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UNIVERSIDADE TECNOLGICA FEDERAL DO PARAN DEPARTAMENTO ACADMICO DE ELETROTCNICA CURSO SUPERIOR DE TECNOLOGIA EM AUTOMAO INDUSTRIAL

RAFAEL VIEIRA ALMIR ROBERTO PIERIN MAXWEL ORTIZ CASTANHO

CONTROLADOR LGICO PROGRAMVEL NO CONTEXTO DA QUALIDADE DA ENERGIA ELTRICA

RELATRIO

CURITIBA 2011

RAFAEL VIEIRA ALMIR ROBERTO PIERIN MAXWEL ORTIZ CASTANHO

CONTROLADOR LGICO PROGRAMVEL NO CONTEXTO DA QUALIDADE DA ENERGIA ELTRICA

Relatrio apresentado disciplina de Controladores Lgicos Programveis, do Curso Superior de Tecnologia em Automao Industrial do Departamento Acadmico de Eletrotcnica DAELT da Universidade Tecnolgica Federal do Paran UTFPR, como requisito parcial para obteno da aprovao nesta disciplina. Orientador: Prof. Msc. Paulo R. da Silveira

CURITIBA 2011

SUMRIO

1 INTRODUO......................................................................................................................3 2 METODOLOGIA...................................................................................................................4 3 ANLISE DOS DISTRBIOS............................................................................................6 4 CONCLUSO .......................................................................................................................8 5 REFERNCIAS ....................................................................................................................9

1 INTRODUO

Na busca da melhoria de processos, com maior agilidade e menores custos, a automao tem sido cada vez mais manifesta nos ambientes fabril, comercial e residencial; e um dos dispositivos mais importantes nesse desenvolvimento o Controlador Lgico Programvel, o qual de estado crescente nos ltimos anos e fundamental para os dias de hoje na maioria dos processos automatizados. Um fator relevante a ser estudado o padro estabelecido nas condies de alimentao e a qualidade da energia fornecida ao CLP, entretanto, no so de grande foco para os pesquisadores. Dentro desse contexto, destaca-se neste trabalho de pesquisa, as investigaes Experimental e Computacional. Atravs de ensaios em Laboratrio, alguns testes foram aplicados, submetendo o CLP em diferentes condies quanto qualidade de Energia fornecida, tais quais, Flutuao de Tenso, Distores Harmnicas, Elevao temporria da Tenso, Afundamento temporrio da Tenso e Interrupo no Fornecimento de Energia Eltrica. Dois mtodos de anlise foram usados, o computacional e o experimental. O CLP basicamente se define, como um dispositivo eletrnico de controle com entradas e sadas, analgicas e digitais. A Estrutura mecnica limita-se a um CPU responsvel por protestar os sinais de entradas e sadas.

2 METODOLOGIA

Foram empregados paralelamente dois estudos distintos para verificar as conseqncias dos distrbios aplicados. O estudo computacional, utilizando uma ferramenta digital chamada SABER, o qual permite elaborar um modelo eletroeletrnico com grande versatilidade grfica, e tambm permite anlises detalhadas sobre o circuito modelado. O modelo elaborado teve como foco permitir a observao do comportamento da sada de 5V do CLP, a qual alimenta a CPU do mesmo. O outro foi o estudo experimental, o qual arranjo representado pela Figura 1.

Figura 1. Arranjo experimental.

Este estudo experimental s foi possvel devido utilizao de uma fonte programvel, a qual permite controlar amplitude, freqncia e forma da onda de tenso alimentada ao CLP, controle o qual realizado atravs de interface com microcomputador. Tambm importante citar que o CLP estudado foi um de 12 entradas digitais, 8 sadas digitais a rel, sendo alimentado com tenso alternada de

127V. As respostas aos distrbios foram observadas atravs de um osciloscpio digital porttil conectado ao microcomputador.

3 ANLISE DOS DISTRBIOS

O CLP foi alimentado em 127V, senoidal perfeita, e houve a monitorao tambm na bobina de um dos reles de sada e a tenso de 5VDC. A Qualidade de Energia bastante afetada atravs de tenses flutuantes, condio pela qual foi testado o CLP, com frequncias de 3, 10 e 20Hz, chegando a ultrapassar o limite Global Superior relacionado ao Pst(PstD95%). A tenso de sada 5V no sofreu nenhuma alterao. As Distores Harmnicas de 6%, 10% e 20% foram aplicadas e respectivamente, harmnicas de 5, 7, 11 e 13 ordem, no foram capazes de influenciar na sada de 5V. Houve a elevao da tenso nos terminais de alimentao do equipamento, foi imposto 20% a mais que a nominal durante 30 ciclos; no se observou nenhuma alterao no funcionamento do mesmo. O Fator que provocou distrbios na sada de 5V, foi o Afundamento temporrio da Tenso. A princpio, a tenso nominal foi reduzida em 60% durante 25 ciclos. No entanto, a sada de 5V no sofreu alterao. Com reduo de 80% durante 39 ciclos da tenso nominal, houve alterao conforme abaixo:

Figura 2. Afundamento de 80% e durao de 39 ciclos.

O Capacitor da sada do retificador garante a permanncia temporria da tenso de 5V at a alterao desta. Foram feitos tambm, alguns testes experimentais, interrompendo a tenso de alimentao. Os Testes comprovaram que a partir de 20 ciclos de interrupo ocorrem distrbios, comportamento o qual se assemelha ao demonstrado no Afundamento da Tenso. O Grfico abaixo, demonstrar em escala, as condies dos distrbios.

Figura 3. Curva de sensibilidade do CLP para afundamentos de tenso e interrupo.

Os Testes realizados com alimentao nominal de 220V, quando atribudos as variveis de Afundamento de Tenso, no influenciaram devido a atuao do Capacitor, cuja tenso relativamente alta.

4 CONCLUSO

Conclui-se que os Afundamentos de Tenso inferiores a 80% da nominal, durando at 100 ciclos, no afetam a sada de 5V, da mesma forma as interrupes at 20 ciclos, as Distores Harmnicas e as Elevaes de Tenso. No entanto, os Afundamentos de Tenso de 80% ou maiores, com durao de 39 ciclos, e as interrupes acima de 20 ciclos, afetam a sada de 5V. Os resultados conquistados atravs do experimento validam o modelo Computacional implementado. Atravs de dados e testes realizados, entende-se que, o CLP um equipamento bastante robusto, e que em condies de distrbios em sistemas eltricos, se mantm em equilbrio e estabilidade.

5 REFERNCIAS

IEC International Electrotechnical Commission Publicao 61000, Eletromagnetic Compatibility, part 4-11: Testing and measurement techniques Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests, Edition 1.1, 2001-03. ONS Operador Nacional do Sistema Eltrico Submdulo 2.2 Padres de Desempenho da Rede Bsica, 2002.