TÉCNICAS DE

CARACTERIZAÇÃO DE
MATERIAIS

TÉCNICAS DE MICROSCOPIA

por Prof. Dr. Henrique Kahn

! Microscopia óptica
" Estereomicroscopia
" Microscopia de luz transmitida
" Microscopia de luz refletida

! Microscopia de feixe de elétrons

" MEV - Microscopia eletrônica de varredura
" MET - Microscopia eletrônica de transmissão

! Estereologia (microscopia quantitativa)

1
 Evolução da microscopia

Comparação entre as técnicas de microscopia

Característica Microscopia Microscopia Microscopia Microscopia de

óptica eletrônica de eletrônica de campo iônico
varredura transmissão
Tensão de − 3 a 50 50 a 1000 5 a 15
aceleração (kV)
Faixa útil de 1 a 3.000 X 10 a 50.000 X 1.000 a 300000 1.000.000 X
aumentos
Resolução (Å) 3.000 Å 30 Å 3Å 1Å

Profundidade de 0,1 µm 100 µm 10 µm −

foco com 1000 X
5 6 12
Densidade 10 (cavidades 10 (cavidades 10 (lamina −
máxima de de corrosão) de corrosão) fina)
discordâncias
3
medida (cm/cm )

2
 MICROSCOPIA ÓPTICA -
APLICAÇÕES
! Identificação de fases minerais;

! Quantificação de fases minerais;

! Composição de fases minerais;

! Formas de intercrescimento e associações.

ESTEREOMICROSCOPIA
! Visão estéreo (3D);
! Aumentos 4 a 200 vezes (usual 10 a 100X);
! Distinção de fases por meio de características
morfológicas:
" cor, transparência, brilho;
" hábito;
" clivagem, partiç
partição e fratura;
" luminescência UV.

3
 ESTEREOMICROSCÓPIO

zoom 3 a12 X

Iluminação:
incidente;
transmitida

ESTEREOMICROSCOPIA -
DISTINÇÃO DE FASES

zircão turmalina granada

4
Rutilo

Zircão

5
MICROSCOPIA DE POLARIZAÇÃO
POR LUZ TRANSMITIDA

! Aumentos 20 a 1.000 vezes;

! Recursos de polarização de luz;
! Distinção de fases por meio de:
" caracterí
características morfoló
morfológicas;
" propriedades ópticas.

CALCITA – CaCO3

Como explicar a formação de uma dupla imagem?

6
 MICROSCOPIO DE POLARIZAÇÃO
POR LUZ TRANSMITIDA

MICROSCOPIO DE POLARIZAÇÃO POR

LUZ TRANSMITIDA
oculares

lente de Bertrand

analisador/compensador

objetivas

polarizador / intensidade
diafragma e de iluminação
condensador
liga/desliga

controle de foco

7
 MICROSCOPIO DE POLARIZAÇÃO POR
LUZ TRANSMITIDA

analisador /
compensador

objetivas

platina giratória

condensador
polarizador
diafragma

controle de foco

REFRAÇÃO DA LUZ
! Comportamento dos minerais transparentes e semi-
opacos em relação à luz
• isó
isótropos (um índice de refração);
• anisó
anisótropos (dois ou três índices de refração, respectivamente,
uniaxiais e biaxiais).

x y

Indicatriz uniaxial
Indicatriz isótropa Indicatriz biaxial

8
PROPRIEDADES ÓPTICAS - RELEVO
Relação entre o índice de refração do mineral
e do meio no qual este está imerso:
A - baixo B - alto

ÍNDICE DE REFRAÇÃO -
LINHA DE BECKE
! Tênue linha da luz na borda dos minerais que se
movimenta ao se desfocar o microscópio.

Índice do mineral > meio

9
 ÍNDICE DE REFRAÇÃO -
LINHA DE BECKE
! Tênue linha da luz na borda dos minerais que se
movimenta ao se desfocar o microscópio.

Índice do mineral < meio

LUZ POLARIZADA

! Oscilação somente em uma direção.

10
 MINERAIS ISÓTROPOS
! Sistema cúbico;
! Apresentam um único índice de refração;
! São isótropos em relação à luz:
" sob nicóis cruzados
(polarizador e analisador) estão
sempre extintos (não visíveis)
ao giro da platina

MINERAIS ANISÓTROPOS
! Outros sistema cristalinos que nâo o cúbico;
! Apresentam dois ou três índices de refração;
! São anisótropos em relação à luz:
" Pleocroismo (coloridos);
" Extinção;
" Elongação (hábito prismático);
" Figuras de interferência.

11
 PLEOCROÍSMO
! Minerais coloridos apresentando duas cores

distintas, cada qual concordante com um índice de

refração.

Observação em nicóis paralelos - só polarizador

INTERFERÊNCIA DE LUZ

Atraso = (n1 - n2) . d = birrefringência (∆ )

12
 Tabela de cores de interferência

EXTINÇÃO

Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º

13
 EXTINÇÃO

! Reta ou paralela

Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º

EXTINÇÃO

! Simétrica

Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º

14
 EXTINÇÃO
! Inclinada

z
zΛc
c
Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º

MICROSCOPIA DE POLARIZAÇÃO
POR LUZ REFLETIDA

! Aumentos 20 a 1.000 vezes;

! Recursos de polarização de luz;
! Distinção de fases por meio de:
" caracterí
características morfoló
morfológicas;
" propriedades fí
físicas;
" propriedades ópticas;
pticas;
" propriedades quí
químicas.
micas.

15
MICROSCOPIO DE POLARIZAÇÃO
POR LUZ REFLETIDA

Amostra
ortogonal à
incidência da luz

PREPARAÇÃO DA SEÇÃO
! Corte da amostra;
! Montagem da seção em resina;
! Desbaste:
" manual em lixa d’água e/ou carborundum;
" mecanizado em discos especiais;

! Polimento:
" tecidos especiais com alumina ou diamante
como abrasivos;
" disco de chumbo com alumina;

! Tipos de seções:
" polida - luz refletida;
" delgada/polida - luz transmitida e refletida.

16
 Corte da Amostra
! Discos diamantados

Corte para seção delgada

DESBASTE

! Manual ! Discos
especiais

17
 Polimento - Logitech

! Tecidos ! Disco de
especiais chumbo

Tipos de Seções

! Polida ! Delgada polida

18
 DISTINÇÃO DE FASES
! Características morfológicas:
" hábito;
" clivagem, partiç
partição e fratura;
! Propriedades ópticas:
" cor de reflexão;
" isotropia / anisotropia;

" birreflectância;
birreflectância;
" refletividade (relativa ou absoluta);

" reflexão interna;

! Outras propriedades físicas:

" dureza ao risco (relativa)
" dureza Vickers (absoluta);

! Propriedades químicas

pirita

calcopirita

esfalerita

pirrotita
galena

! minério de Cu,Pb (Zn)

19
 calcopirita bornita

! minério de cobre (exsolução)

ISOTROPIA / ANISOTROPIA

! Sob nicóis cruzados (polarizador e analisador

a cerca de 87-88º) observar se ocorre
mudança de cor ao giro da platina do
microscópio:
" não há mudança de cor ⇒ isótropo;
tropo
" há mudança de cor ⇒ anisó
anisótropo.
tropo.

20
 ! hematita (nicóis cruzados)

BIRREFLECTÂNCIA

! Sob nicóis paralelos (só polarizador) observar

se ocorre mudança na cor de reflexão do
mineral ao giro da platina do microscópio:
" há mudança de cor ⇒ birreflectância.
birreflectância.

Obs.: Birreflectância corresponde a fenômeno equivalente a

dicroí
dicroísmo / pleocroí
pleocroísmo em microscopia de polarização
sob luz transmitida.

21
 molibdenita
" birreflectância
" geminação

REFLETIVIDADE

! Diferenças na intensidade de luz refletida

pelos minerais sob nicóis paralelos (só
polarizador);
! Pode ser avaliada:
" qualitativamente;
" quantitativamente (célula fotoelétrica).

22
 MEDIDA DE REFLETIVIDADE
! Comparação com padrões⇒ calibração;
! Luz policromática ou monocromática;
! Medida em ar ou imersão em óleo.

REFLEXÃO INTERNA
! Aumento elevado
" ( obj >20X);
! Nicóis cruzados
" (polarizador e analisador);

Fenômeno de múltiplas
reflexões internas

23
DUREZA AO RISCO - Escala Talmage

A - Argentita;
B - Galena;
C - Calcopirita;
D - Tetraedita;
E - Nicolita;
F - Magnetita;
G - Ilmenita

DUREZA VICKERS

! Medida da deformação causada em um

mineral por uma pirâmide invertida de
diamante,sobre a qual é aplicada uma certa
carga (0,1 a 500 g)

1854,4 . P
D.V. = (kg / mm2) , onde:
d2

P = peso (g)
d = diâmetro médio da identação (≈ 20 medidas)

24
 DUREZA VICKERS

Escala e marcas
Durimet de identação

Refletividade
Média (%) DUREZA VICKERS
X
REFLETIVIDADE

Microdureza Vickers (média)

25
MEV – MICROSCOPIA ELETRÔNICA
DE VARREDURA

MEV e EDS/WDS

! Aumentos 20 a 50.000 vezes;

! Elevada profundidade de campo;

! Interaç
Interação elé
elétrons - amostra;

! Aná
Análises quí
químicas pontuais (EDS / WDS).

26
 MEV
# A coluna do MEV gera um
fino feixe de elétrons;
# Um sistema de deflexão
controla o aumento da
imagem;
# Interação entre os elétrons e
a amostra;
# Detetores de elétrons
coletam o sinal;
# A imagem é visualizada em
um monitor simultaneamente
a varredura do feixe de
elétrons;

Geração do feixe de elétrons

27
Coluna e lentes
eletromagnéticas

Mecanismo de
varredura

28
 INTERAÇÃO ELÉTRONS AMOSTRA

# Fornecem informaç
informações sobre a composiç
composição, topografia,
cristalografia, potencial elé
elétrico e campos magné
magnéticos locais.

PROFUNDIDADE DAS
INTERAÇÕES GERADAS

29
 ELÉTRONS RETRO-ESPALHADOS
# Compreende espalhamento elástico de elétrons
cuja trajetória foi desviada em mais de 90° em
relação à direção do feixe incidente. Mostram
estreita relação de dependência com o número
atômico e a energia dos elétrons (50 eV até
valores correspondentes a energia do feixe
incidente).
# Permitem a individualização de fases através de
contraste de tons de cinza em função do número
atômico médio (Z) - diferenças Z > 0,2.

ELÉTRONS RETRO-ESPALHADOS

30
 ELÉTRONS RETRO-ESPALHADOS

BSE Ouro primário, Salamangone, AP

ELÉTRONS SECUNDÁRIOS

# Compreendem os elétrons da camada de

valência perdidos que emergem através da

superfície da amostra;
# Englobam todos os elétrons de energia

inferior a 50 eV;
# Possibilitam a visualização da topografia da

amostra, com elevada profundidade de foco.

31
 DETETOR DE ELÉTRONS
SECUNDÁRIOS

SE

diatomácea

ELÉTRONS SECUNDÁRIOS

32
 CATODOLUMINESCÊNCIA
# O bombardeamento da amostra por um feixe de
elétrons pode dar origem a emissão de fótons de
comprimento de onda elevados, situados nas
regiões do espectro eletromagnético referentes às
radiações ultravioleta, visível e infravermelho. Este
fenômeno, bem evidente em alguns minerais
(fluorita, apatita, etc), é denominado de
catodoluminescência.
catodoluminescência

CATODOLUMINESCÊNCIA

zircão

33
 RAIOS - X

# O espectro de raios-X resultante da interação

elétrons / amostra é constituído por dois

componentes distintos:
$ raios-
raios-X caracterí
característico,
stico, que permite identificar e
quantificar os elementos presentes,
$ raios-
raios-X contí
contínuo,
nuo, responsá
responsável pelo “background”
background” em
todos os ní
níveis de energia.

LINHAS DE

EMISSÃO

ATÔMICA

34
 K
L
M

RAIOS - X CONTÍNUO

ESPECTRÔMETROS DE RAIOS - X

# o espectrômetro de dispersão de energia

(EDS);
# espectrômetro de dispersão de comprimento

de onda (WDS).

35
 ESPECTRÔMETRO DE RAIOS - X POR
DISPERSÃO DE ENERGIA (EDS)

# discriminação de todo o espectro de energia

através de um detetor de estado sólido de

Si(Li) ou Ge.

ESPECTRÔMETRO DE RAIOS - X

EDS

36
ETR, Barra de Itapirapuã Bastnaesita Parisita
Ce - 31,1 26,5
La - 23,3 19,9
Nd - 3,35 3,80
outros ETR - 1,67 1,90
Sr - 1.95 1,22
Y - 0,21 0,71
Th - 1,36 0,72
Ca - 0,91 8,11
C - 5,59 6,42
O - 22,3 25,7
F - 8,50 7,39

Ln2O3 - 69,9 61,8

CaO - 1,27 11,4

Fase Clara - Bastnaesita Fase Escura - Parisita

ESPECTRÔMETRO DE RAIOS - X POR

DISPERSÃO DE COMPRIMENTO DE ONDA
(WDS)

# cristais analisadores e difração (nλ = 2 d sen θ)

são empregados para a discriminação dos

raios-X segundo o comprimento de onda da
radiação (monocromador).

37
ESPECTRÔMETRO DE RAIOS - X

WDS

ESPECTRÔMETRO DE RAIOS-X : WDS

38
ESPECTRÔMETRO DE RAIOS-X : WDS

! Cristais analisadores

COMPARAÇÃO ENTRE EDS e WDS

Espectro por EDS

Espectro por WDS

(escala log)

39
 COMPARAÇÃO ENTRE EDS e WDS

Características WDS - cristais EDS - Si(Li) ou Ge

analisadores
Número atômico z≥4 z ≥ 4 (janela ultrafina)
Intervalo espectral resolução do espectrômetro todo o intervalo disponível
(1 elemento por vez) 0-20 keV (multi-elementar)
Resolução dependente do cristal 132 a 145 eV detetor de Si
espectral (≈ 5 a 10 eV) 111 a 115 eV detetor de Ge
limite de deteção ≈ 0,01 % ≈ 0,1%
Contagem máxima 100.000 cps depende da resolução
para uma linha 2.000 a 100.000 cps para todo o
característica espectro (Ge ≈ 4 X Si)
diâmetro usual ≈ 200 nm (2000 Å) ≈ 5 nm (50 Å)
mínimo do feixe
tempo por análise 5 a 30 minutos 1 a 3 minutos
(depende do nº de
elementos)

Fosfato de Tapira, MG
Ca, P;
Si;
Fe

Ca, P;
Fe

40
MET – MICROSCOPIA ELETRÔNICA
DE TRANSMISSÃO

! Estudo de defeitos cristalinos:

" discordâncias
" defeitos de empilhamento.
! Estudo de defeitos de empilhamento;
! Estudos de precipitados muito finos -
nanométricos.

MET

41
 MET – Preparação de amostras
Espessura máxima transmissível a 100 kV
Elemento Número Densidade Espessura
atômico (g/cm³) máxima (Å)
Carbono 6 2,26 >5000
Alumínio 13 2,70 5000
Cobre 29 8,96 2000
Espessura máxima transmissível a 100 kV
Prata 47 10,50 1500
Ouro 79 19,30 1000

Efeito do aumento da tensão de aceleração - base 100 kV

Diferença de potencial (kV) Fator de multiplicação
100 1
200 1,6
300 2,0
500 2,5
1000 3,0

MET – Preparação de amostras

Amostras de lâminas finas do pró
próprio material

• Preparação de lâminas finas de metais e ligas:

• corte de lâminas de 0,8 a 1,0 mm de espessura
• polimento mecânico até 0,10-0,20 mm de espessura
Espessura máxima transmissível a 100 kV
• polimento eletrolítico final.
• Preparação lâminas finas de polímeros e outros materiais
orgânicos:
• microtomia, onde uma navalha corta películas finas e com
espessura controlada;
• ultramicrotomia - material resfriado em nitrogênio líquido.

42
 MET – Preparação de amostras
• Réplicas da superfí
superfície da amostra ("negativo" da superfície
observando-se o contraste relativo às variações de
espessura):
• de plástico: solução diluída de plástico em um solvente volátil
Espessura máxima transmissível a 100 kV
formando um filme;

• de carbono: este material é evaporado na superfície da amostra.

Esta técnica pode ser utilizada também para arrancar partículas de
precipitados da amostra, a chamada réplica de extração;

• de óxido: usada principalmente para ligas de alumínio, o filme de

óxido é obtido por anodização de uma superfície previamente
polida eletroliticamente.

MET - FORMAÇÃO DE IMAGEM

! Sólidos amorfos

contraste em só
sólidos amorfos com variaç
variação de densidade -
região B é mais densa que a região A

43
 MET - FORMAÇÃO DE IMAGEM
! Sólidos cristalinos

MET - FIGURAS DE DIFRAÇÃO

44
 MET - DIFRAÇÃO DE ELÉTRONS
! Ferro alfa, com as manchas ou pontos indexados

ESTEREOLOGIA
OU
MICROSCOPIA QUANTITATIVA

45
ESTEREOLOGIA

! Estudo das relações entre estruturas ou

feições tridimensionais de uma amostra e seus
parâmetros de medida em imagens
bidimensionais

ESTEREOLOGIA
3D

2D

Seç
Seções aleató
aleatórias de
esferas de diâmetro d

46
 ESTEREOLOGIA
! PARÂMETROS DE INTERESSE:
" Dimensões de feições;
" Forma de feições;
" Proporções volumétricas;
" Associações minerais:
% Grau de liberação;
% Textura e orientação;

Proporções volumétricas -
Análise modal
! As proporções volumétricas são determinadas
através de medidas de áreas, linhas ou pontos a
partir de seções não orientadas, ou material
particulado previamente classificado em estreitas
faixas granulométricas.

Princípio da
Vv = Aa = Ll = Pp Estereologia

47
 ANÁLISE DE
IMAGENS

! Avaliação quantitativa de feições

geométricas expostas em imagens
bidimensionais

ANÁLISE DE IMAGENS
! Imagens digitais: pixel

profundidade (bites por pixel)

resolução (500 a 3000 pixels)

48
SEQÜÊNCIA DE OPERAÇÕES
! aquisição da imagem (MO ou MEV);
! armazenamento da imagem;
! processamento de imagem;
! detecção das feições de interesse;
! processamento de imagem binária;
! medidas;
! apresentação de resultados.

49