capítulo 5.5.

inspecionar Caso contrário, sua placa visualmente e verificar os valores de resistência com um ohmímetro. Você pode usar os pinos do
ATmega para esta verificação, por exemplo, para verificar o R1 você pode medir entre o pino 23 e o pino 14. Dê uma olhada no
diagrama de circuito 2.1 para mais detalhes. Não há necessidade de remover o microcontrolador, apenas a bateria ou fonte de
alimentação deve ser removido antes.

9
Capítulo 3

Instruções de uso

3.1 A operação de medição


Usando do Transistor-Tester é simples. Enfim algumas dicas são necessárias. Na maioria dos casos são fios com agrafos ligados às portas de
teste com tampões. Além disso tomadas de corrente de transístores pode ser conectado. Em ambos os casos você pode conectar peças com
três pinos para as três portas de teste em qualquer ordem. Se a sua parte tem apenas dois pinos, você pode conectar este pinos para qualquer
uma das duas portas de teste árvore. Normalmente, a polaridade da parte é irrelevante, você também pode conectar os pinos de capacitores
electrolíticos em qualquer ordem. A medição da capacidade é normalmente feita de uma forma, que o pólo negativo é no orifício de ensaio com
o número mais baixo. Mas, porque a tensão measurment é apenas entre 0,3 V e no máximo

1,3 V, a polaridade Indiferente. Quando a peça está conectado, você não deve tocá-lo durante a medição. Você deve colocá-lo para
baixo para um bloco não-condutor se não for colocado em um soquete. Você também não deve tocar para o isolamento de fios
conectados com as portas de teste, os resultados da medição pode ser um ff ected. Em seguida, você deve pressionar o botão de
arranque. Depois de exibir uma mensagem de início, o resultado da medição deve aparecer após dois segundos. Se capacitores são
medidos, o tempo para resultar pode ser maior correspondente à capacidade.

Como o transistor-tester continua, depende da con fi guração do software.

Modo de medição única Se o testador está con fi gurado para o modo de medição única, o testador
fechar o ff automático depois de exibir o resultado para 10 segundos por um longo tempo de vida de bateria. Durante o tempo de
exibição de uma próxima medição pode ser iniciado pressionando o botão de arranque. Após o fechamento o ff a próxima medição
pode ser iniciado também, é claro. A próxima medida pode ser feito com a mesma ou outra parte.

Modo de medição interminável Um caso especial é a con fi guração sem automático shut o ff.
Este con fi guração normalmente só é utilizado sem os transistores para a função de fechar o ff. Um interruptor o ff externa é
necessária para este caso. O aparelho de teste irá repetir as medições até que a energia está ligado o ff.

Modo multi medição Neste modo o dispositivo de teste não será desligado após a medição primeiro
mas após uma série gurable con fi de medições. No caso normal o testador será desligado após cinco medições sem parte
encontrado. Se qualquer parte se identificou por teste, o aparelho de teste é desligado após dupla de cinco medições (dez). Uma
única medição com parte desconhecido após uma série de medições de partes conhecidas irá reiniciar o contador de
measuerements conhecidos para zero. Também uma única medição de parte conhecida vão redefinir o contador de medições
desconhecidos para zero. Este comportamento pode resultar de uma série quase infinita de medições sem pressionar o botão de
arranque, se as peças são desligados e ligados de maneira periódica. Neste modo, há uma característica especial para o período
de exibição. Se o botão de partida é pressionado apenas de curto para ligar o testador, o resultado da medição única ist mostrado
por 5 segundos. Buf se

10
você pressionar e segurar o botão de arranque até que a mensagem primeira é mostrada, os outros resultados de medição são
mostrados por 14 segundos. A próxima medição pode começou mais cedo, premindo o botão de arranque durante a exibição do
resultado.

3,2 Selftest e calibração


Se o software é con fi gurado com a função de auto-teste, o auto-teste pode ser iniciado ligando todos os três portas de teste juntos e
empurrar o botão de arranque. Neste caso todos os testes documentados no capítulo Selftest 5.5 será feito. A repetição dos testes
pode ser evitado, se o botão de arranque é segurar pressionado. Então você pode ignorar testes desinteressantes rápido e você pode
assistir a testes interresting soltando o botão de arranque.

Se a função AUTO CAL é seleccionado no Marca fi cheiro, não será calibrado a resistência interna da porta de saída e o
conjunto ff a zero o para a medição da capacidade. É importante para a tarefa de calibração, que a ligação entre os três portas de
teste é relased durante número teste
4. Não se deve tocar com qualquer uma das portas de teste ou cabos conectados quando a calibração (depois do ensaio 6) é feito. Mas o
equipamento deve ser o mesmo usado para as medições posteriores. Caso contrário, o conjunto ff a zero o para a medição da capacidade não é
detectado correctamente.
Um capacitor com qualquer capacidade entre 100 nF e 20 mF ligada ao pino 1 e pino 3 é necessário para a última tarefa de
calibração. Para indicar que, um símbolo capacitor é mostrado entre o número de pinos 1 e 3, seguido do texto”¿100nF”. Você deve
conectar o capacitor não antes de este texto é mostrado. Com este condensador da tensão conjunto ff o do comparador analógico irá
ser compensada por uma melhor medição dos valores da capacidade. Além disso, o ganho para medições ADC usando a tensão de
referência interna vai ser ajustada também com o mesmo condensador para obter melhores resultados de medição de resistência, com
a opção AUTOSCALE ADC.

O conjunto ff zero o para a medição ESR será configurado com a opção ESR ZERO em Make fi le. Este conjunto ff zero, o
que é muito alto no caso normal, são programadas por EEprom pelo software. Com cada autoteste do ESR zero, o conjunto ff será
redefinido para esse valor inicial. Após cada medição ESR o resultado será verificado para valor negativo (saída do “ESR = 0?”).
Neste caso, o conjunto ff zero, o será reduzida para obter um resultado zero para medição seguinte ESR. Com este methode o
conjunto ff zero, o pode ser ajustado com um capacitor eletrolítico com valor de alta capacidade e baixo valor ESR. Este aprendeu
ESR ZERO SET o ff permanece ativo após o poder o ff, mas o procedimento ajustar para obter a zero, o conjunto ff de medição
ESR deve ser feito após cada autoteste e, neste caso, você deve sempre repetir a medição algumas vezes.

3.3 Usando referências especiais

Normalmente, o dispositivo de teste mostra a voltagem da bateria com cada arranque. Se a tensão cair abaixo de um limite, um aviso será
mostrado por trás da tensão da bateria. Se você usar uma bateria de 9V recarregável, você deve substituir a bateria o mais rápido possível ou
você deve recarregar. Se utilizar um aparelho de teste com referência precisão 2.5V ligado, a tensão de alimentação medida será mostrado em
linha visor dois para um segundo com “VCC = x.xxV”.

Não pode repetir muitas vezes, que os capacitores devem ser descarregados antes de medir. Caso contrário, o testador pode ser
danificado antes de o botão de partida é pressionado. Se você tentar medir componentes em estado montado, o equipamento deve ser allways
desconectado da fonte de alimentação. Além disso, você deve ser com certeza irão proporcionar, a ausência de tensão residual residir no
equipamento. Cada equipamento eletrônico tem capacitores dentro!

Se você ty para medir valores de resistência pequenas, você deve manter a resistência dos conectores e cabos em mente. A
qualidade ea condição de conectores são importantes, também a resistência do

11
cabos usados ​para medição. O mesmo está em vigor para a medio ESR de condensadores. Com cabo de conexão pobre um valor
ESR de 0.02Ω pode crescer para 0.61Ω.
Você não deve esperar muito boa precisão dos resultados de medição, especialmente a medição ESR e os resultados da medição
de indutância não são muito exata. Você pode achar os resultados da minha série de testes no capítulo 5.

3.4 compoments com problemas


Você deve ter em mente ao interpretar os resultados das medições, que o circuito do TransistorTester é projetado para semicondutores de
sinais pequenos. Na condição normal de medição da corrente de medição só pode chegar a cerca de 6 mA. semicondutores de potência
muitas vezes criar problemas por causa da atual residual com a identi fi cação de um a mensuração do valor capacidade de junção. O
Tester muitas vezes não podem fornecer corrente de ignição suficiente ou corrente segurando para Thyristors de energia ou Triacs.
Assim, um tiristor pode ser detectado como transistor NPN ou diodo. Também é possível que um tiristor ou Triac é detectado como
desconhecido.

Outro problema é a identi fi cação de semicondutores com resistores integrados. Assim, o diodo emissor de base de um transistor
BU508D não pode ser detectada em virtude da resistência ligada em paralelo 42Ω interno. Portanto, a função do transistor não pode ser
testada também. Problema com detecção também é dada com energia Darlington de transistores. Podemos achar muitas vezes base
interna - resistores de emissor, o que torna di ffi cult para identificar o componente com a corrente de medição subdimensionado.

3.5 Medição de PNP e NPN


Para medição normal os três pinos do transistor vai ser connectet em qualquer ordem, para as entradas de medição da
TransistorTester. Depois de empurrar o botão de arranque, o dispositivo de teste mostra na linha 1 do tipo (NPN ou PNP), um
possível protecção integrada diodo do coletor - caminho do emissor e a sequência de pinos. O símbolo díodo é mostrado com a
polaridade correcta. Fila 2 mostra o factor de ampli fi cação de corrente (B = ...) e Base de Dados - tensão de limiar emissor. Está
shouls saber, que o dispositivo de teste pode medir o factor de ampli fi cação com dois circuitos erent di ff, o emissor comum e o
circuito do colector comum (seguidor de emissor).

Com o circuito emissor comum o testador tem apenas dois alternativa para selecionar a corrente de base:

1. Os resultados da resistência 680Ω para uma corrente de base de cerca de 6.1mA. Isto é muito elevado para os transístores de
baixo nível com elevado factor de ampli fi cação, porque a base é saturado. Porque a corrente de colector, também é medido
com um resistor 680Ω, a corrente de colector não pode alcançar o com o factor de ampli fi cação de maior valor. A versão de
Markus F. software tenha medido a tensão de limiar emissor base neste ciruit (Uf = ...).

2. O 470 k resultados resistor ohms a uma corrente de base de apenas 9,2 mA. Isto é muito baixa para uma tran- poder
sistor com baixo fator de cação ampli fi atual. A versão de Markus F. software tem identificado o fator fi cação ampli atual
com este circuito (hFE = ...).

O software do dispositivo de teste figura fora o factor de ampli fi cação de corrente adicionalmente com o circuito do colector comum.
O valor mais elevado de ambos os metodos de medição é relatado. O circuito de colector comum tem a vantagem, de que a corrente de
base é reduzido por realimentação de corrente negativo correspondente ao factor de ampli fi cação. Na maioria dos casos uma melhor
corrente de medição pode ser alcançado com este methode para transistores de potência com o resistor de 680Ω e para Darlington
Transistors com 470 k resistor Ω. A Base de Dados de relatado - tensão de limiar emissor Uf é agora medidos com a mesma

12
actualmente utilizado para a determinação do factor de ampli fi cação de corrente. No entanto, se você quer saber o Base - tensão de
limiar do emissor com uma corrente de medição de cerca de 6mA, você tem que desligar o coletor e para iniciar uma nova medição.
Com esta ligação, a Base de Dados - tensão de limiar emissor a 6 mA é relatado. O valor de capacidade no sentido inverso do do
díodo é também relatada. Claro que você também pode analisar a base - diodo coletor.

3.6 Medição de JFET e transistores MOS-D


Uma vez que a estrutura de tipo JFET é simétrica, a fonte e dreno de transistores esta não pode ser di ff rado. Normalmente um
dos parâmetros deste transistor é a corrente do transistor com a porta no mesmo nível como Fonte. Esta corrente é muitas vezes
maior que a corrente, o que pode ser alcançado com o circuito de medição da TransistorTester com o resistor de 680Ω. Por isso, o
resistor 680Ω está ligado à Fonte. Assim, o Portão de obter com o crescimento da corrente de uma tensão de polarização
negativa. O Tester relata a corrente Fonte deste circuito e, adicionalmente, a tensão de polarização do portão. Assim, vários
modelos podem ser di ff Ered. Os transistores MOS-D (tipo depleção) são medidos com a mesma methode.

13
Capítulo 4

Con fi guring o TransistorTester

O software completo para a TransistorTester está disponível em código fonte. A compilação de módulos é controlada com a Marca fi le. O developement foi feito no sistema

operacional Ubuntu Linux com o conjunto de ferramentas GNU (gcc versão 4.5.3). Deve ser possível a utilização de outros sistemas operacionais Linux, sem problemas. Para

carregar os dados compilados para a memória fl ash ou a memória EEPROM, o avrdude ferramenta (versão 5.11svn) foi feita pelo Make fi le, se você chama de “fazer de

upload”. O avrdude programa está disponível para o sistema operacional Linux e Windows. O gcc compilador C GNU também é levado pelo software estúdio AVR e pela

WinAVR [16], software [17] no sistema operacional Windows. Você pode carregar os dados do programa (.hex e .eep) também com outras ferramentas para o ATmega, mas

apenas a minha Marca fi le versão cuida para carregar os dados corretos para o processador escolheu. cargas avrdude única de dados para o ATmega se a assinatura Bytes

do ATmega conectado é idêntico ao que escolheu. Se você alterar a Make fi le, todo o software será compilado novo, se você chamar um “make” ou “fazer upload de”

comando. O software compilado para uma ATmega8 não é executado em um ATmega168. O software compilado para um ATmega328 não funciona nas ATmega168! A

exeption Fron esta regra é o software compilado para ATmega168, esses dados também podem ser usados ​para um ATmega328 sem alterações. Tenha cuidado, se você

não usar minha maquiagem fi le. O software compilado para um ATmega328 não funciona nas ATmega168! A exeption Fron esta regra é o software compilado para

ATmega168, esses dados também podem ser usados ​para um ATmega328 sem alterações. Tenha cuidado, se você não usar minha maquiagem fi le. O software compilado

para um ATmega328 não funciona nas ATmega168! A exeption Fron esta regra é o software compilado para ATmega168, esses dados também podem ser usados ​para um

ATmega328 sem alterações. Tenha cuidado, se você não usar minha maquiagem fi le.

Com as opções corretas definido, o software é executado no hardware inalterado de Markus F. (partno = M8, opção NO NO AREF PAC e NO
opção DISABLE Pullup). A velocidade do clock também pode ser ajustado para 8 MHz com fusíveis, nenhum cristal é necessário!

As seguintes opções a Make fi le estão disponíveis para con fi gurar o software para o seu Tester.

partno descreve o processador de destino:


M8 = ATmega8
M168 ou M328 m168p = ATmega168 ou
m328p = ATmega328 exemplo: partno =
M168

LÍNGUA UI especi fi ca o idioma preferido


LANG INGLÊS, LANG ALEMÃO, LANG polonês, LANG CHECA, LANG SLOVAK, LANG SLOVENE e LANG holandês é atualmente ex
disponíveis: LÍNGUA UI = LANG INGLÊS

LCD CYRILLIC só é necessário para um visor LCD com conjunto de caracteres cirílico. o μ e char- Ω
Acter não está disponivel com o conjunto de caracteres cirílico. Se você especificar esta opção, ambos os personagens são carregados
para o LCD com software. exemplo: CFLAGS + = -DLCD CIRÍLICO

STRIP GRID BOARD Esta opção adapta o software para uma conexão alterado porta D de tira
grade placas de circuito impresso. Você pode achar os detalhes do hardware capítulo 2.1.

14
COM SELFTEST Se você especificar essa opção, o software irá incluir uma função de auto-teste. Auto teste
será iniciado, se você conectar todos os três sondas juntos e iniciar a medição. exemplo: CFLAGS + =
-DWITH SELFTEST

AUTO CAL O conjunto ff a zero o para a medição da capacidade e a saída da porta valores de resistência será
escrita, adicionalmente ao EEprom com a rotina autoteste. Além disso, a tensão conjunto ff o do comparador analógico (REF C
korr) e a tensão O conjunto ff da tensão de referência interna (REF R korr) vai ser medido automaticamente, se ligar um
condensador com uma capacidade de valor compreendido entre 100 nF e 20 mF para os pinos 1 e 3 após a medição da
capacidade de zero conjunto o ff. Todos os valores encontrados serão escritos na memória EEPROM e irá ser utilizado para
outras medições automaticamente.

exemplo: CFLAGS + = -DAUTO CAL

freqüência 50Hz No final de um autoteste Hz de sinal 50 vai ser gerada na porta 2 e 3 Porto
por até um minuto.
exemplo: CFLAGS + = 50HZ -DFREQUENCY

CAP NÍVEL VAZIO Esta opção define o nível de tensão para condensador descarregado (unidades mV).
Você pode definir o nível de maior valor como 3mV, se o testador não fi descarga nish de capacitores. Neste caso, o
testador termina após mais tempo com a mensagem “Cell”. exemplo: CFLAGS + = -DCAP NÍVEL DE VAZIO = 3

COM REF AUTO especi fi es, que a tensão de referência é lida para obter o fator real para capacidade
medição de valores de baixa capacidade (abaixo de 40 uF).
exemplo: CFLAGS + = -DWITH AUTO REF

REF C korr especi fi ca um conjunto ff o para tensão de referência readed em unidades mV. Isso pode ser usado para
ajustar a medição da capacidade de pequenos capacitores. Um valor de correcção de 10 resultados com os resultados de
medição de cerca de 1 por cento menor. Se a opção AUTO CAL é seleccionado em conjunto com a opção COM SELFTEST,
o REF C korr será um conjunto o ff para a tensão de di ff erência medido do condensador de teste e a tensão de referência
interno. exemplo: CFLAGS + = -DREF C korr = 14

CH korr especi fi ca um valor de correção para a medição de valores grandes capacitores. Um valor de
10 os resultados para os resultados de medição de 1 por cento menor.
exemplo: CFLAGS + = -DC H korr = 10

AUTOSCALE ADC permite a comutação automática escala da ADC, quer VCC ou interna
referência. referência interna dá uma escala de 2.56V para ATmega8 e uma escala 1.1V para outros processadores.

exemplo: CFLAGS + = -DAUTOSCALE ADC

ESR ZERO define um conjunto ff a zero o para as medições de ESR. Este conjunto ff zero, o será subtraído de todos
medições de ESR. Se os resultados da medição ESR para um valor negativo, o texto “ESR = 0?” É exibido e o conjunto ff
zero o na memória EEPROM serão corrigidos. Este corrigido a zero o conjunto ss vai ser utilizado para outras medições até
que seja resetted ao valor inicial por autoteste. Se seus valores ESR medidos sempre muito alto, você deve selecionar um
maior valor ESR ZERO. Exemplo: CFLAGS + = -DESR ZERO = 29

NO CAP AREF diz o seu Software, que você não tem condensador (100 nF) instalada no pino AREF
(Pino 21). Isso permite que um tempo de espera mais curto para a comutação escala AUTOSCALE ADC da ADC. A 1 nF condensador
foi testado neste modo sem erros detectados. Figura 4.1a e 4.1b mostrar o tempo de comutação com um 1 nF capacitor. Como
você pode ver a mudança de 5V a 1.1V

15
é muito mais lento do que a troca de volta para 5V. Se você ainda tiver instalado a 100 nF, tempo de comutação será sobre fator de
100 já!
exemplo: CFLAGS + = -DNO AREF PAC

REF R korr especi fi ca um conjunto ff o para a tensão de ADC-referência interna em unidades mV. Com isso
O ff ff definir um erência di alternando de VCC baseado referência ADC para referência ADC interno para a medição de resistência
pode ser ajustado. Se você selecionar a opção AUTO CAL da seção de auto-teste, este valor é apenas uma adicionalmente o ff
definido para o erência tensão di ff encontrado na função AUTO CAL.

exemplo: CFLAGS + = -DREF R korr = 10

OP MHZ diz o seu software no qual Frequência do Relógio, em MHz sua Tester irá operar. o
software é testado por apenas 1 MHz, e, adicionalmente, 8MHz 16MHz. A operação de 8MHz é recomendado para uma
melhor resolução de capacidade e de medição de indutância. exemplo: OP MHZ = 8

EEPROM USE especi fi es se você deseja localizar fi x texto e tabelas em EEPROM. De outra forma
a memória fl ash é usado. Recomendado é usar o EEprom (conjunto de opções). exemplo: CFLAGS
+ = -DUSE EEPROM

EBC STYLE especi fi es, que a saída do layout do transistor pino é feito com o formato “EBC = ...” ou
“GDS = ...”. Esta forma de saída economizar memória programa para o ATmega. Sem esta opção a disposição é mostrada
com o formato de “123 = ...”, onde cada ponto representa um E (emissor), B (base) ou C (Collector). Para transistores FET
cada ponto pode ser uma G (gate), D (dreno) ou S (Fonte).

Exemplo: CFLAGS + = Styl EBC

pullup DISABLE es fi cações, que você não precisa as resistências internas de pull-up. Você deve ter
instalado um resistor de pull-up externa no pino 13 (PD7) para VCC, se você usar esta opção. Esta opção impede uma possível
em influência das resistências pull-up nos portos de medição (Porto B e Port C). exemplo: CFLAGS + = INACTIVO -DPULLUP

ANZ MESS esta opção especí fi ca, quantas vezes um valor de ADC é lido e acumulada. Você pode
selecionar qualquer valor entre 5 e 200 para a construção de valor médio de uma medição ADC. Valores mais altos resultam em uma
melhor precisão, mas o tempo de medição mais longo. Uma medição ADC com 44 valores leva cerca de 5 ms.

exemplo: CFLAGS + = -DANZ CONFUSÃO = 25

DESLIGAR Esta opção permite que a função automática ff poder o. Se você não especificar essa
opção, as medições são feitas em um loop infinitamente até que a energia é desligada com um interruptor ON / OFF. Se você
tem o testador sem os transistores ff poder S, você pode desmarcar o POWER OFF opção.

Se você não tiver selecionado a opção DESLIGAR com os transistores instalados, você também pode desligar o testador.
Durante a exibição da medição resultar você deve segurar a tecla start pressionado por alguns segundos até que a
mensagem “Timeout” é exibida. Se você, em seguida, solte a tecla, o testador será fechado o ff.

Você também pode especificar, depois de quantos medições sem uma parte fundou o testador será desligado. O testador
também irá desligar a energia após o dobro medições são feitas em sequência, sem uma única pesquisa parte falhou. Se
você esqueceu de unconnect uma parte teste, descarga total de bateria é evitado. Especifique a opção com uma forma
como CFLAGS
+ = -DPOWER OFF = 5 para uma fechada o ff após cinco medições consecutivas sem parte encontrado. Também 10
medições com qualquer parte fundada um após o outro será desligado. Só se houver

16
sequência é interrompida por outro tipo, a medição continua. O resultado de medição de estadia no visor durante 14
segundos para a única medição, para o tempo de exibição versão medição múltipla é reduzido para 5 segundos (em
conjunto con fi G.H). Se a chave de ignição é pressionado mais tempo no poder no tempo, o tempo de exibição também é
14 segundos para a medição múltipla. O valor máximo é de 255 (CFLAGS + = -DPOWER OFF = 255). exemplo 1:
CFLAGS + = -DPOWER OFF = 5 Exemplo 2: CFLAGS + = -DPOWER OFF

BAT VERIFICAÇÃO permite a verificar a tensão da bateria. Se você não selecionar esta opção, a versão
número de software é a saída para o LCD em seu lugar. Esta opção é útil para a bateria alimentado versão testador de
lembrar para a troca de bateria. exemplo: CFLAGS + = -DBAT VERIFICAÇÃO

BASTÃO FORA permite a saída de tensão de bateria no LCD (se BAT de seleção está marcada). Se o seu 9V
de alimentação tem um diodo instalado, utilizar o MTD OUT = 600 forma a especificar a tensão de limiar (mV) do seu diodo
para ajustar o valor de saída. Além disso, a perda de tensão de transistor T3 pode ser respeitado com esta opção. limiar não
um ff ect os níveis de controle da tensão (BAT pobres). exemplo 1: CFLAGS + = -DBAT OUT = 300 Exemplo 2: CFLAGS + =
-DBAT FORA

BAT POBRES define o fraco nível de tensão da bateria para o especi fi ed 100mV valor (10/01 volt). o
nível de aviso de tensão da bateria é sempre 1V superior ao nível pobre especi fi cado. Definir o baixo nível de baixos
valores, tais como 5.4V não é recomendado para baterias 9V recarregável, porque isso aumenta o risco de danos à bateria
pela razão da descarga profunda! Se você usar uma bateria de 9V recarregável, é recomendado o uso de um pronto para
usar tipo, por causa da baixa auto-descarga.

exemplo para regulador de baixa queda (5.4V): CFLAGS + = -DBAT POBRES = 54 exemplo para 7,805
tipo de regulador (6.4V): CFLAGS + = -DBAT POBRES = 64

PROGRAMADOR selecionar o tipo de programador para o programa de interface de avrdude. O se- correta
lection desta opção é necessária, se você usar o “fazer de upload” ou “fazer fusíveis” Call of this Fazer fi le. Para mais
informações, por favor veja as páginas do manual de documentação avrdude e em linha [12].

exemplo: programador = avrisp2

PORTA selecione a porta onde avrdude pode chegar ao seu microcontrolador (atmega). Para mais infor-
mação por favor veja as páginas do manual de avrdude. exemplo:
PORT = usb

17
(A) de 5V a 1.1V (B) a partir de 1.1V a 5V

Figura 4.1: Aref comutação com um 1 nF Capacitor

Os parâmetros adicionais podem ser definidas no fi les transistortester.h e con fi G.H. O fi cheiro transistortester.h contém as
variáveis ​globais e define a porta constelação / pino e os valores de resistência usado para a medição. O parâmetro fi le con fi G.H especi
fi es de tipos de processadores di ff erent, tempos de espera e a frequência de relógio do ADC. Normalmente não há nenhuma razão
para alterar esses valores.

18
capítulo 5

Descrição dos processos de medição

O esquemática simplificada de um pino de entrada / saída do porta-ATmega é mostrado na figura 5.1. O interruptor PUD isola todos
“puxar” as resistências do ATmega. A saída de um pino pode ser comutada com o ff o interruptor DD. A entrada pode operar
independentemente do estado do DD switch. O interruptor PORT geralmente definido o nível de saída, mas também muda o pull up
resistor. Porque o Interruptores PORT e DD não pode ser alterada ao mesmo tempo, mas apenas uma após a outra, as resistências
pull up pode perturbar as medições. Portanto, eu prefiro para desativar os resistores pull up com o interruptor PUD. É claro que todos
os interruptores são do tipo eletrônico e as resistências de 19Ω e 22Ω são valores aproximados.

VCC

PUD

Puxar para cima

a ADC Mux, Port somente C


22

porto Pin
DD
19

PIN
PORTA

Figura 5.1: diagrama simplificado de cada pino de porta ATmega

Cada uma das três sondas terminais da sua Tester transistor é construir com três pinos de porta ATMEGA, que é mostrado
como diagrama ed simplificada para o TP2 sonda do terminal (meio de três pinos) na figura 5.2.

VCC
19

22

19

22

19

22

GND

ADCMux

PC1 PB2 PB3


470k
680

R3

R4

TP2

Figura 5.2: circuito simplificado de cada sonda terminal de medição TP

19
Cada pino de teste (porta de medição) pode ser usado como entrada digital ou analógico. Esta capacidade de medição é
independente da utilização da porta como saída. Cada pino de teste pode ser comutado para a saída e neste modo que possa ser
directamente ligado ao GND (0V) ou SCR (5V), ou pode ser ligado através de uma resistência ou um 680Ω 470 k Ω resistor para GND
ou VCC. A Tabela 5.1 mostra todas as combinações possíveis de medições. Aviso, que o estado positivo pode ser ligado directamente
ao VCC (Porta C) ou pode ser ligado com o resistor de 680Ω ao VCC (Porta B). A mesma tem a possibilidade estado negativo de
sonda de terminal para o lado GND. O estado de teste significa, que a sonda pode ser aberta (de entrada), ligado com o 470 k resistor Ω
ao VCC ou GND, ou que a sonda pode ser ligada com o resistor de 680Ω ao VCC ou GND.

pino estado um estado pino pino 2 3 estado


1. positivo negativo teste

2. positivo teste negativo


3. teste negativo positivo
4. teste positivo negativo
5. negativo teste positivo
6. negativo positivo teste

Tabela 5.1: todas as combinações de medição

Se a medição capacitor é con fi gurado para o testador, o testador irá tentar descarregar os condensadores ligados em todos os
pinos de teste. Se descarga irá falhar, isso significa que a tensão restante é alta, a descarga será abortado após cerca de 12
segundos com o meassage “Cell”. Isso também pode ser acontecer, se não capacitor é conectado a qualquer pino de teste. A causa
para isso pode ser, se a tensão de corte ff-O é escolhida para baixo para este ATmega. Você pode escolher uma maior tensão com a
Make fi le opção nível máximo VAZIO.

20
5.1 Medição de Semicondutores
Uma ponta de sonda é assumido como sendo o lado negativo do componente. Outro pino é assumido como sendo o lado positivo do
componente. Para um teste em primeiro lugar, os componentes laterais positivo está directamente ligado a VCC. O lado negativo está
ligado com a resistência 680Ω ao GND. A sonda de teste (terceiro pino, também chamado TriStatePin) é primeiro ligado com o
resistor de 680Ω durante 10 ms a GND. A tensão do pino sonda negativa é lido, durante o TriStatePin está ligado a entrada (alta
impedância). Supõe-se que a parte de teste pode ser um MOSFET N-canal e a porta deve ser descarregada. Se a voltagem estiver
acima readed 976mV, o próximo teste assumir, que a parte testada também pode ser um MOSFET P-Channel e por isso um
interruptor de 10ms do TriStatePin com o resistor de 680Ω para o lado da VCC é feito. Também para este caso, a tensão no pino de
sonda negativa é lida com um TriStatePin sem corrente. Se a tensão do pino negativo é maior do que 92mV, são efectuados ensaios
adicionais para di ff er N-Canal JFET ou MOSFET D-(esgotamento) e P-Channel JFET ou MOSFET-P. As versões MOSFET pode ser
di ff rado pela falta de corrente de porta em qualquer estado do TriStatePin.

Para obter os parâmetros dos tipos de depleção, eles serão medidos com um resistor 680Ω no pino de fonte, como mostrado
na figura 5.3. Esta medição será feita em vez do normalmente medição da corrente com o hold portão no nível de fonte, porque o Eu
DSS corrente do transistor FET pode muitas vezes não ser alcançado com a elevada resistência relativa do resistor 680Ω.

VCC
22

19
19

19

22

19

22

19

22

22

19

22
GND

ADCMux

PC0 PB0 PB1 PC2 ADCMux PB4 PB5


470k

470k
680
680

R1

R2

R5

R6
TP1 SD TP3

VCC G
19

22

22

19

22
19

GND

ADCMux

PC1 PB2 PB3


470k
680

R4
R3

TP2

Figura 5.3: A medição da tensão de porta-fonte e a corrente de um transistor Fonte N-JFET

Se o componente tem nenhuma corrente entre a sonda e sonda positivo negativo sem sinal no TristatePin, os testes seguintes
são especi fi cados na próxima secção 5.1.1. Se a corrente foi detectado, o próximo teste é descrito na secção 5.1.3 diodo.

5.1.1 Medição do transistor PNP ou P-Channel-MOSFET


Primeiro o factor de ampli fi cação de corrente é medido com o colector comum para o transistor PNP assumida. A situação de
medição é mostrado na figura 5.4. Se a tensão medida na Base ( UB)

21
é acima 9mV com o resistor de 680Ω, HFE é construir quanto hFE = UE - UB UB. a tensão UE é o
di ff erência do emissor-tensão VCC. O erência di ff entre o 22Ω e 19Ω resistências não são respeitados. Se o UB tensão é inferior
a 10 mV, a medição é feita com o 470 k resistor Ω na base. Neste caso, o fator fi cação ampli atual é construir como hFE = UE · 470000

UB · ( 680 + 22).

VCC
19

22
22

19

22

19

22

19

22

19

19

22
GND

ADCMux

PC0 PB0 PB1 PC2 ADCMux PB4 PB5


470k

470k
680
680

R1

R2

R5

R6
TP1 TP3

VCC
19
19

22

22

19

22

GND

O estado interruptor verde é usado se


Tensão no PC1 é <10 mV!
ADCMux

PC1 PB2 PB3


470k
680

R3

R4

TP2

Figura 5.4: medição hFE do transistor PNP com o circuito colector comum

Em seguida, os testes com emissor comum são feitas para o transistor PNP assumida. O lado positivo do componente é
agora directo ligado ao VCC, o resistor 680Ω lado negativo está ligado ao GND, como mostrado na Figura 5.5. Se o lado negativo
da componente tem uma tensão de 3.4V acima, quando o resistor 680Ω lado de base foi ligado ao GND, que deve ser um
transistor PNP ou um FET P-Channel. Isso pode ser fácil achar fora analisando a tensão base. Se a tensão de base é maior 0.97V,
ele deve ser um PNP. Para medir o fator fi cação ampli atual, o 470 k Ω resistor é tomado como resistência de base, em vez do
680Ω. O fator fi cação ampli atual é construir pelo hFE = UC · 470000

UB · ( 680 + 19)
. O factor de ampli fi cação de corrente maior é assumido como sendo a direita um, este ou a uma encontrada com o circuito de
colector comum. Os valores encontrados para o PNP só são válidos, se um segundo conjunto de medidas é feito. A fim de evitar que
a detecção da PNP no modo inverso (colector e o emissor são trocados), a medição com a corrente mais elevada ampli fi cação é
tomado como a uma certa. Se a tensão de base é menor do que 0.97V, ele deve ser um PE-MOS. Neste caso, a tensão limite da
porta é medida pela mudança da porta lentamente com o 470 k Ω resistor cima e para baixo, à espera de uma mudança do sinal de
entrada digital do lado do dreno e, em seguida, ler a tensão do pino de portão.

22
VCC

19

22
19

22

22

19

22

19

19

22

19

22
GND

ADCMux ADCMux

PC0 PB0 PB1 PC2 PB4 PB5

470k

470k
680

680
R1

R2

R5

R6
TP1 TP3

VCC
19
19

22

22

19

22
GND
O estado preto de interruptores é utilizado para o teste!

usado para a corrente

factor de amplificação hFE. O estado verde é


ADCMux

PC1 PB2 PB3


470k
680

R4
R3

TP2

Figura 5.5: teste e medição hFE do transistor PNP com o circuito emissor comum

5.1.2 Medio da transistor NPN ou N-Channel-MOSFET


A medição de NPN-Transistores começar da mesma maneira como PNP-Transistores com medição do fator fi cação ampli corrente
no circuito coletor comum. Em primeiro lugar a medição é feita com uma resistência de base de 680Ω ligado a VCC. Se a tensão no
ist resistor de base muito baixo, a 470 k Ω resistor é tomado em seu lugar. Medição continua então com o circuito emissor comum,
como mostrado na figura 5.6.

23
VCC

19

22
19

22

22

19

22

19

19

19

22
GND

22
ADCMux

PC0 PB0 PB1 PC2 ADCMux PB4 PB5

470k

470k
680
680

R1

R2

R5

R6
TP1 TP3

VCC
22
19

22

19

19

22
GND
O estado preto de interruptores é utilizado para o teste!

usado para a corrente

factor de amplificação hFE. O estado verde é


ADCMux

PC1 PB2 PB3


470k
680

R3

R4

TP2

Figura 5.6: teste e medição HFE em transistor NPN com circuito emissor comum

Se a tensão de colector afunda abaixo 1.6V, quando o resistor 680Ω base está ligada a VCC, ist deve ser um NPN, N-Channel
MOSFET ou tiristor / Triac. Com dois testes simples um tiristor ou Triac podem ser identificados. Se o resistor pino portão está
ligado ao GND para 10ms e que foi feita sem corrente, a corrente no ânodo deve ficar. Se, em seguida, a resistência do ânodo é
curto ligado ao GND e ligada ao VCC, o tiristor não deve provocar novamente (sem corrente). Tenha em mente, que Thyristors
única baixa potência pode ser testada, porque a corrente holding do testador pode atingir apenas 6mA. Se ambos os testes atestar
um tiristor, mais testes com polaridade inversa são feitos para excluir ou confirmam um Triac.

Se nem Tiristor nem Triac poderia ser confirmados, ele pode ser um NPN ou N-Channel E-MOSFET. A tensão de base de um
transistor NPN será perto da tensão do emissor, de modo que este tipo podem ser identificados de infinitamente. A corrente de factor de
ampli fi cação no circuito de emissor comum é construir pela
hFE = ( V CC( -VUC) · 470000
CC - UB) · ( 680 + 22). Se a tensão da base ou da porta melhor mostra, que existe pouca ou nenhuma corrente, parte será um

N-Canal E-MOS (Enhancement MOSFET). Neste caso, a tensão de limiar é medido por comutação da porta lentamente com o 470 k
Ω resistência ao VCC e GND, esperando por uma mudança do sinal de entrada digital do lado do dreno e, em seguida, ler a
tensão do pino de porta. Esta medição é feita onze vezes com resultados ADC acumuladas, como mostrado na Figura 5.7. O
resultado é multiplicado por quatro e dividido por 9 para obter a tensão na resolução mV.

24
Figura 5.7: medição de tensão de limiar de N-Channel-MOSFET

5.1.3 Medio da Diodos


Se a corrente é detectada com os pré-testes, o comportamento da peça irá ser verificado para ser um diodo. A tensão de fl uxo
com o resistor de 680Ω deve estar entre 0.15V e 4.64V. A tensão de fl uxo com o 680Ω deve ser maior do que 1,125 vezes o fl uxo
de tensão com o 470 k resistor Ω e oito vezes a tensão de fl uxo com o 470 k Ω deve ser maior do que a tensão de fl uxo com o
resistor de 680Ω. Espero que este comportamento é sempre um diodo.

5.1.4 Resultados das medições erent di ff


Os três tabelas seguintes mostra os resultados de sondas de teste erent di ff com um processador ATmega8 e duas versões de um
processador ATmega168 software di ff erent. A medição do valor de capacidade inverso para o MBR4045PT dupla diodo só é
possível com arrefecimento. Isto irá ser causada por corrente residual elevada deste díodo 40A. Além disso, o valor da capacidade
do diodo emissor de base inversa do transistor AC128 germânio só pode ser medido com arrefecimento.

25
Diodo Mega8 @ 8MHz Mega168 @ 8MHz Mega168 @ 8MHz
Tipo 1E9307 assinatura 1E9406 assinatura 1E9406 assinatura
COM REF AUTO COM AUTO REF
AUTOSCALE ADC
1N4148 Diode, 715mV, 1pF Diode, 721mV, 0pF Diode, 714mV, 0pF
1N4150 Diode, 665mV, 1pF Diode, 672mV, 1pF Diode, 667mV, 0pF
BA157 Diode, 619mV, 19pF Diode, 625V, 20pF Diode, 620mV, 18pF
BY398 Diode, 538mV, 16PF Diode, 541mV, 16PF Diode, 541mV, 15pF
1N4007 Diode, 650mV, 13pF Diode, 660mV, 13pF Diode, 655mV, 10pF
LED verde Diodo, 1.96V, 5pF Diodo, 1.95V, 6pF Diodo, 1.95V, 4PF
ZPD2,7 2xDi, 743mV, 2.53V 2xDi, 743mV, 2.53V 2xDi, 736mV, 2.52V
BU508A B + E diodo, 609mV, 5.15nF diodo, 614mV, 5.30nF diodo, 609mV, 5.28nF BU508A B + C diodo, 582mV,
256pF diodo, 589mV, 264pF diodo, 587mV, 260pF AC128 B + E
Diode, 272mV, 0pF Diode, 277mV, 0pF Diode, 273mV, 0pF
AC128 B + E arrefecido Diode, 349mV, 140pF
MBR20100CT 2xDi, 337mV, 337mV 2xDi, 341mV, 341mV 2xDi, 340mV, 338mV MBR20100CT diodo, 337mV, 345pF
diodo, 341mV, 360pF diodo, 338mV, 354pF MBR4045PT diodo, 243mV, 1.80nF diodo, 239mV, 1.98nF diodo,
235mV, 1,95 nF arrefecida SF38G

Diode, 519mV, 107pF Diode, 523mV, 108pF Diode, 521mV, 108pF

Quadro 5.2: resultados da medição do teste de diodo

Transistor Mega8 @ 8MHz Mega168 @ 8MHz Mega168 @ 8MHz


Tipo 1E9307 assinatura 1E9406 assinatura 1E9406 assinatura
COM REF AUTO COM AUTO REF
AUTOSCALE ADC
BU508A NPN, B = 9, 602mV NPN, B = 9, 599mV NPN, B = 9, 599mV
2N3055 NPN, B = 20, 553mV NPN, B = 21, 551mV NPN, B = 21, 551mV
BC639 NPN, B = 180, 628mV NPN, B = 215, 633mV NPN, B = 215, 630mV
BC640 PNP, B = 216, 635mV PNP, B = 226, 639mV PNP, B = 180, 604mV
BC517 NPN, B = 26.1k, 1.20V NPN, B = 25.7k, 1.21V NPN, B = 26.2k, 1.22V
BC516 PNP, B = 77.6k, 1.20V PNP, B = 78.7k, 1.19V PNP, B = 76.3k, 1.19V
BC546B NPN, B = 381, 659mV NPN, B = 428, 686mV NPN, B = 428, 687mV
BC556B PNP, B = 285, 689mV PNP, B = 426, 696mV PNP, B = 258, 667mV
AC128 (Ge.) PNP, B = 63, 190mV PNP, B = 63, 190mV PNP, B = 59, 189mV BRY55 / 200
tiristor tiristor tiristor
MAC97A6 triac triac triac

Quadro 5.3: resultados da medição do teste de transístor bipolar

Alguns resultados são di ff erent com os resultados anteriores do software de Markus Frejek. Por exemplo, um transistor
BC517 Darlington foi medido pelo software mais velha com um hFE de 797. e uma tensão de base emissor de 1438mV. Isto irá ser
causada pela medição adicional da corrente de ampli fi cação com circuito de colector comum. A tensão de base do emissor é
medido pela versão mais antiga como teste de diodo separado com 1438mV. Agora, a tensão de base do emissor é medido com o
estado de teste ampli fi cação de corrente (1.20V).

26
FET Mega8 @ 8MHz Mega168 @ 8MHz Mega168 @ 8MHz
Tipo 1E9307 assinatura 1E9406 assinatura 1E9406 assinatura
COM REF AUTO COM AUTO REF
AUTOSCALE ADC
ZVNL120A NE-MOS, D, 1,5 V NE-MOS, D, 1.5V NE-MOS, D, 1.5V
142pF 146pF 141pF
IRF530N NE-MOS, D, 3.6V NE-MOS, D, 3.6V NE-MOS, D, 3.6V
1.55nF 1.56nF 1.55nF
BS170 NE-MOS, D, 2.6V NE-MOS, D, 2.6V NE-MOS, D, 2.6V
71pF 73pF 70pF
IRL3803 NE-MOS, D, 2.3V NE-MOS, D, 2.3V NE-MOS, D, 2.3V
9.82nF 9.82nF 9.79nF
IRFU120N NE-MOS, D, 4.2V NE-MOS, D, 4.2V NE-MOS, D, 4.2V
918pF 924pF 918pF
BUZ71A NE-MOS, D, 3.2V NE-MOS, D, 3.2V NE-MOS, D, 3.2V
710pF 718pF 712pF
ZVP2106A PE-MOS, D, 3.2V PE-MOS, D, 3.2V PE-MOS, D, 3.2V
117pF 121pF 116pF
IRF5305 PE-MOS, D, 3.6V PE-MOS, D, 3.6V PE-MOS, D, 3.6V
2.23nF 2.25nF 2.24nF
BS250 PE-MOS, D, 2.6V PE-MOS, D, 2.6V PE-MOS, D, 2.6V
46pF 48pF 46pF
IRFU9024 PE-MOS, D, 3.5V PE-MOS, D, 3.6V PE-MOS, D, 3.5V
954pF 954pF 951pF
J310 N-JFET N-JFET N-JFET
Idss = 24-60mA I = 3.1mA Vgs = 2.2VI = 3.1mA Vgs = 2.2VI = 3.1mA Vgs = BF256C 2.2V
N-JFET N-JFET N-JFET
Idss = 11-18mA I = 3.3mA Vgs = 2.3VI = 3.4mA Vgs = 2.3VI = 3.3mA Vgs = BF245A 2.3V
N-JFET N-JFET N-JFET
Idss = 2-6mA I = 1.1mA Vgs = .75V ​I = 1.1mA Vgs = 0.74VI = 1.1mA Vgs = 0.75V
BF245B N-JFET N-JFET N-JFET
Idss = 6-15mA I = 2.4mA Vgs = 1.7VI = 2,5 mA Vgs = 1.7VI = 2.4mA Vgs = BF245C 1.7V
N-JFET N-JFET N-JFET
Idss = 12-25mA I = 3.8mA Vgs = 2.7VI = 3.9mA Vgs = 2.7VI = 3.8mA Vgs = 2.7V

Quadro 5.4: resultados de medição de teste transistor MOS

27
5.2 Medição do resistor
Cada resistência é medida com quatro tipos di ff erent de medição em um sentido da corrente. O mesmo ist resistor também
testadas com os mesmos quatro tipos de medição no outro sentido da corrente. A medição na direcção oposta é utilizado apenas
para identificar um resistor. Se incompatibilidade entre as duas medições é muito grande, não é um resistor.

5.2.1 Resistor de medição com 680 Ohm resistores


A medição de um resistor desconhecido Rx é feito de duas maneiras com a construção em resistências de 680Ω de precisão. O diagrama
desse medições para o pino de teste 1 (TP1) e teste pino 3 (TP3) são simpli fi cados mostrado na figura 5.8 e figura 5.9 como um exemplo
das seis choises de combinações de sonda.

VCC

22
22

19

22

19

22

19

22

19

19

22
19

GND

ADCMux

PC0 PB0 PB1 PC2 ADCMux PB4 PB5

Rx
470k

470k
680
680

R1

R2

R5

R6
TP1 TP3

Figura 5.8: Medição do tipo 1 com 680Ω

VCC
19
19

22

22

19

22

19

19

22

19

22
22

GND

ADCMux ADCMux

PC0 PB0 PB1 PC2 PB4 PB5

Rx
470k

470k
680

680
R1

R2

R5

R6

TP1 TP3

Figura 5.9: Medição do tipo 2 com 680Ω

No lado esquerdo teste pino 1 e é mostrado no lado direito pode ver pino teste 3. Em ambos os diagramas que vê, que o terminal 3
(lado direito) está ligado a VCC, o lado esquerdo está ligado ao GND. A direcção de fl uxo de corrente através da resistência bobinada
Rx é hair o mesmo. Os valores de portas comutado para a saída são mostrados com cor vermelha, os valores de portas usadas como
entrada são mostrados na cor azul, as portas são inactivos preto. Em ambos os tipos de medição mostrados a corrente devem ter o
mesmo valor, porque a soma dos valores de resistência entre VCC e GND é idêntica (se a configuração na resistências são idênticos).
Normalmente, a tensão de medição não é a mesma, porque a sequência de resistências mudou.

28
O símbolo V dentro do círculo marca as portas usadas para medição de tensão. Em ambos os con fi gurações o valor da resistência bobinada
Rx pode ser calculado com os valores de resistência conhecidos e as tensões medidas, se a relação de resistência bobinada Rx e o 680Ω não é
demasiado elevada. O gradiente teórico de tensão é mostrada na figura 5.10, em que os valores de resistência são apresentados na escala
logarítmica.

5000

4000

3000
tensão / mV

2000

1000 PC2 Ohm, tipo 1 PC0, tipo 2

0
100m 1 10 100 1k 10k 100k
resistência bobinada Rx /

Figura 5.10: Tensões de Tipo 1 e Tipo 2 com as medições 680Ω

O gráfico de tipo de medição 1 é mostrado na figura 5.11a com escala ampliada para a faixa de resistência inferior. Você pode
ver, que você precisa de uma resolução ADC melhor do que a resolução padrão 4.9mV na referência 5V ADC, para obter o valor
resistor direito de tensão medida abaixo 2Ω. Há apenas três etapas ADC de 0Ω para 2Ω. A comutação de gama com a opção
AUTOSCALE ADC pode ajudar neste caso. A mesma gama ampliada de tipo de medição 2 mostra a 5.11b figura. Infelizmente,
não podemos usar a resolução ADC mais elevada para o tipo de medição 2 neste intervalo, porque a tensão é muito alta e os
nossos ATmega não têm entrada erential ADC di ff. Medidas com as 680Ω resistores são tomadas para a construção do resultado
das medições de até 20 k Ω (Tensão de medição tipo 2 será abaixo 169mV).

Para uma maior resistência valores das medições com o 470 k Ê resistências são usadas. O valor médio de ambas as
medições é tomado como o valor do resistor exibido, se todos os testes atesta, que não é de outro tipo de parte. Se a função
AUTOSCALE ADC é seleccionado e uma das voltagens de ambos os tipos de medição é abaixo 0.98V, uma média ponderada é
construir com factor de quatro para este valor. O outro valor é ponderado com um factor de um. Isto é feito para respeitar o fator de
quatro melhor resolução desta medição. Factor de quatro só é tomada para os processadores ATmega168 e ATMega328, para o
ATmega8 dois é tomado como factor de ponderação, se a tensão for inferior a 0.98V, porque a tensão de referência para o ADC é
aqui 2.54V em vez de 1.1V. Se o ATmega tem mais do que 8KByte memória fl cinzas, a medição de tensão nas resistências será
atrasado até que não sejam detectados mais alterações ou o limite de tempo for atingido.

29
200 4850
PC2, tipo 1 PC0, tipo 2
195 4845
190 4840
185 4835
180 4830
175 4825
170 4820
tensão / mV

tensão / mV
165 4815
160 4810
155 4805
150 4800
130 4795
145 4790
140 4785
135 4780
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
resistência bobinada Rx / Ohm resistência bobinada Rx / Ohm

(A) TIPO uma medição (B) medição do tipo 2

A Figura 5.11: Cut-out de tensão teórica de 0Ω para 10Ω

5.2.2 resistor de medição com 470 kOhm resistências


O próximo fi guras 5.12 e 5.13 mostra o mesmo procedimento de medição para a medição com precisão a 470 k resistores ohms. Porque a
470 k Ω é muito grande em relação ao valores de resistência de porta e 22Ω 19Ω, os valores da resistência de porta são ignorados para a
computação do valor da resistência bobinada Rx.
Para ambos os tipos de medição com o 470 k resistores Ê apenas uma tensão é medida, porque a corrente é tão baixa, que não erência
ff tensão di nas resistências de portas internas do ATmega pode ser medida (como esperado). O gradiente teórico de tensão é mostrada na
figura 5.14, onde os valores de resistência são novamente mostrado na escala logarítmica. O gradiente teórico neste diagrama termina no
100 M Ω, mas o valor resultante da Tester está limitado a 60 M Ω, caso contrário, o dispositivo de teste que assume nenhuma resistor é ligado.
A média ponderada de ambos os tipos de medição é tomada como resultado com as mesmas regras descritas para as medições com os
680Ω resistências. Para todos os processadores ATMEGA que tinha encontrado, que os resultados medidos com o 470 k resistores w são
mais exatamente, se um conjunto de o ff constante de 350Ω será adicionado. Este conjunto ff o pode ser ajustado com o RH OFFSET ne fi
de na con fi G.H fi le.

VCC
19

22

19

22

19

22

19

22

19

22

19

22

GND

ADCMux ADCMux

PC0 PB0 PB1 PC2 PB4 PB5


470k
470k
R1

R2

R5

R6
680
680

TP1 Rx TP3

A Figura 5.12: Medição do tipo 3 com 470 k Ω

30
VCC

19

22

19

22

19

22

19

22

19

22

19

22
GND

ADCMux ADCMux

PC0 PB0 PB1 PC2 PB4 PB5

Rx

470k

470k
680

R1

R2

R5

R6
680
TP1 TP3

A Figura 5.13: Medição do tipo 4 com 470 k Ω

5000

4000

3000
Tipo de PC2 3
tensão / mV

PC0, tipo 4
2000

1000

0
10k 100k 1M 10M 100M
resistência bobinada Rx / Ohm

A Figura 5.14: As tensões de tipo 3 e tipo 4 medições com 470 k Ω

5.2.3 Resultados das medições de resistência


A Figura 5.15 apresenta os erros relativos das medições de resistência com três ATmega8 microcontroladores. Além disso, alguns
resultados com o software original de Markus F. com uma ATmega8 são mostrados como “Mega8orig” nesta figura. Mais medições
resultados com ATmega8A e ATMEGA8L são mostrados na fi gura 5.16a e 5.16b. A Figura 5.17 apresenta as mesmas medições
com um microcontrolador ATmega168. Mega168 são os resultados sem a opção AUTOSCALE ADC, Mega168as são as mesmas
medições com a opção AUTOSCALE ADC. Com o microcontrolador ATmega168 parece ser possível, que as medições de
resistências na gama de 20 a 20Ω M Ω pode ser medido com uma tolerância de ± 1%. Para medições abaixo de 100Ω você deve ter
em mente, que qualquer sonda de medição com fio tem uma resistência também. É melhor para conectar o resistor diretamente
aos pinos terminais. Se isso não for possível, subtrair o valor da resistência da sonda encurtado. Por exemplo, se o resistor tem
um valor impresso de 30Ω, o testador mostra um valor de 30.6Ω e as duas sondas mais curtas ter um valor de 0.5Ω, então a sua
resistência foi medida com 30.1Ω. Abaixo de um valor de resistência de uma resolução 10Ω resultados passo a um erro de mais
de 1%!

31
Mega8-1
5 Mega8-2
Mega8-3
4
Mega8orig
3

1
Erro / Percent

-1

-2

-3

-4

-5
1 10 100 1k 10k 100k 1M 10M 100M resistor valor / Ohm

Figura 5.15: erro relativo de medições de resistência com ATmega8

Mega8A-4 Mega8L-7
5 Mega8A-5-6 5 Mega8L-8-9
4
Mega8A 4
Mega8L

3 3

2 2

1 1
Erro / Percent

Erro / Percent

0 0

-1 -1

-2 -2

-3 -3

-4 -4

-5 -5
1 10 100 1k 10k 100k 1M 10M 100M resistor valor / 1 10 100 1k 10k 100k 1M 10M 100M resistor valor /
Ohm Ohm

(A) com três ATmega8A (B) com três ATMEGA8L

A Figura 5.16: erro relativo de medições de resistência

32
Mega168
5 Mega168as
4

1
Erro / Percent

-1

-2

-3

-4

-5
1 10 100 1k 10k 100k 1M 10M 100M resistor valor / Ohm

A Figura 5.17: erro relativo de medições de resistência com ATmega168

O 5.18a figura mostra os erros de medição de três processadores ATmega168 antes da calibração como pontos, após a
calibração como linha. Os erros de medição de três equivalentes prozessors ATmega168A são mostrados na fi gura 5.18b e os
erros de medição de três prozessors ATmega168P são mostrados na fi gura 5,19. Os erros de medição de três prozessors
ATMega328 são mostrados na fi gura 5.20a e 5.20b. Depois da calibração automática dos erros de medição relativos de
resistências entre 10 Ω - 20 M Ω geralmente estão no limite ± 1%. Apenas uma medição de um 22 k resistor Ω com o ATmega328P-13
mostra um erro mais elevada. Antes que os erros de calibração de alguns processadores são encontrados com ± 3%. Isto será
causado pela comutação AUTOSCALE ADC da referência ADC. O directa comparação de uma tensão de condensador inferior a 1
V, uma vez medido com referência a VCC e outra vez medido com o padrão interno, é possível ajustar este erro. Com esta
condição de medição a tensão é medido com o mesmo canal de multiplexador e a banda proibida de referência interno é
conectado ao pino AREF do ATmega. Infelizmente, a medição directa da banda proibida de referência com os resultados do canal
multiplexador especiais para este o conjunto ff, que podem ser ajustados manualmente com a opção REF R korr ou
automaticamente com a opção AUTO CAL do autoteste. Com a opção AUTO CAL o valor REF R Korr é um o ff set adicional para
o fi automática nd fora valor!

33
m168-1 m168a-4
5 m168-2 5 m168a-5
m168-3 m168a-6
4 4
m168-1 m168a-4
3 m168-2 3 m168a-5-6
m168-3 m168a
2 2

1 1
Erro / Percent

Erro / Percent
0 0

-1 -1

-2 -2

-3 -3

-4 -4

-5 -5
1 10 100 1k 10k 100k 1M 10M 100M resistor valor / 1 10 100 1k 10k 100k 1M 10M 100M resistor valor /
Ohm Ohm

(A) com três ATmega168 (B) com três ATmega168A

A Figura 5.18: erro Relativ para medições de resistência

m168p-7
5 m168p-8
m168p-9
4
m168p-7
3 m168p-8-9
m168p
2

1
Erro / Percent

-1

-2

-3

-4

-5
1 10 100 1k 10k 100k 1M 10M 100M resistor valor / Ohm

A Figura 5.19: erro Relativ para medições de resistência com três ATmega168P

34
m328-10 m328p-13
5 m328-11 5 m328p-14
m328-12 m328p-15
4 4
m328-10 m328p-13
3 m328-11 3 m328p-14
m328-12 m328p-15
2 2

1 1
Erro / Percent

Erro / Percent
0 0

-1 -1

-2 -2

-3 -3

-4 -4

-5 -5
1 10 100 1k 10k 100k 1M 10M 100M resistor valor / 1 10 100 1k 10k 100k 1M 10M 100M resistor valor /
Ohm Ohm

(A) com três ATmega328 (B) com três ATmega328P

Figura 5.20: erro Relativ para medições de resistência

35
5.3 Medição dos condensadores
A medição dos valores do condensador são feitas como tarefa separada por medição do tempo de carga, após todas as outras medições.
O software original de Markus F. fez isso com um loop de programa, que lê o pino de entrada digital correspondente até que um
interruptor ocorreu e contar os ciclos de loop. Isto tem a desvantagem, que a resolução da medição do tempo é limitada pelo consumo de
tempo de um ciclo de circuito. Isso geralmente foi feito em todas as seis combinações para todos os três pinos de sonda. O software real
utiliza duas formas di ff erent para obter o tempo de carregamento em apenas três combinações para os três pinos de sonda. O lado
positivo é agora sempre o número sonda superior. Só se a capacidade é medida em paralelo com um diodo, a polaridade pode ser de
outra ordem.

5.3.1 A descarga dos condensadores


Você deve sempre descarregar o capacitor antes de o ligar o testador. O aparelho de teste, adicionalmente, descarregar o
condensador antes de qualquer medição. Se a voltagem for inferior a 1300mV, o condensador é encurtado pelos pinos da porta ADC
ligado (Porta C) de saída. Eu acredito que isso é legal porque cada porta de saída foi construído em um resistência de cerca de 20Ω.
A folha de dados Figura 149 (página 258) [2] mostra a queda de tensão de pinos de saída até 2V. É claro que eu não posso garantia,
que nenhum dano pode ocorrer. Eu testei a função com grandes capacitores de mais de 15 mF muitas vezes e eu nunca ter notado
qualquer problema. A corrente deve ser inferior ao limite especi fi cado de 40mA e é reduzida rapidamente por descarga. O ff danos
curso pode ocorrer se você não descarregar um capacitor (alta tensão) antes de o ligar o testador.

5.3.2 Medição de grandes Capacitores


Um lado do condensador está ligada a GND. O outro lado do condensador é conectado com o resistor de 680Ω ao VCC para um
período de 10 ms. Posteriormente este pino sonda é ligada à entrada (alta impedância). Após este impulso de corrente de 10 ms a
voltagem do condensador é medido sem qualquer corrente. Se a tensão não atingiu um valor mínimo de 300 mV, o impulso de carga é
repetida até 499 vezes. Se após 127 pulsa uma tensão mínima de 75mV não for atingido (cerca de 2s), ainda mais de carga é parado,
devido a não 300mV pode ser alcançado com os impulsos de carga remanescente. A Figura 5.21 mostra as três fases de medir o valor
da capacidade de um condensador. O valor da capacidade é, em seguida, calculado com a contagem de impulsos de carga e a tensão
de carga alcançado a partir de uma tabela. A tabela contém os fatores para obter a capacidade em unidades nF de tempos de carga e
a tensão alcançado com um espaçamento de 25mV. Provisório valor de tensão irá ser interpolado.

36
VCC

19

19

19

19
22

22

19

22

22

22

19

22
GND

<1.3V

ADCMux ADCMux

PC0 PB0 PB1 PC2 PB4 PB5

Cx

470k

470k
680

680
R1

R2

R5

R6
TP1 TP3

descarga rápida de capacitor

VCC
19

22
19
22

19

22

19

22

19

22

19

22
GND

ADCMux

PC0 PB0 PB1 PC2 ADCMux PB4 PB5

Cx
470k

470k
680
680

R1

R2

R5

R6
TP1 TP3

10ms Fase de carga de condensador de

VCC
19

22

19

22

19

22

19

22

19

22

19

22
GND

ADCMux ADCMux

PC0 PB0 PB1 PC2 PB4 PB5

Cx
470k

470k
680

680
R1

R2

R5

R6

TP1 TP3

Fase de medição de tensão do capacitor

Figura 5.21: descarregar um condensador e com carga 10ms impulsos de carga até que a tensão atingir um valor de 300 mV

Como resultado da tensão de carga baixa, a medição é muito mais rápido do que a versão inicial do software, porque esta
vantagem trabalha também na descarga. Então capacitores maiores podem ser medidos. Além disso, um diodo, que é paralelo ligado
ao condensador não perturbe a medição de, na maioria dos casos, porque a tensão de fl uxo da maioria dos diodos não é atingido.
Figura 5.22a mostra a carga e descarga para um 229 mF capacitor. O fl no topo do diagrama da extremidade de carga para
descarregar começar é causada pela medição e computação de tempo do ATmega. Figura 5.22b mostra a mesma medição para um 5 mF
capacitor, observe como o tempo de medição é crescido para cerca de 1,5 segundos, inclusive, a descarga. O último exemplo mostra
a medição da capacidade de um 15 mF condensador na Figura 5.23

37
(A) 229 mF Capacitor (B) 5 mF Capacitor

A Figura 5.22: carga e descarga de grandes condensadores para medir

A Figura 5.23: carga e descarga de um 15 mF Capacitor para medir

Após esta medida a capacidade de auto-descarga do capacitor será verificado por esperar um período proporcional a carga
tomou e ler a tensão de carga novamente. O valor de capacidade de medição é corrigido devido a esta queda de tensão. Um teste
com uma ligação em paralelo de um 68 mF capacitor e uma 2.2 k Ω resistor mostra o e ff ectivity deste método. O valor de capacidade
medida sem o resistor é 66,5 mF, com o paralelo 2.2 k resultados resistor ohms para um valor de capacidade de 66,3 mF. Para efeito
de comparação, aqui estão os resultados medidos com um multímetro Peaktech 3315: Sem a resistência de um valor de capacidade
de 68,2 mF é medido, com o 2,2 paralelo k Ω resistor um valor de 192 mF é medido com o multímetro.

5.3.3 Medição de pequenos condensadores


Se o primeiro impulso de carga de 10 ms tem sobrecarregado o condensador, uma outra técnica de medição, é utilizada. O processador ATmega tem uma
construção em contador de 16 bits, que pode operar a uma taxa de relógio completo (1MHz

38
ou 8MHz). Este contador também tem o recurso para salvar seu valor do contador por um evento externo. Este evento pode ser construído
pela saída do comparador. O comparador pode operar com qualquer pino de entrada e o ADC referência lacuna da banda. A Figura 5.24
apresenta um diagrama simplificado da situação de medição. Portanto, I descarregar o condensador, preparar o comparador para a entrada
do pino adequado, iniciar o contador a 0 e iniciar imediatamente o carregamento do condensador com um lado ligado à GND e o outro lado
ligado com o 470 k Ω resistor para VCC. Agora eu verifico dentro de um loop de programa, se os AGS de balcão fl sinaliza um longo fluxo de
evento ou uma captura de entrada evento (externo). Eu conto os eventos ow mais de fl até que eu detectar o evento captura de entrada. Neste
caso, eu parar o contador e verifique se devo contar um adicional sobre fluxo, porque o contador não pode ser interrompido pelo evento
captura de entrada.

O contador de captura de entrada e sobre fluxo contra construímos juntos o tempo total, a partir do qual podemos obter a
capacidade com um fator. O software real pode usar uma tabela com a dependência teórica do tempo de carregamento em relação à
tensão de comparação. A tabela está espaçada em 50mV passos e vai ser interpolados de acordo com a tensão de referência real. Esta
tabela só será acticated com a Make le opção COM AUTO REF fi. A partir do valor da capacidade de construção I subtrair uma prede fi fi
experimental definida nd fora constante ou um valor encontrado pelo último autoteste opção AUTO CAL para eliminar o conjunto ff zero o
com. O conjunto ff a zero o pode variar com o tipo de placa de circuito impresso, o equipamento de teste utilizado ou processador. O
autoteste opção AUTO CAL com encontrarão o seu zero, o ff definido automaticamente.

Notei que a tensão de referência é permanentemente um pouco para baixo, de modo que você pode escolher um conjunto ff o
com a Make fi le opção REF C Korr. Após a calibração, com a opção AUTO CAL, o REF C korr será apenas um conjunto o ff à tensão
erência di ff medido entre condensador e carregado referência interna. A tensão de referência medido, então, ser corrigidos
(adicionado) pelo seu valor (unidades mV). Se a opção COM AUTO REF não é utilizado, as tensões de referência de ATmega8,
ATmega168 e ATmega328 são aplicados como observado nas folhas de dados [2] [3]. Uma medição da amostra deste tipo é
mostrado na figura 5.25. O tempo de medição para o 22 mF capacitor é acima 2.6s porque a 470 k Ω é utilizado para o carregamento.
Mas descarga é, neste caso, muito mais rápido do carregamento.

TOV1
Contagem

bandgap Relógio Control Claro


temporizador Contador

referência ACBG Logic TCNT1


Direção

AIN0
BUS DE DADOS

Canceler
Noise
AIN1

De ADC Multiplexor ACME


Borda
ICR1
detector de

VCC

TP3 470k ICFn

Cx R6

TP1

A Figura 5.24: valores de capacidade de medição pequenos com comparador

39
Figura 5.25: carga e descarga de um 22 mF Capacitor para medir

Em princípio, esta técnica de medição também pode ser feito com o resistor 680Ω, mas porque o ADC não pode ser usado se o
comparador está funcionando, eu não tenho chance para monitorar a tensão de carga até o comparador está parado. Se um díodo
não detectados é ligada em paralelo com o condensador, a corrente de carga do condensador pode ser absorvida pelo diodo
(tensão limiar) e nunca será atingida a tensão de banda-lacuna. O método tomado em software real para grandes capacitores na
seção 5.3.2 evita esse erro conceitual.

5.3.4 Medio da Série Equivalente Resistência ESR


Se o capacitor medido tem uma capacidade de mais de cerca de 2 mF, o testador irá tentar medir a resistência série também. A
resistência em série ESR [8] é um bom indicador para o envelhecimento de condensadores electrolíticos por exemplo. A figura 5.26
mostra um circuito equivalente de um condensador. o resistor
Rp representa a resistência de fuga do condensador, ESL a indutividade série equivalente e a resistência ESR representa a
resistência em série equivalente.

Rp

C ESR ESL

A Figura 5.26: circuito equivalente de um condensador

Estritamente falando, a ESR de um capacitor depende da frequência de operação e temperatura. Normalmente, o valor
medido com seno de sinal em forma de onda de 100 kHz é indicado nas folhas de dados. Esta medida não pode ser feito com os
ATmega sem equipamento externo. Com o método de escrita subsequente uma frequência de medição vai ser abaixo de 680 Hz
com o sinal quase rectangular. Para obter o valor da resistência em série equivalente, a tensão de ambas as ligações será medido
durante a carga em uma direcção com a tensão de referência interno ADC (1,1 V). Após a medição da corrente de carga será
comutado o ff e a voltagem do condensador é medido novamente, sem a corrente. Se esta voltagem for inferior a 3 mV, a
sequência de medição é repetido. A figura 5.27 mostra os circuitos correspondentes.

40
VCC

19

22
19
22

19

22

19

22

19

22

19

22
GND

ADCMux

PC0 PB0 PB1 PC2 ADCMux PB4 PB5

Cx ESR

470k

470k
680
680

R1

R2

R5

R6
TP1 TP3

medição de tensão com corrente de carga

VCC
19

22

19

22

19

22

19

22

19

22

19

22
GND

ADCMux ADCMux

PC0 PB0 PB1 PC2 PB4 PB5

Cx ESR
470k

470k
680

680
R1

R2

R5

R6
TP1 TP3

medição de voltagem sem actual

A Figura 5.27: Circuito das medições de ESR de um condensador

O erência di ff do condensador tensões com e sem corrente é proporcional à resistência interna do condensador. A tensão
esperada deste erência di ff é tão baixa, que uma medida não pode resultar de um resultado viável. Por conseguinte, depois de
esta a corrente irá ser transferido para o sentido oposto e a mesma medição será repetido. A sequência de medição todo será feito
128 vezes e os resultados das medições de tensão vai ser adicionado. Portanto, temos três somas de tensões, a tensão ULP no
lado inferior do condensador com corrente, a tensão Uhp no lado alto do condensador com a corrente e a tensão Uc do lado alto
do condensador, sem corrente. A soma das tensões no lado de baixo do condensador representa a queda de potencial com a
corrente de carga média com a resistência de saída da porta Rport. O ff erência tensão di do lado alta e lado inferior do
condensador representa a tensão do condensador com corrente de carga Udiff = Uhp - ULP.

O di ff erência Uesr = Udiff - Uc deve representar a queda de tensão na resistência interna do condensador com corrente de carga
média. Vamos obter o valor da resistência com a relação desta tensão
uesr à tensão ULP, escalado com o valor da resistência conhecida da saída de porta Rport. O fator de escala é selecionado para obter
uma resolução resistência do 0.01Ω: RESR = uesr · 10 · rport
ULP
A precisão do
medição ESR não é muito elevado por razões erent di ff:

1. A medição da tensão em ambos os pinos do condensador não pode ser feito ao mesmo tempo, a única maneira é fazê-lo em
sequência. No tempo intercalar entre ambas as medições da corrente de carga mudou devido à carga do condensador. O
programa tenta compensar este facto com uma correcção dependente da capacidade da tensão do lado de baixo.

2. O ADC converte a voltagem medida após 1,5 relógio carrapatos após o início da conversão. A conversão beginns com a
borda de subida do ADC-relógio, se o bit de início é definido. Se a carga

41
atual será trocado o ff a início, a ADC leva a voltagem errada para a medição com corrente. Se a corrente de carga será
alterado o ff a tarde, o capacitor vai assumir o comando mais elétrico, do que o da medição correspondente com corrente
de carga. Isto irá causar uma tensão muito elevada da medição sem corrente. Mas é di ffi cult para mudar o ff a corrente no
momento certo por software. A soma da tensão adicional das medições sem corrente é reduzida de 2% para compensar a
sobrecarga.

3. A resistência à saída de porta é usada como um valor de referência por este método de medida, mas este valor de resistência não é exacly
conhecido também.

4. A resolução do ADC não é su ffi ciente para obter uma resolução de resistência de 0.01Ω. Para obter a melhor resolução do
ADC disponíveis, a referência interna (1,1 V) é usado para todas as medições. A fi cit resolução de será atenuado pelo
acúmulo de um grande número de medições individuais também.

5. A comutação de portas não pode ser exatamente sincronizado com o relógio ADC com polling de conversão feita.

De qualquer forma os resultados parece ser prático, como mostrado com a seguinte figura 5.28. Os valores de ESR da mesma
peça medido com o Transistortester variar mais do que os valores medidos com o medidor LCR. Todos os resultados de ESR do
medidor LCR são medidos com uma frequência de 1 kHz. Você deve respeitar a qualidade de todas as partes de conexão. As
ligações dos cabos utilizados podem causar um valor maior resistência medida. Os conectores também pode resultar um valor maior
resistência. O medidor LCR tem a vantagem dos terminais usados ​Kelvin.

1,2
328p
328
168P
168a
168
0,8 1 LCR
ESR / Ohm

0,6

0,4

0,2

0
1U 10U 100U 1m
valor de capacidade / F

Figura 5.28: ESR resultados de medição de 15 segs di ATmega erent

5.3.5 Resultados da medição do capacitor


Os resultados das minhas medições de capacidade são mostrados na fi gura 5,29 por três processadores ATmega8. Além disso, alguns
valores de software original são mostrados com um factor de correcção de 0,88 (-12%). Outros resultados das medições de di ff erent
versões ATmega8 são mostrados na fi gura 5.30a e 5.30b. Os resultados da medição dos mesmos condensadores para um ATmega168 é
mostrado na figura 5.31. A base para

42
a computação de erro são os resultados da medição de um PeakTech 2170 RCL-metro, não o valor impresso de partes. Uma
parte do elevado medição di ff erência relativo é provocado pela frequência muito alta medição da RCL-medidor para grandes
condensadores electrolíticos. Por outro lado o fator de má qualidade dos capacitores electrolíticos podem causar um outro
percentual.

Mega8-1
Mega8-2
10 Mega8-3
orig
8

6
Erro / Percent

-2
10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m 100m
valor de capacidade / F

A Figura 5.29: Erro em% para as medições de condensadores com ATmega8

Mega8A-4 Mega8L-7
Mega8A-5-6 Mega8L-8-9
10 Mega8A 10 Mega8L

8 8

6 6
Erro / Percent

Erro / Percent

4 4

2 2

0 0

-2 -2
10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m 100m 10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m 100m
valor de capacidade / F valor de capacidade / F

(A) com três ATmega8A (B) com três ATMEGA8L

A Figura 5.30: erro relativo de medição condensador

43
Mega168
Mega168as8
10

6
Erro / Percent

-2
10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m 100m
valor de capacidade / F

A Figura 5.31: Erro em% para as medições de condensadores com ATmega168

A Figura 5.32 ilustra, como di ffi culto é para escolher a base direita para a medição da capacidade. Todos os resultados da
medição são comparados com o valor a melhor estimativa dos capacitores. o gradiente
,,Multímetro”mostra os rências di ff dos Peaktech 3315 Multimeter resultados. O seguinte gradiente
,, LCR”mostra os rências di ff dos Peaktech 2170 resultados LCR metros, que é tomada a partir de melhor abordagem frequência. Para
comparar este resultado com os resultados de um ATmega168 equipado TransistorTester o gradiente ,, ATmega168as”é também
mostrada. I beleave, que este erros não são erros de medição reais do equipamento particular, porque o meu valor a melhor estimativa
também não são o valor real capacidade dos capacitores.

multímetro
7 LCR
6 Mega168as

3
Erro / Percent

-1

-2

-3

-4
10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m 100m
valor de capacidade / F

A Figura 5.32: Comparação de resultados de medição da capacidade de multímetro, LCR-metro e ATmega168

Os rências di ff de medições de processadores três di ff erent ATmega168 são mostrados na fi gura 5.33a

44
. Neste caso, os resultados do medidor LCR é tomado como base de comparação. Os mesmos resultados de três processadores di ff
erent ATmega168A são mostrados na fi gura 5.33b e processadores ATmega168PA três di ff erent são mostrados na fi gura 5,34. Os
resultados de três ATmega328 são additianally mostrado na figura 5.35a e os resultados de três ATmega328P são mostrados na fi gura
5.35b. Neste somente o valor zero da medição da capacidade de 39pF é respeitada, todos os outros facilidade para corrigir os
resultados não são utilizados. Este valor de zero inclui o 2-3pF, que são causadas pelo cabo comprido de 12 cm com os clipes. O layout
da placa pode causar uma di ff erent valor zero, eu tenho fixado este valor zero com o bordo “DG2BRS V 5.2.1”.

168-1
168-2 6
168-3
5

25
4

20 3
Erro / Percent

Erro / Percent
2
15

1
10
0

05 168A-168A 4-5 168A-6


-1

-5 -2
10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m 10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m
valor de capacidade / F valor de capacidade / F

(A) três ATmega168 (b) três ATmega168A

A Figura 5.33: erro de medida de capacidade, não calibrado

12
Erro / Percent

10

46

02 168PA-7 168PA-8-9 168PA

-2
10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m
valor de capacidade / F

A Figura 5.34: erro de medição da capacidade de três ATmega168PA, não calibrado

45
328-10
10
328-11
168-12 8

12 4

2
10
Erro / Percent

Erro / Percent
0

8 -2

-4
46

-6
02
-8
-2 328P-328P-13 14 328P-15
- 10

-4 - 12
10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m 10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m
valor de capacidade / F valor de capacidade / F

(A) três ATmega328 (B) três ATmega328P

A Figura 5.35: erro de medida de capacidade, não calibrado

Para obter a melhor precisão você deve adaptar o software para a característica individual de seu exemplar ATmega. Para isso, você
pode definir um REF tensão correção C Korr para o comparador, que será utilizado para a medição de pequenos valores de capacidade.
Uma correcção de 1 mV irá reduzir os resultados de medição de 0,11%. Para valores de capacidade grandes você pode especificar com a
per mill valor CH Korr, o quanto seus valores de capacidade são medidas muito grande. Uma vez que os condensadores com valores
grandes são a maioria dos condensadores electrolíticos com factor de pior qualidade, a medição do valor da capacidade é di ffi culto. Por
isso, também é extra cult di FFI para obter o erência di ff ao valor real de um capacitor.

Especialmente com os processadores ATmega168 eu observei uma anomalia dos resultados das medições de pequenos valores de
capacidade, que dependem da taxa de variação da tensão durante a carga do condensador. A Figura 5.36 apresenta o erro da medição da
capacidade quando apenas o valor zero é respeitada (1683-A), com o factor de correcção para pequenos condensadores REF C korr = 66,
bem como o factor de correcção para grandes condensadores CH korr = 5 (168-3 -B), mais adicional como gradiente 168-3-C com um modelo
da dependência taxa de variação de pequenas medições de capacitores (COMP SLEW1 = 4000 und COMP SLEW2 = 220). Além disso, a
auto-descarga de grandes condensadores é respeitada com gradiente 168-3-C. O componente com o valor dependente da velocidade de
variação é calculado com COMP SLEW 1

CVAL + COMP SLEW 2 - COMP SLEW 1COMP


COMP SLEW 2, onde representa a CVAL
valor medido com capacidade unidades pF.

46
168-3
168-3-A-B-C
168-3

25

20
Erro / Percent

15

10

05

-5
10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m
valor de capacidade / F

A Figura 5.36: Melhoria da medição condensador de um ATmega168

5.3.6 calibração automática da medição condensador


A calibração automática é construir em duas partes. A primeira parte encontre fora do conjunto ff a zero o da medição da capacidade.
Para que o valor médio da capacidade medida sem condensador ligado é de construção. Um valor significativo para todas as
combinações de medição 6 é construído com 8 repetições. Após a determinação com sucesso os conjuntos ff zero o são escritos para a
EEPROM e irá ser utilizado para outras medições. Mais di ffi culto era a folga da variância dos processadores ATMEGA di ff erent para
pequenos capacitores (<40 mF), que é mostrada na Figura 5.33a, 5.33b e 5.34. Como uma razão significativa para este se encontra a erent
di ff característica (tensão conjunto S ff) do comparador analógico.

A data de medição de processadores nove di ff erent é mostrado na figura 5.37. O “di FF2 ref” pontos mostram a erência di ff
da tensão de um condensador carregado de 660 nF para as tensões de referência internos individuais (band gap). Idealmente este
di ff Tensão erência deve ser igual a zero, se o comparador analógico parou o carregamento pelo sinal para o processador. O
tempo de tratamento curto do processador não deve resultar em uma forma mensurável subida da tensão do capacitor desta
grande capacitor relativa. Os pontos “CapErr” mostram os erros de medição estimados de cada processador para fora da figura
5.33a, 5.33b e 5.34 com unidades por moinho. É perceptível, como os pontos “CapErr” seguirá os “FF2 ref di” pontos. Portanto, os
“di ff” pontos mostram a erência di ff entre o “CapErr” particular e “FF2 ref di” pontos. Com um valor médio dos pontos “di ff”
podemos ter uma boa estimativa para a correção das medições de capacitores juntamente com a tensão rência di ff do capacitor
carregado e a referência interna.

Para a segunda parte do ajuste é necessário conectar um capacitor no pino 1 e pino 3. Este capacitor deve ter um fator de
boa qualidade e deve ter uma capacidade entre 100 nF e 20 mF. Deve ser um capacitor fi lm, na medida do possível não um
capacitor und cerâmica em nenhum caso um capacitor eletrolítico. Você não precisa saber o valor exato deste capacitor.

47
di FF2 ref
CapErr
di ff
70

60

Di ff rência para referenciar / mV


50
Erro / por moinho

40

30

20

10

- 10 0

- 20
0 2 4 6 8 10
Número de ATmega168

A Figura 5.37: Data de nove processadores ATmega168

A fi guras 5.38a, 5.38b, 5,39, 5.40a e 5.40b mostra os resultados da medição dos processadores erent di ff com um software
padrão após a calibragem automática. A cinza fl dos processadores foi carregado com o mesmo software, apenas para a fi
ATmega168PA a Marca le deve ser adaptado com “partno = m168p”. Depois de carregar os dados que o auto-teste foi iniciado para
cada ATmega e um condensador, com 330 nF foi ligado durante o ensaio n ° 10 para os pinos 1 e 3.

168-1 168A-168A
7 168-2 6 4-5
6 168-3 168A-6
5

5
4
4
3
3
2
Erro / Percent

Erro / Percent

2
1
1
0
0
-1
-1

-2
-2

-3 -3

-4 -4
10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m 10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m
valor de capacidade / F valor de capacidade / F

(A) três ATmega168 (b) três ATmega168A

A Figura 5.38: erro de medida de capacidade, calibrado

48
168PA-7
168PA-8-9
8 168PA

4
Erro / Percent

-2

-4
10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m
valor de capacidade / F

A Figura 5.39: erro de medição da capacidade de três ATmega168PA, calibrado

328-10 328P-328P-13
328-11 14 328P-15
10 10
328-12

8 8

6 6
Erro / Percent

Erro / Percent

4 4

2 2

0 0

-2 -2

-4 -4
10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m 10p 100p 1N 10n 100n 1U 10U 100U 1m 10m
valor de capacidade / F valor de capacidade / F

(A) três ATmega328 (B) três ATmega328P

A Figura 5.40: erro de medida de capacidade, calibrado

Finalmente vou fazer mais clara a Effect of a opção AUTO CAL no programa autoteste. O seguinte figura 5.41 mostra os
resultados dos três processadores ATMEGA com o maior erro de medição, uma medição de calibração antes da medição e outra
depois da calibração. Os pontos marcados com a terminação “UNC” mostra os erros sem calibração. As linhas com o “cal”
terminando mostra os resultados de erro do mesmos processadores com o mesmo software após a calibração na seção autoteste.
A razão para os erros de medição para grandes capacitores> (40 ? F)

ainda não é conhecido. Todos os condensadores utilizados para esta série de medições são condensadores lm fi ou condensadores cerâmicos (56 pF, 100 pF
e 3,3 nF), não são utilizados condensadores electrolíticos.

49
168-3unc
168-3cal
168PA-7unc
168PA-7cal
20 328P-14unc
328P-14cal
Erro / Percent 15

10

05

-5

- 10

- 15
10p100p 10n100n 1N 1U 10u100u 1m
valor de capacidade / F

A Figura 5.41: Erro de Medição condensador de três ATmega, antes e após a calibração

50
5.4 Medição da indutância
A medição dos valores de indutância vai ser feito como parte separada, com todas as resistências encontradas com menos do que
2100 Ω. O Método de medição é baseado no crescimento de corrente pela fórmula
Il = Imax · ( 1 - exp - t τ) depois de ligar a corrente. A constante de tempo τ = eu R é proporcional
para a indutância EU, mas em sentido inverso proporcional à resistência R. A corrente só pode medidos indiretamente com o potencial
queda de um resistor.
Infelizmente, a constante de tempo será reduzida adicionalmente pela alta resistência relativa 680 Ω, para que a medio de
pequenos valores de indutância é adicionalmente feito culto di ffi com o relógio de 8 MHz. Para obter o tempo constante, a tensão
na resistência de 680 Ω serão monitorados pelo comparador analógico. Se a queda de tensão na resistência de 680 Ω é maior do
que a tensão da referência interna, este evento será notificado para o contador de 16 bits, que é iniciado ao mesmo tempo da
corrente de ligar. O contador irá salvar o estado deste evento. Se o contador será invadida, isso será contado pelo programa. Após
o evento, o contador será parado pelo programa e o tempo total será construído com a fase de contra-salvos e os mais de fluxo
contador. O lado positivo da bobina vai ser comutada de VCC para GND e segure esta fase até a monitorização das tensões de
ambos os pinos de programas, que nenhuma corrente é detectado. A figura 5.42 mostrado um diagrama simplificado da situação
de medição.

TOV1
Contagem

bandgap Relógio Control Claro


temporizador Contador

referência ACBG Logic TCNT1


Direção

AIN0

BUS DE DADOS
Canceler
Noise
AIN1

De ADC Multiplexor ACME


Borda
ICR1
detector de

VCC
22 ICFn
TP3

Rx 19

Lx TP1
680
19
R1

A Figura 5.42: Medição de indutâncias com o comparador

Com a tensão de alimentação VCC e a soma de todas as resistências no circuito eléctrico a máxima Imax corrente e de que a
percentagem da tensão de referência para a tensão máxima no resistor de 680 Ω pode ser calculado Umax = Imax · ( 680 + 19).
Com a fórmula L = - t · rges
log (1 - uref
Umax)

a indutância pode ser calculada. O logaritmo natural será retirado de uma construção na tabela.
A fim de também medir valores de indutância mais baixas, o resistor 680Ω será omitida no circuito da corrente, se o valor da
resistência do indutor é medido com menos de 24Ω. Apenas a resistência da porta (19Ω) de saída será usado para a medição da
corrente. Neste caso especial a corrente de pico será maior do que o valor, que a especificação do ATmega permite. Porque isso vai
ser verdade apenas por um curto espaço de tempo, espero que nenhum dano das portas ATMEGA. Para evitar um tempo mais longo
com uma corrente excessiva, a medição adicional com início retardado do contador vai sempre ser feito com o resistor de 680Ω. Para
obter melhores resultados de medição fi tting, um zero o conjunto ff de 6 é subtrair a leitura do contador, se a medição for feita sem a
resistência de 680Ω. Caso contrário, um conjunto ff a zero o de 8 é subtraído.

51
Com valores grandes indutância a capacidade parasita pode causar um rápido aumento da corrente, de modo que o
comparador vai Responce inmmediately. Para obter o valor da indutância de qualquer maneira, a medição será repetida com um
início retardado do balcão. Com este methode a tensão cresça causada pelo aumento da corrente do indutor vai ser detectada pelo
comparador analógico em vez do pico de corrente da capacidade parasita. As medições são sempre feito em ambas as direções
atuais. O programa irá seleccionar o maior resultado de medição na mesma direcção da corrente, mas o resultado mais baixo do
sentido da corrente di ff erent como o resultado apresentado.

5.4.1 Resultados das medições de indutância


A figura 5.43 mostra os resultados da medição de indutores erent di ff. Os Indutores acima de 1 H estão relés ou lados primários de
transformadores de potência, para a qual as medições são di ffi culto, porque o núcleo de ferro tem remanência residual.

328p
328
168P
15 168a
168
10
Erro / Percent

05

-5

- 10

- 15

- 20
10U 100U 1m 10m 100m 1 10 100
valor de indutância / H

A Figura 5.43: Erro de Medição indutância de 15 di ATmega ff erent

52
5.5 Função Selftest
Começando com 0.9k liberação Eu tenho implementado uma função de auto-teste. O uso é muito simples. Se você tiver instalado
o terminal de teste com pinças, coloque todos os grampos junto a um pedaço de arame sem isolamento e pressione o botão de
arranque. O programa de notar as sondas encurtar e iniciar a função de auto-teste. Após fi nishing o auto-teste do testador
transistor vai continuar com medição normal. Se nenhum equipamento está ligado, o programa terminará com “parte desconhecida
ou danificado”. Você pode con autoteste figura apenas por um ATmega168 ou ATmega328. As etapas separadas da função de
auto-teste de 1 a 6 é apresentado na linha 1 do visor LCD com a letra T, seguido pelo número da etapa. Cada passo é repetido 4
vezes, antes que o programa continua com a próxima etapa. Mas se você segurar a tecla start pressionado, quando o ciclo de
teste é acabado, este teste não é repetida mais.

Sem a opção AUTO CAL resultados só de medição são exibidos em cada etapa, nenhuma análise de erros são feitas, você
deve interpretar os resultados a si mesmo. Neste lugar vou dar-lhe uma dica importante adicional. Nunca faça uma medição com
plug ISP conectado! A interface ISP influencia a medida. Aqui está a lista de testes actualmente implementados:

1. A medição da tensão de referência de 1,3 V (ou 1.1V) (banda lacuna Referência). Em linha, na linha
1 o texto “Ref =” e a tensão medida em mV é exibido. Para o ATmega8 a tensão deve estar perto de 1.3V. Para os outros
processadores da tensão deve estar perto de 1.1V. A segunda linha mostra o factor resultante para a medição da
capacidade com o 470 k resistor Ω.

2. Comparando do 680Ω resistores. Na linha 1 do texto críptico “+ RL- 12 13 23” é mostrada.


Significado disto é a seguinte: A RL é a forma abreviada de Resistência Baixa ou seja, os 680Ω resistores. O suporte 12
para a: resistência no pino 1 está ligado a VCC (+) e da resistência no pino 2 está ligado ao GND (-). O resultado desta
medição é apresentado na linha 2 no primeiro lugar fi como di ff erência para o valor teórico. Na linha 1 segue-se agora
uma “13” o que significa, que a ligação da primeira medição de uma ainda está ligado com 680Ω ao VCC, mas que a
resistência do pino 3 está ligado ao GND. O resultado é exibido no lugar do meio da linha 2 como di ff rência ao valor
teórico. A última medição de este teste “23.” significa que agora o resistor no pino 2 está ligado a VCC (+) e o resistor de
pino 3 está ligado ao GND. O resultado da medição é exibido no último lugar da LCR linha 2 como di ff rência ao valor
teórico. Por favor lembre-se, que a resolução do ADC é sobre 4.88mV! A situação de medição também é mostrado na
figura 5.44. O valor teórico com relação à resistência interna dos pinos devem ser:

5001 · ( 680 19 +) (19 + 680 + 680 + 22) = 2493.

VCC VCC
VCC
22

19

22

19

22

19
19

19

19
22

19

22

22

19

19

22

22

22

19

19

22

22
19

22

GND GND GND

ADCMux ADCMux

PC0 PB0 TP3 PC1 PB2 PC0 ADCMux PB0


TP2 PC2 PB4 PC1 PB2 TP1 PC2 PB4
R1

R1

R3
680

680

680

680

680

680
R3

R5

R5

TP1 TP2 TP1 TP3 TP2 TP3

primeira medição segunda medição terceira medição

A Figura 5.44: Comparação de 680Ω resistências

53
3. Comparando do 470 k Ω resistores. Agora o visor mostra na linha 1 “+ RH- 12 13 23”.
O mesmo procedimento como foi feito no passo 2 é repetido com a 470 k resistores ohms (símbolos HR). Todos os resultados são
apresentados como di ff erência para o valor teórico. O valor teórico é desta vez
5001 · ( 19 + 470000] (19 + 470000 + 470000 + 22) = 2500 para todas as
combinações.

4. Nesta etapa nada é medido, mas a ordem é apresentado Sonda isolado !, que significa
que é o tempo para separar as sondas (libertação do fio).

5. Este passo testa a capacidade de GND (-) ligada 470 k Ω resistores (H) para o puxar
pinos de teste para GND. A linha 1 mostra o texto “RH-”. Row 2 deve exibir zero para todos os três pinos.

6. Este passo testa a capacidade de VCC (+) ligado 470 k Ω resistores (H) para o puxar
pinos de teste para VCC (+). A linha 1 mostra o texto “RH +”. Os resultados são mostrados als di ff erência ao VCC e deve ser
próximo de zero. Grandes rências di ff do melhor valor para o teste 5 e 6 são erros, tais como problemas de isolamento, fl uxo
material ou porta danificado.

7. Medição da resistência interna do pino de saída ligado ao sinal GND. este


teste e os testes follwing só vai ser feito, se a opção AUTO CAL é seleccionado. A resistência interna das saídas de
conexão C ligado ao GND (-) são medidos com a corrente da VCC (+) comutada 680Ω resistências, ver Figura 5.45.
Apenas os três pinos da porta ADC são medidos, a porta de resistência B (PB0, PB2 e PB4) não pode ser medido sem
modi fi cação de hardware. Se é assumido que a resistência de porta das portas erent di ff são quase idênticas. O valor da
resistência será mostrado no seguinte teste.

VCC VCC VCC


19

22

19

22

19

22
22

19

22

19

22

19
GND GND GND

ADCMux ADCMux ADCMux

PC0 PB0 PC1 PB2 PC2 PB4


R1

R3

R5
680

680

680

TP1 TP2 TP3

primeira medição segunda medição terceira medição

A Figura 5.45: Medida da resistência interna da Porta C ligado ao GND

8. Medição da resistência interna de saídas de porta ligado ao sinal de VCC (+).


A corrente necessária é gerada com a GND ligado 680Ω resistências. Ele são as mesmas medidas como aqueles em teste
7 para o outro lado, como se pode ver na Figura 5.46. Com os seguintes passos a resistência é calculado: Para obter o
atual, o seguinte é calculado: ( V CC - ( resultoftest 7) - ( resultoftest 8)) / 680. Para fazer os dois valores de resistência, a
tensão (resultado do teste de 7 ou 8) é dividido por esta corrente. O resultado para este teste irá então ser notificada fi cado
em linha um com o texto “RI = Oi”, o valor da resistência (Ω) para o lado do GND é exibido na linha 2, com o texto “RI = Lo”.
Ambos os resultados serão gravados na memória EEPROM e serão utilizados para posterior medição.

54
VCC VCC VCC

22

19

22

19

22

19
19

22

19

22

19

22
GND GND GND

ADCMux ADCMux ADCMux

PC0 PB0 PC1 PB2 PC2 PB4

R1

R3

R5
680

680

680
TP1 TP2 TP3

primeira medição segunda medição terceira medição

A Figura 5.46: Medida da resistência interna da Porta C ligado ao VCC

9. Medição do zero o conjunto ff do condensador de medição. O conjunto ff zero o para o


medição de capacidade com combinações pino 1: 3, 2: 3 e 1: 2 é mostrada em que o pedido em fila de exibição 1 na sequência do “C0”.
Alls três valores são mostrados em unidades pF. Para este medições não prede fi nidos de zero set o ff é respeitada. Os conjuntos de ff
zero o pino de combinações em ordem inversa, também é medida. Os resultados serão gravados no EEPROM, se todos os valores são
inferiores a 70 pF. Este será notificada fi ed pela saída de “OK” na linha 2. O encontrados conjuntos de zero o ff são utilizados para outras
medições de capacidade no que diz respeito à combinação de pinos. Por favor note, que a mudança do equipamento de teste pode
causar um novo ajuste do conjunto ff de zero o. Se usar arame com clipes, o conjunto ff zero, o pode ser = 3 pF maior em comparação a
uma tomada de vazio.

10. Esperar para a ligação de um condensador ao pino 1 e pino 3. A mensagem “1-C-3> 100nF”
é mostrado na linha 1 de LCD. Para preparar a medição da tensão conjunto ff comparador o, você deve conectar a su ffi
ciente grande capacitor no pino 1 e pino 3. Deve ser um capacitor com um fator de alta qualidade e uma capacidade entre
100 nF e 20 mF. Você nunca deve usar capacitores electrolíticos, use capacitores fi lm vez.

11. Medição do conjunto ff comparador o ajuste para medição condensador. Para


obter o conjunto o ff do comparador analógico, um condensador de já deve ser ligado ao pino 1 e pino 3. O condensador é
necessária para bu ff Ering a tensão de carga de um condensador, a fim de obter o erência tensão di ff da tensão de carga
para a tensão de referência interna ( band gap). Se a medição for bem sucedido, o valor de correção é curto mostrado com
o texto “REF C =” na linha 1 do LCD e escrita na EEPROM. Você pode dar um conjunto o ff adicional para o valor medido
automática com a opção REF C Korr.

Se tiver seleccionado a opção AUTOSCALE ADC, o ganho das leituras ADC com a referência interna vai ser ajustado por
comparação de uma tensão de condensador inferior a 1 V uma vez readed com referência VCC e uma vez readed com a
referência interna. O resultado da medição é apresentado na linha 2, com o texto “REF R =”. Seu valor REF R Korr é um
conjunto o ff adicional a este fi automática nd para fora di ff valor rência.

No final da função de teste do texto “Test End” é mostrado na linha 1 eo número da versão de software é mostrado na linha 2.
Se a Make fi le opção FREQUÊNCIA 50Hz for definido, um sinal rectângulo 50Hz é gerado no pino 2 e o mesmo sinal na direcção
oposta no pino 3. O pino 1 está ligado ao GND. A corrente é limitada com 680Ω resistores. Este será fi noti ed pela saída de
“50Hz” no final da linha 1 do visor LCD. O sinal de 50Hz será gerado 30 vezes durante 2 segundos cada um. Você pode verificar o
tempo das chamadas de espera, se você tem um contador osciloscópio ou frequência. Se você não usar a versão relógio de
cristal, o resultado pode ser inexata. A frequência de relógio com precisão e

55
tempo de espera são importantes para a medição dos valores da capacidade. Você pode abortar a geração do sinal de 50Hz por muito
tempo pressionando o botão start. Em seguida, o programa continua com a tarefa de medição normal.

5.5.1 Alguns resultados da função Selftest


Os resultados dos autotestes de processadores ATmega168 ff erent nove di e de seis processadores ATMega328 serão mostrados nas
seguintes figuras.

Teste No. Tipo de medição teórica fi gura


teste 1 hiato Ref 1100 5,47
teste 2 RL-Meio 0 5.48a
teste 3 HR-Meio 0 5.48b
teste 5 RH-Low 0 5.49a
teste 6 RH de alta 0 5.49b
teste 7 R out Lo 131 5.50a
teste 8 R Olá 151 5.50b
teste 9 Cap zero, o conjunto ff 30 5,51
Teste de correcção de 11 Referência 0 5,52

Tabela 5.5: Tabela do autoteste figuras

1110
Referência

1100

1090
tensão de referência / mV

1080

1070

1060

1050
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16
número do processador

A Figura 5.47: Selftest: Referência sobretensões

56
RLmiddle12 RHmiddle12
RLmiddle13 RHmiddle13
5 5
RLmiddle23 RHmiddle23

0 0

-5 -5
tensão / mV

tensão / mV
- 10 - 10

- 15 - 15

- 20 - 20
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16
número do processador número do processador

(A) com 680Ω (B) com 470 k Ω

A Figura 5.48: Selftest: di ff erência a tensão média ideal

5
RHbottom1 RHtop1
RHbottom2 0 RHtop2
RHbottom3 RHtop3
4 -1
(Tensão - VCC) / mV

3 -2
tensão / mV

2 -3

1 -4

0 -5
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16
número do processador número do processador

(A) com 470 k Ω para 0V (B) com 470 k Ω a 5V

A Figura 5.49: Selftest: Tensão de entrada

21,2 23,5
RiLo1 RiHi1
RiLo2 RiHi2
21
RiLo3 RiHi3
23
20.8

20,6
resistência / Ohm

resistência / Ohm

22.5

20,4

22
20,2

20
21.5
19.8

19,6 21
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16
número do processador número do processador

(A) com 680Ω a 5V (B) com a 680Ω 0V

Figura 5.50: Selftest: Resistência de saída

57
44
CNULL1
CNULL2
42 CNULL3

40

Capacidade / pF
38

36

34

32
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16
número do processador

A Figura 5.51: Selftest: a zero o conjunto ff da medição da capacidade

REF C korr REF R


korr

80
correção de tensão / mV

60

40

20

- 20 0

- 40

- 60
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16
número do processador

Figura 5.52: Selftest: valores de correção após a calibração automática

No passado, eu gostaria de mostrar-lhe as tensões di ff rência do externo no pino AREF com um multímetro medida tensões
ea interna com os ADC medido tensões das tensões de referência de 15 di ff erent ATMEGA precessors e as tensões de correção
encontrados (REF R Korr) após a calibração automática na figura 5.53. Você pode ver, que os valores de calibração automática
quase siga os valores medidos externas.

AREF - REF REF


R Korr

40

30
Voltagem di ff erência / mV

20

10

- 10 0

- 20

- 30

- 40
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16
número do processador

A Figura 5.53: Selftest: Tensão di ff erência da referência interna

58
Capítulo 6

erros conhecidos e problemas não resolvidos

1.04k Versão Software

1. Os diodos de germânio (AC128) não são detectados em todos os casos.

2. O valor de Capacidade de carga em sentido inverso for Power Schottky diodos, tais como MBR3045PT não pode ser medido, ainda que
apenas um diodo está ligado. A razão é uma corrente residual muito grande deste diodo. Por vezes, a medição é possível, por arrefecimento
para baixo o dispositivo (com arrefecimento por pulverização, por exemplo).

3. Aqui e ali uma detecção errada do Referência precisão 2.5V é relatado, quando o pino PC4 (27) é alheio. Você pode evitar
esse comportamento com um puxar para cima resistor adicional conectado a VCC.

4. A função diodo de um portão triac não pode ser examinado.

5. Às vezes, um problema com o nível Brown Fora de 4.3V é relatado para processadores ATmega168 ou ATMega328. Isso fará com
que uma redefinição durante a medição da capacidade. A razão não é conhecida. Os Redefine desaparecerá, se o nível Brown
Out está definida para 2.7V.

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Capítulo 7

Peças Software especial

Vários modi fi cações são feitos para economizar memória fl ash. O LCD de saída de números de pinos sonda foi feito na forma de
“dados LCD ( '1' + pino)”. Para salvar a operação de adição para cada chamada, a entrada “testpin lcd (uint8 t pin)” foi adicionado ao
routines.c lcd.
As chamadas pseudo na forma de “ms de atraso (200)” não são implementadas como chamadas de biblioteca, mas espere loops são
implementadas para cada chamada. Isto irá consumir muita memória, se você tiver muitas chamadas em di ff localização erent em seu
programa. Tudo isto exige pseudo são substituídos por chamadas para o meu assembléia especial biblioteca escrita, que usa apenas 74
bytes de memória fl ash (@ 8MHz), mas permite que as chamadas de wait1us () para wait5s () em passos de 1,2,3,4 , 5,10,20. . . . As rotinas
incluem o cão de guarda Repor para todas as chamadas acima de 50ms. Cada chamada espera normalmente só precisa de uma instrução (2
Byte). Espere chamadas com valor intermediário, como 8ms precisam duas chamadas (5ms e 3ms ou duas vezes por chamada 4ms). Eu não
sei qualquer implementação, o que é mais econômico se você usar muitas chamadas de espera em seu programa. As chamadas não usa
registros, apenas o Ponteiros Stack para o retorno Endereços na RAM (no máximo espaço de pilha 28 Byte na versão atual) é usado. A lista
total de funções é: wait1us (), wait2us (), wait3us (), wait4us (), wait5us (), wait10us (), wait20us (), wait30us (), wait30us (), wait40us (),
wait50us () , wait100us (), wait200us (), wait300us (), wait400us (), wait500us (), wait1ms (), wait2ms (), wait3ms (), wait4ms (), wait5ms (),
wait10ms (), wait20ms (), wait30ms (), wait40ms (), (), wait50ms wait100ms (), (), wait200ms wait300ms (), wait400ms, wait500ms (), (), wait1s
wait2s (), (), wait3s wait4s () e wait5s ();

Que são 36 funções com apenas 37 instruções Dog inclusive Assista Redefinir! Não há realmente nenhuma maneira de encurtar esta biblioteca. Última não
menos importante corresponde a espera chama o tempo de atraso exatamente, se o menor chamada espera faz. Apenas a espera chama 50ms acima são
um ciclo por 100ms e longo por causa da reinicialização adicionalmente integrado cão de guarda.

Além disso, o muitas vezes utilizados chamando wait5ms de sequência”(); ReadADC. . . ();”É substituída pela
chamada‘W5msReadADC (...);’. O mesmo é feito para a sequência “wait20ms (); ReadADC (...);”, Que é substituído por
um‘W20msReadADC (...);’Chamada. O ReadADC função é também escrito em linguagem assembly, para que este add-on pode
ser implementada muito e ff ective. A versão C-funcional idêntica da função ReadADC também disponíveis como fonte.

60
Capítulo 8

Para fazer a lista e novas idéias

1. Adicione mais e melhor documentação.

2. Verifique se transistor tester poderia obter valores de ADC melhor interpolados se o ruído adicional é adicionado ao sinal ou à
referência ADC (veja Atmel AVR121 documento: Melhorar a resolução ADC por oversampling). Se todos os itens são
idênticos, não pode haver qualquer aumento da resolução por oversampling. Pode o suficiente ruído ser gerados com o
contador ATmega? Como adicional barulho um Effects, os valores limite superior e inferior? É claro que este método não pode
eliminar todos os erros ADC.

3. Este método pode ser testado através da construção de um sinal de entrada de rampa e monitorização deste sinal. O sinal de rampa pode ser
construído por carregamento lentamente um grande condensador com o resistor de 470k. O crescimento da tensão pode então ser monitorada
com o display LCD em uma parte especial de auto-teste.

4. Pense em como podemos obter a resistência interna real da produção porta B (resistor de troca de porta) em vez de assumir, de
que as portas são iguais.

5. Pode descarga de capacitores ser feita mais rapidamente, se o pino de menos é também levantada com o resistor de 680Ω
para VCC (+)?

6. Verifique se o testador pode usar fl representação de ponto flutuante de valores. O risco de excesso de fluxo é baixa. Não há
necessidade de usar a multiplicação e divisão em conjunto para construir uma multiplicação por um factor não inteiro. Mas eu não sei
o quanto fl ash memória deve ser passar para a biblioteca.

guia 7. Escrever usuário para con fi guring o testador com a Make fi le opções e descrição da cadeia de construção.

8. Se a corrente de realização de um tiristor não pode ser alcançado com o resistor 680Ω, é inofensivo para mudar o cátodo
diretamente para GND eo ânodo diretamente para VCC para um tempo muito curto? A corrente pode chegar a mais de 100 mA.
Será que a porta ser danificado? O que é com a fonte de alimentação (regulador de tensão)?

9. Verifique a porta depois com função de auto-teste!

10. Pode reguladores de tensão ser verificado? (Entrada, Saída, GND)

11. Pode acopladores optoeletrônicos ser verificado?

12. mensagem de aviso, se a tensão de referência encontrados não é plausível em relação ao modelo ATmega e VCC.

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13. O que é de cerca de um segundo testador geração com maior ATmega que inclui di ff erential ADC-porta, mais memória
cinzas fl. ? Não há ATxmega que tem tensão de 5V, somente a linha ATmega é possível.

14. ideia para um novo Projekt: Versão USB sem LCD-Display, poder de USB, comunicação ao PC através de uma ponte
USB-Serial.

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Bibliografia

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língua, Artigo on-line de 2012

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