V Simposio La ptica en la Industria Septiembre 8 y 9, 2005 Santiago de Quertaro, Mxico

V Symposium Optics in Industry September 8 & 9, 2005 Santiago de Queretaro, Mexico

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V Symposium Optics in Industry September 8 & 9, 2005 Santiago de Queretaro, Mexico

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V Symposium Optics in Industry September 8 & 9, 2005 Santiago de Queretaro, Mexico

PREFACIO
Estimados colegas, A nombre del Centro Nacional de Metrologa, de la Academia Mexicana de ptica, A. C., de la Divisin de ptica de la Sociedad Mexicana de Fsica, A. C. y del Captulo Mxico de la International Society for Optical Engineering, queremos darles la ms cordial bienvenida a esta quinta edicin del Simposio La ptica en la Industria en la ciudad de Santiago de Quertaro, Mxico. El programa del V Simposio La ptica en la Industria ha sido organizado de acuerdo a dos temticas: la definicin de lneas estratgicas de desarrollo en ptica para nuestro pas, y la determinacin de mecanismos de integracin de redes de investigacin y desarrollo tecnolgico en ptica. En ste se presentarn 102 trabajos por parte de la comunidad ptica mexicana y de algunos colegas de pases como Argentina, Canad, Cuba, Espaa, Estados Unidos de Amrica, Francia y Kuwait. Ante todos ellos, el Comit Organizador Local se encuentra en deuda por haber mantenido un alto nivel acadmico en los trabajos sometidos y haberles dado un enfoque de aplicacin inmediata a problemas reales de la industria. Asimismo, en el evento tendremos la oportunidad de escuchar a distinguidos miembros de la comunidad industrial y acadmica de nuestro pas y de algunas instituciones de otros pases, como lo son Telfonos de Mxico, S. A. de C. V., el National Institute of Standards and Technology, el Fideicomiso para el Ahorro de la Energa Elctrica, el Consorcio Binacional de ptica, el Council for Optical Radiation Measurements, la Colorado Photonics Industry Association, la International Society for Optical Engineering y el Consejo Nacional de Ciencia y Tecnologa de Mxico. De igual forma, podremos conocer la oferta tecnolgica en ptica con la que cuentan las instituciones promotoras de este Simposio: el Instituto de Investigacin en Comunicacin ptica de la Universidad Autnoma de San Luis Potos, el Centro de Investigaciones en ptica, A. C., el Instituto Nacional de Astrofsica, ptica y Electrnica, el Centro de Investigacin Cientfica y de Educacin Superior de Ensenada, el Centro de ptica del Instituto Tecnolgico y de Estudios Superiores de Monterrey, el Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo Tecnolgico de la Universidad Nacional Autnoma de Mxico y el Centro Nacional de Metrologa; as como asistir a la exhibicin de empresas proveedoras de servicios y tecnologa ptica que se instalar durante ambos das del evento. Esta quinta edicin del Simposio La ptica en la Industria permitir que aqullos que aplican la tecnologa ptica conozcan a quienes la desarrollan y unan sus esfuerzos hacia la definicin de lneas de desarrollo estratgicas y hacia la solucin inmediata de los problemas de la industria, y tendr como objetivo buscar consolidar la colaboracin entre la industria y la academia para que ambas puedan beneficiarse en el mediano plazo mediante la promocin de convenios enfocados en esta direccin.

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Como una actividad innovadora, en esta ocasin se impartirn talleres en reas de la ptica con gran aplicacin en la industria; como la colorimetra, la metrologa de fibras pticas, la iluminacin y la estimacin de incertidumbres. Es de destacar tambin, que por primera vez para el Simposio La ptica en la Industria la International Society for Optical Enegineering publicar las memorias en extenso, lo que le proyectar a nivel internacional como el foro idneo de vinculacin en ptica en nuestro pas. Agradecemos a todos ustedes por su valiosa participacin y apoyo al V Simposio La ptica en la Industria y esperamos que disfruten de su estancia en Santiago de Quertaro. El Comit Organizador Local del V Simposio La ptica en la Industria

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FOREWORD
Dear colleagues, On behalf of the Centro Nacional de Metrologa, the Academia Mexicana de ptica, A. C., the Divisin de ptica de la Sociedad Mexicana de Fsica, A. C. and the Chapter Mexico of the International Society for Optical Engineering, we want to kindly welcome you to this fifth edition of the Symposium Optics in Industry which will be held in the city of Santiago de Quertaro, Mexico. The program of the V Symposium Optics in Industry has been organized according to two scopes: the definition of strategic areas for development in optics in Mexico, and the determination of mechanisms to integrate R & D networks in optics. In this, 102 posters will be presented by the Mexican optical community and some colleagues from countries like Argentina, Canada, Cuba, Spain, United States of America, France and Kuwait. To them all, The Local Organizing Committee expresses its gratitude for maintaining a higher academic standard in the submitted contributions and having focused them towards immediate solutions for real problems of the industry. Likewise, in the event we will have the opportunity of listening to important members from the industrial and academic community of our country and some other institutions from abroad, like Telfonos de Mxico, S. A. de C. V., the National Institute of Standards and Technology, the Fideicomiso para el Ahorro de la Energa Elctrica, the Consorcio Binacional de ptica, the Council for Optical Radiation Measurements, the Colorado Photonics Industry Association, the International Society for Optical Engineering and the Consejo Nacional de Ciencia y Tecnologa of Mexico. In similar manner, we will be able to know the technological offer in optics available at the institutions that promote this Symposium: the Instituto de Investigacin en Comunicacin ptica of the Universidad Autnoma de San Luis Potos, the Centro de Investigaciones en ptica, A. C., the Instituto Nacional de Astrofsica, ptica y Electrnica, the Centro de Investigacin Cientfica y de Educacin Superior de Ensenada, the Centro de ptica del Instituto Tecnolgico y de Estudios Superiores de Monterrey, the Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo Tecnolgico of the Universidad Nacional Autnoma de Mxico and the Centro Nacional de Metrologa; as well as to visit the exhibition by optical technology and services supplying industries which will be installed both days of the event. This fifth edition of the Symposium Optics in Industry will allow those who apply the optical technology to meet their developers and joint their efforts towards the definition of strategic areas for development and towards the immediate solution of the problems in industry, and will have as its main objective to look for the consolidation of the collaboration between industry and academy so that both of them could benefit in the mean term by means of the promotion of agreements focused in this sense.

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As an innovative activity for the Symposium, this time hands-on workshops will be offered in some areas of the optics that are widely applied in the industry; like colorimetry, optical fibers metrology, lighting and uncertainty estimation. It worth noticing, that by the first time for the Symposium Optics in Industry the International Society for Optical Engineering will produce the proceedings, promoting it internationally as the forum for collaboration between industry and academy in optics in our country. We acknowledge to you all for your valuable participation and support to the V Symposium Optics in Industry and hope you enjoy your stay Santiago de Quertaro. The Local Organizing Committee of the V Symposium Optics in Industry

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COMIT ORGANIZADOR V SOI / V SOI Organizing Committee

Consejo Nacional Organizador 2005 / 2005 National Organizing Council Oracio Barbosa Garca, AMO Rufino Daz Uribe, DIVO-SMF Hctor O. Nava Jaimes, CENAM Salvador Echeverra Villagmez, CENAM Comit Organizador Local / Local Organizing Committee Eric Rosas - Coordinador General / Chairman Anayansi Estrada Hernndez Carlos H. Matamoros Garca Eduardo Castellanos Zenteno Efran Hernndez Lpez Gabriela Lima Escobedo Guillermo Valencia Luna Ibrahim Serroukh Irma G. Oidor Jurez Juan Carlos Bermdez G. Juan Carlos Campos Rivera Juan Carlos Molina Vzquez Lorena Gallardo Aguilar Roco Cardoso Cisneros Rosa del Arenal Aguilar Salomn Aguilar Hernndez Tatiana A. Ortega Alcntara Vernica K. Carrillo Garca Comit Promotor Nacional / National Promoting Committee Alfonso Lastras Martnez, IICO Alfonso Serrano Heredia, ITESM-Mty Carlos G. Trevio Palacios, INAOE Diana Tentori Santacruz, CICESE Edwin Mart Panameo, BUAP Hctor Hugo Cerecedo Nez, UV Heriberto Mrquez Becerra, CICESE Lus Efran Regalado, UNISON Fermn Granados, INAOE Gerardo Trujillo Schiaffino, ITCh Gilberto Gmez Rosas, UDG Gonzalo Paez Padilla, CIO Guillermo Garca Torales, UDG Jorge Luis Flores Nez, UDG Jos Trinidad Vega Durn, CICATA-Qro Juan B. Hurtado Ramos, CICATA-Qro Ramn Rodrguez Vera, CIO Ricardo Legarda Saenz, UADY Salvador Guel Sandoval, IICO

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V Symposium Optics in Industry September 8 & 9, 2005 Santiago de Queretaro, Mexico

ORGANIZADO POR: / Organized by:

Centro Nacional de Metrologa

CO-ORGANIZADO POR: / Co-organized by:

Academia Mexicana de ptica, A. C.

Divisin de ptica de la Sociedad Mexicana de Fsica, A. C.

The International Society for Optical Engineering, Chapter Mexico

CON LA AYUDA DE: / With the help of:

Instituto de Investigacin en Comunicacin ptica

Centro de Investigaciones en ptica, A. C.

Instituto Nacional de Astrofsica, ptica y Electrnica

Centro de Investigacin Cientfica y Educacin Superior de Ensenada, A. C.

Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo Tecnolgico

Instituto Tecnolgico y de Estudios Superiores de Monterrey

Council for Optical Radiation Measurements

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PATROCINADORES / Sponsors

Centro de Investigacin y Desarrollo Condumex Carretera Constitucin a SLP km 9.6 Parque Industrila Jurica, Qurertaro Qro. CP 76120 Telfono: 442 2389000 Fax: 442 2 180717 Correo electrnico: dtalavera@condumex.com.mx, joseo@condumex.com.mx. Contacto: Dr. Dimas Talavera Velzquez, Jos O. Valenzuela S. www.condumex.com.mx Sociedad de Instrumentistas de Amrica, Seccin Mxico, A. C. INTECH Mxico Automatizacin. Av. San Antonio 256-802, Col. Ampliacin Npoles, 03849 Mxico, D. F. Telfono: 55 56119916 Fax. 55 56111240 Correo electrnico: intechmexico@isamex.org, cperez@isamex.org, modesto.vazquez@prodigy.net.mx Contacto: Lic. Claudia Prez Coordinadora ISA Mxico Lic. Modesto Vzquez Editor Ejecutivo InTech www.isa.org National Instruments Mxico, S. A. de C. V. Insurgentes Sur 619-601 Col. Npoles, C. P. 03810, Mxico D. F. Telfono: 33 38156934 Correo electrnico: nestor.sanchez@ni.com Contacto: Ing. Javier Francisco Gutirrez Santos www.ni.com Consejo de Ciencia y Tecnologa del Estado de Quertaro Luis Pasteur Sur # 36 Col Centro/ C.P: 76000, Santiago de Quertaro, Qro. Telfono: 442 2243218, 2127266 y 2143685 Fax. 442 2126156 Correo electrnico: aliar@concyteq.org.mx Contacto: Dr. Alejandro Lozano www.concyteq.org.mx TELMEX Av. Constituyentes 116 Ote. 1er Piso, C. P. 76047 Quertaro, Qro., Mxico, Telfono: 442 2133730 Fax. 442 2133382 Correo electrnico: etsierra@telmex.com Contacto: Lic. Esther Diana Torres Sierra www.telmex.com

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Satelsa, S. A. de C. V. Ciruelos No. 137-3, Jurica, C. P. 76100, Quertaro, Qro. Telfono: 442 218 8130 Fax. 442 199 0302 Correo electrnico: satelsa@satelsa.com.mx, ventas@satelsa.com.mx Contacto: Arq. Luz Ma. Cervera Ceballos www.satelsa.com.mx Agilent Technologies Mxico, S. de R.L de C.V. Blv. Adolfo Lpez Mateos No. 2009 202 Col. Los Alpes, lvaro Obregn, CP. 01010, Mxico, D.F. Telfono: 01 800 5064 800 / 55 91715500 Fax. 55 91715575 Correo electrnico: linea_directa@agilent.com, alejandro_navarro@agtel.com.mx Contacto: Ing. Alejandro Navarro Marn www.agilent.com.mx Acterna de Mxico, S. A. de C. V. San Francisco No. 6, Col del Valle, 03100, Mxico, D. F. Mxico Telfono: 55 55436644 Fax. 55 55438660 Correo electrnico: info.mex@acterna.com, oscar.marquez@acterna.com Contacto: Ing. Oscar Mrquez www.acterna.com/mexico Insimet, S. A. de C. V. Gabino Barreda 1832-2, Fraccionamiento Ciudad Satlite C. P. 72320, Puebla, Puebla Telfono: 222 2183049 Fax. 222 2183049 Correo electrnico: martinventa@aol.com Contacto: Ing. Martn Ramrez Venta www.polytec.com Supervy Sistemas, S. A. de C. V. Circuito Bahamas No. 9-16, Col. Lomas Estrella C. P. 09890, Iztapalapa, Mxico, D. F. Telfono: 55 56563864 Correo electronico: ereyes@supervy.com.mx Contacto: Ing. Ernesto Reyes Martnez www.supervy.com.mx Varian, S. de R. L. de C. V. Concepcin Bistegui No. 109, Col. Del Valle C. P. 03100, Ciudad de Mxico. Telfono: 55 55239155 Fax. 55 55239155 Ext. 202 Correo electrnico: jorge.barreras@varianinc.com Contacto: Ing. Jorge L. Barreras Lara www.varianinc.com

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Construlita de Quertaro S.A. de C.V. Acceso IV, No.3, Fracc. Industrial Benito Jurez C.P. 76130, Quertaro, Qro. Telfono: 442 2383900 / 05 Fax. 442 238 3999 Correo electrnico: construlita.iluminacion@philips.com, xanic.espinosa@philips.com Contacto: L.D.G. Xanic Espinosa Laguna www.luz.philips.com Sistemas Infrarrojos y de Potencia KLM, S. A Cristbal Coln No. 90, Col. Colon Echegaray C. P. 53310, Naucalpan, Estado de Mxico. Telfono: 55 53602022 Fax. 55 53601361 Correo electrnico: sipklm@prodigy.net.mx Contacto: Ing. Eduardo Moran de los Santos EXACTO TECNOLOGA DE PUNTA EN ARQUITECTURA E ILUMINACIN Hiutzilihuitl No. 64, Col. La Preciosa, Azcapotzalco C.P. 02460, Mxico, D. F. Telfono: 55 52365000 / 52366000 Fax. 55 52367000 Correo electrnico: gexacto@yahoo.com.mx, exacto@prodigy.net.mx Contacto: Ing. Javier Francisco Gutirrez Santos www.photontech.com Laboratorio de Calibracin y Calificacin S. A. de C. V. Calle 1-B No. 73 Int. 3, Col. San Jos de la Escalera Del. Gustavo A. Madero, C. P. 07630. Ciudad de Mxico, D. F. Telfono: 55 53913848 / 53887768 / 53694718 Fax: 55 53913848 Correo electrnico: r.marin@calibracion.com.mx Contacto: Ing. Ricardo Marn Joya www.calibracion.com.mx Perkin Elmer de Mxico S.A. Av. Paso de las Campanas No. 102-5, Fracc. Vistas del Valle Ex Hacienda Santa Ana, C. P. 76116. Quertaro, Quertaro, Mxico. Telfono: 442 2438827 Fax. 442 2438828 Correo electrnico: pkimex@perkinelmer.com, claudia.reyes@perkinelmer.com.mx Contacto: I. Q. Claudia Reyes Zamora www.perkinelmer.com.mx Fideicomiso para el Ahorro de Energa Elctrica Mariano Escobedo No. 420 Col. Anzures C. P. 11590 Mxico D. F. Telfono: 55 52543044 ext. 96020 Fax. 55 52543044 ext. 96152 Correo electrnico: gonzalo.martinez@cfe.gob.mx Contacto: Ing. Gonzalo Martnez Flores www.fide.org.mx

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Metrocal S. A. de C. V. Paseo de las Fuentes 5100-B,Col. Del Paseo Residencial C. P. 64920, Monterrey, N. L., Mxico Telfono: 81 83657188 Fax: 81 83657145 Contacto: Ing. Vctor Leor e-mail: victor@macrolab.net www.mli.com.mx Exacolor Laboratories Barranquilla 150, Col. Altavista, C. P. 64840. Monterrey, N. L., Mxico, Telfono: 81 81288000 Fax. 81 81288001 Correo electrnico: alejandro@exacolor.com.mx, Contacto: Alejandro Fernndez, www.exacolor.com.mx Thor Labs, Inc. 435 Route 206 North, Newton, NJ 07860, USA. Telfono: 1 973 579 7227 7 Fax: 1 973 300 3600 8 Contacto: Amy Eskilson Correo electrnico: sales@thorlabs.com www.thorlabs.com MultiON Consulting, S. A. de C. V. Insurgentes Sur 1236-301, C. P. 03200, Mxico, D. F. Telfono: 55 55594050 ext. 160 Fax: 55 55594048 Contacto: Lic. Lisette Gomez Morales Correo electrnico: lgomez@multion.com.mx http://www.multion.com.mx Procesos Grficos para Publicidad, S. A. de C. V. Av. del Autotransporte 204, C. P. 37179, Len, Gto. Telfono: 477 7742600 Fax: 477 7742601 Contacto: Ing. Antonio Jorge Capiz Correo electrnico: antonio.jorge@procesosgraficos.com.mx http://www.procesosgraficos.com.mx Freixenet de Mxico, S. A. de C. V. Carretera San Juan del Ro Cadereyta km. 40.5 Ezequiel Montes, Quertaro. Telfono: 441 2770147 Fax: 441 2770147 Correo electrnico: relpublicas@freixenetmexico.com.mx Contacto: Enologo Josep Anton Llaquet www.freixenetmexico.com.mx

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CROQUIS HOTEL SEDE / Symposium Hotel Map

AC SP
OFI CINA V SOI CENTRO DE NEGO CIOS REA DE CARTELES

SP SP
STANDS PATROCINADORES

SP SC
SALA DE C ONFERENCIAS

SC. Sala de conf erencias SP Stands Pat rocinadores . AC. rea de cart eles 1 . Registro Simposio 2 . Lobby 3 . Registro Hot el 4 . Bar 5. R aurant est 6. Pat io 7. Alberca 8. St ands de exhibicin 9. Cent ro de negocios 10. Of icina Simposio

WC

WC

7 5 6

3 2

1
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ALGUNOS HOTELES EN QUERTARO / Some Hotels In Down Town

AV. PIE DE LA CUESTA

HOTEL SEDE Fiesta Americana

BOULEVARD BERNARDO QUINTANA FPE. ANGELES

A SAN LUIS POTOSI A JURICA Y JURIQUILLA

Blvd. Bernardo Quintana Arrioja 4050 Col. lamos, tercera seccin el. T (442) 192-99-99

EPIGM ENIO GONZLEZ

ALTAM IRANO

ONA

PRSPERO C. VEGA

AV. UNIVERSIDAD OCAMPO

AV. 5 DE FEBRE RO

RA G. NJE

RA IDO EG RR CO

ARD LEV BOU

ESCOBEDO EZEQUIEL M ONTES

15 DE M AYO

DAM IN CARM

ALLENDE

GUERRERO

PASTEUR

JUREZ

NA NTA QUI DO NA R BER

HIDALGO TECNOLGICO

7
16 DE SEPTIEM BRE BALVANERA J. Z.

ANGELA PERALTA
ANDADOR RE 16 DE SEPTIEMB

TIEM BRE 16 DE SEP

3
TRES GUERRAS

AV. DEL 57 M ADERO

PINO SUREZ ARTEAGA ZARAGOZA

P I. .

RO DE LA LOZA

ANDADOR LIBERTAD INDEPENDENCIA REFORM A VERGARA

CA RR AN

ZA

8 4 5
A CELAYA CUOTA
PLAZA DE TOROS SANTA M ARA

COLN

CONSTITUYENTES

ALAMEDA MIGUEL HIDALGO CORREGIDORA

P TEUR AS

YA LA CE

RE LIB

6
ESTADIO CORREGIDORA

CIRCUNVALACIN

ANDADOR 5 DE M AYO

5 DE M AYO
VE NU ST IAN O

A SAN JUAN DEL RO A CIUDAD DE M XICO

AUTOPISTA A M XICO

1. Casa de la Marquesa
Madero #41 Centro Histrico Tel.(442) 212-00-92- y 212-00-98 Tel. 018004017100

2. Mesn de Santa Rosa

Pasteur sur #17 Centro Histrico Tel. (442) 226-23 y 224-27-81

3. Mesn de la Merced
16 de septiembre # 95 Oriente Centro Histrico Tel. (442) 214-14-98 y 214-14-99

4. Plaza Camelinas Hotel

Av. 5 de febrero #201 Colonia Virreyes Tel. (442) 216-54-94 y 216-05-75 Tel. 018004002100

5 Real de Minas
Av. Constituyentes #124 pte. Colonia El Jacal Tel. (442) 216-04-44 y 216-0501 Tel 018004003400

6. Hotel Mirage
Pasteur #277 Sur Colonia Mercurio Tel. (442) 212-80-10 y 212-70-14 Tel. 018004013700

7. Hotel Mesn del Alfarero

Av. Hidalgo #71 Poniente entre E. Montes y Ocampo Centro Tel. (442) 212-70-53 y 214-05-41

8. Hotel Fiesta Inn

Av. 5 de febrero 108, Col. Nios Hroes, Tel. (442) 196-00-00

J. Z. Jardn Zenea P. I. Plaza Independencia

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PROGRAMA / Program
Mircoles 7 de septiembre de 2005 / Wednesday, September 7, 2005
Hotel Fiesta Americana Quertaro 18h00-20h00 Registro / Registration

Jueves 8 de septiembre de 2005 / Thursday, September 8, 2005

08h00 - 09h00 Registro / Registration

Bienvenida / Welcome 09h00 - 09h15 Hctor O. Nava Jaimes Director General / General Director Centro Nacional de Metrologa Ceremonia de Inauguracin /Opening Ceremony 09h15 - 09h30 Oracio C. Barbosa Garca Presidente / President Academia Mexicana de ptica

Plticas Invitadas / Invited Talks

Optical technologies in telecommunications: The way to a new age
09h30 - 10h30 Tecnologas pticas en telecomunicaciones: El camino hacia una nueva era

Eduardo Gmez Chibli Director Tcnico y de Larga Distancia / Technical and Long Distance Service Director Telfonos de Mxico, S. A. de C. V.

Optoelectronics at NIST: measurement services and partnerships with industry

10h30 - 11h00 Kent B. Rochford Jefe de la Divisin de Optoelectrnica / Chief of the Optoelectronics Division National Institute of Standards and Technology at Boulder

La Optoelectrnica en el NIST: servicios de medicin y colaboracin con la industria

FIDE projects for industrial applications of optics and supports for technological development
11h00 - 11h30 Juan Carlos Guzmn Beas Coordinador de Proyectos Alternativos / Alternative Projects Coordinator Fideicomiso para el Ahorro de la Energa Elctrica

Los proyectos de ptica industrial y los apoyos del FIDE al desarrollo tecnolgico

Optical metrology for LEDs and solid state lighting

11h30 - 12h00

Metrologa ptica para LEDs y para iluminacin de estado slido

Yoshi Ohno Lder de Grupo, Divisin de Tecnologa ptica / Group Leader, Optical Technology Division National Institute of Standards and Technology at Gaithersburg

12h00 - 12h30

Caf y Visita a Exhibicin de Patrocinadores / Coffee and Sponsors Exhibition

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V Simposio La ptica en la Industria Septiembre 8 y 9, 2005 Santiago de Quertaro, Mxico Presentacin de Ofertas Tecnolgicas / Technological Offer

V Symposium Optics in Industry September 8 & 9, 2005 Santiago de Queretaro, Mexico

Gonzalo Paez Padilla Director de Vinculacin y Desarrollo Tecnolgico / Director for External Affaires and Technology Centro de Investigaciones en ptica, A. C. 12h30 - 13h30 Jos Miguel Fernndez Pea Director de Vinculacin / Director for External Affaires Instituto Nacional de Astrofsica, ptica y Electrnica Francisco J. Mendieta Jimnez Ex-Director General / Former General Director Centro de Investigacin Cientfica y Educacin Superior de Ensenada 13h30 - 14h30 14h30 - 16h00 Comida / Lunch Sesin de Carteles 1 / Posters Session 1 Caf y Visita a Exhibicin de Patrocinadores / Coffee and Sponsors Exhibition

Panel de Discusin / Discussion Panel

Lneas estratgicas de desarrollo en ptica para Mxico

Strategic areas for development in optics in Mexico Moderador / Session Chair:

Francisco J. Mendieta Jimnez Ex-Director General / Former General Director Centro de Investigacin Cientfica y Educacin Superior de Ensenada

Participantes / Participants:
Antonio Sierra Gutirrez Director General / General Director Centro de Ingeniera y Desarrollo de Condumex Joel Enrquez Tern Diseador de Producto / Product Engineer Philips, Construlita de Quertaro Jos Alberto Olivares Lecona Investigador / Researcher Centro de Investigacin en Polmeros, Consorcio Comex Nstor Snchez Garca Gerente Regional para el Bajo / Bajio Regional Manager National Instruments de Mxico
Temtica: Conocer los puntos de vista de la industria sobre las lneas estratgicas de desarrollo en el campo de la ptica que actualmente se requieren en Mxico; as como discutir cuales debern ser aqullas que le permitirn a nuestro pas incrementar su competitividad en el futuro.

16h00 - 18h00

Scope: To know the point of view from the industrials about the strategic R&D lines in optics which are needed in Mexico in the present; as well as discuss on which of them will allow our country to increase its competitiveness in the near future.

19h00 - 21h00

Cctel de Bienvenida / Welcome Cocktail Museo Casa de la Zacatecana

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Viernes 9 de septiembre de 2005 / Friday, September 9, 2005

08h00 - 09h00 Registro / Registration

Plticas Invitadas / Invited Talks

Scientific activities of the Binational Center in Optics
09h00 - 09h40 Eugenio R. Mndez Mndez Secretario Cientfico / Senior Scientific Officer Consorcio Binacional en ptica Actividades cientficas del Centro Binacional de ptica

Managing information flow to an R&D organization

09h40 - 10h20 Michael A. Jergens Presidente / President Council for Optical Radiation Measurements Perspectiva selectiva de clusters fotnicos 10h20 - 11h00 Silvia Mioc Presidenta / President Colorado Photonics Industry Association

Administracin del flujo de informacin hacia una organizacin de investigacin y desarrollo

Selected overview of photonics clusters

11h00 - 12h00

Guillermo Aguirre Esponda Director Adjunto de Modernizacin Tecnolgica / Director for Technological Modernization Consejo Nacional de Ciencia y Tecnologa

Support programs for technological development and new business establishment

Instrumentos de apoyo para el desarrollo tecnolgico y creacin de nuevos negocios

12h00 - 12h30

Caf y Visita a Exhibicin de Patrocinadores / Coffee and Sponsors Exhibition

Presentacin de Ofertas Tecnolgicas / Technological Offer

Alfonso Lastras Martnez Director General / General Director Instituto de Investigacin en Comunicacin ptica Roberto Ortega Martinez Jefe del Laboratorio de ptica Aplicada / Head of the Applied Optics Laboratory Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo Tecnolgico 12h30 - 13h30 Alfonso Serrano Heredia Director del Centro de ptica / Director of the Optics Center Instituto Tecnolgico y de Estudios Superiores de Monterrey Salvador Echeverra Villagmez Director de Metrologa Fsica / Director of Physics Metrology Centro Nacional de Metrologa

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13h30 - 14h30 14h30 - 16h00 Comida / Lunch Sesin de Carteles 2 / Posters Session 2

V Symposium Optics in Industry September 8 & 9, 2005 Santiago de Queretaro, Mexico

Caf y Visita a Exhibicin de Patrocinadores / Coffee and Sponsors Exhibition

Panel de Discusin / Discussion Panel

Mechanisms for Integration of R & D networks in optics Moderador / Session Chair:
Mecanismos de integracin de redes de investigacin y desarrollo en ptica

Salvador Echeverra Villagmez Director de Metrologa Fsica / Director of Physics Metrology Centro Nacional de Metrologa

Participantes / Participants:
Carlos A. Gngora Caamal Secretario de la Comisin de Capital de Riesgo / Secretary of the Commission for Risk Asociacin Mexicana de Directivos de la Investigacin Aplicada y el Desarrollo Tecnolgico Eugenio R. Mndez Mndez Secretario Cientfico / Senior Scientific Officer Consorcio Binacional en ptica 16h00 - 18h00 Guillermo J. Larios Hernandez Delegado Comercial / Trade Commissioner Embajada de Canad en Mxico Silvia Mioc Presidenta / President Colorado Photonics Industry Association

Capital

Temtica:

Reunir los puntos de vista de diversas organizaciones cientfico-tecnolgicas, en torno a la definicin de los mejores mecanismos para lograr la integracin de redes de investigacin y desarrollo en ptica que permita la utilizacin eficiente de la infraestructura de investigacin en ptica con que cuenta el pas en las instituciones pblicas y privadas. Ceremonia de Clausura / Closing Ceremony 18h00 - 18h20 J. Rufino Daz Uribe Presidente / President Divisin de ptica de la Sociedad Mexicana de Fsica

Scope:

To know the points of view from several actors from scientific and technological organizations, about the definition of schemes to integrate R&D networks in optics, allowing the efficient use of the installed infrastructure in public and private institutions of Mexico.

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CONTENIDO
CONTENTS
Plticas Invitadas Invited Talks V SOI I 1 Tecnologas pticas en telecomunicaciones: El camino hacia una nueva era Optical technologies in telecommunications: The way to a new age
Eduardo Gmez Chibli

1 3

V SOI I 2 La Optoelectrnica en el NIST: servicios de medicin y colaboracin con la industria Optoelectronics at NIST: measurement services and partnership with industry
Kent B. Rochford

V SOI I 3 Los proyectos de ptica industrial y los apoyos del FIDE al desarrollo tecnolgico FIDE projects for industrial applications of optics and supports for technological development
Juan Carlos Guzmn Beas

V SOI I 4 Metrologa ptica para LEDs y para iluminacin de estado slido Optical metrology for LEDs and solid state lighting
Yoshi Ohno

V SOI I 5 Actividades cientficas del Centro Binacional de ptica Scientific activities of the Binational Center in Optics
Eugenio R. Mndez Mndez

V SOI I 6 Administracin del flujo de informacin hacia una organizacin de investigacin y desarrollo Managing information flow to an R&D organization
Michael Jergens

V SOI I 7 Perspectiva selectiva de clusters fotnicos Selected overview of photonics clusters

Silvia Mioc

V SOI I 8 Instrumentos de apoyo para el desarrollo tecnolgico y creacin de nuevos negocios Support programs for technological development and new business establishment
Guillermo Aguirre Esponda

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Sesiones de Carteles Posters Sessions Medicina y Oftalmologa Medicine and Ophthalmology V SOI 033 Representacin matemtica simple para superficies toroidales Simple mathematical representation of toroidal surfaces
J. E. A. Landgrave, Antonio Villalobos, Criseida Gonzlez

11 13 15

V SOI 041 Clculo de la profundidad de inhomogeneidades en materiales orgnicos semi-slidos usando holografa digital pulsada en 3D Depth position measurement of inhomogeneities in semi-solids organic materials using 3D pulsed digital holography
Mara del Socorro Hernndez-Montes, Fernando Mendoza Santoyo, C. Prez-Lpez

16

V SOI 047 Monitoreo de la actividad del corazn utilizando un interfermetro de Michelson Heart activity monitoring using a Michelson-interferometer
J. J. Soto-Bernal, J. Mascorro-Pantoja, G. A. Prez-Herrera

17

V SOI 054 Mediciones de transmitancia de tejidos biolgicos Transmittance measurements of biological tissues
C. Sifuentes G., G. Miramontes de L., I. de la Rosa V., E. Garca D.

18

V SOI 061 Mapas de distribucin de potencia en lentes oftlmicas Power distribution maps for ophthalmic lenses
Jorge Alberto Gonzlez Silva, Didia Patricia Salas Peimbert, Gerardo Trujillo Schiaffino

19

V SOI 088 Perforador lser de piel con deteccin de punto focal Laser skin perforator with focal point detection
L. Ponce, M. Arronte, J. Cabrera, T. Flores

20

Telecomunicaciones Telecommunications V SOI 014 Evaluacin de la birrefringencia en fibras pticas monomodales dopadas con erbio Birrefringence assessment of erbium doped single-mode optical fibers
Fernando Trevio Martnez, Diana Tentori Santacruz, Csar Ayala Daz, Francisco Javier Mendieta Jimnez

21 23

V SOI 043 Desarrollo de un patrn de fibra ptica para la calibracin de la escala de distancia de OTDRs Development of an optical fiber standard for OTDRs distance scale calibration
J. C. Bermdez

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V SOI 093 Fabricacin de guas de onda mediante intercambios inicos por diferentes mtodos Waveguide fabrication by ionic exchange using different methods
P. Barrios, A. Rodrguez, S. Guel, G. Ramrez

25

Procesos de Produccin Productive Processes V SOI 011 Equipo de control de encendido automtico para motor trifsico mediante sensores infrarrojos Automatic start control for a three-phase electric motor using infrared sensors
Mario Echenique Lima, Francisco Ramrez Arenas, Griselda Rodrguez Pedroza, Andrei Yu Gorvatchev

27 29

V SOI 017 Herramienta de pulido hidrodinmico: HyDRa Hydrodynamic radial polishing tool: HyDRa
E. Sohn, E. Ruz, E. Luna, L. Salas, M. Nez, J. Valds, B. Martnez, I. Cruz-Gonzlez

30

V SOI 026 Optical Coatings Mxico: laboratorio de fabricacin de pelculas antirreflejantes en lentes oftlmicas Optical Coatings Mexico: laboratory for manufacturing of antireflection coatings for the ophthalmic industry
Francisco Villa Villa, Jos Luis Machado Gama

31

V SOI 045 Replicacin de patrones con hologramas en pticas hbridas Patterns replications with hybrid optics holograms
G. Pez-Trujillo, A. Olivares-Prez, I. Fuentes-Tapia

32

V SOI 073 Sistema para la fabricacin de fibras pticas polimricas System for the fabrication of polymeric optical fibers
Miguel ngel Ocampo Mortera

33

V SOI 087 Estudio del proceso de ablacin lser en la tuna mediante la tcnica de fotoacstica pulsada Study of laser ablation in prickle pear by pulsed photoacustic technique
T. Flores, L. Ponce, M. Arronte, E. Ortega

34

V SOI 091 Espectroscopa LIBS de las espinas y gloqudeos de la tuna Laser breakdown spectroscopy of prickle pears thorns and glochids
M. Arronte, T. Flores, L. Ponce, M. Pea-Daz

35

V SOI 092 Simulacin trmica y optimizacin del proceso de soldado de un ensamble automotriz Thermal simulation and optimization of the welding process for an automotive assembly
Gilberto Flores-Salazar, F. J. Gonzlez

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Monitoreo ptico Optical Monitoring V SOI 003 Algunos estudios para prevenir la produccin de algunos tipos de efectos Moir en tela Some studies to prevent the production of some types of Moir effects in fabric
Alfonso Serrano, Rodrigo Ponce, Ibrahim Serroukh

37 39

V SOI 027 Estimacin de parmetros de corrosin en sistemas electroqumicos utilizando interferometra Estimation of corrosion parameters in electrochemical systems using interferometry
D. Mayorga Cruz, J. Uruchurtu Chavarn, O. Sarmiento Martnez, P. A. Mrquez Aguilar, J. Castrelln Uribe

40

V SOI 029 Control in-situ de procesos industriales con luz lser dispersa y rotacin ptica In situ control of industrial processes using laser light scattering and optical rotation
Patricia Judith Mendoza Snchez, Milton Jimnez, Juan de Dios Ortiz Alvarado, Jess Pichardo, Jorge Adalberto Huerta Ruelas

41

V SOI 032 Implementacin de un sensor para radiacin beta basado en fibra ptica Implementation of a beta radiation sensor
Carlos Ojeda, G. Eduardo Sandoval, Augusto Valenzuela

42

V SOI 072 Bandas espectrales de transmitancia en polmeros de polianilina sensibles al amoniaco Spectral bands of transmittance in polymers of polyaniline sensitive to ammonia
J. Castrelln-Uribe, Gustavo A. Reyes Merino, M. E. Nicho

43

V SOI 077 Observacin de flujos usando un procesador ptico no lineal Imaging fluid flows using a nonlinear optical processor
Carlos G. Trevio-Palacios, M. David Iturbe-Castillo, David Snchez-de-la-Llave, Luis I. Olivos-Prez

44

V SOI 083 Circuito Optoelectrnico de luz infrarroja para medicin de opacidad en mltiples materiales An infra-red optoelectronic system for the measurement of opacity in materials
V. Simn Rodrguez, G. Rodrguez Pedroza, S. Guel Sandoval

45

Anlisis y Tratamiento de Materiales Materials Treatment and Analysis V SOI 001 Constantes pticas polarimtricas para el anlisis de sustancias de inters industrial Optical polarimetric constants for the analysis of industrial interesting substances
Gladys Cosso, Vctor Fajer, Pilar Marchante, Manuel lvarez, Justo Ravelo

47 49

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V SOI 002 Sistema de flujo para la deteccin de la actividad ptica de extractos vegetales utilizando cromatografa de exclusin molecular continua Flow system for optical activity detection of vegetable extracts employing molecular exclusion continuous chromatographic detection
Vctor Fjer, Carlos Rodrguez, Juan C. Lpez, Wilfredo Mora, Humberto Fernndez, Eduardo Arista, Salvador Naranjo, Norma vila, Gladys Cosso

50

V SOI 025 Sistema de fluorescencia inducida con lser resuelta en el tiempo A time resolved laser induced fluorescence system
F. J. Bautista, J. de la Rosa, F. J. Gallegos

51

V SOI 039 Estudio del parmetro de hidrlisis de PVA en el registro de hologramas Study of the hydrolysis parameter to PVA in the holograms storage
M. P. Hernndez-Garay, A. Olivares-Prez, I. Fuentes-Tapia, E. L. Ponce-Lee

52

V SOI 040 Polmero conductor con PVA y FeCl3 Conductive polymer with PVA and FeCl3
M. A. Flores-Vzquez, M. P. Hernndez-Garay, A. Olivares-Prez, I. Fuentes-Tapia, B. Ruiz-Limn

53

V SOI 058 Modulacin de propiedades pticas y elctricas mediante radiacin ultravioleta en carotenoides impurificados Optical and electrical properties modulation by ultraviolet radiation on doped carotenoids
B. Ruiz-Limn, J. A. Flores, A. Olivares-Prez, E. L. Ponce-Lee, S. Toxqui-Lpez, M. P. Hernndez-Garay, I. Fuentes-Tapia

54

V SOI 062 Sensor de ndice de refraccin de fibra ptica Optical fiber refractive index sensor
David Monzn Hernndez, Joel Villatoro

55

V SOI 069 Caracterizacin ptica del concreto y del cemento sometidos a radiacin lser a 10.6 m Optical characterization of portland cement and concrete treated with laser radiation (10.6 m)
M. R. Moreno-Virgen, J. J. Soto-Bernal, A. Bonilla-Petriciolet, C. Frausto-Reyes

56

V SOI 089 Microfracturas inducidas en vidrio mediante lser de Nd:YAG con Q:Switch pasivo Laser induced microcracks in glass by passive Q:Switched Nd:YAG Laser
L. Ponce, M. Arronte, T. Flores, J. Obando-Hernndez

57

V SOI 100 Sntesis de fases amorfas y nanocristalinas de Ti-Al por aleado mecnico Synthesis of amorphous and nanocrystallines phases of Ti-Al by mechanical alloying
J. Jess Velzquez Salazar, Francisco Espinoza Beltrn

58

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Pruebas No Destructivas Non-Destructive Testing V SOI 021 Determinacin del mdulo de Young de nuevos materiales polimricos utilizando tcnicas pticas Young module determination of new polymeric materials using optical techniques
R. Rodrguez Vera, J. A. Rayas, Amalia Martnez, Oliverio Rodrguez

59 61

V SOI 030 Aplicaciones de la fotoluminiscencia con excitacin continua y pulsada Applications of photoluminescence with continuous and pulsed excitation
A. E. Martnez-Cantn, M. Garca-Rocha, R. Ortega-Martnez, C. J. Romn-Moreno, I. Hernndez-Caldern

62

V SOI 038 Deteccin ptica de ultrasonido: caracterizacin de transductores Optical detection of ultrasound: characterization of transducers
Miguel A. Bello Jimnez, Ponciano Rodrguez Montero, Rogelio Amezola Luna

63

V SOI 042 Contraste cromtico en microscopios mediante un material fotoluminiscente Chromatic contrast in microscopes by a photoluminescent material
E. L. Ponce-Lee, A. Olivares-Prez, B. Ruiz-Limn, S. Toxqui-Lpez, M. P. Hernndez-Garay, I. Fuentes-Tapia

64

V SOI 049 Medicin ptica de frecuencias de oscilacin de objetos vibrantes mediante el efecto photo-EMF Optical measurement of oscillation frequencies of vibrating objects by means of the photo-EMF effect
Silvia Garca T., Daniel Snchez L., Juan Castillo M.

65

V SOI 055 Anlisis de vibraciones de una placa metlica mediante vibrometra lser y proyeccin de franjas Vibration analysis of a metal plate by using laser vibrometry and fringe projection
B. Barrientos, D. Moreno, M. Cywiak, C. Prez-Lpez, F. Mendoza-Santoyo

66

V SOI 063 Medicin de coeficientes de expansin trmica de una pelcula delgada de diferentes recubrimientos orgnicos mediante interferometra de corrimiento Measurement of thermal expansion coefficients of a thin film of different organic coatings by shearography
Khaled Habib

67

V SOI 066 Inspeccin ultrasnica de tubos mediante lser y wavelets Wavelet-based laser-induced ultrasonic inspection in pipes
Martn E. Baltazar-Lpez, Steve Suh, Ravinder Chona, Christian P. Burger

68

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V SOI 068 Medicin de la reflexin de la luz en diferentes tipos de madera Measurement of the reflection of the light in different types of wood
Jos Juan Gervacio Arciniega, Javier Cruz Mandujano, Jos Cruz de Len

69

V SOI 070 Medicin de la reflexin de la luz en plata, molibdeno y aleacin plata- molibdeno en funcin de la longitud de onda Measurement of the reflection of the light in silver, molybdenum and alloy silvermolybdenum depending on the wavelength
Jos Juan Gervacio Arciniega, Javier Cruz Mandujano, Ricardo Morales Estrella

70

V SOI 080 Fotoelasticidad aplicada a la industria metalmecnica Photoelasticity applied to industry

Alejandra A. Silva-Moreno, Francisco J. Ornelas Rodrguez, Noe Alcal Ochoa, Ricardo Gutirrez Torres

71

V SOI 082 Medicin de espesor y constante dielctrica de recubrimientos por medio de mediciones capacitivas no destructivas Measurement of thickness and dielectric constant of coatings by non-destructive capacitance measurements
A. Guadarrama-Santana, A. Garca-Valenzuela

72

V SOI 084 Sensor de vibraciones usando el fenmeno de self-mixing Vibrations sensor using the self-mixing effect
R. A. Martnez-Celorio, J. B. Gamio, Luis-Mart-Lopez, R. Castro-Snchez

73

Procesamiento de Imgenes y Seales Image and Signals Processing V SOI 004 Procesado digital de imgenes para obtener automticamente la forma y el tamao de filamentos de tela a partir de imgenes de microscopio ptico Digital image processing to automatically retrieve shape characteristics of fabric filaments from optical microscope images
Manuel Guizar-Sicairos, Ral Hernndez-Aranda, Ibrahim Serroukh, Alfonso Serrano

75 77

V SOI 006 Inspeccin y seleccin de paletas in situ mediante la correlacin cruzada Chocolate pops inspection and selection in situ using cross-correlation
Jos Jorge Hernndez Constante, Rubn Ruelas Lepe, Jorge L. Flores, G. Garca-Torales, Alejandro Gonzlez lvarez

78

V SOI 012 Tomgrafo ptico de filtrado espacial para el estudio de rebanadas de objetos transparentes Optical tomography with spatial filtering for transparent objects inspections
Cruz Meneses-Fabin, Gustavo Rodrguez-Zurita, Jos Fco. Vzquez Castillo

79

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V SOI 019 Procesamiento numrico de radar-gramas para la identificacin de fugas de agua Digital radar-gram processing for water pipelines leak detection
Jorge Garca-Mrquez, Ricardo Flores, Ricardo Valdivia, Arturo Camposeco

80

V SOI 044 Dispositivo apodizador variable electro-ptico con PDLC Electro-optic variable apodizator device with PDLC
M. Prez-Corts, M. Ortiz-Gutirrez, A. Olivares-Prez, J. Becerra Macas

81

V SOI 050 Hologramas generados electrnicamente mediante FPGA y LCD monocromticos Electronic-generated holograms by FPGA and monochromatic LCD
A. Castillo-Atoche, M. Prez-Corts, M. A. Lpez, M. Ortiz-Gutirrez

82

V SOI 051 Algoritmo de binarizado para segmentacin de caracteres de matrculas de autos Binary threshold algorithm for license plate character segmentation
Francisco Javier Cuevas, Luis Enrique Toledo

83

V SOI 053 Hologramas multicanales con algunas aplicaciones en procesamiento de imgenes Multichannel holograms with some applications in image processing
M. Araiza E., S. Guel S., A. Lastras, J. I. de la Rosa V., G. Miramontes

84

V SOI 057 Ronchigramas generados con rejillas no peridicas y circulares Ronchigrams resulting from non-periodic and circular gratings
N. Toto-Arellano, R. Pastrana-Snchez, G. Rodrguez-Zurita, A. Cornejo-Rodrguez

85

V SOI 065 Medicin del ngulo de tensin superficial mediante imgenes Measurement of the angle of superficial tension by images
Javier Yaez Mendiola, Sergio Alonso Romero

86

V SOI 075 Estereovisin panormica rpida Fast panoramic stereovision

Adn Salazar Garibay, Jos Amparo Andrade Lucio, Jos-Joel Gonzlez-Barbosa, Juan-Gabriel Avina-Cervantes

87

V SOI 076 Sensado omnidireccional para la deteccin de objetos en movimiento Omnidirectional sensing for moving object detection
Margarito Navarrete Mendoza, Ral Snchez Yaez, Victor Ayala Ramrez, Jos-Joel Gonzlez-Barbosa

88

V SOI 099 Anlisis de wavelet y su aplicacin al GPR Wavelet analysis and its application to GPR
Victor Velasco, Oscar Sosa, Graciela Velasco

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Metrologa Metrology V SOI 005 Medicin del dimetro de alambres metlicos muy delgados para el control automtico industrial Measurement of the very thin metallic wires diameter for the industrial automatic control
Ibrahim Serroukh, J.C. Martnez Antn, A. Serrano, E. Bernabeu

91 93

V SOI 007 Determinacin de la temperatura de color de las lmparas incandescentes tipo FEL Color temperature determination in FEL type incandescent lamps
A. Estrada-Hernndez, Irma G. Oidor Jurez, E. Rosas

94

V SOI 008 Medicin de dosis de radiacin UV UV radiation dose measurements

R. Cardoso, J. P. Valdez-Chaparro, E. Rosas

95

V SOI 009 Calibracin de multmetros de la DOR en tensin elctrica e intensidad luminosa DC voltage and DC current calibration of multimeters of optics and radiometry division
E. Castellanos Zenteno, J. C. Bermdez, Juan Carlos Molina V.

96

V SOI 010 Calibracin de la escala de distancia de un OTDR OTDR distance scale calibration
E. Castellanos Zenteno, J. C. Bermdez

97

V SOI 013 Corrimiento de fase por traslacin de rejilla en un interfermetro de trayectoria comn: caracterizacin, pruebas y resultados experimentales Phase shifting with translation ruling in common-path interferometer: characterization and experimental results
Cruz Meneses-Fabin, Gustavo Rodrguez-Zurita, Vctor Arrizn, Jos Fco. Vzquez-Castillo

98

V SOI 015 Realizacin de la candela, unidad de intensidad luminosa, en el Instituto Nacional de Metrologa de Francia (LNE-INM/CNAM) Realisation of the candela, unit of luminous intensity, at the National Institute of Metrology of France (LNE-INM/CNAM)
L. P. Gonzalez-Galvn, J. Bastie

99

V SOI 018 Cmo obtener trazabilidad en mediciones de radiacin ptica? How to obtain traceability on optical radiation measurements?
Carlos H. Matamoros Garca

100

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101 V SOI 023 Desarrollo de un medidor de temperatura de punto de roco aplicando tcnicas de dispersin de luz lser Measurement of dew point temperature by laser light scattering technique
J. Alfredo Dvila Pacheco, J. Trinidad Vega Durn, J. Lauro Bonilla Marn, Reydezel Torres Martinez, E. Martines Lpez

102 V SOI 024 Medicin de la dispersin del ndice de refraccin de medios absorbentes por tcnicas fotomtricas Refractive index dispersion measurement of absorbing materials by a photometry technique
Celia Snchez Prez, Augusto Garca Valenzuela, Luis Castaeda Avia, Eduardo Sandoval Romero

103 V SOI 035 Medicin de deformaciones mecnicas usando luz lser de campo completo con interferometra ptica y cmara rpida Measurements of mechanical deformation using a full field optical interferometry and a fast camera
Carlos Prez Lpez, Fernando Mendoza Santoyo, Rodolfo Gutirrez Zamarripa, Cristian Caloca

104 V SOI 036 Anlisis de la topografa del molde para la fabricacin del espejo secundario del Gran Telescopio Milimtrico (GTM) por la tcnica de proyeccin de franjas Analysis of secondary mirror mold topography to large millimeter telescope using fringe projection technique
Amalia Martnez, J. A. Rayas, Sergio Vzquez, Alberto Jaramillo, R. Rodrguez Vera

V SOI 046 Micro-topografa tridimensional por proyeccin de autoimgenes de Talbot Three-dimensional micro-topography by Talbot-projected fringes
Juan Antonio Rayas, Ramn Rodrguez Vera, Amalia Martnez

105

V SOI 048 Interferometra ptica y sus aplicaciones Optical interferometry and applications
P. Padilla-Sosa, H. H. Cerecedo-Nuez

106

V SOI 059 Errores comunes en la medicin de iluminancia en las reas de trabajo Common errors of illuminance measurements on working areas
Irma G. Oidor Jurez

107

V SOI 064 Goniofotometra de lmparas y luminarias en INTI: desarrollo de base y aplicaciones Goniophotometry of lamps and luminaries at INTI: basic research and applications
J. A. Cogno, E. D. Yasan

108

V SOI 067 Determinacin de la respuesta espectral relativa en detectores fotomtricos Determination of relative spectral responsivity in photometric detectors
Juan Carlos Molina V., J. C. Bermdez

109

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110 V SOI 071 Estimacin de la estabilidad en frecuencia de lseres semiconductores utilizando el mtodo del Sombrero de Tres Picos Frequency stability estimation of semiconductor lasers using the three cornered hat method
Eduardo de Carlos Lpez, J. Mauricio Lpez Romero

111 V SOI 081 Avances en la caracterizacin de un interfermetro para evaluar cilindros con gradiente de ndice de refraccin con birrefringencia radial Advances in the characterization of an interferometer for GRIN-rods imaging measurement
Marcial Montoya, E. Rosas

V SOI 085 Influencia del ancho de banda espectral en la medicin de la transmitancia de filtros de densidad ptica neutra Spectral bandwidth influence in the measurement of neutral density filters transmittance
Guillermo Valencia L.

112

V SOI 086 Tiempo y materia ultrafra Time and ultracold matter

J. M. Lpez Romero, E. de Carlos Lpez, S. Lpez Lpez, M. Talavera Ortega, A. Guerrero vila

113

V SOI 098 Gradientes de temperatura y densidad obtenidos mediante interferometra ptica Gradients of temperature and density by means of optical interferometry
Jorge Luis Garca Esquivel, Javier Cruz Mandujano

114

V SOI 101 Enfriamiento y atrapamiento de tomos neutros de Cs-133 en el CENAM Laser cooling and trapping of Cs-133 neutral atoms at CENAM
M. Talavera Ortega, J. M. Lpez Romero

115

V SOI 102 Determinacin de la responsividad de detectores de silicio en la regin visible Silicon photodiodes responsivity for the visible region
Arturo Nogueira, Carlos Romn

116

Control de Calidad Quality Control

117

119 V SOI 060 Una tcnica de control de calidad con base en la espectroscopa de UV-VIS para fbricas de destilacin de tequilas A quality control technique based on UV-VIS absorption spectroscopy for tequilas distillery factories
O. Barbosa Garcia, G. Ramos Ortiz, J. Pichardo Molina, J. L. Maldonado Rivera, M. A. Meneses Nava, J. Cervantes

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Optomecnica Opto-Mechanics V SOI 028 Proceso LSP (laser shock processing) en superficie de acero AISI 1045 Laser shock processing on (AISI 1045) steel surface
G. Gmez-Rosas, C. Rubio-Gonzlez, J. L. Ocaa, C. Molpeceres, J. Porro, M. Morales, I. Raygadas-Torres, G. Ramrez-Ramrez, J. Sols

121 123

V SOI 074 Celda de carga, medidor de esfuerzos en celdas de carga por medio de mtodos optoelectrnicos Load cell, strain measurement in load cell using opto-electronic methods
Francisco Javier Martnez Serrano, Alma Adriana Camacho Prez, Marcos Hermilo Rodrguez Sierra, Paulina Borbn Ossio

124

V SOI 078 El instrumento de verificacin para el gran telescopio canarias: Hecho en Mxico The commissioning instrument for the gran telescopio canarias: Made in Mexico
S. Cuevas, B. Snchez, V. Bringas, C. Espejo, R. Flores, O. Chapa, G. Lara, A. Chavoya, G. Anguiano, S. Arciniega, A. Dorantes, J. L. Gonzlez, J. M. Montoya, R. Toral, H. Hernndez, R. Nava, N. Devaney, J. Castro, L. Cavaller

125

V SOI 079 Desarrollo del sensor de curvatura para el sistema de ptica adaptativa GUIELOA Development of a curvature wave-front sensor for the GUIELOA adaptive optics system
O. Chapa, S. Cuevas, J. Cant

126

V SOI 090 Estacin para procesado de materiales con lser de Nd:YAG Nd:YAG laser station for material microprocessing
L. Ponce, M. Arronte, J. Cabrera, B. Lambert, T. Flores, J. A. Obando, G. Leal, A. F. Pea

127

Instrumentacin ptica Optical Instrumentation

129

131 V SOI 016 Sistema de visin para el anlisis de patrones interferomtricos: aplicacin a un sensor de fibra ptica Vision system to analyze interferometric patterns: application to fiber optic sensors
J. A. Jimnez, L. M. Gutirrez, A. Rodrguez, F. J. Gonzlez

V SOI 022 Dispositivo reflectometro ptico dinmico Dynamic optic reflectometer device
G. Eduardo Sandoval Romero, Luis Castaeda Avia, Celia Snchez Prez, Augusto Garca Valenzuela

132

V SOI 034 Sensor ptico de velocidad angular Angular velocity optical sensor
Salvador Palma Vargas, G. Eduardo Sandoval Romero

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V Simposio La ptica en la Industria Septiembre 8 y 9, 2005 Santiago de Quertaro, Mxico

V Symposium Optics in Industry September 8 & 9, 2005 Santiago de Queretaro, Mexico

V SOI 037 Sensor de desplazamientos en baja escala (nanmetros) Low scale movement sensor (nanometer scale)
Anglica Ramrez Ibarra, G. Eduardo Sandoval Romero, Augusto Garca Valenzuela

134

V SOI 095 Retroproyector porttil de bajo perfil Low profile overhead projector
Rufino Daz-Uribe, Gabriel Ascanio-Gasca, Mario Gonzlez-Cardel

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Otros Other

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139 V SOI 020 Determinacin de los parmetros para una conjugacin de fase ptica ptima en un oscilador lser hologrfico Optimum optical phase conjugation parameters determination for a holographic laser resonator
A. De la Piedad, S. Gonzlez-Martnez, E. Rosas

V SOI 031 Lseres de pulsos ultracortos: principios y aplicaciones Ultrashort laser pulses: principles and applications
A. A. Rodrguez, C. J. Romn, H. Cruz, M. Orozco, R. Ortega

140

V SOI 052 Diseo de lmparas esfricas de LEDs para iluminacin uniforme en campo lejano Design of LED spherical lamps for uniform far-field illumination
Ivn Moreno

141

V SOI 056 Desarrollo de laboratorios especializados para grupos de empresas Specialized laboratory for groups of factories
Arqumedes A. Morales

142

V SOI 094 Inyeccin ptica de espn en superficies de semiconductores Optical spin injection on semiconductor surfaces
N. Arzate, B. S. Mendoza, J. L. Cabellos, F. Nastos, J. E. Sipe

143

V SOI 096 Espectroscopa ptica no lineal de superficies de silicio Non linear optical spectroscopy of the silicon surfaces
J. E. Meja, B. S. Mendoza

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V SOI 097 La industria fotnica en Canad The Canadian photonics industry

Guillermo Larios

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ndice de Autores Author Index

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V Simposio La ptica en la Industria Septiembre 8 y 9, 2005 Santiago de Quertaro, Mxico

V Symposium Optics in Industry September 8 & 9, 2005 Santiago de Queretaro, Mexico

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