FISICA EXPERIMENTAL V ptica

Depto. De Fsica

Jean-Jacques Ammann Fernando Hentzschel Emiliano Galuppo

G7 Difraccin e Interferencias
con:

Duracin: 2+2 sesiones (2informes) Actividades 1 y 2: 2 sesiones / 1 informe. Actividades 3 y 4: 2 sesiones / 1 informe.

2 E0 =

E 02i + 2 E 0i E 0 j cos i j
i =1 j >i i =1
y

N N

Objetivo
Entender los conceptos de difraccin e interferencia. Distinguir los dos. Observar los efectos de interferencias con dos y/o varias fuentes en luz blanca y/o monocromtica. Observar el fenmeno de interferencia por una red. Estudiar la estructura de objetos peridicos a travs de su patrn de difraccin. Conocer las caractersticas y aplicaciones de un interfermetro. Saber alinear un interfermetro de Michelson (de Fabry-Perot). Utilizar un interfermetro para medir distancias y/o ngulos con alta precisin.

tan( ) =

E 0i sen( i ) E 0i cos( i )
i =1 i =1 N

En el caso de un gran nmero de ondas coherentes de fase aleatoria, cos (i j) 0 tenemos:

2 2 E 0 = N E 0i
En la prctica, la superposicin de dos ondas coherente se alcanza a travs de: divisin de frente de onda (por rendijas mltiples) divisin de amplitud (por espejos semireflejantes).

Bases tericas
En el estudio de algunos fenmenos importante de la optica se hace indispensable considerar las caractersticas ondulatorias de la luz. Dos importantes fenmenos en este contexto son la difraccin y la interferencia. Es poco conveniente introducir uno sin el otro pues el tratamiento terico de ambos se basa en hiptesis muy similares. Adems, la interferencia no puede existir sin el concepto de difraccin y a menudo se pone en evidencia la difraccin por fenmenos de interferencia. Sin embargo son efectos claramente distintos. Se puede decir que la difraccin se refiere a una onda interfiriendo con obstculos mientras tanto la interferencia trata de la superposicin de varias ondas entre s.

En el primer caso (figura G7-1), cada rendija S1 y S2 se considera como una fuente coherente de luz. Lejos de las rendijas (O-Po >> S1-S2), la diferencia de fase entre las ondas emitidas por cada rendija depende de la distancia respectivas d1 y d2 entre las rendijas y el punto de observacin P: = 2 (d2-d1) / . En el caso que la diferencia de fase es de = 2n (n = 0, +/-1, +/-2, ...), las ondas estn en fase y la interferencia es constructiva y se puede observar una franja luminosa. En el caso que la diferencia de fase es de = + 2n (n = 0, +/-1, +/-2, ...), las ondas estn en oposicin de fase y la interferencia es destructiva. Luego la onda resultante es de intensidad nula y se observa una franja oscura.

El fenmeno de interferencia.
El fenmeno de interferencia ocurre cuando dos o varias ondas coherentes (de misma longitud de onda, y de relacin de fase constante) se superponen espacialmente. En efecto, si se escribe una onda como:

E = E o e i ( t )
donde es la fase (absoluta) de la onda y E0 su amplitud, entonces, la superposicin de varias ondas Ei coherentes de fase i ser:

E =

E 0i cos( i t ) = E 0 cos( t )
i =1
1

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Lo que arroja:

E=
Donde:

L D sen R

sen( t kR )

(kD / 2) sen

Onda plana

Figura G7-1 Principio de la interferencia por divisin de la frente de una onda plana por dos rendijas S1 y S2.
Las relaciones geomtricas entre las rendijas y el punto de observacin producen as una alternacin de ondas en fase y en oposicin de fase, lo que se observa como una sucesin de franjas luminosas separadas por franjas oscuras (ver [1], p52, fig.4-9)]. Este conjunto de franjas conforman el diagrama de interferencia (que se denomina tambin diagrama de difraccin).

Efecto de borde

Difraccin
La difraccin se manifiesta como la curvatura de la luz alrededor de objetos (efectos de borde) (figura G7-2) y su dispersin por aberturas delgadas. Al contrario de la ptica geomtrica, el fenmeno de difraccin permite un camino no rectilneo de la luz. Segn el principio de Huygens, cuando una onda incide sobre una rendija, todos los puntos de su plano se convierten en fuentes de ondas secundarias, emitiendo nuevas ondas esfricas. Para una rendija larga y estrecha, de ancho D, la amplitud total de estas ondas a una distancia R de la rendija se calcula como la integral de todas las contribuciones infinitesimales de estas fuentes.

Figura G7-2 objeto

Difraccin de una onda plana por un

Experimentalmente, se puede medir la intensidad de la onda resultante, que se define como I() = E2. As se obtiene la siguiente importante expresin:

sen I ( ) = I (0)

Si ahora consideramos el caso general de N rendijas angostas, largas y paralelas todas de ancho b y separacin a de centro a centro tenemos que considerar junto los efectos de interferencia y de difraccin. As, la intensidad resultante es una funcin modulada de modo independiente por las dos contribuciones.

sen senN I ( ) = I (0) sen

Donde: = (ka/2) sen y = (kb/2) sen

Como lo vimos arriba, el primer trmino representa la contribucin de la difraccin por una rendija nica, y el segundo termino, el efecto de la interferencia de las N rendijas.

Difraccin e interferencia
Basado en este concepto, la amplitud de la onda difractada por una abertura (rendija) se calcula como: Los conceptos de difraccin e interferencia son muy prximos y el formalismo es el mismo en ambas situaciones. Se habla de difraccin, cuando se hace referencia a la dispersin angular de una onda por una abertura o rendija. Segn el principio de Huygens, la abertura se 2

E=

L
R

D/2

D / 2

sen [ t k ( R ysen )]dy

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puede considerar como la superposicin de infinitas fuentes de onda en un espacio finito (la abertura) (Figura G7-3a). Se habla de interferencia cuando se considera varias aberturas discretas, cada una vista como una fuente de onda (Figura G7-3b). En ambos casos, el clculo de la intensidad a larga distancia del conjunto de abertura trata de la superposicin de un numero de ondas. En la prctica, frecuentemente intervienen juntos e implcitamente estos dos conceptos.

Interferencia (difraccin) por los tomos de un cristal en microscopa electrnica. Un diagrama de difraccin se produce en un microscopio electrnico por la interferencia de los electrones difractados por los tomos del cristal (comportamiento ondulatorio de las particulas elementales). En este caso, los tomos del cristal tienen el papel de fuente de ondas coherentes. El estudio de tal diagrama de difraccin permite determinar la estructura cristalogrfica y de medir las distancias interatmicas del cristal

El interfermetro de Michelson
El interfermetro de Michelson utiliza la separacin de amplitud de un haz de luz para producir el fenmeno de interferencia. Los dos haces, separados por una interface semireflectante, recorren caminos pticos diferentes: uno de referencia, fijo, y el otro de prueba, el cual permite medir diminutas diferencias de camino ptico. Las dos ondas son entonces superpuestas por el mismo sistema de interface semireflectante, para producir el efecto de interferencia (Figura G7-4).

(a)

As, el interfermetro de Michelson permite observar y medir desplazamientos, deformaciones, rotaciones o cambios de ndice de refraccin con una precisin de una fraccin de longitud de onda sobre el camino ptico.

Espejo mvil

Haz de Prueba

Separador de haz Esp. Semireflectante.

(b)
Figura G7-3 Difraccin (a) e interferencia (b)

Fuente

Haz de Referencia Espejo de Compensador referencia (fijo)

Observacin: Las relaciones que describen los fenmenos de difraccin e interferencia contienen explcita o implcitamente la longitud de onda de la luz considerada. Esto implica que el diagrama de interferencia de un conjunto de fuentes es diferente para diferentes longitudes de onda (o color). El fenmeno de interferencia lleva entonces a un fenmeno de dispersin de longitud de onda y se puede aprovechar entre otras aplicaciones, para construir un espectrmetro basado en una red de interferencia, generalmente llamada red de difraccin.

Pantalla

Figura G7-4 Esquema Michelson.

del

interfermetro

de

Manifestaciones y observaciones de la interferencia

Interferencia (difraccin) por una red o por un CD. La interferencia producida por la superposicin de ondas, difractadas por rayas en la superficie de una placa de vidrio regularmente espaciadas, produce una dispersin de longitud de onda utilizada en espectroscopia. El mismo fenmeno ocurre con la luz reflejada en los surcos de un disco compacto. 3

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Material a disposicin
Fuente de luz: lmpara de sodio, lser HeNe, luz blanca Rendijas simples y mltiples Redes de difraccin Rendija ajustable CD y cortinas. Ocular micromtrico Kit de interferometra

Referencias
[1] Efron Alexandrer, El Mundo de la Luz, ed. Bell, Buenos Aires, 1971 [2] http://hyperphysics.phyastr.gsu.edu/hbase/hframe.html [3] E. Hecht and A. Zajac, ptica, Addison-Wesley Iberoamericana, Wilmington, 1986 Interf. De Michelson: http://www.erc.msstate.edu/~foley/newtop/mod_int.htm l

Trabajo a efectuar
Actividad 1 Interferencia con interferencia de Young. (Ver Anexo 2) rendijas o

Observar el perfil de intensidad de la luz despus de cruzar una pantalla con una rendija, y en seguida, con dos rendijas. Interpretar el resultado segn la teora de interferencia y de difraccin.

Actividad 2

Interferencia con una red

Estudiar una red de difraccin con relacin con la longitud de onda de la luz incidente (laser, lmpara de Hg) Estudiar una red grabada en una lamina de vidrio (red de transmisin). Observar el patrn de difraccin de dos redes superpuestas con diversos ngulos y posicin relativa entre ellas. Caracterizar un CD (DVD?) como red de difraccin. (Ver Anexo 2) con un lser y/o lmpara de Hg.

Actividad 3

Figura de difraccin en 2-D

Interferencia con una cortina de velo: observar el patrn de difraccin de un hilo nico del velo. estudiar la estructura de una cortina de velo a partir de su diagrama de difraccin. Estudiar los efectos en el patrn de difraccin debido a transiciones, rotaciones y deformaciones de la cortina. Estudiar los efectos de superposicin de dos cortinas idnticas.

Determinar: (1) la separacin de los hilos, (2) el grosor de los hilos. Que es lo que se puede decir de la estructura de los hilos?

Actividad 3

Interfermetro (Ver Anexo 3)

Interfermetro de Michelson determinar la longitud de onda de un lser. Determinar el ndice de refraccin del aire. Compensar el cambio de camino ptico por compensadores (cuas). Con luz monocromtica y/o policromtica (Hg). 4

Interfermetro de Fabry-Perot y de Sagnac [3]

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Anexo 1 Nociones de coherencia y de transformada de Fourier.

Coherencia
Un haz de luz est compuesto por gran cantidad de cuantos de luz o fotones. Los fenmenos de interferencia y difraccin suponen una superposicin de la onda de cada fotn del haz de luz. Como estos fenmenos consideran la fase respectiva de las ondas que interfieren, es de suma importancia conocer la relacin de fase entre cada uno. De acuerdo al fenmeno que la gener, la luz tiene caractersticas propia cuando a la fase de sus fotones. Esta caracterstica se denomina: coherencia. Del punto de vista ondulatorio, el fotn se representa como un paquete de onda de largo definido: Un haz de luz se puede considerar como la suma de los

los lseres tienen longitudes de coherencia muy largas de varios centmetros o metros. El concepto introducido arriba se refiere a la longitud de coherencia longitudinal o, por razones obvias, tambin longitud de coherencia temporal. Sin embargo, se puede considerar la longitud de coherencia transversal que se denomina longitud de coherencia espacial. Para que los fenmenos de interferencia y difraccin ocurran, los haces que interfieren tienen que encontrarse dentro de sus longitudes de coherencia.

paquetes de onda de los fotones que lo componen en coherencia de fase entre si:

La transformada de Fourier.
Por su similitud con la transformacin de Fourier, el clculo de la intensidad de la luz difractada por un objeto puede ser calculado con las mismas herramientas. La intensidad de la figura de difraccin de un objeto F se puede calcular por la transformada de Fourier de la funcin de transparencia del objeto g . Se considera generalmente las dos dimensiones perpendiculares al eje ptico del haz de luz:

F (u, v) = g ( x, y ) e 2i ( ux + vy ) dx dy
Se habla as de frecuencias espaciales u, v. (unidad: m-1) Ejemplos: la figura de difraccin de un agujero infinitamente pequeo es una funcin constante (no se considera aqu la disminucin de la intensidad por efecto de la distancia objeto-imagen).

Longitud coherencia

de transparencia x

Intensidad difract. u

El largo del tren de onda resultante se llama longitud de coherencia. As, cada fuente de luz se caracteriza por su longitud de coherencia. Un filamento incandescente tiene una longitud de coherencia muy pequea. Lmparas de descarga tienen longitudes de coherencia ms grandes y

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La figura de difraccin de un hueco de tamao finito es una funcin de tipo sen2(x)/x2. Intensidad difract.

Anexo 2 Interferencia por fuentes coherentes (Prof. San Martn)

dos

transparencia x

En la figura G7-1, un frente de onda plana de luz monocromtica atraviesa una lmina que contiene dos rendijas paralelas S1 y S2, se difracta y luego incide sobre una pantalla.

En caso en que la forma del obstculo o de la abertura no es de simetra circular, se puede considerar independientemente los dos ejes. As, la figura de difraccin de una rendija infinitamente estrecha e larga ser una lnea infinitamente larga y delgada perpendicular a la rendija:

P
d2

S1

y x

v u

a
S2

d1

Po

L
Las posiciones de las franjas de interferencia pueden ser determinadas a partir de las siguientes consideraciones. En el punto central Po, equidistante de S1 y S2, las dos ondas estarn en fase y la intensidad resultante ser mxima. La situacin en el punto P (ver figura 1), a una distancia y de Po ser distinta. Para ngulos pequeos, esa distancia ser y = L , donde L es la distancia entre la lmina y la pantalla. Como el ngulo es casi idntico al ngulo comprendido entre S2 S1 y la perpendicular a S2P. De este modo la diferencia de camino entre los rayos a lo largo de S1P y S2P (indicada en Figura 1, por = d2 d1), se puede expresar como: = a , donde d es la distancia entre las dos fuentes. De las dos relaciones anteriores se obtiene: y = L/a La interferencia constructiva (o maximo de intensidad) ocurrir cuando es un mltiplo entero de y la destructiva ( mnimo) cuando es un mltiplo impar de /2. La relacin anterior da entonces la posicin de los centros de las franjas: Mximos en y = 0, (D/d), 2 (D/d) , ..., m (D/d) Mnimos en y = /2(D/d) , 3/2(D/d),..., (m+1/2) (D/d)

Objeto

Pantalla

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Anexo 3 Estudio de la difraccin utilizando un CD (Prof. San Martin)

El objetivo de esta parte, es estudiar la difraccin de la luz producida por un compact disk (CD) actuando como una red de difraccin en reflexin. Utilizando un CD comercial y un lser de He-Ne se determinar la constante de la red, para luego medir la longitud de onda existente en un espectro desconocido. Un CD musical, tiene 12 cm de dimetro, 1,2 mm de espesor y la informacin contenida en l se encuentra depositada en surcos microscpicos de 0,1 m de profundidad y de 3,3 m de ancho. Estas unidades de informacin se denominan pits. Los pits son grabados uno a continuacin del otro, formando una larga espiral en el plstico especial (policarbonato) que constituye el CD. Despus de la grabacin (o mejor dicho del moldeado) el CD recibe una fina capa de aluminio que penetra los surcos y acompaa todas las depresiones impresas en el policarbonato. El aspecto plano y brillante que presenta el CD a simple vista, se consigue gracias a una fina capa de laca especial que adems de proteger la informacin grabada, permite en la cara opuesta la impresin del ttulo e informacin de la grabacin musical. Lo realmente importante para nuestros fines de estudiar una red de difraccin es que los surcos que conforman la espiral se encuentran separados entre s por una distancia de solo 1,6 m. Esto es vlido para todos los CD, ya que constituye un Standard de la industria. De este modo en la direccin radial se tienen 625 lneas por milmetro. Usando un lser, un CD, una muralla blanca (o material para pantalla) y una huincha de medir se podr realizar la experiencia. Para ello bastar enfocar el haz de luz lser (de acuerdo a lo indicado en la Figura 1) a uno de los bordes del CD. De las mediciones del patrn de interferencia y clculos simples se podr determinar la longitud de onda del haz de luz.

Fuente

Pantalla

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Anexo 4 Manual de utilizacin del interfermetro (Prof. A. San Matin)

La figura 1 de este anexo ilustra el equipo Pasco en el modo de operacin de Michelson. A la izquierda del dibujo se puede apreciar parte del Lser de He-Ne enfrentando una de las lentes. En la base (apuntando hacia su derecha), se aprecia el tornillo micromtrico, que gracias a un mecanismo en el interior de la base, desplaza en forma controlada (25 m por cada vuelta) al espejo mvil. El montaje de los distintos componentes se detalla en el esquema (vista desde arriba) en la Figura 2.

Usando los tornillos ubicados en la parte posterior del espejo ajustable, regule la inclinacin de ste, hasta que los dos conjuntos de puntos coinciden en la pantalla. Fije sobre la pieza enfrente del lser un lente de 18 mm de distancia focal. Ajuste su posicin hasta que el haz divergente se encuentre bien centrado sobre el divisor. Ahora Ud. deber obtener anillos circulares sobre la pantalla. Si ese no es el caso, revise la inclinacin del espejo ajustable. Al contar anillos usando el tornillo micromtrico, grelo una vuelta completa antes de empezar a contar y contine girndolo en la misma direccin. Este procedimiento eliminar el error debido al backlash. Es decir debido al

Montaje y puesta a punto.: Disponga la base del

interfermetro de apunte hacia Ud. y base, apuntando en interfermetro. Con equipo:

modo que el tornillo micromtrico ubique el lser a la izquierda de la forma perpendicular a la base del el propsito de alinear el lser con el

juego o movimiento intil existente entre los dientes de engranajes. Considere que todos los

Ubique el espejo mvil en la hendidura existente para ese propsito en la base del equipo. (Los espejos son de caras planas - al cuarto de longitud de onda - y recubiertas en un solo lado para reflejar un 80% y trasmitir el otro 20 %). Encienda el lser. Asegrese que incide en el centro del espejo mvil. Ajuste la posicin X-Y del lser hasta que el haz sea reflejado por el espejo mvil en la salida misma del lser.

sistemas mecnicos son susceptibles de poseer error de backlash. Por lo tanto Ud. debe incorporar entre sus hbitos una apropiada tcnica de medicin como la descrita a fin de eliminar sus efectos. Realice varias mediciones y luego obtenga los promedios.

Recuerde que el haz del lser no debe penetrar directamente en su ojo.

Ahora est Ud. en condiciones de realizar el montaje en cualquiera de las configuraciones deseadas. Se detallarn los pasos a seguir para el modo de Michelson. Luego de alineado el lser: Monte el espejo ajustable en la base del interfermetro (sobre el tornillo micromtrico). Ubique una de las piezas para sujetar componentes enfrente del lser. La otra pieza debe ubicarse en el lado opuesto del espejo ajustable para sujetar la pantalla. Ubique el espejo semi-plateado formando un ngulo de 45 respecto al haz del lser. Ajuste el ngulo (del divisor del haz), de modo que el haz reflejado incida en el centro del espejo fijo. Como su nombre lo indica, el divisor (tambin plano a un cuarto de longitud de onda) ha sido recubierto en un solo lado para reflejar el 50 % y trasmitir el otro 50%. Ahora sobre la pantalla, Ud. deber tener dos conjuntos de puntos brillantes. Cada uno de esos conjuntos incluye un punto brillante con dos o ms puntos de menor intensidad (por las mltiples reflexiones que han experimentado). Ajuste nuevamente el ngulo del divisor hasta que los dos conjuntos de puntos se encuentren lo ms cerca posible. Una vez conseguido, ajuste el tornillo para asegurar el divisor del haz en esa posicin.

Figura 1 Vista del interfermetro Pasco en el modo de Michelson.

1. Determinacin de la longitud de onda de un lser de He-Ne. En esta experiencia al introducir cambios especficos en el camino ptico de los dos haces que interfieren, Ud. podr determinar la longitud de onda del lser. Desplazando el espejo mvil M1 (ver Figura 2) el camino ptico de uno de los haces puede ser variado. Considerando que el haz viaja el tramo entre M1 y el divisor dos veces, moviendo M1 un cuarto de longitud de onda hacia el divisor reducir el camino ptico en /2. El cuadro de interferencia se invertir, necesitndose un acercamiento adicional de /4 para obtener un cuadro idntico al original. 8

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2. Estudio del ndice de refraccin del aire (o su variacin con la presin). Las caractersticas de la figura de interferencia dependen de la relacin entre los caminos pticos de los dos haces. En el experimento anterior, se cambiaba esta relacin al variar la longitud del camino ptico de uno de ellos. En el presente experimento en cambio, se variar las propiedades ptica del medio (ndice de refraccin) en el cual uno de los haces se propaga, alterando la presin al interior de una celda de paredes trasparentes con ayuda de una bomba manual de vaco (ver Figura 2). Para un haz de una determinada longitud de onda, movindose en un medio con un ndice de refraccin n, la longitud de onda real en ese medio ser: = 0 / n , donde 0 es la longitud de onda en el vaco. El haz del lser que viaja entre el divisor y el espejo mvil pasa dos veces por la cmara. Fuera de ella los caminos pticos de los dos haces no varan durante el experimento, pero dentro de ella aumenta a medida que la presin es reducida (o viceversa). Este proceso permite variar la relacin entre los caminos pticos de los haces. Se sabe adems, que para presiones bajas, el ndice de refraccin de un gas varia linealmente con la presin del gas. Para el vaco, cuando la presin se considera igual a cero el ndice de refraccin toma el valor de 1. Un grfico de la presin versus el ndice de refraccin, ser por consiguiente, una lnea recta con intercepto en (0,1) y que debe pasar por sus puntos de medicin. Para la realizacin practica de su experiencia: Cercirese que las caras planas de la celda estn perpendiculares al haz lser. Registre la presin inicial en su experimento. Luego, accionando la bomba de vaco reduzca ( aumente) la presin en la cmara. Simultneamente debe registrar el numero de anillos (N) de su cuadro de interferencia que han pasado. Al finalizar cada medicin registre en una Tabla apropiada la presin y N. Recuerde que el medidor de presin, mide el cambio de presin en relacin a la presin atmosfrica (Patm.=76 cm Hg). El N entre dos presiones Pi y Pf ser igual a: N = 2d / i - 2d / f .Usando en forma apropiada se puede verificar que la variacin del ndice de refraccin entre dos presiones ser: ni nf = N 0 / 2d, donde d es el largo de la celda de aire. Cual es el ndice de refraccin del aire a la presin atmosfrica?

Cmara de vaci

Figura 2. Esquema de los distintos componentes en el modo de Michelson (vista superior). Se muestra adems, una celda de vaci para medir el ndice de refraccin de gases.

Figura 3. Alineacin de marcas en la pantalla para contar el paso de los anillos.

Mueva lentamente el espejo una distancia dm y cuente el nmero de veces (N) que el cuadro de interferencia de los anillos recobra su forma inicial. Repita este procedimiento varias veces. La longitud de onda del lser , puede ser calculada de: = 2 dm / N

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