Generacin de seales y muestreo

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Asignatura: Anlisis de Seales

1.

TTULO DE LA PRCTICA / ACTIVIDAD Generacin de seales y muestreo OBJETIVO Generar y simular seales basadas en funciones conocidas Observar fenmenos de aliasing en seales muestreadas

2.

3.

DESARROLLO 3.1. Generacin y muestreo de seales. a. Generar una seal sinusoidal de amplitud , frecuencia y fase . y se representar en Estar en tiempo discreto con una frecuencia de muestreo . Estudiar como se relacionan el intervalo de tiempo y el intervalo de tiempo la frecuencia de muestreo con el tamao de la sucesin de nmeros que representa a la seal discreta.

b.

Generar una seal compleja definida por: en el intervalo epresentar en grficos separados la parte real de la imaginaria y comprobar si se cumple que: Utilizar la instruccin stem(t,s) en lugar de plot(t,s) para ver la sucesin numrica.

c.

Generar una seal definida por:

donde las frecuencias son . Graficar la seal en el intervalo

y un muestreo correspondiente a

3.2. Influencia de la frecuencia de muestreo con la frecuencia de la seal. a. Con una frecuencia de muestreo de 100Hz y un intervalo de tiempo de 0 a 1 segundo, se generan dos seales compuestas por ondas sinusoidales de frecuencias distintas (2Hz y 50Hz) y amplitudes distintas. La nica diferencia es un cambio de fase de 1 radian en una de ellas. Representar grficamente estas seales y sacar conclusiones.

Para observar el fenmeno de "aliasing", se genera un seal de frecuencia variable en pasos (100, 150, 192, 372, 404Hz) con una frecuencia de muestreo de 400Hz y se representan cada una de las frecuencias en el intervalo de tiempo de 0 a 250ms Compararlas y tratar de explicar el grfico correspondiente a la seal de frecuencia de 404Hz. 4. RESULTADOS Exhibir los hallazgos debidamente formulados y fundamentados Detallar los clculos y conclusiones Realizar los comentarios pertinentes de la actividad ANEXOS Incluir en esta seccin las tablas, grficos y diagramas resultantes debidamente numerados, y la bibliografa consultada.

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3.1)a) clear all close all clc A = 10; F = 10e3; Phi = pi/4; Fs = 80e3; t = 0:(1/Fs):0.2e-3; CantMuestras = length(t); %(0.2e-3 * Fs) + 1 S = A*sin((2*pi*F*t)+Phi); figure stem(0:1:CantMuestras-1,S,'blue','LineWidth',2, 'MarkerEdgeColor','black','MarkerSize',10) xlabel('Muestras (n)') ylabel('Amplitud A') title('A*sin((2*pi*F*t)+Phi)') grid on

Se ve que al aumentar la frecuencia de muestreo 'FS', la cantidad de muestras en el intervalo de tiempo dado (0:1/FS:t) aumenta. La cantidad de muestras total en el intervalo de tiempo 't' con una frecuencia de muestreo 'FS', es el producto del tiempo final 't' por la frecuencia de muestreo 'FS' ms uno (hay que tener en cuenta la muestra en t = 0). Entonces el nmero de muestras N se puede calcular como, N = [(t * FS) + 1] = (0.2e-3 * 80e3) + 1 = 17 muestras.

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Tiempo 0 1/Fs 2/Fs ... tmax 3.1)b) clear all close all clc t = 0:25; S = 2 * exp(1i * t / 3); S2 = 2 * cos(t/3) + 2i * sin(t/3);

Nro. de Muestra 1 2 3 ... N

figure hold on plot(S,'-.ok', 'markersize', 10) plot(S2,'-.*r', 'markersize', 10) hold off grid on axis square xlabel('|Re|') ylabel('|Im|') title({'Negro: 2 * exp(1i * t / 3)';' Rojo: 2 * cos(t/3) + 2i * sin(t/3)'}) figure hold on plot(real(S),'b') stem(2 * cos(t/3),'*k','MarkerSize', 10) plot(imag(S),'r') stem(2 * sin(t/3),'*g','MarkerSize', 10) grid on xlabel('t') ylabel('Y') title({'Azul: |Re(2 * exp(1i * t / 3))| = 2 * cos(t/3)',... 'Verde: |Im(2 * exp(1i * t / 3)) = 2 * sen(t/3)'}) hold off

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En la siguiente figura se verifica el teorema de Euler, donde eix = cos(x) + i sen(x). Los crculos negros son de 'eix', mientras que, los asteriscos rojos son de 'cos(x) + i sen(x)'.

En la siguiente figura se ven comparadas la parte real e imaginaria de eix. La aparte real de eix est en azul y cos(x) en negro, la parte imaginaria de eix est en rojo y sen(x) en verde. Se comprueba el teorema de Euler donde eix = cos(x) + j * sen(x).

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3.1)c) Fs = 150; F1 = 8; F2 = 4; t1 = 0:(1/Fs):0.5; t2 = (0.5+(1/Fs)):(1/Fs):1; Y1 = sin(2 * pi * F1 * t1); Y2 = sin(2 * pi * F2 * t2); Y = [Y1 Y2]; N1 = (0.4 * Fs)+1; N2 = (0.8 * Fs)+1; figure hold on plot(0.4:(1/Fs):0.8, Y(N1:N2), '-.or', 'LineWidth', 2, 'markersize', 10) plot(0:(1/Fs):1, Y, '-.*b', 'markersize', 10) grid on hold off

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3.2) Fs = 100; t = 0:1/Fs:1; F1 = 2; F2 = 50; Phi = 1; S1 = 5 * sin(2 * pi * F1 * t) + 2 * sin(2 * pi * F2 * t); S2 = 5 * sin(2 * pi * F1 * t) + 2 * sin((2 * pi * F2 * t) + Phi); figure hold on plot(S1, '-.or', 'LineWidth', 2, 'markersize', 10) plot(S2, '-.*b', 'LineWidth', 2, 'markersize', 10) grid hold off

clear all close all clc Fs = 100; Fs2 = 400; Fs3 = 1e6; t = 0:1/Fs:1; tmax = 250e-3; t2 = 0:1/Fs2:tmax; t3 = 0:1/Fs3:tmax; F1 = 2; F2 = 50; Fvar = [100 150 192 372 404];

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Phi = 1; S1 = 5 * sin(2 * pi * F1 * t) + 2 * sin(2 * pi * F2 * t); S2 = 5 * sin(2 * pi * F1 * t) + 2 * sin((2 * pi * F2 * t) - pi/4); S3 = zeros(length(Fvar), length(t2)); S4 = zeros(length(Fvar), length(t3)); for i=1:1:length(Fvar) S3(i,:) = 5 * sin(2 * pi * Fvar(i) * t2); S4(i,:) = 5 * sin(2 * pi * Fvar(i) * t3); end figure hold on plot(S1, '-.or', 'LineWidth', 2, 'markersize', 10) plot(S2, '-.*b', 'LineWidth', 2, 'markersize', 10) grid hold off figure subplot(5,1,1) hold on plot(0:1/Fs2:tmax, plot(0:1/Fs3:tmax, hold off grid on subplot(5,1,2) hold on plot(0:1/Fs2:tmax, plot(0:1/Fs3:tmax, hold off grid on subplot(5,1,3) hold on plot(0:1/Fs2:tmax, plot(0:1/Fs3:tmax, hold off grid on subplot(5,1,4) hold on plot(0:1/Fs2:tmax, plot(0:1/Fs3:tmax, hold off grid on subplot(5,1,5) hold on plot(0:1/Fs2:tmax, plot(0:1/Fs3:tmax, hold off grid on

S3(1,:),'-ok', 'LineWidth', 2, 'markersize', 10) S4(1,:),'b')

S3(2,:),'-ok', 'LineWidth', 2, 'markersize', 10) S4(2,:),'b')

S3(3,:),'-ok', 'LineWidth', 2, 'markersize', 10) S4(3,:),'b')

S3(4,:),'-ok', 'LineWidth', 2, 'markersize', 10) S4(4,:),'b')

S3(5,:),'-ok', 'LineWidth', 2, 'markersize', 10) S4(5,:),'b')

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Si no se cumple el teorema de Nyquist, que dice que la frecuencia de muestreo 'FS' debe ser mayor al doble de la frecuencia mxima 'Fmax ' contenida en la seal analgica a muestreare (FS 2*Fmax), aparece el fenmeno de 'aliasing'. El aliasing causa que la seal muestreada sea una seal con una frecuencia ms baja que la seal real, se pierde informacin y por lo tanto el muestreo no es vlido. Entonces para una frecuencia de muestreo dada, la frecuencia mxima que se puede muestrear sin que aparezca el aliasing es la frecuencia de Nyquist, FN = FS/2. En seales muestreadas con componentes de frecuencia mayor a la frecuencia de Nyquist aparece el fenmeno del aliasing. El fenmeno de aliasing se ve en el grfico anterior en 2 seales que no cumplen con el teorema de Nyquist al tener una frecuencia mayor a FN, es decir frecuencias mayores a FS/2. En este caso son las seales 4 y 5, que tienen una frecuencia F4 = 372Hz y F5 = 404Hz. Para obtener la frecuencia de aliasing se debe realizar el siguiente calculo, obtener el valor absoluto de la resta del mltiplo ms cercano a la frecuencia de muestreo menos la frecuencia de la seal. . Para la seal 4 Falias = 28Hz y para la seal 5 Falias = 4Hz.

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