Metrologia e Processos de Fabricação Mecânica - P2

Prof: M.Abelha – marcio.abelha@gmail.com

Cap.4 - Sistemas Lineares

Y – Variável dependente do sistema, resultante da soma das cotas Xi

Xi – cotas genéricas do sistema, são variáveis de influência positiva ou negativa para Y, para
determinarmos isto, deveremos ter uma superfície de referência.
Sup. de Referência – Quando duas cotas pertencem a mesma peça, elas devem partir de uma
mesma superfície para que não ocorra propagação de tolerâncias. Esta superfície de partida será a
superfície de referência.
Rtxi - Contribuição da tolerância da variável de entrada.

Y = ΣXPOSITIVOS- ΣXNEGATIVOS YMÁX = Y + AsY YMÍN = Y + AiY

TY = YMÁX - YMÍN AsY = ΣAsXPOS - ΣAiXNEG AiY = ΣAiXPOS - ΣAsXNEG
Rtxi = Txi / Ty
Obs. Existem também cotas nulas, que não têm influência sobre Y.

Cap. 5 - Sistemas Não-Lineares

Y – Varia de acordo com uma função não linear, isto é, suas variáveis de entrada Xi fazem parte de
uma função com operações além de soma ou subtração.

Método Direto de Resolução

Após determinação da função Y(x) = função não linear, que depende da resolução do problema,
calcula-se um YMÁX utilizando Xi máx, e YMÍN utilizando Xi mín. A TY será a diferença entre o YMAX e Y MIN.

Y = f(x) TY = YMÁX - YMÍN Rtxi = Txi / Ty

YMÁX = Y + AsY YMÍN = Y + AiY

Método das Derivadas Parciais

Calcula-se TY através dos coeficientes de sensibilidade, derivadas da função não linear em relação
a um dos membros da função (Xi), multiplicada pela tolerância do próprio membro (T Xi).

∂f / ∂Xi - coef. de sensibilidade TY = ∑ (∂f / ∂Xi) Txi RTXi = (∂f / ∂Xi)TXi / TY

Cap. 6 – Conceitos Estatísticos de Laplace-Gauß

Normalmente, fenômenos de várias variáveis têm distribuições de resultados como uma distribuição
normal, de Laplace-Gauß. Esta distribuição ocorre em torno de uma média μ, e propõe que todos os
resultados se encontram dispostos na área localizada abaixo desta curva.
Uma das ferramentas que esta curva nos disponibiliza é o desvio padrão, que representa a variação
dos resultados em torno desta média μ.

σ → Desvio Padrão
μ → Média Aritmética da População
n → Tamanho da Populção

Quando consideramos 6σ abaixo da curva, 3σ para cada lado da média μ, estamos abrangindo
97,73% dos 100%.

Cap. 7 – Distribuição Normal para uma produção em série

Numa produção em série, temos as dimensões e outras variáveis do processo se comportando de

acordo com uma curva normal.
Ajusta-se então o processo para que todas as peças sejam produzidas o mais próximo possível do
valor médio de tolerância, e assim obter peças prontas com suas tolerâncias próximas a média, apesar das
várias variáveis que temos no processo de produção que possivelmente podem interferir numa boa
qualidade final.

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Através da medição destas peças prontas, podemos plotar um histograma, e analisar qual a tendência do
processo de fabricação. O histograma é um gráfico de dispersão de valores, e será sempre no perfil de uma
curva normal de Laplace-Gauß.

s → Desvio Padrão da Amostra

X → Média das Amostras
n → Quantidade de Amostras

Admitindo que 6s (6σ) englobam 100% da população podemos definir os Limites do Processo de
fabricação da amostra, e analisar se o mesmo á capaz de produzir peças dentro da especificação.
L.I.P = Xbarra – 3.s L.S.P = Xbarra + 3.s

Lembrando que os Limites de Especificação nós determinávamos através das tabelas da Norma
ABNT/ISO NBR-6158:
L.I.E. = dmín L.S.E = dmáx

Cap. 8 – Capacidade do Processo

*Pp e Cp diferem apenas no dado de entrada para cálculo, Pp leva em conta a variação no processo inteiro (s),
enquanto que o Cp leva em conta variação em pequenos grupos ( σchapéu). Falaremos então apenas em Cp.

Cpchapéu= T / 6.σchapéu Cpkchapéu= Cpchapéu .(1-kchapéu) Kchapéu = I xbarra – m I / (T/2)

Cp indica se o processo é preciso, deve ser maior que 1 para que seja pelo menos capaz de
satisfazer a tolerância do projeto.
Cpk indica se o processo é exato, ou seja, se a capacidade de Cp está alinhada μ com m.
k. é o índice de descentralização, e é tão melhor quanto mais próximo de 0 estiver. Para corrigir
processos descentralizados, basta recalibrar a máquina ou ferramenta.
Processos de boa qualidade comercial apresentam Cp=Cpk=1,33 ou mais. Processos 6σ de
qualidade apresentam Cp=Cpk=2.

Cap. 9 – Toleranciamento estatístico em Sist. Lineares

Desvio padrão do ajuste Tolerância Natural Capacidade do Processo Contribuição estatística

σY=√ Σ(σXi)2 6σY=√ Σ(6σXi)2 CpY = TY / 6σY RXi = (6σXi)2 / (6σY )2

Cap. 10 – Toleranciamento estatístico em Sist. Não-Lineares

Desvio padrão do ajuste Tolerância Natural Capacidade Contribuição estatística

σY=√ Σ[(∂f / ∂xi).σXi ]2 6σY=√ Σ[(∂f / ∂xi). 6σ Xi ]2 CpY = TY / 6σY RXi = [(∂f / ∂xi).TXi ]2 / (6σY )2

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Cap. 13 – Controle Estatístico de Processo – C.E.P.
Ferramenta que monitora o processo, e deve ser realizada com uma certa peridiocidade afim de
evitar refugo ou retrabalho, realizando o controle contínuo através da medição de variáveis em várias
pequenas amostras.

CARTA DE CONTROLE DAS MÉDIAS

Necessitamos de médias estáveis para manter a boa qualidade do processo. Para controlar a
estabilidade da média das amostras, temos a carta de controle das médias. Quanto maior o tamanho das
amostras, melhor a estimativa da média.

→ Desvio Padrão das Médias

→ Desvio Padrão Estimado
n → Tamanho das Amostras

→ Média das Médias das Amostras

→ Média das Amostras
n → quantidade de Amostras
Para saber se as médias estão dentro dos limites de controle, calculamos:
L.S.C.x = X2barras + 3.σchapéuxbarra L.I.C.x = X2barras - 3.σchapéuxbarra
...que são os valores máximos e mínimos para o processo.

Amplitude (Range)
Para calcularmos o σchapéu, utilizamos um método de dados tabelados, que correlaciona o tamanho e
quantidade das amostras com as medidas de amplitude, calculando estatisticamente o desvio padrão.

Ri = Ximáx -Ximín Ri - Amplitude, diferença entre o máximo e mínimo da amostra

Rbarra = Σ Ri / q Rbarra – média das amplitudes

d2= Rbarra / σchapéu d2 , A2 - tabelado, varia com n (tamanho da amostra)

L.S.C.x = X2barras +A2.Rbarra L.I.C.x = X2barras – A2.Rbarra

CARTA DE CONTROLE DAS AMPLITUDES

Vamos monitorar além das médias, também as amplitudes, pois as amplitudes tem relação direta
com o desvio padrão e nos dá uma boa idéia do tamanho da nossa dispersão.
L.I.C.R = Rbarra .D3 L.S.C.R = Rbarra .D4 D3 e D4 são tabelados

Cp e Cpk aplicados ao C.E.P.

Cpchapéu= T / 6.σchapéu = T/ (6.Rbarra/d2) Ou utiliza-se o menor valor entre os 2 abaixo:
Kchapéu = I x2barra – m I / (T/2) Cpkchapéu1 = (LSE – X2barras)/ 3σ
Cpkchapéu= Cpchapéu .(1-kchapéu) Cpkchapéu2 = (X2barras - LIE) / 3σ

Histograma
Gráfico utilizado para visualizar distribuição normal, média e dispersão de dados de amostras.
Definir número de classes(colunas) →C=√ q. n
Definir intervalos, L= (Xmáx – Xmín) / C
Montar a tabela como abaixo, desenhar histograma.

Classes ≥ < Quantidade

1 Xmín Xmín + L 2
2 Xmín + L Xmín + 2L 7...

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Cap. 14 – Análise do sistema de medição

Parecido com o CEP, mas analisa cada repetição de medidas em 1 peça, pelo mesmo operador ou
não. Assim, pode certificar a confiabilidade do sistema de medição.

R2barras → Média das amplitudes médias

Rbarra → Média das amplitudes
R → Amplitude das medições
Rx2barras → Amplitude das médias
Xbarra → Média das medições de uma mesma peça

R2barrasM = Σ RbarraM / k k é o número de inspetores

σRepe = R2barrasM / d2 d2 varia com n vezes medida a peça

Diferença entre o máx e mín entre as

RX2barras = X2barrasmáx - X2barrasmín mediçoes dos inspetores

σRepro = RX2barras / d2 d2 referente ao número de inspetores

σm= √ σRepro2 + σRepe2 σm→desvio do sistema de medição

Para que o sistema seja considerado capaz, 0,10.T≥ 6.σm, ou para processos onde a qualidade é
menos crítica, 0,30.T≥ 6.σm.

O valor de σchapéu fornecido pelo cálculo de CEP engloba dois desvios padrão,
o de medição (σm) e o de fabricação (σFAB). Se temos dois deles, podemos sempre
determinar o terceiro através das somas dos quadrados:

σchapéu2 = σm2 + σFab2

Tabela de constantes para cálculo de CEP

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Erro do Sistema de Medição

Formulário:

E – Erro
I – Medição Indicada
VVC – Valor Verdadeiro Convencional (Dimensão Nominal)

Td – Tendência
I – Média das Indicações (medições)

C – Correlação

Re = Repetibilidade
t = Coeficiente de Student
u = s = Incerteza

n = tamanho da amostra

GD&T

Formulário:

- Condição de Máximo Material (MMC) : quando o furo está na dimensão mínima ou o eixo
está na dimensão máxima. Esse é o limite da intercambialidade

- Condição de Mínimo Material (LMC) : quando o furo está na dimensão máxima ou o eixo
está na dimensão mínima. Nesse a intercambialidade

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