INGENIERIA EN MECATRONICA CONTROL DIGITAL

MONOGRAFIA Muestreo y recontruccin de seales

PROF: JUAN GABRIEL RODRIGUEZ ZAMARRON

Daniel Becerra Jimnez A 14 de octubre de 2011

MUESTREO Y RECONSTRUCCION DE SEALES

INTRODUCCION El tema de muestreo y reconstruccin de seales es un tema al cual se necesita la compresin temprana de varios conceptos del tema del dominio de la frecuencia as como de estar iniciado en el tema de transformadas (La Place y transformada Z) ya que a continuacin abordaremos un tema en el cual veremos la aplicacin real. Sabemos modelar sistemas continuos (La place) o sistemas discretos (transformada Z), pero en la mayora de los casos los sistemas reales contienen tanto bloques continuos como bloques discreto. Para todo esto se necesitan elementos que permitan interconectar sistemas continuos con sistemas discretos y viceversa.1 El muestreo de seales nos permite obtener una secuencia a partir de una seal con lo que tenemos

Esta seal es obtenida despus de que el convertidor A/D (muestreador) toma los valores de la seal cada cierto tiempo. Este tiempo se conoce como periodo (T) y normalmente es constante, es de gran importancia que el periodo de muestreo se lo bastante pequeo para no perder informacin, as como para evitar el efecto de aliansing. De acuerdo al teorema del muestreo: una seal analgica con componentes armonicos limitados por una frecuencia fmax puede ser reconstruida a partir de sus muestras siempre que estas se tomen a intervalos de tiempo T<1/(2fmax) no obstante el enunciado del teorema implica una cierta idealizacin pues en realidad:2 1. La mayora de las seales no estn estrictamente ilimitadas en frecuencia, si bien la amplitud de sus armnicos decae para frecuencias elevadas.

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http://isa.umh.es/asignaturas/tcs/apuntes/muestreo_reconstruccion.pdf introduccin pag.2 http://www.ing.unlp.edu.ar/controlm/electricista/archivos/apuntes/cap1.pdf contenido armnico de la seal muestreada. Pag 8

2. Aun en el caso de tener T<1/(2fmax) seria necesario emplear un filtro pasa bajos ideal para reconstruir la seal analgica, y este filtro no es realizable Por estos motivos el proceso de muestreo introduce una distorsin irreversible (aliansing) y por ende, no es posible recuperar la seal original de forma exacta. Cuanto menor sea el grado de cumplimiento de las condiciones del teorema, mayor ser la superposicin de espectros contiguos.3 TEOREMA DEL MUESTREO

Consideremos una seal arbitraria g(t) de energa finita como la que se muestra en la fig.1 . Supongamos que muestreamos la seal g(t) de forma instantnea a una tasa uniforme cada segundos. Como resultado de este proceso se obtiene una secuencia de nmeros espaciados y que podemos denotar mediante {g(n )}, donde se pueden tomar cualquier valor entero, es el periodo de muestreo y = 1/ es la frecuencia de muestreo. Esta forma ideal de muestreo recibe el nombre de muestreo intantaneo.4 Sea la seal obtenida multiplicando la secuencia de nmeros {g(n )}, por un tren de deltas espaciados , entonces se puede expresar segn la ecuacion:

(1) A se la denomina seal muestreada ideal. En la figura 2 se puede ver el Resultado de este tipo de muestreo aplicado a la seal de la figura 1. De forma equivalente se puede expresar como el producto de la seal original g(t) por la funcin de muestreo ideal {g(n )}, con periodo segn la ecuacin(2)

(2)

http://www.ing.unlp.edu.ar/controlm/electricista/archivos/apuntes/cap1.pdf contenido armonico de la seal muestreada. Pag 8

4

http://www.lpi.tel.uva.es/~santi/slweb/muestreo.pdf teorema del muestreo pag 1

Se puede determinar la transformada de Fourier de la seal muestreada convolucionando la transformada de Fourier de g(t) con la transformada de Fourier de la funcin de muestreo ideal (t) que viene dada por la ecuacin (3). Entonces si G(f) es la transformada de Fourier de g(t), la transformada de Fourier de la seal muestreada viene dada por la ecuacin (4). Si intercambiamos el orden del sumatorio y la convolucin se obtiene la ecuacin (5). La convolucin de una seal cualquiera con una delta desplazada, desplaza la seal segn la ecuacin (6), por lo que se tiene finalmente la ecuacin (7).5

(3)

(4) (5)

(6)

(7) Representa un espectro continuo peridico con periodo = 1/ . Se puede decir entonces que el proceso de muestreo uniforme de una seal en el dominio del tiempo da lugar a un espectro peridico en el dominio de la frecuencia con periodo igual a la frecuencia de muestreo.6 A partir de la ecuacin (1) tomando transformada de Fourier en ambos lados se obtiene la ecuacin (8). Esta ecuacin se puede ver como una representacin en serie compleja de Fourier de la seal peridica en la frecuencia , siendo los coeficientes complejos de la expansin la secuencia de muestras {g(n )}, por lo que se tiene la ecuacin (9), que es la ecuacin anlisis de la expansin en serie compleja de Fourier de una seal. Hay que tener en cuenta que en las ecuaciones (8) y (9) se han intercambiado el papel habitual del tiempo y de la frecuencia.

(8)

(9)
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http://www.lpi.tel.uva.es/~santi/slweb/muestreo.pdf teorema del muestreo pag 1 http://www.lpi.tel.uva.es/~santi/slweb/muestreo.pdf teorema del muestreo pag 3

Todas las relaciones anteriores se pueden aplicar a cualquier seal continua g(t) de energa finita y de duracin finita. Vamos a suponer ahora que la seal es estrictamente limitada a la banda W, es decir, la transformada de Fourier G(f) de la seal g(t) no tiene componentes frecuenciales fuera de |f| < W. En la figura 3 podemos ver el espectro G(f) limitado a la banda W. La forma de este espectro se considera triangular para simplificar las figuras, pero en la prctica puede tener cualquier otra forma.7 Vamos a suponer que se elige un periodo de muestreo = 1/ 2W o lo que es lo mismo, una tasa de muestreo = 2W. En este caso se puede ver el espectro de (f) en la figura 4. En este caso la ecuacin (8) se puede volver a escribir segn la ecuacin (10). 8

(10) Comparando las figuras 3 y 4 se puede comprobar que se puede recuperar el espectro original G (f) a partir del espectro de la seal muestreada (f) segn la ecuacin (11). Juntando las ecuaciones (10) y (11) se tiene la ecuacin (12).9

(11)

(12) Si se conoce el valor de todas las muestras {g(n/2W)} de la seal g (t), entonces la transformada de Fourier G (f) de la seal g (t) esta unvocamente determinada por la representacin en serie de Fourier de la ecuacin (12). Adems puesto que g (t) se puede determinar a partir de su espectro G (f) utilizando la transformada inversa de Fourier, la seal original g (t) est tambin unvocamente determinada por las muestras. En otras palabras, la secuencia contiene toda la informacin de la seal g (t).

7 8

http://www.lpi.tel.uva.es/~santi/slweb/muestreo.pdf teorema del muestreo pag 3 http://www.lpi.tel.uva.es/~santi/slweb/muestreo.pdf teorema del muestreo pag 3 9 http://www.lpi.tel.uva.es/~santi/slweb/muestreo.pdf teorema del muestreo pag 3

Vamos a considerar ahora el problema de recuperar la seal g(t) a partir de las muestras {g(n/2W)}.Usando la ecuacin (12) y la expresin de la transformada inversa de Fourier se puede escribir el desarrollo de la ecuacin (13). Si intercambiamos el orden del sumatorio y la integral en la ecuacin anterior se puede escribir la ecuacin (14). La integral de la derecha de esta ecuacin es inmediata y se puede calcular directamente obtenindose finalmente la ecuacin (15).

(13)

(14)

(15) La ecuacin (15) se conoce como frmula de interpolacin para reconstruir la seal original g (t) a partir de las muestras {g(n/2W)}, siendo la funcin sinc(2Wt) la funcin interpoladora. Cada muestra se multiplica por una versin retardada de la funcin interpoladora y el resultado se suma para obtener la seal original g (t). Se puede ver que esta ecuacin representa la respuesta de un filtro paso bajo ideal de ancho de banda W, con retardo cero y cuya entrada es la seal muestreada (t). Esto se puede comprobar de forma intuitiva viendo los espectros (f) y G(f) en las figuras 3 y 4 o a partir de la ecuacin (11). En la figura 5 se puede ver la funcin de transferencia del filtro de Reconstruccin. En la figura 6 se puede ver esquemticamente el proceso de recuperacin de la seal original g(t) a partir de las secuencia de muestras{g(n/2W)}.10

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http://www.lpi.tel.uva.es/~santi/slweb/muestreo.pdf teorema del muestreo pag 4

Vamos a ver otra interpretacin de la frmula de interpolacin dada por la ecuacin (15) utilizando la propiedad de que la funcin interpoladora desplazada sinc (2Wt n) forma una familia de funciones mutuamente ortogonales. Vamos a comenzar probando esta ltima afirmacin en primer lugar. Vamos a considerar una versin generalizada del teorema de energa de Rayleigh dada por la ecuacin (16), siendo g1 (t) y g2 (t) dos seales de energa cualesquiera y G1(f) y G2(f) sus transformadas de Fourier, respectivamente. Vamos a aplicar este teorema a las seales que nos interesa segn las ecuaciones (17) y (18), siendo n y m dos enteros cualesquiera. Utilizando la transformada inmediata dada por la ecuacin (19) y la propiedad de la transformada de Fourier de desplazamiento temporal se puede llegar a las ecuaciones (20) y (21).11

(16)

(17) (18)

(19)

(20) (21) Usando ahora la relacin dada por la ecuacin (16) se obtiene la ecuacin (22). El resultado de esta ecuacin es 1/2W para n = m y cero en el resto, es decir, se tiene finalmente la ecuacin (23), con lo que queda demostrado que la familia de funciones sinc (2Wt n) es ortogonal.

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http://www.lpi.tel.uva.es/~santi/slweb/muestreo.pdf teorema del muestreo pag 5

(22)

(23) La ecuacin (15) representa entonces la expansin de la seal g (t) como la suma infinita de funciones ortogonales cuyos coeficientes son las muestras de la seal {g(n/2W)}. Utilizando la propiedad de ortogonalidad de estas funciones dada por la ecuacin (23) se puede llegar a la expresin dada por la ecuacin (24) para las muestras de la seal. Los coeficientes de esta expansin {g(n/2W)} se pueden ver como una coordenada en un espacio de seal de dimensin infinita cuyos ejes son ortogonales y corresponden a las funciones sinc (2Wtn). Cada punto de este espacio corresponde a una seal g(t) y cada seal g(t) a un punto.

(24) Se puede enunciar el teorema de muestreo o teorema de Nyquist para seales Limitadas en banda de energa finita de dos modos: Una seal limitada en banda de energa que no tiene componentes a frecuencias mayores que W Hz se puede representar de forma exacta especificando los valores de la senal en instantes de tiempo separados Ts = 1/2W segundos. Una seal limitada en banda de energa sin componentes frecuenciales superiores a W Hz se puede recuperar de forma exacta a partir de sus muestras tomadas a una tasa de fs = 2W muestras por segundo. La tasa de muestreo fs = 2W definida para una seal con ancho de banda W se denomina tasa de Nyquist. El teorema de muestreo es la base de la equivalencia entre seales analgicas y digitales. El teorema de muestreo se basa en la suposicin de que la seal g(t) sea estrictamente limitada en banda. Esto slo se satisface si g(t) tiene duracin infinita. Es decir, una seal estrictamente limitada en banda no puede ser simultneamente estrictamente limitada en tiempo y viceversa. Sin embargo, se va a poder aplicar en la practica el teorema de muestreo a seales limitadas temporalmente cuando estas sean esencialmente limitadas en banda en el sentido de que fuera de la banda de inters el valor que toma el espectro no es relevante. Esto justifica la aplicacin prctica del teorema de muestreo.12

12

http://www.lpi.tel.uva.es/~santi/slweb/muestreo.pdf teorema del muestreo pag 6

RECONSTRUCCION DE SEALES Existen diversas maneras de interpolar y extrapolar una seal discreta a los efectos de obtener una seal analgica. Aqu, slo se considera el reconstructor de orden cero, que es aquel que mantiene constante, en su salida, el ltimo valor de la muestra de entrada. Este reconstructor es el ms empleado en aplicaciones de control automtico. Reconstructor de orden cero. Una alternativa para calcular esta funcin de transferencia es, directamente calcular la transformada de La place de la respuesta impulsional (h(t)) del Reconstructor ante una excitacin impulsional (figura 1.9).

Luego:

La respuesta en frecuencia del reconstructor de orden cero puede ser obtenida a partir del siguiente desarrollo:

Luego:

Y teniendo presente que:

Resulta:

Siendo:

La figura 1.10 muestra las curvas del modulo y fase de la respuesta en frecuencia. Se obtiene la caracterstica pasabajos que presenta el reconstructor de orden cero, esta caracterstica hace que a la salida de recontructor predominen las componentes de baja frecuencia de la seal muestreada (es decir bsicamente las que corresponden a la banda base). Debido a que la ganancia no es constante en el rango de las frecuencias y a que la atenuacin no es infinita para las frecuencias de las bandas superiores, es que la seal reconstruida difiere de la muestreada (fig 1.3)13

13

http://www.ing.unlp.edu.ar/controlm/electricista/archivos/apuntes/cap1.pdf reconstruccion de seales . Pag 10

TEOREMA DE MUESTREO DE NYQUIST-SHANNON El teorema trata con el muestreo, que no debe ser confundido o asociado con la cuantificacin, proceso que sigue al de muestreo en la digitalizacin de una seal y que, al contrario del muestreo, no es reversible (se produce una prdida de informacin en el proceso de cuantificacin, incluso en el caso ideal terico, que se traduce en una distorsin conocida como error o ruido de cuantificacin y que establece un lmite terico superior a la relacin sealruido). Dicho de otro modo, desde el punto de vista del teorema, las muestras discretas de una seal son valores exactos que an no han sufrido redondeo o truncamiento alguno sobre una precisin determinada, esto es, an no han sido cuantificadas. El teorema demuestra que la reconstruccin exacta de una

seal peridica continua en banda base a partir de sus muestras, es matemticamente posible si la seal est limitada en banda y la tasa de muestreo es superior al doble de su ancho de banda. Dicho de otro modo, la informacin completa de la seal analgica original que cumple el criterio anterior est descrita por la serie total de muestras que resultaron del proceso de muestreo. No hay nada, por tanto, de la evolucin de la seal entre muestras que no est perfectamente definido por la serie total de muestras. Si la frecuencia ms alta es entonces contenida en una seal analgica ,

y la seal se muestrea a una tasa

se puede recuperar totalmente a partir de sus muestras

mediante la siguiente funcin de interpolacin:

As,

se puede expresar como:

Donde

son las muestras de

Hay que notar que el concepto de ancho de banda no necesariamente es sinnimo del valor de la frecuencia ms alta en la seal de inters. A las seales para las cuales esto s es cierto se les llama seales de banda base, y

no todas las seales comparten tal caracterstica (por ejemplo, las ondas de radio en frecuencia modulada). Si el criterio no es satisfecho, existirn frecuencias cuyo muestreo coincide con otras (el llamado aliasing).

Ejemplo de reconstruccin de una seal de 14,7 kHz (lnea gris discontinua) con slo cinco muestras. Cada ciclo se compone de slo 3 muestras a 44100 muestras por segundo. La reconstruccin terica resulta de la suma ponderada de la funcin de interpolacin g(t) y sus versiones correspondientes desplazadas en el tiempo g(t-nT) con , donde los coeficientes de ponderacin son las muestras x(n). En esta imagen cada funcin de interpolacin est representada con un color (en total, cinco) y estn ponderadas al valor de su correspondiente muestra (el mximo de cada funcin pasa por un punto azul que representa la muestra).

CONCLUSION

El presente trabajo nos introduce a la materia de discretizacion de seales al tiempo que nos presenta una gua para su entendimiento y utilizacin de los teoremas, el uso de convertidores a/d, d/a asi como nos permite entender el por que mas velocidad de muestreo no necesariamente mejor para poder volver a hacer la seal analgica pero si influye en el uso de memoria de la cpu.

BIBLIOGRAFIA httpwww.isa.uniovi.es~aroblesra2pdfmues.pdf http://www.isa.uma.es/C14/Presentaciones%20de%20Clase%20(ppt)/Documen t%20Library/TECNICAS%20DE%20MUESTREO%20Y%20RECONSTRUCCIO N.pdf http://dsp1.materia.unsl.edu.ar/Muestreo%20y%20Reconstruccion%20Ejercicio s.pdf http://es.wikipedia.org/wiki/Teorema_de_muestreo_de_Nyquist-Shannon https://polimedia.upv.es/visor/?id=9e8f6815-a4fa-7148-ad09-f261759f4036

http://es.wikipedia.org/wiki/Teorema_de_muestreo_de_Nyquist-Shannon http://www.lavryengineering.com/documents/Sampling_Theory.pdf http://www.ing.unlp.edu.ar/controlm/electricista/archivos/apuntes/cap1.pdf