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[
O
c
m
]
Sz, 2001-01-18
Fraunhofer
Institut
Schicht- und
Oberflchentechnik
ZnO:Al - HRTEM-Untersuchungen, minderwertige Probe
TEM-Aufnahme einer DC-gesputterten
Probe mit c
Al
= 9,0 at. %
- TEM weist amorphe Matrix mit
polykristallinen Einschlssen nach
- Ausbildung einer amorphen, Al-reichen
Phase aufgrund der begrenzten
Lslichkeit von Al in ZnO
- hnliche Beobachtungen auch bei ITO
I. A. Rauf, J. Mat. Sci. Let. 12 (1993) 1902
- Lslichkeit von Al in ZnO unbekannt,
Festkrperreaktionen zeigen:
c
Al
< 4 at. %
G. Chen, G.-X. Sun, Mat. Sci. Eng. A 244 (1998) 291
Experimentelle Fakten
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HRTEM ZnO:Al auf Si (RMFMS, T
S
= 100 C, = 430 Ocm)
texturiertes Wachstum, (0002)-Orientierung, keine sekundre Nukleation
nur hexagonale ZnO-Phase, niedrige Defektdichte
Sulendurchmesser: ca. 30 nm, dichtes Interface zum Substrat
Experimentelle Fakten
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AFMs reaktiv gesputterter TCO-Proben
SnO
2
:Sb
c
Sb
=1,2 at. %, =1500 Ocm
o
RMS
= 14 , c
T
Sb
=4 at. %,
ZnO:Al
c
Al
= 2,0 at. %, =420 Ocm
o
RMS
= 20 , c
T
Al
= 1 wt. %
ZnO:In
c
T
In
= 2 wt. %, =870 Ocm
o
RMS
= 34
Experimentelle Fakten
T
S
= 300 C (SnO2:Sb) bzw. 200 C (ZnO:X), Prozess jeweils optimiert
groe Kristallite fr ZnO:Al, Entmischung (kub. / hex.) fr ZnO:In
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AFMs von ITO-Schichtsystemen
Sol-Gel, = 400 Ocm: DCMS , = 180 Ocm: DC/RFMS, = 110 Ocm:
Experimentelle Fakten
polykristalline Schichten in allen Fllen
columnares Wachstum der Sol-Gel Probe
zweidimensionales Wachstum der DC/RF-gesputterten Probe
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bersicht zu den Eigenschaften unterschiedlicher TCOs
Experimentelle Fakten
SnO
2
:Sb
RMFMS
ZnO:In
RMFMS
ZnO:Al
RMFMS
SnO
2
:F
pyrolytic
ITO
DC/RF
n
e
[cm
-3
] 4.0 x 10
20
6.2 x 10
20
8.5 x 10
20
3.3 x 10
20
1.2 x 10
21
[cm
2
/Vs] 10 11 25 32 45
[Ocm] 1.6 x 10
-3
8.7 x 10
-4
3.0 x 10
-4
4.9 x 10
-4
1.1 x 10
-4
l
XRD
[nm] 25 32 50 25 33
c
Dot
[at. %] 1.2 0.6 2.2 O-Vak. 3.2
c
Dot
max
[at. %] 1.4 - 4 - 5
q
Dot
[%] ~ 30 ~ 100 ~ 50 - 100
starker Einfluss: T
S
q
O2
q
O2
, c
Al
- -
c
Dot
zu hoch: blau Entmischung Al
2
O
3
(!!) ? SnO
2
(!)
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Elementare Beziehungen
Theoretische Beschreibung
Problem: Zeitliche nderung der Elektronen-Verteilungsfunktion durch el. Feld
Boltzmann-Gleichung
System: Homogener Halbleiter ohne ueres Feld im thermischen Gleichgewicht.
Elektronen-Verteilungsfunktion ist die Fermi-Dirac-Verteilung
0
k F B
1
f (k)
exp[(E E ) /(k T) 1]
=
+
k
coll drift coll
df(k) f(k) f(k) f(k) eE
0 f
dt t t t
| | | | | |
c c c
= = + = V
| | |
| | |
c c c
\ . \ . \ .
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Elementare Beziehungen II
Theoretische Beschreibung
mit:
Bestimmung der Relaxationszeit: D. Chattopadhyay et al., Rev. Mod. Phys. 53 (1981) 747
- Auswertung von V
k
f nach Einfhrung von Polarkt. und Entw. in Legendre-Polynomen:
1
2
2
k' z 1
1
(1 z)P(k,k')k' dk' dz
4
+
=
O
=
t t
} }
0
coll
f(k) f(k) f (E)
t
| |
c
=
|
|
c t
\ .
zentrale Frage: Berechnung der quantenmechanischen bergangswahrscheinlichkeit
vom Zustand k in den Zustand k unter Energieerhaltung P(k,k)
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bergangswahrscheinlichkeit in Bornscher Nherung
Theoretische Beschreibung
- zeitabhngige Strungsrechnung, Wechselwirkung von Streuzentrum und Elektron
in erster Ordnung A. Messiah, Quantum Mechanics (1970), Vol I + II
V(q) V(r) exp( iq r ) dr =
}
2
2 2 Ne
P(k,k') V(q) (E E') mit q k' k
t
= o =
O
- Berechnung des Wechselwirkungspotentials:
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Streuung an ionisierten Strstellen nach Brooks-Herring
Theoretische Beschreibung
- Wechselwirkung ber abgeschirmtes Coulomb-Potential:
2 4 2
3/ 2
2 2 *1/ 2
BH s
1 NZ e b 4k
E ln(1 b) mit b
1 b 16 2 m
| |
= + =
|
t + | tc \ .
s
2 2
s
Ze
V(r) exp( r)
4 r
Ze
V(q)
(q )
= |
tc
=
c +|
- Einsetzen in die Beziehung zur Berechnung der Relaxationszeit:
- Damit: Berechnung der Hall-Beweglichkeit
< t >
=
< t >
2
H
*
e
m
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Bercksichtigung mehrerer Streumechaninsmen
Theoretische Beschreibung
IIS NIS GBS LVS
Addition mehrerer Streumechanismen:
1/ =1/ +1/ 1/ 1/ + +
Streuung an ionisierten Strstellen,
IIS
: Brooks-Herring-Theorie
D. Chattopadhyay et al., Rev. Mod. Phys. 53 (1981) 745
Streuung an neutralen Strstellen,
NIS
- Atome auf Zwischengitterpltzen
- Punktdefekte und Versetzungen
Streuung an Korngrenzen,
GBS
: Seto-Modell
Y. Y. W. Seto, J. Appl. Phys. 46 (1975) 5247
Streuung an Gitterschwingungen,
LVS
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Brooks-Herring-Theorie zur IIS
Ladungstrgerbeweglichkeit:
Streuung an ionisierten Strstellen (IIS):
- Streuzentren: positive Atomrmpfe
- Brooks-Herring-Theorie
H. Brooks, Adv. Electronics and Electron Phys. VII (1955) 85
Ladungstrgerdichte:
Limit: Absorption der Leitungselektronen
- Plasmawellenlnge
P
> 800 nm
- Ladungstrgerdichte n
e
< 2 x 10
21
cm
-3
theoretische Grenze bei 50 Ocm
J. R. Bellingham et al.,
J. Mat. Sci. Let. 11 (1992) 263
) 0 . 3 ... 8 . 2 , m 4 . 0 ... 25 . 0 * m (
e n
* m
c 2
HF e
2
e
0 HF
P
~ c ~
c c
t =
Theoretische Beschreibung
10
19
10
20
10
21
10
22
10
-5
10
-4
10
-3
10
-2
10
-1
K-Glas
ITO DC/RF
ZnO:Al TwinMag
TM
Theorie (IIS)
In
2
O
3
:X
SnO
2
:X
ZnO:X
n
e
[cm
-3
]
[
O
c
m
]
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Seto-Modell zur Streuung an Korngrenzen
Theoretische Beschreibung
Untersuchungen an p-Si (d = 1 m) auf
SiO
2
Traps an den Korngrenzen werden durch
Dotierung nach und nach besetzt
Ladungstrgertransport ber die
Potentialbarriere durch thermoionic
emission
Beitrag der GBS gegen null fr hohe
Entartung
Modell beschreibt berechnete und
gemessene Ladungstrgerkonzen-
tration ber weiten Bereich in guter
Nherung
Y. Y. W. Seto,
J. Appl. Phys.
46 (1975) 5247
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Zusammenfassung
Exp. Stand bisher:
- TCOs basierend auf binren Systemen: ZnO:X, SnO
2
:X, In
2
O
3
:X
- geringe Beweglichkeit der Ladungstrger und damit begrenzte Leitfhigkeit
Verstndnis:
- wesentliche Beitrge durch IIS und NIS
- NIS im wesentlichen unverstanden
- LVS und BGS eher von untergeordneter Bedeutung
Ausbau:
- temperaturabhngige elektrische Messungen (im Aufbau)
- Methode der vier Koeffizienten (Hall, Widerstand, Nernst, Seebeck (in Planung)
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Temperaturabhngigkeit der Leitfhigkeit: ZnO:Al, RMFMS
2 4 6 8 10 12 14
0
1k
2k
3k
4k
c
Al
= 2,2 at. %, = 3,0 x 10
-4
Ocm
c
Al
= 3,7 at. %, = 4,1 x 10
-4
Ocm
c
Al
= 4,6 at. %, = 2,0 x 10
-3
Ocm
c
Al
= 5,8 at. %, = 1,1 x 10
-2
Ocm
1000 / T [K
-1
]
o
[
S
/
c
m
]
Geringer Al
2
O
3
-Anteil fr c
Al
< 4 at. %:
1/o = 1/A + 1/BT
-3/2
Streuung an ionisierten Strstellen
dominierend (T-unabhngig)
Streuung an optischen Phononen
Hoher Al
2
O
3
-Anteil fr c
Al
> 4 at. %:
Tunnelleitung dominierend
(T-unabhngig)
Separation von Tunnelleitung und
IIS bisher nicht mglich
Eigenschaften von TCO-Schichtsystemen
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Ausblick
Einleitung
Weitere Optimierung der Schichteigenschaften
Evaluierung der Leistungsregelung im Transition Mode
Reduktion whrend der Beschichtung durch H-Zugabe
M. L. Addonizio et al., Transport mechanisms of RF sputtered Al-doped ZnO films by H
2
process gas
dilution, Thin Solid Films 349 (1999) 93
Verbesserung der Dotierungseffizienz durch Erhhung der Plasmadichte
Y. Shigesato et al., Doping mechanisms of tin-doped indium oxide films, Appl. Phys. Let. 61(1) (1992) 73
Verbesserung der Plasmaaktiverung durch Ozon-Zugabe
A. H. M. Z. Alam et al., Ozone in reactive gas for producing tin-doped indium oxide films by DC reactive
magnetron sputtering, Thin Solid Films 281 282 (1996) 209
Aufbau und Inbetriebnahme der In-Line-Sputteranlage
Fertigung groflchiger ZnO:Al-Beschichtungen ab 062000