Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Princípios de Raio-X

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Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Introdução
• • • Raios-X: descobertos em 1895 por um físico alemão Roentgen Natureza desconhecida (daí o nome de raios-X) Características: – invisível
– propaga em linha reta – tem ação sobre filmes fotográficos – tem poder de penetração > luz (atravessa corpo humano, madeira, metais e outros objetos opacos)

Os raios-X foram descobertos por um físico alemão, Roentgen, na Universidade de Wurzburg, na Alemanha. Embora sua natureza não fosse ainda bem conhecida (daí o nome de raios-X), eles foram, devido à alta penetração, quase que imediatamente utilizados para estudar a estrutura interna dos objetos opacos (radiografia). Vários estudos permitiram concluir que: • os raios-X são invisíveis; propagam-se em linha reta (como a luz); tem ação sobre filmes fotográficos (como a luz); possuem alto poder de penetração (maior que o da luz); atravessam corpo humano, madeira, alguns metais e outros objetos metálicos.

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Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Introdução
• Com estas características, os raios-X foram imediatamente utilizados principalmente no campo da medicina, através das radiografias 1912 Von Loue
– previu teoricamente que os raios-X poderiam ser difratados por cristais

Bragg (pai e filho): determinaram o retículo cristalino do NaCl, KCl, KBr e KI através da difração de raios-X Determinação da estrutura cristalina dos materiais

Com as características mencionadas anteriormente, os raios-X foram imediatamente utilizados para estudar a estrutura interna dos objetos opacos (radiografias). No Brasil, as primeiras radiografias foram obtidas em meados de março de 1896 na Escola Politécnica do Rio de Janeiro, pelo professor Henrique Morize. Em 1912 von Loue, utilizando a teoria eletromagnética da luz, previu teoricamente que os raios-X poderiam ser difratados pelos cristais. Em seguida, os Bragg (pai e filho) determinaram experimentalmente o reticulado cristalino do NaCl, KCl, KBr e KI por difração de raios-X. É importante ressaltar então que a história da cristalografia se divide em duas partes: antes e após de 1912: antes de 1912, só se estudava a morfologia e após 1912 a estrutura cristalina dos materiais pode ser determinada. A difração de raios-X possibilitou o estudo de detalhes do retículo cristalino, o qual tem dimensões da ordem de ângstroms, colocando à disposição de pesquisadores e engenheiros, uma ferramenta muito poderosa.

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Este campo varia com o tempo e com a distância ao longo do eixo x. então a onda está polarizada. são necessários alguns conceitos iniciais sobre radiação eletromagnética. de um único comprimento de onda. isto é.00 x 108 m/s Para um bom entendimento sobre raios-X.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Radiação Eletromagnética Componentes de uma radiação eletromagnética: • campo elétrico (E) e campo magnético (M) z H y E x • O campo elétrico (E) varia com o tempo e com o espaço ⎛x ⎞ Ε = Αsin 2π ⎜ − νt ⎟ ⎠ ⎝λ 1/ν Onde: A: amplitude da onda λ: comprimento de onda ν: freqüência c: velocidade da luz 3. Se este campo for confinado ao plano xy. Há um campo elétrico (E) na direção y e um campo magnético (H) na direção z. 4 . Considere agora somente o campo elétrico (E). uma radiação eletromagnética monocromática. Considere então. viajando em uma direção x. através da equação acima.

5 . de uma eletromagnética em função do tempo e da distância +E +E radiação Onde: A: amplitude da onda λ: comprimento de onda ν: freqüência c: velocidade da luz 3. comprimento de onda (λ) e freqüência (ν). como pode ser vista na Figura.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Radiação Eletromagnética Variação de um campo elétrico E. e as principais componentes são: amplitude (A).00 x 108 m/s A t A x -E 1/ν -E λ λ = c ν Graficamente a variação é senoidal.

0 Å λ Luz visível ~ 6000 Å 1 Å = 10-8 cm = 10-10 m 1 nm = 10 Å = 10-9 m Como já mencionado. Cabe ressaltar que a luz visível possui comprimento de onda da ordem de 6000 Å.01 a 100 Å • Para investigar estruturas cristalinas (difração) utiliza-se: λ = 0.5 a 3. porém com menor comprimento de onda (λ). Os raios-X variam de 0.0 Å. os raios-X são um tipo de radiação eletromagnética da mesma natureza da luz. igual a 10-8 cm. porém com comprimento de onda da ordem de: λ = 0. porém para investigar estruturas cristalinas utiliza-se 0. Å.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Raios X: definição • Raios-X: ondas eletromagnéticas da mesma natureza da luz. A unidade de medida na região dos raios-X é ângstrom. 6 .5 a 3.01 a 100 Å.

μm 1013 1012 1011 1010 10 9 Infra-Vermelho 106 107 108 109 1010 1 centímetro. 7 . ηm Ultravioleta 10 3 104 105 1 mícron. cm 1 metro.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Espectro Eletromagnético Freqüência (Hz) 1022 1021 1020 1019 1018 1017 1016 1015 10 14 Comprimento de Onda. m 108 10 7 Ondas Curtas 1011 1012 1013 106 105 10 4 1 quilômetro. Å 1 nanômetro. km Ondas Longas 1014 1015 103 Os raios-X ocupam a região entre os Raios Gama e os Raios Ultravioleta na espectro eletromagnético. λ Raios Gama 10-3 10-2 10-1 1 10 102 Raios-X 1 Ângstron. Os contornos entre as regiões são arbitrários.

que contém uma fonte de elétrons e dois eletrodos. colidam com o alvo metálico. porém escapam do tubo através de duas ou mais janelas de berílio. a radiação de raios-X acontece quando elétrons com alta velocidade colidem com um alvo metálico. Os raios-X são produzidos quando qualquer partícula carregada eletricamente (geralmente elétrons) e com determinada energia cinética.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Produção de Raios-X • Como os raios-X são produzidos? Os raios-X são produzidos quando qualquer partícula carregada eletricamente (geralmente elétrons) e com determinada energia cinética. os elétrons são enviados em direção ao alvo metálico. Ou Os raios-X são produzidos quando elétrons com alta velocidade colidem com um alvo metálico. que contém uma fonte de elétrons e dois eletrodos. Aplica-se uma forte diferença de potencial entre os eletrodos permitindo que os elétrons emitidos do catodo. No impacto são gerados os raios-X. sofre desaceleração. ou de uma maneira mais simplificada. um anodo (alvo metálico) e um catodo (geralmente um filamento de tungstênio). sofre desaceleração. • São produzidos em um ‘Tubo de Raios-X’. Aplica-se um diferença de potencial entre estes eletrodos e assim. Estas janelas são feitas de berílio pois este material é transparente aos raios-X. os elétrons interagem com o alvo permitindo a emissão de raios-X em todas as direções. No momento da colisão. 8 . A emissão de raios-X ocorre em um ‘Tubo de raios-X’.

os elétrons são produzidos pela ionização de uma pequena quantidade de gás de baixa pressão.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Tubo de Raios-X . 9 . Mo. contendo um anodo.Filamento elétrons Parâmetros importantes: Alvo Metálico: Cu. A Figura ilustra a estrutura interna deste tipo de Tubo. os quais foram utilizados pelo Roentgen. que são altamente transparente aos raios-X. A maioria da energia cinética dos elétrons é convertida em calor. Nos Tubos de Gás. Os Tubos de Filamento foram inventados por Coolige (1913) e são os mais usados atualmente. consistindo de um filamento de tungstênio. Raios-X são emitidos para todas as direções e escapam através de duas ou mais janelas de berílio. Fe. Estes tubos não são caros e produzem espectros puros. O filamento é aquecido através da passagem de uma corrente elétrica (~3A) emitindo elétrons que são acelerados através de uma alta voltagem (~ 20 a 50kV). A corrente do fluxo de elétrons (corrente do Tubo) é aproximadamente 10 a 40 mA). Por esta razão. a grande desvantagem destes tubos é a difícil operação e hoje são praticamente obsoletos. que é um bloco de cobre com um alvo metálico e um catodo. Porém. Os elétrons são focados em uma determinada região do alvo. chamada ‘Focal Spot’. pois o alvo não é contaminado com materiais evaporados de um filamento aquecido. Cr. de acordo com a origem dos elétrons: Tubo de Filamento e Tubo de Gás. o alvo metálico precisa ter um sistema de refrigeração. porém deve-se fazer uma limpeza periódica do alvo. Consistem de uma câmara de vidro mantida sob vácuo. A vantagem dos Tubos de Filamentos é que se pode melhor controlar a intensidade dos raios-X. para eliminar linhas L do tungstênio (contaminação de materiais evaporados do filamento aquecido). Co Voltagem do Tubo: 20 a 50 kV Corrente do Tubo: 10 a 40 mA Os Tubos de Raios-X podem ser divididos em dois tipos. par evitar sua fusão. menos que 1 % é transformada em raios-X.

Filamento Difratômetro de raios-X .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Tubo de Raios-X .SIEMENS Tubo de raios-X Tubo de raios-X da PHILIPS O slide mostra exemplos de tubos de raios-X em um difratômetro de raios-X da SIEMENS e em detalhe um tubo da PHILIPS. 10 .

Como já mencionado. através da equação. então a energia cinética dos elétrons no impacto é dada pela equação apresentada acima. Verifica-se então.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Interação Feixe Elétrons x Alvo Metálico Raios-X são produzidos no momento do impacto feixe de elétrons x alvo metálico Energia cinética do elétron: E = eV = 1 2 mv 2 Onde: E: energia do elétron e: carga do elétron (1. a emissão de raios-X acontece no momento de impacto do feixe de elétrons com o alvo metálico. 11 . Se e é a carga do elétron e V é a voltagem entre os eletrodos.11 x 10-31 kg) v: velocidade do elétron antes do impacto (m/s) Conforme já mencionado. a velocidade do elétron é aproximadamente 1/3 da velocidade da luz. a maioria da energia do elétron é transformada em calor e apenas 1% é convertida em raios-X. Em um Tubo de 30kV.60 x 10-19 Coulomb) V: voltagem do tubo m: massa do elétron (9. que é possível correlacionar a energia cinética do elétron e a voltagem do tubo e assim calcular qual a velocidade do elétron no momento antes do impacto.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Interação Feixe Elétrons x Alvo Metálico • Quando os elétrons atingem o alvo metálico. mencionadas a seguir. eles irão interagir com os átomos deste através dos dois fenômenos: – espalhamento e – fluorescência Quando os elétrons atingem o alvo metálico. eles irão interagir com os átomos deste através dos dois fenômenos: • Fenômeno de Espalhamento • Fenômeno de Fluorescência Ambos os fenômenos irão emitir raios-x com características específicas. 12 .

M. O fenômeno de espalhamento de elétrons se resume no encurvamento da trajetória de um elétron incidente sobre o núcleo atômico. L...). ou núcleo atômico Alvo metálico núcleo M L k Raios-X Elétron do feixe Considere um átomo consistindo de um núcleo e camadas contendo elétrons (camadas K. cuja faixa do espectro das ondas eletromagnéticas chama-se raios-X.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Espalhamento de elétrons Fenômeno de espalhamento: desaceleração dos elétrons quando atingem um alvo metálico. provocando a emissão de onda eletromagnética. O fóton emitido tem comprimento de onda (λ) da ordem de 2 Å. 13 .

Este é o fenômeno de fluorescência. É também impossível excitar a camada K sem excitar outras camadas. M. Nesse processo há emissão de energia e o átomo volta ao estado normal. Um dos outros elétrons das camadas adjacentes (L. M.). emitindo radiação eletromagnética (raios-X). produzindo as linhas: • Kα (elétron vindo da camada L para a camada K) • Kβ (elétron vindo da camada M para a camada K) É mais provável que uma vacância da camada K seja preenchida por um elétron vindo da camada L em relação à camada M. um elétron da camada L é arrancado e um elétron de outra camada preenche a vacância. de alta energia.. resultando em linhas Kα mais fortes que as linhas Kβ. Kβ Kα Lα núcleo 14 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Fluorescência Fenômeno de Fluorescência: salto de elétrons para outros níveis de energia Elétron defletido Alvo metálico Alvo metálico Emissão de raios-X núcleo núcleo Elétron arrancado da camada K Transição do elétron da camada L para K.. L. emitindo raios-X Considere novamente um átomo com um núcleo e camadas contendo elétrons (camadas K.. A vacância da camada K pode ser preenchida por um elétron de outra camada.) imediatamente vai preencher a lacuna deixada na camada K.. Quando um elétron do feixe incidente tiver energia cinética suficiente. As linhas características L originam em um modo similar. A energia emitida é uma radiação de um comprimento de onda característico e neste caso é uma radiação K característica. ele poderá arrancar um elétron da camada K tornando o átomo excitado.

gerados pela desaceleração dos elétrons. gerados pela desaceleração dos elétrons. gerados pelo processo de fluorescência. A radiação emitida contém: • espectro contínuo: contendo uma mistura de comprimentos de onda. verifica-se que são constituídos de uma mistura de comprimentos de onda e a variação da intensidade com estes comprimentos de onda dependem da voltagem do Tubo. Quando os elétrons atingem o alvo. Quando os raios-X emitidos de um tubo de raios-X são analisados. • espectro característico. a emissão de raios-X acontece no momento de impacto do feixe de elétrons com o alvo metálico. eles irão interagir com os átomos deste através dos dois fenômenos mencionados anteriormente: espalhamento (desaceleração dos elétrons) e fluorescência (salto para outros níveis de energia). contendo comprimento de onda característico do metal do alvo. gerados pelo processo de fluorescência. 15 . contendo comprimento de onda característico do metal do alvo. Conforme já mencionado. – Espectro característico.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Radiação Emitida • Os raios-X emitidos de um tubo contêm: – espectro contínuo: contendo uma mistura de comprimentos de onda.

O resultado é um mix de comprimentos de ondas. como já mencionado. verifica-se um decréscimo suave. formada por vários comprimentos de onda. A radiação representada por cada curva é chamada de radiação (espectro) contínua ou branca.0 Comprimento de onda (Å) λmin ou λ0 Espectro de raios-X do Mo como função da voltagem aplicada Considere um tubo de raios-X com alvo de molibdênio. verifica-se uma intensidade zero à um comprimento de onda mínimo (λmin ou λo) e um aumento rápido a um máximo de intensidade. 16 . a intensidade aumenta e o comprimento de onda mínimo (λmin ou λo) e a posição do máximo se deslocam para comprimentos ainda menores.0 3. Nem todos os elétrons são desacelerados da mesma maneira. alguns sendo totalmente interrompidos. fornecendo toda a energia no momento da impacto. Estas curvas suaves então são obtidas aplicando uma voltagem de 20 kV ou menos para um tubo com alvo de Mo. perdendo apenas algumas frações de sua energia cinética. enquanto outros são desviados do caminho pelo núcleo atômico.0 10 5 2. Vamos aplicar várias voltagens neste tubo e verificar as curvas obtidas: • Aplicando uma voltagem de 5 kV. Após o máximo. É originada pelo fenômeno de desaceleração de elétrons (espalhamento).Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Espectro Contínuo 5 Intensidade dos raios-X 4 radiação contínua 3 20 2 15 1 0 0 1. • Aumentando a voltagem aplicada até 20 kV.

Logo. A distribuição do espectro contínuo depende apenas da voltagem do tubo (verificar a equação) porém a intensidade depende da corrente do tubo e do número atômico.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo do λmin ou λ0 Cálculo do λmin ou λ0 Energia cinética do elétron eV = hν máx Energia máxima do raios-X eV = h c λmín λmin λmín = hc eν 12. através desta equação. Esta equação fornece o menor comprimento de onda (em ângstrom) como função da voltagem aplicada. A totalidade destes comprimentos constituem o espectro contínuo. é possível calcular o valor do λmin. Toda a energia cinética do elétron irá se transformar em um fóton de raios-X de maior energia e consequentemente de menor comprimento de onda (λmin ou λo). então somente uma fração de sua energia eV é transformada em raios-X. é possível prever qual a voltagem adequada para produzirmos raios-X de determinada energia ou comprimento de onda. Se um elétron não for completamente interrompido. Esta radiação será menor que hνmax e consequentemente o comprimento de onda será maior que λmin. A intensidade é dada por: onde: A: constante m:constate ~2 I espectrocontínuo = ΑiΖV m i: corrente do tubo Z: número atômico do alvo 17 . ele apenas sofrerá uma desaceleração de sua velocidade. Com a equação do elétron.40 × 103 = V Considere agora o elétron totalmente interrompido no momento do impacto com o núcleo atômico.

0 Comprimento de onda (Å) Quando a voltagem de um tubo de raios-X é aumentada acima de um valor crítico. eles são chamados de linhas características ou espectros característicos. são referentes ao fenômeno de fluorescência. característico de cada metal.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Espectro Característico 6 Intensidade dos raios-X 5 radiação característica kα 25 kV 4 radiação contínua 3 kβ 20 2 15 1 10 5 Espectro de raios-X do Mo como função da voltagem aplicada 0 0 1. Na Figura do slide. superpondo o espectro contínuo.0 3. Estas linhas. ou energia. Uma vez que estes picos são muito estreitos e o comprimento de onda é característico do alvo. a linha característica refere-se às linhas Kα (elétron vindo da camada L para a camada K) e Kβ (elétron vindo da camada M para a camada K) do Molibdênio.0 2. um pico com intensidade máxima aparece a um certo comprimento de onda. 18 . ou salto dos elétrons para outros níveis de energia.

4 0. são chamadas simplesmente Kα. somente as linhas k são úteis para difração de raios-x. Os componentes α1 e α2 possuem comprimento de onda muito próximos que nem sempre são apresentados como linhas diferentes.0 0. 19 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Linhas K • • As linhas K são as radiações mais utilizadas na difração Tipos de Linha K mais importantes: Kα1 Kα2 e Kβ2 70 kα 60 Intensidade Espectros característicos do Mo para 35 kV. Kα2 e Kβ1.71 0.72 Comprimento de onda (Å) Geralmente.6 0. porém as mais importantes são: Kα1. mas é da ordem de 5/1. Há diversos tipos de linha K.8 1. ilustrando as linhas características Kα1.70 0. Kα2 e Kβ1. Kα1 é geralmente duas vezes maior que Kα2 e a razão Kα1/ Kβ1 depende do número atômico. A Figura mostra o espectro do Mo à 35kV em uma escala vertical. O lado direito da escala foi expandida e mostra o dubleto Kα1 Kα2 50 kα1 40 30 20 kβ kα2 10 0 0. se forem linhas diferentes são chamados Kα dubleto e se iguais. sendo que as linhas de maior comprimento de onda podem ser absorvidas por outros materiais.2 0.

pois muitos experimentos de raios-X requerem o uso de radiação monocromática. Intensidade depende da corrente do tubo e da voltagem • I K line = Bi (V − Vk ) n Onde: I: intensidade da linha K B: constante i: corrente do tubo n: constante ~ 1. permite o grande uso da difração de raios-X. A equação mostra esta relação. A existência de linhas estreitas e fortes. 20 . há um aumento da intensidade das linhas K.01kV).Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade das Linhas K • Aumentando a voltagem do Tubo de Raios-X. Para um alvo de Cu. A intensidade depende da corrente do Tubo e da voltagem aplicada.5 V: voltagem do tubo Vk: voltagem mínima para excita a linha K Aumentando a voltagem do Tubo de raios-X acima de uma voltagem crítica (para o Mo a voltagem crítica é 20. a linha Kα tem uma intensidade 90 vezes maior que o comprimento de onda adjacente no espectro contínuo. porém nunca ocorre variação no comprimento de onda. por exemplo. porém não há variação do comprimento de onda. há um aumento na intensidade das linhas características.

63229 * média ponderada entre Kα1 e Kα2 A Tabela mostra as linhas k mais usadas em difração.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Exemplos de Linhas K Comprimento de Onda (Å) das Linhas K Elemento Cr Fe Co Cu Mo kα∗ 2.29361 1.54056 0.78897 1.93998 1.54439 0.93736 1.39222 0.29100 1.71359 kα2 2.62075 1.0 Å.79060 1. Como pode-se notar.71073 kα1 2.54184 0. 21 .79285 1.28970 1. os comprimentos de onda mais utilizados estão na faixa 0. ou seja. da ordem dos espaçamentos interplanares.70930 kβ 2.75661 1.93604 1.08487 1.5 a 3.

Quando um feixe de raios-X intercepta um determinado material.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Absorção de Raios-X Considere um feixe de raios-X incidindo sobre um material: I0 x μ l I I = I 0 e − μx Onde: I0:intensidade incidente I: intensidade transmitida μ: coeficiente de absorção linear x: espessura efetiva do material O que será discutido agora. é a interação de raios-X com outros materiais. Se um feixe de raios-X incidir sobre um material com intensidade I0. A absorção de fótons de raios-X por um material pode ser através dos fenômenos de espalhamento e fluorescência. ele parcialmente pode ser absorvido ou parcialmente transmitido. é dependente da densidade do material e do comprimento de onda dos raios-X incidentes. 22 . semelhante à interação dos elétrons com os materiais. O coeficiente de absorção μ. Considere a Figura acima. o feixe que emergirá na mesma direção terá intensidade I dada pela equação acima.

utilizando estas propriedades dos materiais. Para pequenos comprimentos de ondas. pode ser mostrado através de um gráfico.5 1.5 a 2.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Absorção de Raios-X 400 Coeficiente de absorção-μ (cm) 300 Aresta de absorção 200 100 0 0 0. Analisando o gráfico. há absorção dos raios-X. A Figura. A descontinuidade é a energia necessária para arrancar um elétron da camada K.5 λ (Å) A maneira pelo qual o coeficiente de absorção varia com o comprimento de onda do feixe de raios-X incidente. monocromatizar um feixe de raios-X produzidos por um determinado alvo. É o que será discutido a seguir.0 a ~1. apresenta este comportamento para o Níquel. há alta absorção e de 1. ou melhor. 23 .0 há baixa absorção.0 2. para λ variando de 1.5. pois é um material muito utilizado.0 1. Assim. verifica-se que a curva consiste de duas partes separadas por uma descontinuidade chamada de Aresta de Absorção. podemos modificar.5 2.

6 1. Os filtros são geralmente utilizados na forma de placas finas. 24 .4 1.6 1. isto é muito importante para as análises de difração dos materiais.8 λ (Å) λ (Å) λ (Å) Muitos experimentos de difração requerem radiação os quais devem ser monocromáticas. onde tem-se um tubo de Cu e um filtro de Ni.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Absorção de Raios-X Tubo de Cobre Raios -X Níquel Raios-X monocromatizado Espectro contínuo do Cobre Intensidade de Raios-X Kα Coeficiente de absorção do Níquel Kα Kα Kβ Kβ 1. onde deseja-se uma radiação monocromática. a radiação de um tubo de raios-X operando acima de uma voltagem crítica.6 1.4 1. contem não somente as linhas Kα.Como já mencionado. O efeito da filtração é mostrado no slide. A intensidade dessas linhas indesejáveis pode ser diminuída passando o feixe de raios-X através de um filtro feito de um determinado material que absorva estas linhas e deixe passar apenas a linha Kα.8 1.2 1. indesejáveis nas análises.2 1.8 1. mas também mas também as linhas Kβ e o espectro contínuo. O espectro original é parcialmente filtrado e a radiação final é monocromática.4 1.2 1. No entanto.

936 1.709 0.5 Fe 1.012 0.108 0.714 0.544 1.46 Co 1.31 Material do Filtro λk (Å) Espessura g/cm mm 2 Fração de Kα1 transmitido Os filtros são geralmente utilizados na forma de placas finas.269 1.44 Cu 1.743 0.019 0.632 Zr 0.069 0.488 0.94 1. 25 .016 0.896 0.688 0.009 0.621 Fe 1.4 Mo 0.294 2.021 0.793 1.Filtros Filtros: são feitos de materiais cujas linhas de absorção caem entre os comprimentos de onda Kα e Kβ do metal alvo Estes materiais têm.541 1.29 2.757 Mn 1.085 V 2.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Absorção de Raios-X .014 0. número atômico 1 ou 2 menos que o alvo metálico Alvo Comprimento de onda Espessura do filtro I kβ 1 = I kα 600 Kα2 (Å) Kα1 (Å) Kβ (Å) Cr 2.016 0.018 0. normalmente.392 Ni 1. A Tabela apresenta os filtros mais utilizados em conjunto com vários alvos metálicos.789 1. a espessura requerida e o fator de transmissão para a linha Kα.

filmes fotográficos e detectores. emite luz amarela. contendo traços de níquel.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detecção de Raios-X Os raios-x podem ser detectados através de: • • • Telas fluorescentes Filmes fotográficos Detectores Os principais meios utilizados para detectar os raios-X são telas fluorescentes. Detectores são aparelhos que convertem raios-X em um pulso de corrente elétrica e o número desses pulsos por unidade de tempo é proporcional à intensidade dos raios-X. No entanto. As telas fluorescentes são feitas de um fina camada de sulfeto de zinco. tais compostos fluorescem na região do visível. Sob ação dos raios-X. Filmes fotográficos são afetados por raios-X da mesma maneira que a luz visível. os filmes para detectar raios-X possuem camadas de emulsão mais espessas para permitir uma maior absorção de raios-X. 26 . isto é.

Existem detectores portáteis utilizados para controlar o nível de raios-X do ambiente e assim pode-se trabalhar com mais segurança.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Precauções O operador de um equipamento de raios-X deve tomar as seguintes precauções: • • choque elétrico exposição à radiação O técnico de um equipamento de raios-X é exposto a dois grandes perigos: choque elétrico e radiação. O problema de radiação é devido ao fato de que raios-X matam o tecido humano. Novamente é importante ressaltar que os equipamentos modernos apresentam um grande nível de segurança. Os efeitos biológicos podem ser queimaduras. mutações genéticas etc. mas acima de um certo nível. Choque elétrico é sempre um risco nos equipamentos que utilizam alta voltagem. 27 . chamada de ‘dose de tolerância’. O grande problema é que os raios-X são invisíveis e não causam sensação de queimadura. sem causar riscos ao operador. eles tem efeito cumulativo no organismo. OS equipamentos de raios-X são construídos para que o operador utilize o mesmo com grande segurança. mas ambos são bem controlados nos equipamentos modernos. na verdade esta é a propriedade utilizada na terapia com raios-X para eliminar células do câncer. Pequenas exposições não são cumulativas.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Difração de Raios-X 28 .

29 . Esta técnica permite a identificação de compostos cristalinos assim como fornece detalhes a respeito do tamanho. perfeição e orientação dos cristais. provavelmente serão as principais demandas do Centro de Pesquisa.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Introdução Difração de Raios-X Identificação dos compostos cristalinos Orientação Cristalográfica A difração de raios-X é muito importante na análise microestrutural dos materiais. A identificação dos compostos cristalinos e a orientação cristalográfica.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Interação Raios-X x Amostra elétrons calor Feixe transmitido. o raio-X emitido da amostra devido ao efeito da fluorescência não é o mesmo raios-X do feixe. é necessário entender o que ocorre quando um feixe de raios-X incide sobre uma amostra. um feixe de raios-X também pode arrancar um elétron de uma amostra (por exemplo um elétron da camada k) e provocar assim a fluorescência da amostra. Este fenômeno de fluorescência causado por raios-X é explorado nos espectrômetros de fluorescência. por exemplo). Elétrons da amostra: da mesma forma que um feixe incidente de elétrons pode arrancar um elétron de uma amostra (fenômeno que ocorre no tubo de raios-X. I0 Raios-X fluorescente Absorção Raios-X espalhados • Coerentes • Incoerentes Para entender o fenômeno de difração. I Feixe de raios-X monocromático. vários processos ocorrem. ou uma amostra. também poderá ocorrer alteração da temperatura. Este fenômeno será discutido em seguida. Logo. como pode ser visto na Figura acima. emissão de elétrons e fluorescência. Quando um feixe de raios-X monocromático atinge um átomo. que depende do comprimento de onda do raios-X e a intensidade do feixe transmitido ma mesma direção depende da espessura efetiva da amostra. mas é característico da amostra. em outras direções estará havendo emissão de raios-X do feixe incidente que poderá ser do mesmo comprimento de onda do feixe incidente ou não. Calor: quando um feixe de raios-X atravessa uma amostra. Raios-X espalhados: Ao mesmo tempo que ocorre absorção. 30 . Absorção: A amostra pode absorver raios-X incidente.

os materiais são construídos por átomos que por sua vez compõemse de núcleo carregado positivamente e elétrons negativamente. só que agora cada átomo será uma fonte de emissão esférica (lembre-se que carga acelerada emite onda eletromagnética). portanto. O feixe de raios-X espalhados tem o mesmo comprimento de onda do feixe incidente e é chamado de raiosX Coerentes. O feixe espalha-se por todas as direções. vibrará correspondentemente e reemitirá raios-X na mesma freqüência recebida. Portanto. A Figura representa o fenômeno de espalhamento dos raios-X.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Interação Raios-X x Amostra Raios-X Coerentes átomos Átomo do material Feixe de raios-X incidente Emissão esférica Como todos sabem. qualquer carga pode perceber uma onda eletromagnética através da interação com esse campo elétrico. cada elétron do material receberá sobre si o feixe de raios-X. uma onda eletromagnética compõe-se de um campo elétrico e um campo magnético. somente os elétrons percebem tal excitação. Assim. O núcleo é pesado demais para responder a tão alta freqüência. 31 . alta freqüência. Como o raios-X tem comprimento de onda relativamente pequeno e. Por outro lado.

Este tipo ocorre quando elétrons fracamente ligados ao núcleo são atingidos por um feixe de raios-X com determinada energia incidente.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Interação Raios-X x Amostra Raios-X Incoerentes Antes do impacto Raios-X: hν1 elétron Raios-X: hν2 Depois do impacto elétron hν2 < hν1 Há um outro tipo de espalhamento de raios-X que ocorre quando um feixe desta onda atinge uma amostra. Na colisão os raios-X perdem energia e o elétron é arrancado do átomo (elétron emitido). Estes raios-X não são utilizados para a difração e são denominados de radiação incoerente. 32 . O raio-X apresenta um comprimento de onda diferente do feixe incidente.

Bem. proveniente desse material irradiado. podemos resolver este problema usando a teoria de superposição de ondas. Somamos as amplitudes das ondas que chegam no ponto de interesse. relativas entre cada fonte e também devido ao atraso de recebimento de feixe incidente por cada fonte. levando em consideração as diferenças de fase devido as posições.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Interação Raios-X x Amostra Raio-X incidente r1 r2 P ponto de interesse Suponha agora que o nosso interesse seja calcular qual a intensidade de raios-X espalhados que chega em um ponto do espaço. podemos ter em P interferência construtiva ou destrutiva. Como é de se esperar. 33 .

cada um com metade da amplitude do feixe 1. Considere um feixe de raios-X (feixe 1) viajando da esquerda para a direita. fora de fase e a amplitude do feixe 1 em B é calculada através da equação de onda e é diferente da amplitude em A. têm a mesma amplitude e direção no mesmo instante. 34 . No ponto A. então. porém o feixe 3 tem amplitude zero. os dois feixes estão completamente em fase. No ponto B o feixe 2 tem um máximo da amplitude. Por conveniência assume-se que este feixe está polarizado. Medindo a diferença de fase em comprimentos de onda. λ. seus vetores de campo elétrico. Duas conclusões podem ser tiradas: • Diferenças do caminho percorrido pode levar a diferenças de fases • A diferença de fases produz variação na amplitude. Imaginemos agora que este feixe é composto por duas partes (feixes 2 e 3).Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Superposição de Ondas Total = 7λ + 1/4 λ Total = 7λ O fenômeno de difração é devido essencialmente à existência de certas relações de fase entre duas ou mais ondas. isto é. no qual os feixes 2 e 3 percorrem caminhos diferentes. Os dois feixes estão. Considere agora um experimento imaginário. duas ondas estarão completamente em fase se a diferença de caminho percorrido for um número interior de comprimento de ondas.

O que acontecerá no caso de incidirmos um feixe de raios-X sobre um material policristalino. Do mesmo modo que antes cada átomo reemitirá e agora pelo fato de que estes átomos estão distribuídos periodicamente no espaço. que apresenta uma distribuição ordenada. somente haverá interferência construtiva em certas direções bem definidas e interferência destrutiva para as direções restantes. 35 . e que tenha uma distância interatômica da ordem do comprimento de onda desse raios-X? Ocorrerá o fenômeno de difração. ou seja. periódica de seus átomos no espaço.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Difração de Raios-X Raios-X transmitido s 2θ Raios-X incidentes Material cristalino (átomos distribuídos periodicamente) Raios-X difratados Baseando nos princípios básicos dos fenômenos ondulatórios se observa um fenômeno muito interessante.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Difração de Raios-X 1 plano normal 1´ 2´ Raios-X incidentes 2 Raios-X difratados θ P K θ d Q θ θ O Sólido cristalino Vamos considerar o fenômeno de difração de raios-X de uma maneira mais geométrica. Fica claro. se a distância extra percorrida por cada feixe for um múltiplo inteiro de λ. A condição para que ocorra interferência construtiva é: PO + OQ = nλ = 2d sen θ onde n= 1. pela equação. isto é. Por exemplo.. Só ocorrerá reflexão. com comprimento de onda λ. 2. interferência construtiva. incidindo com um ângulo θ em um conjunto de planos cristalinos com espaçamento d. Considere um feixe monocromático de raios-X. o feixe difratado pelo segundo plano de átomos percorre uma distância PO + OQ a mais que o feixe difratado pelo primeiro plano de átomos. que as direções para as quais ocorre difração (interferência construtiva) são determinadas pela geometria do reticulado. 3. 4. 36 .. Esta equação é conhecida como Lei de Bragg e os ângulos θ para os quais ocorre difração são chamados ângulos de Bragg.

para que possamos ter difração do feixe incidente. 37 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Lei de Bragg plano normal 1 1´ Diferença de caminho para os raios: 11´e 22´é: PO + OP = nλ 2 θ K θ θ θ P O Q 2´ d senθ + d sen θ = nλ 2d sen θ = n λ d n λ = 2d sen θ Lei de Bragg A Lei de Bragg é uma condição geométrica que o arranjo cristalino deve satisfazer em primeiro lugar.

conforme mostra o slide. d é da ordem de 3Å ou menos. Para a maioria dos cristais. pois a radiaç 6Å maioria dos sólidos cristalinos apresentam d ~3Å só ~3Å A difração geralmente ocorre quando o comprimento de onda é da ordem da distância interplanar. Este requisito sai da Lei de Bragg. 38 . se λ é muito pequeno. então: nλ = sen θ < 1 2d nλ < 2d Como o menor n é 1. o que significa que λ não pode exceder 6Å. d. Por outro lado. o ângulo de difração é muito pequeno para ser medido. Um cristal não poderia ser difratado por uma radiação ultravioleta.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Lei de Bragg 2d sen θ = n λ Como sen θ < 1. de comprimento de onda da ordem de 500 Å. então: λ < 2d Podemos utilizar radiação com λ < 6Å.

A reflexão. podemos ser levados a fazer um paralelismo com a reflexão da luz visível por um espelho. 39 . da luz visível não obedece a uma lei de Bragg e portanto para qualquer θ. por um espelho. Para a difração de raios-X por um cristal. Veja o slide.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Comparação Espelho x Cristal Luz visível (λ) Raios-X (λ) θ2 θ1 θ1 espelho θ2 θ2 θ1 cristal θ2 Em um primeiro instante. a reflexão é discreta. independente de λ sempre teremos reflexão no mesmo ângulo θ. porém olhe a diferença fundamental.

• Alternativamente. a Lei de Bragg pode ser utilizada em experimentos. podemos determinar o espaçamento d de vários planos em um cristal. a Lei de Bragg pode ser utilizada através de dois caminhos: • utilizando raios-X de comprimento de onda conhecido e medindo θ. Esta raiostécnica é utilizada para determinar os espectros de emissão dos materiais e também a densidade dos materiais. aná microestrutural • Alternativamente. podemos determinar o espaçamento d de vários planos em um cristal. esta é a análise microestrutural. Experimentalmente.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Espectroscopia e Difratometria de Raios-X Experimentalmente. podemos usar um cristal com planos d conhecidos. Esta técnica é utilizada para determinar os espectros de emissão de raios-X dos materiais e também para determinar a densidade dos materiais. esta é a análise microestrutural. medir θ e então determinar o comprimento de onda de uma radiação: isto é espectroscopia de raios-X. medir θ e então determinar o comprimento de onda de uma radiação: isto é espectroscopia de raios-X. podemos usar um cristal com planos d conhecidos. 40 . através de dois caminhos: • utilizando raios-X de comprimento de onda conhecido e medindo θ.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Espectroscopia e Difratometria de Raios-X Difratômetro: Difratômetro: T: tubo de raios-X C: amostra Espectrômetro: T: amostra C: cristal de estrutura conhecida O slide mostra o esquema de um difratômetro e de um espectrômetro. 41 .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Difratograma de Raios-X Exemplos de difratogramas obtidos para material cristalino e amorfo 2θ 2θ O slide mostra exemplos de difratogramas obtidos para um material cristalino e um material amorfo. 42 .

o que não é aplicado na ACESITA. 43 . O método do pó se aproxima mais dos interesses do Centro de Pesquisa.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Métodos de Difração de Raios-X Existem três métodos principais de Difração de Raios-X: λ Método de Laue Método do Cristal Girante Método do Pó (Debye-Scherrer) variável fixo fixo θ fixo variável (parcialmente) variável Existem três métodos principais de difração de raios-X: • Método de Laue • Método do Cristal Girante • Método do Pó ( Debye Scherrer) Os dois primeiros métodos são utilizados para estudar monocristais.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade do Feixe Difratado 44 .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade do feixe difratado • Fatores que afetam a intensidade relativa do feixe difratado – – – – – – Fator de multiplicidade Fator de Lorentz Fator de polarização Fator de absorção Fator de temperatura Fator de estrutura 45 .

(001) Fator de multiplicidade Sistema Cristalino Cúbico hkl 48 hhl 24 Planos 0kl 24 6 0kk 12 hhh 8 00l 6 Fatores de multiplicidade para vários sistemas cristalinos Sistema Cristalino Cúbico Hexagonal e Romboédrico hkl 48 hk. (010).0 6 0k0 4 0k0 2 00. (100).l 12 hhl 8 0kl 4 h0l 2 Planos 0kl 24 0k.) • Fator de multiplicidade – Refere-se à proporção relativa de planos contribuindo para a mesma reflexão e que entram na equação de intensidade.l 2 00l 2 00l 2 Tetragonal Ortorrômbico Monoclínico Triclínico Informações mais detalhadas podem ser encontradas no livro do Cullity. – Pode ser definido como sendo o número de diferentes planos que têm o mesmo espaçamento. (010). (001). 46 .l 24 hkl 16 hkl 8 hkl 4 hkl 2 hhl 24 hh.0 6 hh0 4 h00 2 00l 6 0k. – Exemplo: Sistema cúbico .l 12 0kl 8 h0l 4 0k0 2 0kk 12 hk.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade do feixe difratado (cont.0 12 hk0 8 hk0 4 hhh 8 hh. “Elements of X-Ray Diffraction”.planos {100} (100).

O efeito global destes fatores geométricos é diminuir a intensidade das reflexões em ângulos de Bragg intermediários.) • Fator de Lorentz – É um fator de correção geométrico que influencia a intensidade do feixe refletido.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade do feixe difratado (cont. – É dado por: 1 4sin 2θ cos θ • Fator de polarização – É um fator de correção geométrico utilizado devido ao feixe incidente não ser polarizado.ângulo de Bragg. que é dado por: 1 + cos 2 2θ sin 2θ cosθ Onde: θ . 47 . ou seja. – É dado por: 1 (1 + cos 2 2θ ) 2 Os fatores de Lorentz e polarização não são usados em separado. Na equação acima está omitida a constante 1/8. normalmente eles são combinados formando o fator de Lorentz-polarização.

No caso de amostras cilíndricas. – Amostras planas: • O volume irradiado da amostra é constante e independente do ângulo θ. portanto. – Absorção depende do material (amostra). • Absorção diminui as intensidades de todos os feixes difratados por um mesmo fator e. 48 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade do feixe difratado (cont. não entra no cálculo das intensidades relativas. • Quanto maior o coeficiente de absorção da amostra menor a intensidade do feixe difratado.) • Fator de absorção – Afeta as intensidades dos raios difratados. o cálculo do fator de absorção é muito difícil sendo negligenciado no cálculo da intensidade quando o método de DebyeScherrer é usado.

diminui a intensidade do feixe difratado. causa expansão das células unitárias (altera d).Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade do feixe difratado (cont. O espalhamento coerente em todas as direções é chamado de temperature-diffuse scattering. A intensidade do background aumenta gradualmente com 2θ. a vibração térmica aumenta o background. 49 . Ela depende também da constante elástica do cristal. aumenta o background (devido ao espalhamento coerente).) • Fator de temperatura – Átomos não são pontos fixos – Vibração térmica • • • • Vibração térmica. – Pode ser ignorado em alguns casos. A vibração térmica causa espalhamento coerente em todas as direções contribuindo somente para o background. A amplitude média da vibração atômica não é função apenas da temperatura. como aproximação o efeito de um cancela o efeito do outro. – É um fator muito difícil de ser calculado. ou seja. Para amostras cilíndricas o efeito da temperatura e o efeito da absorção dependem do ângulo de maneira oposta. aumenta com o aumento da temperatura. O efeito da vibração é mais pronunciado para materiais com baixo ponto de fusão. ou seja.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Intensidade do feixe difratado (cont.) • Fator de estrutura – Depende de: • • • • número de átomos na célula unitária posição dos átomos tipo de átomos fator de espalhamento dos átomos – Determina qual plano vai dar difração (interferência construtiva) 50 .

posição do átomo em relação ao eixo X yj .fator de espalhamento do átomo j xj .posição do átomo em relação ao eixo Z 51 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Fator de Estrutura – O fator de estrutura é dado por: Fhkl = ∑ fe j e j=1 N 2πi(x j h + y jk + z jl ) Onde: fej .posição do átomo em relação ao eixo Y zj .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Cálculo do fator de estrutura
• Cálculo do fator de estrutura para o Ferro C.C.C.
– Número de átomos na célula:
N = 1 + 8 * 1/8 = 2

– Posições:
(0 0 0) e (½ ½ ½)

– Fator de estrutura:

Fhkl = ∑ fe j e
j=1

N

2πi(x jh + y j k + z jl )
1 1 1 2πi( h + k + l ) 2 2 2

Fhkl = fe Fe e

2πi(0h + 0k + 0l )

+ fe Fe e

Fhkl = fe Fe (1 + eπi(h + k + l ) )

52

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Cálculo do fator de estrutura (cont.)
Tem-se que: eiπ(h+k+l) = cos[π(h+k+l)] + i sen[π(h+k+l)]; h k l inteiros Então: sen[(h+k+l)π] = 0 eiπ (h+k+l) = cos[(h+k+l)π]
h2+k2+l2 h k l h+k+l 1 + cos(h+k+l)π 1 1 0 0 1 1 + cos 1 π = 1 + -1 = 0 2 1 1 0 2 1 + cos 2 π = 1 + 1 = 2 3 1 1 1 3 1 + cos 3 π = 1 + -1 = 0 4 2 0 0 2 1 + cos 2 π = 1 + 1 = 2 5 2 1 0 3 1 + cos 3 π = 1 + -1 = 0 6 2 1 1 4 1 + cos 4 π = 1 + 1 = 2 8 2 2 0 4 1 + cos 4 π = 1 + 1 = 2 9 2 2 1 5 1 + cos 5 π = 1 + -1 = 0 9 3 0 0 3 1 + cos 3 π = 1 + -1 = 0 10 3 1 0 4 1 + cos 4 π = 1 + 1 = 2 11 3 1 1 5 1 + cos 5 π = 1 + -1 = 0 Fhkl 0 2 fe 0 2 fe 0 2 fe 2 fe 0 0 2 fe 0

Conclusão: Conclusão: Só vai haver Só vai haver raia raia quando quando (h+k+l) for um (h+k+l) for um número par número par

Relações úteis: enπi= -1 se “n” é ímpar enπi= +1 se “n” é par

53

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Intensidade difratada
• A intensidade do feixe difratado é dada por:
* I hkl = I 0 × m hkl × Fhkl × Fhkl × LP × FT

Onde: I0 - intensidade do feixe incidente m - fator de multiplicidade F - fator de estrutura F* - conjugado do fator de estrutura LP - fator de Lorentz - Polarização FT - fator de temperatura

Sendo:

LP =

1 + cos 2 2θ sen 2 θ cosθ
2

* Fhkl × Fhkl = Fhkl

54

54Å aNaCl = 5.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo de intensidade • Cálculo da intensidade difratada para o NaCl – – – – λ (Cu Kα) = 1.6402Å Sistema cúbico Número de átomos na célula Na: 6 * 1/2 + 8 * 1/8 = 3 + 1 = 4 Cl: 12 * 1/4 + 1 = 3 + 1 = 4 N=8 – Posições Na: (000)(½½0)(½0½)(0½½) Cl: (½00)(0½0)(00½)(½½½) 55 .

λ dhkl θBragg fe Fhkl Ihkl h2+k2+l2 1 2 3 4 5 6 8 9 9 10 11 12 13 14 16 17 17 18 18 19 20 h 1 1 1 2 2 2 2 2 3 3 3 2 3 3 4 3 4 3 4 3 4 k 0 1 1 0 1 1 2 2 0 1 1 2 2 2 0 2 1 3 1 3 2 l 0 0 1 0 0 1 0 1 0 0 1 2 0 1 0 2 0 0 1 1 0 Fhkl 0 0 Na .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo de intensidade (cont.4 Na + 4 4 fe 4 fe fe Cl fe Cl 4 fe fe Cl I hkl = I 0 × m hkl × Fhkl × LP × FT 2 4 fe 4 fe fe Cl fe Cl 4 fe fe Cl 4 fe 4 fe fe Cl fe Cl 56 . λ θ. aNaCl dhkl.) hkl.4 Na + 4 0 0 Na + 4 0 0 0 Na .4 Na + 4 0 0 Na + 4 0 0 0 0 Na .

2 50.57 Fhkl -18 82.71 3.45 10.85 13.68 0.25 4.0 188317 19.0855 (senθ)/λ f.18 0.7 96041 9.04 2.9 663859 67.81 45.2564 2.98 0.1513 1.18 37. (tabelado) θ Na Cl Bragg =1/(2d) 13.6 210080 21.24 22.2507 7.4606 4.96 58.3071 6.12 53.52 0.05 41.16 m 8 6 12 24 8 6 24 24 24 8 LP Ihkl (/I0 FT) Ihkl/Imax*100 (calculado) 32.4 20188 2.4101 1.64 -11.63 24.e.9941 1.4 8.71 0.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo de intensidade (cont.) 2 2 2 h +k +l 3 4 8 11 12 16 19 20 24 27 h k 1 2 2 3 2 4 3 4 4 3 1 0 2 1 2 0 3 2 2 3 l 1 0 0 1 2 0 1 0 2 3 d 3.7006 1.2940 1.89 7.10 0.8201 1.0 988843 100.46 12.4 -10.1773 8.68 62.6282 1.85 9.4343 4.9 85347 8.92 0.2940 6.13 7.00 10.53 7.04 6.4 26.2612 1.63 0.68 36.25 8.52 28.78 3.3965 5.22 0.35 15.98 8.3546 5.8 11316 1.56 9.14 3.3864 5.18 33.8 3335 0.8 -12.8 71.34 57 .1535 8.85 0.6 244989 24.

) Difratograma ilustrativo para o NaCl (Cu Kα ) ) Difratograma ilustrativo para o NaCl (Cu Kα 100 100 90 90 80 80 70 70 60 60 50 50 40 40 30 30 20 20 10 10 00 20 20 111 111 200 200 220 220 311 311 222 222 400 400 331 331 420 420 422 422 333 333 30 30 40 40 50 50 60 60 70 70 80 80 90 90 100 100 Intensidade Intensidade 22θ θ 58 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo de intensidade (cont.

_ Espalhamento difuso da amostra. Filtro de Ni. ar. _ Difração e espalhamento de outros materiais (colimador. Cartão JCPDS para o NaCl 59 .) Difratograma ilustrativo para o NaCl (Cu Kα ) Difratograma ilustrativo para o NaCl (Cu Kα ) 100 100 90 90 80 80 70 70 60 60 50 50 40 40 30 30 20 20 10 10 0 0 20 20 111 111 200 200 220 220 311 311 222 222 400 400 331 331 420 420 422 422 333 333 30 30 40 40 50 50 60 60 70 70 80 80 90 90 100 100 Comparação entre difratograma ilustrativo e real. _ Difração do espectro contínuo. Intensidade Intensidade 2θ 2θ Espectro de difração do NaCl na forma de pó. A intensidade do background é devido às seguintes causas: _ Radiação fluorescente emitida pela amostra.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo de intensidade (cont. suporte da amostra) além da amostra. Radiação de Cu.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Difratômetro de Raios-X 60 .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Difratômetro de raios-X • É um instrumento usado para estudo de materiais cristalinos através de medidas da maneira como eles difratam raios-X de comprimentos de onda conhecidos. • Exemplo comercial: – Difratômetro Shimadzu 61 .

Eixo do difratômetro S . B . Portanto. é necessário manter a intensidade do feixe de raios-X incidente constante para que as intensidades relativas das linhas de difração possam ser medidas corretamente. Este acoplamento assegura que o ângulo de incidência e o de reflexão serão iguais à metade do ângulo de difração. as linhas de difração são medidas uma após a outra.Fendas especiais C . Num difratômetro. 62 .Suporte para contador e fendas de recepção F .Fenda de recepção G .Fonte de raios-X (tubo) T .Alvo do tubo de raios-X Os suportes E e H são acoplados mecanicamente de forma que a rotação de x graus da amostra é acompanhada da rotação de 2x graus do detector.Suporte da amostra K .Escala graduada O .Amostra E .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Características gerais Onde: A.Contador (detector) H .

ela não pode ser utilizada para materiais ferrosos porque ela causa radiação fluorescente do ferro na amostra. Entretanto.) • Essencialmente. Co Kα.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Características gerais (cont. Fe Kα. a Cu Kα é geralmente a mais útil. Cu Kα. Cr Kα Dentre todas as radiações. é usado radiação monocromática. • Considerações importantes na escolha da radiação a ser utilizada – o comprimento de onda característico usado não deve ser menor que a linha de absorção K da amostra para evitar radiação fluorescente – a diminuição do comprimento de onda desloca as linhas de difração para menores ângulos de Bragg e aumenta o número total de linhas de difração • Radiações características usadas na difração de raios-X • Mo Kα. 63 .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Ótica de raios-X • Teorema geométrico: – Todos os ângulos inscritos em um círculo e localizados sobre o mesmo arco são iguais um ao outro e iguais à metade do ângulo formado no centro do círculo pelo mesmo arco. 64 .

a fenda de recepção F e a fonte de raios-X S estão sempre localizados no círculo do difratômetro. A principal razão para o uso de amostras planas é tirar vantagem da focalização e aumentar a intensidade de feixes difratados fracos para um ponto onde eles podem ser medidos corretamente. 65 . Isto significa que a superfície da amostra é sempre tangente ao círculo focalizador centrado na normal à amostra e que passa por F e S. ele aumenta à medida que o ângulo 2θ diminui. o que causa um alargamento do feixe difratado em F.) • Geometria focalizadora para amostras planas Forward refletion Back reflection Para qualquer posição do contador.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Ótica de raios-X (Cont. ou seja. Para se obter um foco perfeito em F é necessário que a amostra seja curvada para se ajustar ao círculo mas esta medida não é prática por causa da mudança do raio de curvatura do círculo. O raio do círculo focalizador não é constante.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Ótica de raios-X (Cont.)
• Desenho ilustrativo do arranjo relativo de fendas em um difratômetro.

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Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Ótica de raios-X (Cont.)
• Monocromador no difratômetro
– É usado em problemas que requerem um feixe incidente estritamente monocromático para que os efeitos a serem medidos não sejam “mascarados” pelo espectro contínuo.

Os raios-X que saem da fonte S são difratados pelo cristal curvo e cortado M para um foco em S’(fonte virtual de raios-X), localizado no círculo do difratômetro, e depois divergem para a amostra C. Após difração na amostra os raios-X são focalizados na fenda de recepção F do contador.

67

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais

Ótica de raios-X (Cont.)
• Posicionamento do monocromador no difratômetro

Feixe incidente

Feixe difratado

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Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores • Os principais meios usados para detectar feixes de raios-X são: – Telas fluorescentes – Filmes fotográficos – Dispositivos de ionização – Outros tipos 69 .

) • Telas fluorescentes – Feitas de uma fina camada de sulfeto de zinco. contendo traços de níquel.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont. montadas sobre uma base – A maioria dos feixes difratados são muito fracos para serem detectados por este método – Largamente usadas para localizar a posição do feixe primário no ajuste do equipamento – Um cristal fluorescente usado em conjunto com um fototubo forma um contador de cintilação (Scintillation counter) 70 .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont.) • Filmes fotográficos – São afetados pelos raios-X da mesma forma que pela luz visível – Na prática é quase impossível medir fotograficamente as intensidades relativas de dois feixes com diferentes comprimentos de onda 71 .

) • Dispositivos de ionização – Medem a intensidade dos feixes de raios-X pela quantidade de ionização que eles produzem num gás – Exemplos: • Câmara de ionização • Contador Proporcional • Contador Geiger 72 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont.

) • Outros tipos – PSD (Position Sensitive Detector) – Área 73 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont.

A eficiência deste contador se aproxima de 100% para toda a faixa de comprimentos de onda porque todos os quanta de raios-X incidentes são absorvidos pelo cristal. 74 . varia com o comprimento de onda dos raios-X – Alto background – Longos tempos de coleta de dados Desenho esquemático de um contador de cintilação. é proporcional à intensidade dos raios-X. No contador de cintilação (Scintillation counter) os quanta de raios-X incidentes produzem luz visível fluorescente em um cristal e a quantidade de luz emitida .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont. A quantidade de pulsos por unidade de tempo é diretamente proporcional à intensidade do feixe de raios-X que chega ao contador. Os quanta de raios-X absorvidos pelo cristal são transformados dentro do contador em pulsos.) • Características do contador de cintilação – A eficiência deste contador se aproxima de 100% para toda a faixa de comprimentos de onda usados em difração – A sensibilidade é uniforme na superfície da janela do contador – A voltagem do pulso de saída é proporcional à energia do quantum que entra. ou seja. que pode ser medida por meio de um fototubo.

chama-se câmara de ionização. Os raios-X que entram na câmara ionizam um gás resultando na liberação de elétrons pelo mesmo. está obsoleta. Então. quando operado desta maneira. Este dispositivo. por isso. os elétrons e íons são coletados nos eletrodos e. haverá uma pequena corrente passando pela resistência R1. se a intensidade do raio-X for constante. Uma ddp (diferença de potencial) aplicada entre o anodo e o catodo faz os elétrons movimentarem-se na direção do anodo e os íons positivos na direção do catodo. 75 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont. mas está obsoleto por causa da sua baixa sensibilidade na medição das intensidades dos raios-X. Esta corrente é uma medida da intensidade do raio-X.) • Características da câmara de ionização – Possui baixa sensibilidade na medição das intensidades dos raios-X e.

a distribuição na amplitude dos pulsos resultantes é mais estreita que em contadores de cintilação e o ruído é menor – A sensibilidade é similar à do contador Geiger.) • Características do contador proporcional – Os pulsos são proporcionais em amplitude à energia do quantum absorvido – O “dead time” é muito pequeno. o contador pode atingir taxas de contagem muito altas – Para um feixe monocromático. varia com o comprimento de onda e depende do gás do contador – Longos tempos de coleta de dados O contador proporcional difere-se da câmara de ionização pelo fato da ddp aplicada ser muito maior provocando o aparecimento de um fenômeno chamado ionização múltipla. 76 . ou seja. O resultado desta amplificação é a enorme quantidade de elétrons que atingem o fio fazendo com que o pulso de corrente no circuito externo seja facilmente detectado.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont. A figura abaixo mostra curvas de distribuição de amplitude dos pulsos de um contador proporcional e de um contador de cintilação para as radiações CuKα e MoKα. que faz com que o número de átomos ionizados pela absorção de um quanta de raios-X seja de 103 a 105 vezes maior.

aproximadamente. que é o tempo durante o qual o contador é insensível após o pulso. – A eficiência geralmente varia de ponto para ponto na janela do contador.) • Características do contador Geiger – A principal desvantagem é a perda nas contagens que ocorre por causa do “dead time”. 77 . obtém-se um fator de amplificação de 108 a 109. Com isto. – Longos tempos de coleta de dados O contador Geiger também possui o mesmo princípio de funcionamento de um contador proporcional mas difere-se do mesmo por trabalhar com uma ddp ainda maior (1000 a 1500V).Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont. – A eficiência do contador varia com o comprimento de onda dos raios-X.

78 .) • Características do contador PSD – É mais rápido que um detector convencional (cintilação) usado na mesma resolução angular tempos médios de coleta de dados – Vários feixes difratados são medidos ao mesmo tempo – O efeito da desfocalização é tão pequeno que pode ser negligenciado (no caso de textura) Desenho esquemático de um goniômetro de textura (Eulerian Cradle) equipado com um detector PSD.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont.

79 . c) Área. b) PSD linear.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Detectores (cont. Desenho esquemático da área de visão e resolução angular do feixe difratado para os goniômetros de textura: a) Convencional (Cintilação).) • Características do contador de área – Mede diferentes ângulos de Bragg ao mesmo tempo – É muito mais rápido que um detector convencional (cintilação) usado na mesma resolução angular tempos muito curtos de coleta de dados – É útil para determinação de textura em materiais com texturas muito fortes – É útil para medidas de textura em multi-cristais (muitos cristalitos individuais podem ser distinguidos) Desenho esquemático de um goniômetro de textura (Eulerian Cradle) equipado com um detector de área.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Monocromadores • Vantagens – Feixe com radiação monocromática – Diminuição da intensidade do background – Espectro resultante é “mais limpo” • Desvantagem – Diminui a intensidade das linhas de difração • Existem dois tipos que dependem do cristal refletor – Cristal plano (não curvo) – Cristal curvo e cortado 80 .

ele contém uma grande proporção de radiação convergente e divergente mesmo com a utilização de fenda ou colimador – É usado.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Monocromadores (cont. 81 . por exemplo.) • O cristal plano – Não é um refletor muito eficiente resultando num feixe refletido de intensidade muito baixa • O feixe incidente nunca é composto somente de raios paralelos. ou seja. para filmes finos.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Monocromadores (cont.) • O cristal cortado curvo e – É possível obter um grande ganho na intensidade do feixe refletido 82 .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Análise de Fases 83 .

Obs. Uma dada substância sempre produz um padrão de difração característico. esteja ou não numa mistura de substâncias. A análise qualitativa é realizada identificando o padrão de cada substância presente.: Existe um banco de dados mantido pelo FIZ (Fachsinformationzentrum). Esta é a base para a análise química baseada em difração. 84 . com ou sem padrão. A análise quantitativa é possível porque as intensidades dos picos produzidos por um constituinte da mistura são proporcionais à fração volumétrica do constituinte na mistura. • Comparação com padrões pré-determinados – ICDD (Internation Centre for Diffraction Data) • PDF-2 (Powder Diffraction FileTM) .000 fases (ano 2000) • Análise qualitativa e quantitativa. ou análise de fases.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Análise de Fases • Análise química pela identificação da substância ou fase e não dos elementos químicos constituintes. cujos dados estão incorporados no PDF-2. chamado ICSD (Inorganic Crystal Structure Database).131.

Claudimar Dados cristalográficos. baseado no espaçamento d dos planos da rede cristalina. sendo d1 para a mais intensa. intensidades relativas correspondentes. são baseados nas três raias de maior intensidade. d2 e d3 . normalmente são suficientes para localizar o padrão de uma substância desconhecida no banco de dados. Hoje existem softwares de busca fornecidos com o banco de dados e também pelos fabricantes de difratômetros. d2 e d3. juntamente com as intensidades relativas. Fatores de conversão são usados nas comparações quando diferem as radiações utilizadas na amostra e no padrão (normalmente Cu). chamados de d1.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Método de Hanawalt Três linhas mais intensas e maior valor de d. Os valores de d1. Valores de d e I/I1 para as linhas medidas Referências sobre o método de obtenção. No Método de Hanawalt cada substância é caracterizada pelos valores de d das três linhas mais intensas. a partir da qual a substância pode ser identificada. Os índices. Em 1936 Hanawalt criou um sistema de classificação de padrões de difração. A radiação usada afeta as intensidades relativas. I. óticos e químicos O padrão de difração do pó de uma substância é característico da substância e forma uma espécie de impressão digital. 85 . para facilitar a busca. Cada padrão de difração é descrito pela lista dos valores de d e dos valores relativos de intensidade dos picos correspondentes. Ficha pdf . d2 para a segunda mais intensa e d3 para a terceira mais intensa. em porcentagem da mais intensa.

tamanho de grão muito pequeno minimiza os efeitos). Erros de posição: alinhamento. Na mistura de fases as três linhas de maior intensidade podem não pertencer a uma mesma fase. Podem haver linhas de diferentes fases superpostas.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Dificuldades Práticas • Erro no espectro de difração da amostra desconhecida que afetam a posição e intensidade das linhas. tornando a solução mais difícil. deformação Erros de intensidade: preparação de amostra (textura. • Componentes com baixa porcentagem não produzem bom espectro. A análise de uma substância simples é relativamente fácil. micro-absorção e extinção: tamanhos de graõs diferentes entre as fases de coeficientes de absorção diferentes . 86 . Os programas de busca e identificação hoje disponíveis facilitam o trabalho.

que pode variar com a concentração. numa mistura de fases. pois depende da absorção. depende da concentração da fase na mistura.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Análise Quantitativa • A intensidade do espectro de difração de uma fase. • Método da comparação direta • Método do padrão interno 87 . – Esta relação não é necessariamente linear.

1% de austenita retida (em volume).fator de temperatura μ .velocidade da luz λ . I .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Método da comparação direta ⎛ I e 4 ⎞⎛ λ3 A ⎞⎛ 1 ⎞ ⎡ 2 I = ⎜ 02 4 ⎟⎜ ⎜ m c ⎟⎜ 32πr ⎟⎜ ν 2 ⎟ ⎢| F | ⎟ ⎠⎝ ⎠ ⎣ ⎝ ⎠⎝ ⎛ I e 4 ⎞⎛ λ3 A ⎞ K 2 = ⎜ 02 4 ⎟⎜ ⎜ m c ⎟⎜ 32πr ⎟ ⎟ ⎝ ⎠⎝ ⎠ ⎛ 1 ⎞⎡ R = ⎜ 2 ⎟ ⎢| F |2 ⎝ ν ⎠⎣ ⎛ 1 + cos 2 2θ p⎜ ⎜ sen 2 θ cos θ ⎝ ⎛ 1 + cos 2 2θ p⎜ ⎜ sen 2 θ cosθ ⎝ ⎞⎤⎛ e −2 M ⎟⎥⎜ ⎟ ⎜ 2μ ⎠⎦⎝ ⎞ ⎟ ⎟ ⎠ Intensidade do feixe difratado K2 independe das substâncias difratantes ⎞⎤ − 2 M ⎟⎥ e ⎟ ⎠⎦ ( ) R depende das substâncias difratantes (hkl e θ) I= K2R 2μ Designando as substâncias por α e γ. Iγ Iα = Rγ cγ Rα cα Valores de R calculados e I medidos Este método é adequado para amostras metálicas policristalinas (austenita retida.intensidade integrada I0 . Iγ = K 2 Rγ cγ 2 μγ Onde cα e cγ são as frações volumétricas de α e γ.coeficiente de absorção linear ex.intensidade do feixe incidente e.volume da célula unitária F .fator de estrutura p . sem monocromador.área da seção do feixe incidente ν . 88 . pode-se escrever para uma linha particular de dada fase: Iα = K 2 Rα cα 2 μα .comprimento de onda r .carga e massa do elétron c . ferrita delta). respectivamente.raio do círculo do difratômetro A .multiplicidade θ .ângulo de Bragg e-2M . 5 a 10% é o mínimo.: com uso de monocromador pode-se detectar 0. m .

B. Consiste em comparar uma linha da fase que se quer quantificar com a de uma substância conhecida (padrão) adicionada.... C.. A fração volumétrica de A passa de cA para cA’. (cA) S . onde a quantidade relativa das outras fases pode variar.. D.fração em peso ρ . ' c 'A wA ρ S = cS wS ρ A wS é mantido constante e wA’ = wA(1-wS) IA = KwA IS Este método é limitado a amostras sob a forma de pó.fase padrão IA = IS = ' K 3c A μm μm μm . não afetam a relação entre as intensidade de A e S.coeficiente de absorção da mistura K3 . 89 .. B.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Método do padrão interno Quantificar A numa mistura A. A comparação de intensidades de A e S no espectro de difração permite a obtenção de cA a partir de uma curva de calibração assim obtida: amostras sintéticas contendo concentrações conhecidas de A e uma concentração constante cS de S..densidade Variação nas quantidades relativas de B. Mistura-se na substância original um quantidade conhecida da fase padrão S. C. C. É conveniente para determinar a quantidade de A numa mistura de fases A.os demais termos da expressão de I são constantes para uma linha do espectro de A K 4 cs I A K 3c 'A = I S K 4 cS w .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Análise de Tensão Residual 90 .

razão de Poisson (0.módulo de Young.25 a 0.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Análise de Tensão Residual z x σ y = Eε y y ε z = −νε y ε z= d − d0 d0 E ⎛ d − d0 ⎞ ⎜ ⎟ ν ⎜ d0 ⎟ ⎝ ⎠ σy =− E . ν . 91 .45 para a maioria dos metais e ligas).

Assim. as medidas são usualmente feitas para 70°<θ0<85° 92 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Análise de Tensão Residual nλ = 2d sen θ dd = − cotg θ dθ d d − d0 εz = = − cotg θ 0 (θ − θ 0 ) d0 Para uma dada deformação ε o deslocamento (θ−θ0) cresce com θ0.

São as direções onde agem as tensões principais σ1. a um ângulo ψ com a normal: Fig pag 437 Cullity εψ = di − d0 d0 εψ − ε 3 = σ Φ (1 + ν ) sen 2 ψ Combinando as expressões acima: σφ = E (1 + ν ) sen 2 ψ ⎛ di − d n ⎞ ⎜ ⎟ ⎜ d ⎟ n ⎠ ⎝ Qualquer que seja o sistema de tensão de um corpo. existem 3 direções mutuamente perpendiculares (1. O que normalmente se deseja é medir a tensão numa direção específica. OB. σ2. σ3 = 0). A substituição de d0 por dn no denominador da expressão final de σφ introduz erro desprezível. AO está contido no plano definido por OB e a normal à superfície.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Método sen2ψ Tensão biaxial Deformação na direção normal à superfície ε3 = ε z = − ν E (σ 1 + σ 2 ) dn − d0 ν = − (σ 1 + σ 2 ) d0 E Deformação da direção AO. que faz um ângulo f com a direção principal 1 e um ângulo b com o eixo x. 3) em que não agem tensões de cizalhamento. 93 . σ3 (neste caso. 2.

medição normal (ψ=0) θi .medição normal (ψ=ψ) Usa-se a mesma reflexão (hkl) para as duas leituras. resulta em diminuição da intensidade. A mudança de foco de F para F’.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Método sen2ψ σφ pode ser expresso em função de 2θ: Fig pag 445 Cullity σφ = E cotgθ (2θ n − 2θ i ) 2(1 + ν ) sen 2 ψ Normalmente ψ é tomado igual a 45°. θn . 94 . com a inclinação da amostra.

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Textura por Difração de Raio-X 95 .

usando a difração de cada cristal. Baseia-se no fato de que num policristal a intensidade difratada é proporcional à fração volumétrica dos cristais que satisfazem a condição de difração.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Métodos Experimentais de Análise de Textura • Orientações individuais em policristais: – É o método mais direto de determinação de textura. grão a grão. 96 . Este método tornou-se importante com a automação das medidas das bandas de Kikuchi no microscópio eletrônico de varredura (EBSD). • Determinação de densidade de polos em policristais: – É o método comumente usado para determinação de textura por difração de raio-X.

kocks Condições: • Os planos {hkl} difratam quando em posição de reflexão entre o feixe incidente e o feixe difratado: normal ao plano {hkl} é a bissetriz entre feixe incidente e feixe difratado. As rotações do goniômetro são relacionadas às coordenadas polares α e β que definem a orientação de um polo.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Difração de Raio-X • Lei de Bragg monocromática: 2 dhkl senθ = nλ para radiação Fig pag 128 . A amostra é então girada no goniômetro de figura de polo: rotações φ e χR para a geometria de reflexão. • Planos com espaçamento dhkl obedecem à lei de Bragg. rotações ω e χT para a geometria de transmissão. mas somente em 1948. 97 .) a análise se tornou quantitativa. A intensidade registrada é proporcional à fração volumétrica de cristais com os planos {hkl} satisfazendo às condições de reflexão. 2θ. com a introdução do goniômetro de figura de polo e o uso de um contador Geiger (Decker et al. Para determinar a orientação de um plano hkl o detetor é posicionado no ângulo de Bragg correspondente ao pico difratado de interesse. O método de reflexão é o mais comumente usado. Difração de raios-x foi empregada para analisar orientação preferencial em metais pela primeira vez em 1924 (Wever).

Na maioria das aplicações ω é mantido igual a zero. usado pelos cristalógrafos para determinação da estrutura de cristais.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Berço de Euler Um difratômetro para figura de polo consiste essencialmente de um goniômetro de 4 círculos. χ. θ. No goniômetro de figura de polo a amostra pode ser oscilada. 98 . A nomenclatura das rotações é padronizada: φ. ω.

Na prática não se consegue eliminar a intensidade de “background”.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Correção de “Background” Iα = I bg bg α =0 bg Iα ( padrão ) bg Iα =(0padrão ) A intensidade de fundo ou “background” resulta do espalhamento incoerente e fluorescência da amostra. um alargamento da incidência do feixe com o ângulo α. porém. O “background” muda com α mas decresce somente para grandes ângulos (e. interação do feixe com moléculas de ar e de ruído eletrônico. 99 . Há.g. com poucos picos. Esta curva é determinada numa amostra de composição similar. Em função disso alguns autores preferem a medição do “background” para α=0 e o uso de uma curva de correção. mas ela pode ser determinada e subtraída da intensidade medida. Em alguns equipamentos ela é medida para cada ângulo α (χ em reflexão). A fluorescência pode ser reduzida na seleção do tubo de raio-x ou com o uso de monocromador.. α=75°). que praticamente elimina fluorescência (requer soller). numa região distante de qualquer pico de Bragg.

exp (-2μt/senθ) onde μ é o coeficiente de absorção linear do material. em μm.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Absorção A fração G da intensidade medida que provém de uma camada superficial de espessura t é dada por: G = 1 . que resulta em valores de G de 50% e 90%. Espessura da amostra. para diferentes radiações e diferentes materiais. com 2θ=40°: 100 .

101 . que normalmente são resolvidos para α=0. Para um feixe cilíndrico (2mm de diâmetro) a interseção com a superfície é uma elipse. Para 2θ pequeno a interseção é mais alongada.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Correção de Desfocalização α= Iα corr aleatória Iα =0 = Iα aleatória Iα A forma da área irradiada depende do sistema de colimação e da orientação da superfície da amostra relativamente ao feixe incidente. que se alonga com o aumento da inclinação α. no mesmo 2θ. Quando a amostra é rodada em torno de χ isto não mais se aplica. O alargamento do feixe pode também causar sobreposição de picos de difração próximos. Na geometria de reflexão de Bragg-Bretano um feixe divergente focaliza-se no detetor. por isso figura de polo não deve ser medida para 2θ<20°. com mesma geometria. mas sem orientação preferencial. uma vez que somente parte do feixe passa pela fenda de recepção. O alargamento e a distorção da área irradiada causam desfocalização do feixe difratado. mas não próximo da periferia da figura de polo. Curvas de correção empíricas podem ser medidas numa amostra do mesmo material. Isto resulta em intensidade reduzida. Quando não é possível a obtenção de amostra de orientação aleatória são usadas curvas de correção teóricas.

é feita uma normalização final. • norm Iαβ ∑ sen α = Iαβ ∑ Iα β sen α ' i i ' ' ' i i Mesmo para figuras de polo incompletas é feita a normalização. As intensidades medidas e corrigidas são somadas para toda a figura de polo. posteriormente. ponderadas em função da contribuição em área. 102 .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Normalização • As intensidades medidas e corrigidas são normalizadas para que a textura seja expressa em unidades padronizadas independentes da intensidade do feixe difratado e dos parâmetros experimentais particulares. No cálculo da ODF. A normalização equivale a expressar as intensidade em múltiplos de uma distribuição aleatória. considerando apenas as intensidades medidas.

.volume irradiado da amostra Δg . a variação do volume com 2θ tem de ser considerada. é a ODF por número. desalinhamento do goniômetro. de modo que o volume efetivo contribuindo para a difração seja independente de χ.resolução angular m . os grãos existem. A ODF pode ser também definida pela fração de número de grãos.χ). ruído na intensidade do raio-x. No caso da difração de raio-x o volume irradiado pode variar com a orientação da amostra (ω. O somatório dos erros leva a uma falta de consistência dos dados de textura que pode ser detectada na fase de análise.ODF. Na técnica de reflexão a área irradiada decresce com 1/senχ e a penetração decresce com senχ.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Relevância Estatística Por número de grãos: df 1 = f N df ⎡ V grão 8π 2 1 ⎤ =⎢ ⎥ f ⎣V amostra Δg . Isto significa que figuras de polo em ângulo de Bragg pequeno têm baixa relevância estatística. Se a área irradiada é constante. Porém. Na maioria dos casos.volume médio do grão Vamostra . o volume efetivamente irradiado é proporcional a senθ.fator de multiplicidade A textura é definida pela fração volumétrica de cristais na orientação g. 103 . correções de background e desfocalização inadequadas. Esta definição independe de parâmetros estruturais e mesmo da existência de grãos bem definidos. Resolução angular e relevância estatística são relacionados um ao outro..m f ( g ) ⎦ 1/ 2 Onde: Vgrão . O método mais simples e mais usado é o de comparar as figuras de polo experimentais com as recalculadas a partir da função distribuição . Fontes de erro na obtenção de textura: preparação de amostra. entretanto.

obtidas por reflexão.que transforma a integral numa soma.y3]={αβ} no sistema KA Uma direção cristalográfica é definida pelo vetor unitário h no sistema de coordenadas do cristal: h=[h1.y). d . Nos outros casos a melhor maneira de obter a orientação é usar os dados para calcular a distribuição de orientação (ODF).Expansão numa série usando um conjunto de funções hamônicas ortogonais. A solução não é simples.y2. acima.h3]={Θγ} no sistema KB Para um cristal numa orientação g. as direções y e h são relacionadas por: y=g. c . A equação é sempre indeterminada e uma solução única não é obtida a menos que condições adicionais sejam aplicadas (não mencionadas aqui).Ajuste de componentes . para cálculo da ODF. ou figura de polo: A(h. A função densidade de orientação f(g) é relacionada com a função distribuição de polos A(hy) pela expressão (1).h2. Este método é adequado para um cálculo interativo de f(g) a partir das figuras de polo. 104 . b . Existem diferentes métodos propostos na literatura.no qual a função densidade de polos é aproximada pro um número de funções distribuição particulares centradas em certos orientações de alta densidade (componentes). e . A obtenção de f(g) a partir de um conjunto de figuras de polo é chamada inversão de figura de polo (pole figure inversion). que leva a uma fórmula inversa expressando f(g) em função de A(h. Comumente usa-se 4 figuras de polo incompletas. Quando h é mantido constante tem-se uma função distribuição de densidade de polos.o mais avançado é conhecido como WIMV (Williams-ImhofMatthies-Vinel).h y||h A fração volumétria de cristais com h||y é dada por: A(hy ) = 1 2π ∫ h||y f ( g ) dψ (1) onde ψ é o ângulo de rotação em torno da direção comum. podendo ser determinada satisfatoriamente por simples exame de uma figura de polo.Tranformação integral.y) = Ph(y) = P(hkl)(αβ) Em poucos casos a textura de uma amostra se aproxima de um cristal simples.Método de aproximação .Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo da ODF Uma direção na amostra é definida pelo vetor unitário y no sistema de coordenadas da amostra: y=[y1. e começa colocando em cada célula da ODF a média geométrica dos valores nas figuras de polo associadas.Discretização . a .

As várias abordagens mencionadas são diferentes na maneira de chegar a uma solução. dΩ = sen α dα dβ A função é normalizada de modo a corresponder a múltiplo de densidade de uma distribuição aleatória.Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Cálculo da ODF Cálculo da ODF Quando se fixa a direção y tem-se a figura de polo inversa: Ry(h) = Ry(Θ. Qualquer solução do problema inclui condições arbitrárias. que é um compromisso entre dados medidos e condições impostas f(g)comp.γ) A função P(hkl)(y) define a fração volumétrica de cristais com h⊥(hkl) na direção variável y={αβ}: dVαβ / V dΩ = P( hkl ) (αβ ). Uma vez encontrada uma solução. Isto não é possível de se obter a partir da difração de um policristal. Isto permite uma estimativa do erro experimental para cada figura de polo: P(hkl) y) polo medidas: ( ( E para todas as figuras(deexp − P hkl) (y)comp dy = ΔP hkl) ∫[ ] 2 ( hkl ) ∑ ΔP ( hkl ) = ΔP 105 . as figuras de polo daí obtidas diferem das medidas. ter-se uma função contínua A(hy). ou seja. de modo que: 1 P( hkl ) (αβ ) sen α dα dβ = 1 4π ∫ Uma solução única do problema da inversão de figura de polo requer um número infinito de figuras de polo (hkl).

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Tabela de ângulos entre planos 106 .

Difração de Raios-X e Textura dos Materiais Tabela de ângulos entre planos 107 .

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