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INTEGRATES: Gonzales Garca Susana. Tapia Lavin Braulio. Ramos Garca Luis Alberto Prez Domnguez Jennedy Zayra
La relacin entre el seno del ngulo de incidencia y el ngulo de refraccin es igual a una cantidad constante que se llama ndice de refraccin.
n= sen i / sen r
El ndice de refraccin disminuye al aumentar la longitud de onda, por lo tanto, el ngulo de desviacin es mayor a la longitud de onda menor. Frecuencia: la luz de diferentes frecuencias se refracta a diferentes ngulos. Cada sustancia tiene un comportamiento trmico especifico.
GRADOS BRIX
% de slidos solubles presentes en una sustancia a una temperatura definida.
Adolf F. Brix, en 1870 desarroll este tipo de calibracin a fin de definir el contenido de azcar de lquidos.
ABBE COMUN
Sensibilidad 1x 10^-4 Rangos n= 1.30-1.71 Fuente de luz blanca Prismas de compensacin Mediciones directas
ABBE DE PRECISION
Sensibilidad 3x 10^-5 Rangos n= 1.2-1.7 Lmparas de sodio No prismas de compensacin Tablas de conversin
REFRACTOMETRO ABBE
REFRACTOMETRO DE INMERSION
Sensibilidad 3 x 10^-5 Rangos n= 1.32-1.54 Lmparas de luz blanca Prismas de compensacin Tablas de conversin
REFRACTOMERO DE PULFRICH
Contiene una celda en la parte superior de un prisma de vidrio, la que se colocan muestras liquidas. Telescopio mvil Tablas de conversin
Refractmetro de Inmersin
OBJETIVO
Polarimetra
Luz polarizada
Es aquella que a pasado a travs de un polarizador que fuerza ondas electromagnticas aleatorias a un plano.
Tcnica y fundamento
Se basa en la medicin de la rotacin ptica sobre un haz de luz al pasar por una sustancia pticamente activa.
Los polarmetros detectan la posicin del plano y la comparan con su posicin original, siendo la diferencia la rotacin que se expresa normalmente en grados angulares(oA.)
Ecuacin :
Instrumentacin
Fuente de radiacin monocromtica Polarizador Tubo de la muestra Prisma analizador Detector ( ojo o fotoelctrico)
Aplicaciones
Utilizadas para determinar concentracin, pureza o la presencia de una sustancia pticamente activa en una mezcla. Estudio de tensiones internas en materiales: fotoelasticidad. Medida de constantes pticas y birrefringencia. Anlisis de depsitos superficiales: semiconductores, dielctricos, metales... Estudio de muestras materiales por scattering: suspensiones, aerosoles, hidrosoles... Anlisis y diagnsticos oftalmolgicos. Caracterizacin de fibras pticas.