EXPLICACIN DEL CPK La fabricacin de un producto, casi siempre se ajusta a especificaciones en sus medidas; siempre existen varias medidas

en un producto, algunas medidas de dicho producto son ms crticas que otras, dependiendo del uso que se le dar al producto. Las especificaciones, entre otras cosas, nos dan (1) el valor esperado, o media de cada medida, y el rango de tolerancia. Por ejemplo el largo de un tornillo de 2 pulgadas, con una tolerancia de (ms menos) 0.1, con lo cual se espera que el tornillo mida exactamente 2 pulgadas de largo, pero se permite que dichos tornillos puedan considerarse como aceptables si son a lo menos de 1.9 pulgadas o a lo ms de 2.1 pulgadas. De este caso la media esperada (miu) es de 2, el Lmite Inferior de Especificacin (LIE) es igual a 1.9, y el Lmite Superior de Especificacin (LSE) es igual a 2.1. Cabe aclarar que a veces se usa el trmino Lmite Inferior de Control (LIC) y Lmite Superior de Control (LSC) en lugar de LIE y LSE respectivamente, dependiendo de la fbrica o de la informacin estadstica que se use. Un CPK es una medida que te dice 2 cosas: (I) la variacin de una muestra de un lote, (II) que tanto se aleja el promedio de un lote la media esperada. Es decir, que si produces 1000 tornillos y resulta que tienes un CPK de 1, y luego produces otros 1000 tornillos y te resulta un nuevo CPK de 2; entonces resulta que tu proceso de produccin mejor.

Este aumento de CPK puede ser debido a que disminuy la desviacin estndar de los tornillos, es decir que los segundos 1000 tornillos estn ms cercanos a su promedio calculado; o tambin pudo ser debido a que el promedio de los primeros 1000 tornillos se encontraba ms alejada de la media esperada (2 pulgadas) que el promedio de los segundos 1000 tornillos, o tal vez a una combinacin de ambas cosas.
En la grfica superior de la derecha se ve que disminuy considerablemente, la desviacin estndar, lo cual quiere decir que mejor la produccin, ya que disminuye la probabilidad de encontrar un defecto; por lo tanto aumenta el CPK.

En la grfica superior de la derecha no disminuye ni aumenta la desviacin estndar, pero si se aleja ms de la media esperada ( =2 pulgadas); lo cual no es lo esperado ya que aumenta la probabilidad de encontrar un defecto, fuera del LSE por lo tanto disminuye el CPK. De aqu, se puede observar que si aumentamos el CPK en nuestra produccin, significa que nuestro producto se acerca ms a las especificaciones, principalmente al valor esperado o media, y/o tambin que se disminuye nuestra variacin o desviacin estndar. Las frmulas para encontrar el CPK se dan a continuacin.

donde

es la media real o promedio de la muestra calculada.

Hay que recordar que la campana de gauss va desde menos infinito hasta ms infinito, con lo cual siempre habr un rea, por pequea que sea, fuera de especificacin en ambos lados de la campana, hay que calcular esa probabilidad y multiplicarla por un milln para encontrar las partes por milln (PPM). Esto es una estimacin de que se encontraran x defectos por cada milln producido. Para calcular la probabilidad hay que integrar la funcin de la campana de gauss (o desviacin estndar).

en el caso de la ecuacin anterior y la siguiente tomaremos a = Otra forma de calcular la probabilidad de encontrar un error o defecto es

como la media calculada o promedio

La integral slo se puede resolver por mtodos numricos, pero se pueden utilizar las funciones de la desviacin estndar en una hoja electrnica de clculo (como excel), que ya usa los mtodos numricos.

Un CPK = 1 con = 1, LIE = 3, LSE = 3 y media , nos da una probabilidad de encontrar defectos de 0.002699934 (0.0027 usando tablas estadsticas) Multiplicada por un milln, nos da las partes defectuosas estimadas por milln (PPM) que sera PPM=2699.934.

Un CPK = 2 con = 1, LIE = 6, LSE = 6 y media (0.000000002 usando tablas estadsticas) y un PPM = 0.00198.

, nos da una probabilidad de encontrar defectos de 0.000000001980

Espero que esta informacin sirva para tener una idea mejor del cmo sacar los PPM de un CPK.