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Pró-Reitoria de Graduação
Centro de Ciências
Departamento de Estatística e Matemática Aplicada
___________________________________
DISCIPLINA
CONTROLE ESTATÍSTICO DA
QUALIDADE
________________________________
ÍNDICE
1. Introdução
1.1 Evolução da qualidade.......................................................................
1.2 Algumas definições da qualidade ......................................................
2. Medidas estatísticas ..............................................................................
2.1 Coleta de dados (Por quê????) .........................................................
2.2 Medidas de posição ...........................................................................
2.2.1 Média aritmética e propriedades ................................................
2.3 Medidas de dispersão ........................................................................
2.3.1 Amplitude total (AT).....................................................................
2.3.2 Variância, desvio padrão e propriedades ...................................
2.3.3 Coeficiente de variação (CV) ......................................................
3. Diagrama de dispersão...........................................................................
3.1 Coeficiente de correlação linear de Pearson ....................................
4. Histograma .............................................................................................
5. Avaliação da qualidade das medidas....................................................
5.1 Repetitividade.....................................................................................
5.2 Reprodutibilidade................................................................................
5.3 Vício de sistemas de medição............................................................
5.4 Adequação da unidade de medida.....................................................
6. Gráficos (cartas) de controle ................................................................
6.1 Conceitos importantes .......................................................................
6.2 A distribuição normal .........................................................................
6.3 Subgrupos racionais ..........................................................................
6.4 Gráficos de controle por variáveis......................................................
6.4.1 Gráficos de controle para a média e amplitude ..........................
6.4.2 Gráficos de controle para média e desvio-padrão ......................
6.4.3 Gráficos de controle para medidas individuais-Gráficos X e AM
7. Processos autocorrelacionados............................................................
7.1 Conceito.............................................................................................
7.2 Identificação de processos autocorrelacionados................................
8. Gráficos de controle por atributos........................................................
8.1 Gráfico de controle para a proporção (p) ...........................................
8.2 Gráfico de controle para o número de itens defeituosos (np) ............
8.3 Gráfico de controle para o número de defeitos na amostra (c)...........
8.4 Gráfico de controle para o número de defeitos por unidade (u).........
9. Análise os gráficos de controle ............................................................
9.1 Análise da capacidade do processo (índice Cp e Cpk) .......................
10. Planos de inspeção por amostragem por atributos...........................
10.1 Conceitos importantes.....................................................................
10.2 Vantagens e desvantagens da amostragem...................................
10.3 Planos de inspeção por amostragem simples ...............................
10.4 Planos de inspeção por amostragem dupla ..................................
11. Bibliografia recomendada ...................................................................
3
1. Introdução
INSPEÇÃO MASSIVA
GARANTIA DA QUALIDADE
Serviço Prestado
Q.S .
Expectativ a
Duas abordagens:
O que é PROCESSO:
IMPORTANTE
2. Medidas estatísticas
Seria ideal se, uma vez definido um nível “ótimo” de qualidade, este se
mantivesse sempre constante durante todas as atividades do processo.
c) Métodos de medição
Lembre-se:
X i
X i 1
n
13
IMPORTANTE
APLICAÇÃO 1:
Os dados abaixo se referem a 10 medições da camada de tinta nas
laterais de fogões de duas linhas de produção: Linhas 1 e 2.
Linha 1 46 45 57 55 42 59 60 48 39 59
Linha 2 32 34 32 33 37 35 37 30 34 30
14
LINHA 1 LINHA 2
10 10
X 1 X 1
X i 1
X i 1
10 10
c) A Variância c) A Variância
10 10
Xi n * X X
2 2
n*X
2 2
i
Var(X) i 1
Var(X) i 1
10 - 1 10 - 1
DP Var(X) DP Var(X)
DP DP
CV = *100 CV = *100
X X
2.3
Medidas de dispersão
AT = Vmaior – Vmenor
IMPORTANTE
n
(x i x)
2
Var ( x ) i 1
n 1
DP(X) Var(X)
16
Esta medida está na mesma dimensão dos dados e, por isso, oferece uma
melhor visualização do nível de dispersão.
IMPORTANTE
1-
n
X
2
n *X
2
i
i 1
Var(X)
n 1
2-
2
n X
n i
Xi
2 i 1
n
Var(X) i 1
n 1
APLICAÇÃO 2:
DP(X)
CV *100
X
IMPORTANTE
Portanto,
APLICAÇÃO 3:
3. Diagrama de dispersão
Diagrama de Dispersão
Parte Superior
38
36
34
32
30
30 35 40 45
Parte Inferior
(X
i 1
i X)(Yi Y)
r(X, Y)
n
2
2
n
X i X Yi Y
i 1 i 1
Valores de r Interpretação
- Próximo de 1 (um) - Forte correlação linear positiva
- Próximo de –1 (menos um) - Forte correlação linear negativa
- Próximo de 0 (zero) - Não existe correlação linear
Fórmula alternativa:
X
i 1
i * Yi n * X * Y
r(X, Y)
n 2
n
2
X i n * X Yi n * Y
2 2
i 1 i 1
21
APLICAÇÃO 4:
Inferior Superior
ORD. LAT. Xi*Yi Xi2 Yi2
( Xi ) ( Yi )
1 32 32
2 30 30
3 30 30
4 32 35
5 35 33
6 40 33
7 35 36
8 31 35
9 34 37
10 29 36
TOTAL
4. Histograma
(n) (k)
Menor que 50 Use k entre 5 e 7
Maior ou igual a 50 e
Use k entre 6 e 10
Menor que 100
Maior ou igual a 100 e
Use k entre 7 e 12
Menor que 250
Maior ou igual a 250 Use k entre 10 e 20
Linf1 Lsup1 F1
Linf2 Lsup2 F2
Linf3 Lsup3 F3
.
.
.
.
.
.
Linfk Lsupk Fk
Total N
Importante:
intervalo
intervalo
na classe
35
30
Percentual de funcionários(F¡-%)
25
20
15
10
0
4 10 16 22 28 34
Salários
INTERPRETAÇÃO:
APLICAÇÃO 5:
26
23 24 24 24 26 27 27 28 28 28 29 29 29
30 30 30 31 31 31 31 31 33 33 34 34 35
35 35 35 35 35 36 36 37 37 37 37 38 38
38 39 39 39 40 40 40 40 40 41 41 41 42
42 42 43 43 43 44 44 45 45 45 45 45 46
46 47 47 49 49 50 52 54 54 55 56 56 57
59 59 59
5.1 Repetitividade
Notação:
REPE = quantificação da repetitividade
6 * σ̂ MEDIÇÃO R R i
PT *100 onde σ̂ MEDIÇÃO e R i 1
LSE LIE d2 k
APLICAÇÃO 6:
Os dados abaixo correspondem a uma amostra de 20 rolhas metálicas
para o estudo da repetitividade, cuja característica analisada é a altura da
rolha. A faixa de especificação é [5,80 ; 6,20].
5.2 Reprodutibilidade
30
Notação:
REPRO = quantificação da reprodutibilidade
Repetitividade
R i
R i 1
Para este exemplo m = 3 (número de operadores)
m
R 6 * σ̂ REPE
σ̂ REPE onde d2 é obtido na tabela para n = 2 e PTREPE *100
d2 LSE LIE
Aplicação 7:
31
Reprodutibilidade
2
R (σ̂ REPE ) 2
σ̂ REPRO X
d2 n*k
6 * σ̂ REPRO
PTREPRO *100
LSE LIE
6 * σ̂ MEDIÇÃO
PTMEDIÇÃO *100
LSE LIE
30,98
Instrumento Padrão
30,96
30,94
30,92
30,9
30,88
30,86
30,85 30,9 30,95 31
Instrum ento avaliado
Causas comuns
Causas especiais
Ao contrário das comuns, não fazem parte do processo o tempo todo. Surgem
ocasionalmente devido a uma causa específica, levando a resultados
estranhos quando comparada à inerente ao processo. Estas causas devem ser
imediatamente pesquisadas e bloqueadas. Um processo está "sob controle
estatístico" ou simplesmente "sob controle", se está operando com apenas
causas comuns de variação. Estar sob controle significa que o processo é
previsível e pode ser controlado.
Exemplos:
Causas Comuns: Instruções/Procedimentos confusos, não-homogeneidade
de materiais, manutenção, flutuações de corrente,
deficiências de projetos, etc.
Causas Especiais: Quebra de ferramenta/Máquina, funcionário não
treinado, erro humano, picos de corrente, mudança de
método, procedimentos não executados, etc.
LSC
x LC
LIC
LSC
x LC
LIC
Uma ilustração:
1, 2, 3, 4 e 5.
1 e 2 itens
Item 3
DNORMAL
X ~ N , 2
41
Intervalo Probabilidade
Interna Externa
1 68,26% 31,74%
2 95,46% 4,54%
3 99,73% 0,27%
Representação Gráfica
- 3 - 2 - 1 + 1 + 2 + 3
42
IMPORTANTE
Gráficos de Controle X - R
Gráficos X-barra e R
LSC
105
Médias
100 Média do
Processo
95 LIC
Subgrupo 0 5 10 15 20 25
LSC
20
Amplitudes
10 R
0 LIC
x1 x2 .... x k R R2 .... Rk
x ; R 1
k k
Cálculo dos Limites de Controle
Gráfico x : Gráfico R:
LSC x A2 R LSC D4 R D3 0 para n 4 ou n 5
D4 2,282 para n 4
LIC x A2 R LIC D3 R
D4 2,115 para n 5
A2 0,729 para n 4
A2 0,577 para n 5
45
Nº do
X1 X2 X3 X4 X5 X R
Subgrupo
1 32 34 32 33 37
2 30 30 30 33 41
3 30 33 30 36 33
4 35 32 32 35 35
5 32 31 38 30 32
6 30 30 34 35 35
7 32 30 39 34 35
8 30 31 36 34 37
9 35 37 30 34 30
10 40 31 32 33 30
11 35 36 30 31 32
12 31 34 30 35 34
13 43 36 33 31 32
14 35 33 39 30 31
15 39 37 33 37 32
16 40 36 35 32 30
17 30 32 43 36 33
18 35 35 35 33 39
19 34 35 39 37 33
20 34 37 40 36 35
21 40 31 31 34 39
22 37 35 34 38 39
23 37 38 34 31 39
24 40 37 38 31 34
25 32 32 30 39 34
TOTAL
MÉDIA
46
ii) n variável
i) E(S) = C4 * σ
ii) σS = 1 C42
a) Gráfico para S
LSC = E(S) + 3 σS
LSC = C4 * σ + 3 σ 1 C42
→ LSC = σ B6
→ LC = C4 * σ
LIC = E(S) - 3 * σS
LIC = C4 * σ - 3 σ 1 C42
→ LIC = σ * B5
__
Neste caso o gráfico para X é
47
→ LSC = 3
n
→ LIC = 3
n
C4
__
1
LSC = S 1 3 1 C4
C4
__
→ LSC = S B4
__ __ S i
→ LC = S Com S i 1
k
__
__
S
LIC = S 3 1 C4
2
C4
__
1
LIC = S 1 3 1 C4
C4
__
→ LIC = S B3
__
Neste caso os limites de controle para o gráfico para X são:
LSC = X 3 X LIC = X 3 X
LSC = X 3 LIC = X 3
n n
LSC = X 3
S
LIC = X 3
S
C4 n C4 n
→ LSC = X A3 S → LIC = X A3 S
48
e a LC = X
__
b) Gráfico de controle para X e S quando n é variável.
1
k
k
2
n X ni 1 S i
2
i i
X i 1
e S i 1 k
k
n i ni k
i 1 i 1
aplicação 8.
49
Nº do
X1 X2 X3 X4 X5 X S
Subgrupo
1 32 34 32 33 37
2 30 30 30 33 41
3 30 33 30 36 33
4 35 32 32 35 35
5 32 31 38 30 32
6 30 30 34 35 35
7 32 30 39 34 35
8 30 31 36 34 37
9 35 37 30 34 30
10 40 31 32 33 30
11 35 36 30 31 32
12 31 34 30 35 34
13 43 36 33 31 32
14 35 33 39 30 31
15 39 37 33 37 32
16 40 36 35 32 30
17 30 32 43 36 33
18 35 35 35 33 39
19 34 35 39 37 33
20 34 37 40 36 35
21 40 31 31 34 39
22 37 35 34 38 39
23 37 38 34 31 39
24 40 37 38 31 34
25 32 32 30 39 34
TOTAL
MÉDIA
50
Com i = 1, . . ., k
AM 1 AM 2 AM k 1
AM
k 1
i) Para o gráfico X
__ __
__ __
AM __ AM
LSC = X 3 * X X3 LC = X LIC = X 3 * X X 3
d2 d2
51
LSC = AM D4
LC = AM
LIC = AM D3
Onde d2, D3 e D4 são tabelados e são obtidos utilizando n=2, já que os gráficos
são baseados em uma amplitude móvel de n = 2 observações.
Observação:
X X ou X log X
52
7. Processos autocorrelacionados
7.1 Conceito
n L
(X
i 1
i X)(X i L X)
r(X, Y)
X
n
2
i X
i 1
Aplicação 10:
34,88688
R(X i , X i 1 ) 0,3161
110,3625
Nº do
Subgrupo
Xi X i 1 X X* X
i i 1 X X X
i
2
SX SX
LIC X 3 * e LSC X 3 *
c4 c4
X
k
j1
j X 2
SX
k 1
56
Importante
x1 x2 .... xn
pj onde n é o tamanho do subgrupo, e j = 1, 2, 3, . . . , k
n
p1 p2 .... pk
p ;
k
Cálculo dos Limites de Controle
p(1 p ) p(1 p)
LIC p 3 LC p LSC p 3
n n
Aplicação 11:
X (número
TAMANHO DO
Nº DO SUBGRUPO de PROPORÇÃO
SUBGRUPO
itens defeituosos)
1 100 4
2 100 2
3 100 0
4 100 5
5 100 3
6 100 2
7 100 4
8 100 3
9 100 2
10 100 6
11 100 1
12 100 4
13 100 1
14 100 0
15 100 2
16 100 3
17 100 1
18 100 6
19 100 1
20 100 3
21 100 3
22 100 2
23 100 0
24 100 7
25 100 3
TOTAL
__ __ __
LSC = n p 3 n p(1 p)
__
LC = n p
__ __ __
LIC = n p 3 n p(1 p)
k k Xj k
p
j 1
i
j 1 n
X
j 1
j
Para o caso de produtos físicos pode ser: uma chapa metálica, 10 rádios, 100
metros de tubulação, etc.
Isto quer dizer que uma amostra de produto não significa necessariamente
amostra de UM ÚNICO PRODUTO.
______________________________________________________________________
c i
C i 1
LSC C 3 * C
LC C
LIC C 3 * C
7. Interpretar o gráfico
____________________________________________________________
Aplicação 12:
Construção do gráfico c
Número médio de
Número Tamanho Número de defeitos defeitos por produto
do Subgrupo amostral (C)
U=C/n
1 10 21
2 10 24
3 10 16
4 10 12
5 10 15
6 10 5
7 10 28
8 10 20
9 10 31
10 10 25
11 10 20
12 10 24
13 10 16
14 10 19
15 10 10
16 10 17
17 10 13
18 10 22
19 10 18
20 10 39
21 10 30
22 10 24
23 10 16
24 10 19
25 10 17
26 10 15
TOTAL 516
63
U = C/n
64
______________________________________________________________________
U
LSC U 3 *
n
LC U
U
LIC U 3 *
n
Onde:
k
ui
i 1
U
k
Existe Seqüência
IMPORTANTE
Causas Possíveis:
Comprimento de
seqüência de sete
pontos é anormal
10 de 11pontos consecutivos
incidindo num mesmo lado é
anormal
Existe tendência
Sete pontos
ascendentes
Drástica tendência
descendente
Causas Possíveis:
3-sigma
2-sigma
2-sigma
3-sigma
Causas Possíveis:
Quando a maioria dos pontos está posicionada entre as linhas 1,5-sigma (as
duas faixas entre a linha central e cada uma das linhas 1,5-sigma), isto se deve
a uma maneira inadequada na formação de subgrupos.
3-sigma
1,5-sigma
1,5-sigma
3-sigma
68
Causas Possíveis:
Existe periodicidade
Causas Possíveis:
Objetivo
1- Elevada variabilidade
2- Média deslocada em relação ao ponto médio dos limites de especificação
IMPORTANTE
ANÁLISE GRÁFICA
LIE LSE
LIE LSE
ELEVADA VARIABILIDADE
UM PROCESSO PODE NÃO SER CAPAZ POR
APRESENTAR ELEVADA VARIABILIDADE
E/OU MÉDIA DESLOCADA EM RELAÇÃO AO
PONTO MÉDIO DOS LIMITES DE
ESPECIFICAÇÃO
LIE LSE
71
IMPORTANTE
RELACIONA A VARIABILIDADE
ÍNDICE C p
PERMITIDA (LSE-LIE), COM A
VARIABILIDADE NATURAL (6).
LSE LIE
Cp A MÉDIA DO PROCESSO É SUPOSTA
6σ IGUAL A MÉDIA DOS LIMITES DE
ESPECIFICAÇÃO.
LSE μ μ LIE
MÉDIA DOS LIMITES ESPECIFICAÇÃO.
Cpk Mín ,
3σ
TAMBÉM MEDE A VARIAÇÃO DO
3σ PROCESSO COM RELAÇÃO A
ESPECIFICAÇÃO.
CAPAZ OU CP 133
. P 64 ppm
ADEQUADO
LIE LSE
ACEITÁVEL CP 10
. P 64 ppm
e e
CP 133
. P 027
. %
LIE LSE
INCAPAZ OU CP 1 P 027
. %
INADEQUADO
LIE LSE
73
ESTIMATIVA PARA ˆ X
R S
ESTIMATIVA PARA ˆ ou
d2 c4
NOMENCLATURA PRÁTICA
PROCESSO VERDE
LIE LSE
75
PROCESSO AMARELO
L IE LSE
PROCESSO VERMELHO
LIE LSE
76
LIE = 18 LSE = 20
O objetivo principal dos planos de inspeção não é estimar a qualidade dos lotes
inspecionados e, sim, fornecer uma regra para sentenciá-los.
Vantagens
Desvantagens
Inspecionar uma
amostra com n itens
Determinar
d = número de não-
conformes
1. Escolher NQA
Gerais: Nível Geral I, menor discriminação; Nível Geral II, será adotado
salvo indicação em contrário; e Nível Geral III, maior discriminação.
Quantidade de inspeções requeridas: Nível I = 0,4 Nível II; Nível III = 1,6
Nível II.
Aplicação 14:
Regime de inspeção n Ac Re
Normal
Severa
Atenuada
82
Inspecionar a
primeira amostra de
tamanho n1
Inspecionar uma
segunda amostra de
tamanho n2
ACEITAR O REJEITAR O
LOTE LOTE
83
Onde:
n1 = tamanho da primeira amostra
n2 = tamanho da segunda amostra
Ac1 = número de aceitação na primeira amostra
Ac2 = número de aceitação na segunda amostra combinada
Re1 = número de rejeição na primeira amostra
Re2 = número de rejeição da segunda amostra combinada
Aplicação 15:
Normal
Severa
Atenuada
84