B – Microscopia Eletrónica

1
 Limite de Resolução:  RMic. Ótico.  0,2m

Utilizando luz visível, a natureza só é observável até uma escala de  0,2 m


Sistemas com maior resolução
(R menor)

0, 61 Substituição da luz visível por

R
NA radiação com  menor

Problema: não existem lentes para raios X ou raios 

que permitam formar uma imagem ampliada do objeto

A Natureza não é observável a uma escala inferior a 0,2 m

2
Substituição da Luz por Eletrões

Broglie (1924) – comportamento ondulatório da matéria

h – Constante de Planck
h
 m – Massa da partícula
v – Velocidade da partícula
mv

Eletrões acelerados por uma diferença de potencial elétrico E0 (em volts):

 (Å)
0.4
0.35 E0 (keV)  (Å)
12.26 0 0.3 50 0.0536
  A  0.25 100 0.0370
E 0 1  0.9788x106 E 0 150 0.0296
0.2
(Inclui a correção relativista da massa dos eletrões) 200 0.0251
0.15
250 0.0220
0.1 300 0.0197
0.05
0
0 50 100 150 200 250 300
E0 (keV)

3
 0.61 
R (microscopia óptica )
n sen 

Utilizando eletrões em vez de luz:

 sen  0.61 
R

 n1 ( propagação do feixe em vácuo)

Exemplo:

 E0= 100 kV (=0,037 A)

 R  0,2 Å (valor inferior às distâncias interatómicas)
 =0,1 rad

Aberrações das lentes  R real = 0,5 - 2 Å

4
Vantagens da Utilização de Eletrões
1. Eletrões Possuem Carga Elétrica

 A direção de propagação pode ser alterada por campos eletromagnéticos

Criação de campos magnéticos que provoquem uma alteração da
direção de propagação do feixe de eletrões semelhante à
experimentada por um feixe de luz ao atravessar uma lente de vidro

Lentes eletromagnéticas

Possibilidade de se obter uma “imagem de eletrões” do objeto

5
1. Eletrões Possuem Carga Elétrica (cont.)
 Podem ser acelerados por uma diferença de potencial

Feixe com  muito menor do que as distâncias interatómicas

2. Imagens com Resolução Espacial Superior

Microscópio Microscópio Eletrónico
Ótico
Transmissão (TEM) Varrimento (SEM)
>0,2 m 0,5 – 2 Å 10-15 Å

Imagens das posições atómicas

num cristal de diamante

6
3. Imagens com Elevada Profundidade de Campo

Ampliação Mic. Ótico Mic. Eletrónico

Ampliação Mic. Ótico Mic. Elet. Baixa

20 x 5 m 1 mm
100 x 2 m 200 m
200 x 0.7 m 100 m
1.000 x ---- 20 m
5.000 x ---- 4 m
Média
10.000 x ---- 2 m

Elevada

7
 Ideal para observar superfícies com muito relevo

Pós de SiAlON

Fibra ótica

8
Fibras de carbono Esfera de SiO2 com recobrimento

Filamento de W de lâmpada Cortiça

9
4. Grande Variedade de Sinais Produzidos

Informação local sobre a microestrutura, composição química, cristalografia,

condução elétrica, distribuição do número atómico, etc.

10
O Microscópio Eletrónico
1. O Microscópio Eletrónico de Transmissão (TEM)
TEM - Transmission Electron Microscope

 Todos os pontos da imagem são formados simultaneamente

 Imagem projetada por transparência da amostra ao feixe de eletrões (equivalente ao
microscópio ótico de transmissão)

11
 Permite obter imagens da estrutura atómica do material

12
 Canhão de
Eletrões
Filamento

Ânodos de Aceleração

Lentes
Condensadoras
Abertura da Lente
Condensadora

Abertura da Lente
Porta-Amostras
Objetiva

Abertura de Área
Lente Objetiva
Seleccionada

Lentes
Intermédias
Lentes Projetoras

Janela de Observação

Ecran Fluorescente

Placa Fotográfica

Hitachi H9000-NA
Potencial de aceleração máximo: 300 kV
Resolução: 1,4 Å
Instalação: 1990
13
JEOL 2200 FS
Potencial de aceleração máximo: 200 kV
Resolução: 1 Å
Instalação: 2008

14
Jeol JEM-ARM1300 Hitachi H-3000
Potencial de aceleração máximo: 1,25 MV Potencial de aceleração máximo: 3 MV
Resolução: 1 Å

15
Hitachi H-1000FT (0.5 Å)

Hitachi 1.2 MV (recorde mundial (0.43 Å) em fevereiro 2015)

16
2. O Microscópio Eletrónico de Varrimento (SEM)
SEM - Scanning Electron Microscope

 A imagem é formada ponto-a-ponto por um processo de varrimento da superfície da amostra

pelo feixe de eletrões
 Detetores recolhem e representam o sinal emitido pela superfície bombardeada

Canhão de
eletrões

Amplificador de sinal
Lentes
condensadoras

Sistema de Imagem
deflexão

Lente objetiva

Detetor de
Amostra eletrões

17
 Permite obter imagens do relevo da superfície da amostra

18
Filme de diamante

Fissuração por indentação

19
Hitachi S4100
Resolução: 15 Å
Instalação: 1992

20
Hitachi SU-70
Resolução: 10 Å
Instalação: 2008

21
Nanopartículas de ouro em substrato de carbono

Nanotubos de carbono

22
3. O Microscópio Eletrónico de Transmissão em Varrimento (STEM)
STEM - Scanning Transmission Electron Microscope

 A imagem é obtida (como no SEM) por um processo de varrimento da mostra pelo feixe
de eletrões;
 São utilizados eletrões transmitidos (como no TEM) para formar a imagem.

Si

5 nm

Hitachi HD-2700
Instalação: 2015
23