Você está na página 1de 18

Cpia no autorizada

SET 2002

NBR ISO 4287

ABNT - Associao Brasileira de Normas Tcnicas


Sede: Rio de Janeiro Av. Treze de Maio, 13 - 28 andar CEP 20003-900 - Caixa Postal 1680 Rio de Janeiro - RJ Tel.: PABX (21) 3974-2300 Fax: (21) 2240-8249/2220-6436 Endereo eletrnico: www.abnt.org.br

Especificaes geomtricas do produto (GPS) - Rugosidade: Mtodo do perfil - Termos, definies e parmetros da rugosidade

Copyright 2002, ABNTAssociao Brasileira de Normas Tcnicas Printed in Brazil/ Impresso no Brasil Todos os direitos reservados

Origem: Projeto 04:005.06-016:2001 ABNT/CB-04 - Comit Brasileiro de Mquinas e Equipamentos Mecnicos CE-04:005.06 - Comisso de Estudo de Tolerncias e Ajustes NBR ISO 4287 - Geometrical product specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Terms, definitions and surface texture parameters Descriptors: Surface texture. Profile method. Symbols Esta Norma cancela e substitui a NBR 6405:1988 Esta Norma equivalente ISO 4287:1997 Vlida a partir de 30.10.2002 Palavras-chave: Rugosidade. Ondulao. Textura 18 pginas superficial. Definies. Smbolos

Sumrio Prefcio 0 Introduo 1 Objetivo 2 Referncias normativas 3 Termos e definies 4 Definies dos parmetros de perfil ANEXOS A Texto equivalente B Diagrama para avaliao da superfcie C Comparao dos termos bsicos e smbolos dos parmetros entre ISO 4287-1:1984 e NBR ISO 4287:2002 D Relao com o modelo matricial GPS E Bibliografia Prefcio A ABNT Associao Brasileira de Normas Tcnicas o Frum Nacional de Normalizao. As Normas Brasileiras, cujo contedo de responsabilidade dos Comits Brasileiros (ABNT/CB) e dos Organismos de Normalizao Setorial (ABNT/ON), so elaboradas por Comisses de Estudo (ABNT/CE), formadas por representantes dos setores envolvidos, delas fazendo parte: produtores, consumidores e neutros (universidades, laboratrios e outros). Os Projetos de Norma Brasileira, elaborados no mbito dos ABNT/CB e ABNT/ON circulam para Consulta Pblica entre os associados da ABNT e demais interessados. Esta Norma contm o anexo A, de carter normativo, e os anexos B a E, de carter informativo. 0 Introduo Esta Norma uma especificao geomtrica de produto (GPS) e para ser considerada como uma norma GPS geral (ver ISO/TR 14638). Ela influencia a conexo 6 da cadeia de normas rugosidade superficial, ondulao e perfil primrio. Para informaes mais detalhadas sobre a relao desta Norma com outras normas e o modelo matricial das GPS ver anexo D. Historicamente, o perfil de rugosidade e seus parmetros tm sido as nicas partes da caraterizao da rugosidade superficial que esto bem definidos. Uma relao padronizada entre c e f est em estudado.

Cpia no autorizada

2 2
1 Objetivo

NBR ISO 4287:2002

Esta Norma especifica termos, definies e parmetros para a determinao do estado da superfcie (rugosidade, ondulao e perfil primrio) pelo mtodo do levantamento do perfil. 2 Referncias normativas As normas relacionadas a seguir contm disposies que, ao serem citadas neste texto, constituem prescries para esta Norma. As edies indicadas estavam em vigor no momento desta publicao. Como toda norma est sujeita a reviso, recomenda-se queles que realizam acordos com base nesta que verifiquem a convenincia de see usarem as edies mais recentes das normas citadas a seguir. A ABNT possui a informao das normas em vigor em um dado momento. ISO 3274:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Nominal characteristics of contact (stylus) instruments ISO 4288:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Rules e procedures for the assessment of surface texture ISO 11562:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface characterization of phase corret filters 3 Terminologia e definies 3.1 Terminologia geral 3.1.1 filtro de perfil filtro que separa o perfil em componentes de ondas longas e ondas curtas (ISO 11562).
NOTA - So utilizados trs filtros nos instrumentos para medio de rugosidade, ondulao e perfis primrios (ver figura 1). Eles tm as mesmas caratersticas de transmisso definidas na ISO 11562, porm com comprimentos de onda limite diferentes (cut-off).

texture: Profile method - Metrological

3.1.1.1 filtro de perfil s filtro que define a separao entre os componentes da rugosidade e os componentes de onda mais curtos presentes na superfcie (ver figura 1). 3.1.1.2 filtro de perfil c filtro que define a separao entre os componentes da rugosidade e da ondulao (ver figura 1). 3.1.1.3 filtro de perfil f filtro que define a separao entre os componentes da ondulao e os componentes das ondas mais longas presentes na superfcie (ver figura 1).

Figura 1 - Caractersticas de transmisso dos perfis de rugosidade e de ondulao

Cpia no autorizada

NBR ISO 4287:2002


3.1.2 sistemas de coordenadas sistema de coordenadas no qual os parmetros do estado da superfcie so definidos.

NOTA - usual utilizar um sistema de coordenadas cartesianas positivo, tendo como eixo X a direo de apalpao e colinear com a linha mdia, estando o eixo Y, teoricamente, no plano da superfcie real e o eixo Z dirigido para fora (do material para o meio ambiente). Esta conveno adotada em toda esta Norma.

3.1.3 superfcie real superfcie que limita o corpo e o separa do meio ambiente. 3.1.4 perfil da superfcie perfil resultante da interseo da superfcie real e um plano especfico. Ver figura 2.
NOTA - Na prtica usual escolher um plano onde a normal teoricamente paralela superfcie real e em uma direo apropriada.

Figura 2 - Perfil de superfcie 3.1.5 Perfil primrio Ver ISO 3274.


NOTA - O perfil primrio serve de base para a avaliao dos parmetros do perfil primrio.

3.1.6 perfil de rugosidade perfil derivado do perfil primrio pela eliminao dos componentes de comprimento de ondas longas usando o filtro de perfil c; este perfil modificado intencionalmente. Ver figura 1.
NOTAS 1 A banda de transmisso dos perfis de rugosidade definida pelos filtros de perfil s e c (ver ISO 11562:1996, 2.6 e 3.2). 2 O perfil de rugosidade serve como base para a avaliao dos parmetros do perfil de rugosidade. 3 A relao preestabelecida (default) entre c e s dada na ISO 3274:1996, 4.4.

Cpia no autorizada

4 4
3.1.7 perfil de ondulao

NBR ISO 4287:2002

perfil derivado do perfil primrio pela aplicao sucessiva dos filtros de perfil f e c, eliminando assim os componentes de comprimento de onda longa por meio do filtro de perfil f e eliminando os componentes de comprimento de onda curta por meio do filtro de perfil c; este perfil modificado intencionalmente.
NOTAS 1 A forma nominal deve ser inicialmente removida do perfil total pelo mtodo dos mnimos quadrados antes da aplicao do filtro de perfil f para separao do perfil de ondulao. No caso de forma nominais circulares recomendada a incluso do raio para otimizao do mtodo dos mnimos quadrados e no manter fixo o valor nominal. Este procedimento para separao do perfil de ondulao define o operador da ondulao ideal. 2 A banda de transmisso do perfil de ondulao definida pelos filtros c e f (ver ISO 11562:1996, 2.6 e 3.2). 3 O perfil de ondulao serve de base para a avaliao dos parmetros do perfil de ondulao,

3.1.8 Linhas mdias 3.1.8.1Linha mdia para o perfil de rugosidade linha correspondente componente do perfil de onda longa suprimida pelo filtro de perfil c. (Ver ISO 11562:1996, 3.2) 3.1.8.2 linha mdia para o perfil de ondulao linha correspondente componente do perfil de onda longa suprimida pelo filtro de perfil f. (Ver ISO 11562:1996,3.2). 3.1.8.3 linha mdia do perfil primrio linha determinada pelo ajuste dos mnimos quadrados linha da forma nominal do perfil 3.1.9 comprimento de amostragem Lp, lr, lw comprimento na direo do eixo X, usado para identificar as irregularidades caractersticas do perfil sob avaliao.
NOTA - O comprimento de amostragem para perfis de rugosidade lr e de ondulao lw numericamente igual ao comprimento de onda caracterstico dos filtros de perfil c e f , respectivamente. O comprimento de amostragem para o perfil primrio lp, igual ao comprimento de avaliao.

3.1.10 comprimento de avaliao ln comprimento na direo do eixo X, usado para estabelecer o perfil sob avaliao.
NOTAS 1 O comprimento de avaliao pode conter um ou mais comprimentos de amostragem. 2 Para comprimentos de avaliao padronizados ver 4.4 da ISO 4288. A ISO 4288:1996 no fornece comprimentos padronizados para os parmetros W.

3.2 Termos para parmetros geomtricos 3.2.1 parmetro P parmetro calculado a partir do perfil primrio 3.2.2 parmetro R parmetro calculado a partir do perfil de rugosidade

Cpia no autorizada

NBR ISO 4287:2002


3.2.3 parmetro W parmetro calculado a partir do perfil de ondulao

NOTA - Os parmetros definidos na seo 4 podem ser calculados de qualquer perfil. A primeira letra maiscula no smbolo do parmetro designa o tipo do perfil avaliado. Por exemplo, Ra calculado a partir do perfil de rugosidade e Pt calculado a partir do perfil primrio.

3.2.4 pico de um perfil parte do perfil avaliado dirigido para fora (do material para o meio ambiente), conectada a dois pontos adjacentes da interseo do perfil com o eixo X. 3.2.5 vale de um perfil parte do perfil avaliado dirigido para dentro (do meio ambiente para o material) do perfil considerado, conectada a dois pontos adjacentes da interseo do perfil com o eixo X. 3.2.6 limiar de altura e/ou de espaamento altura mnima ou espaamento mnimo de picos ou vales do perfil avaliado que devem ser levados em considerao.
NOTA - As alturas mnimas de picos ou vales de um perfil so normalmente especificadas com uma porcentagem de Pz, Rz, Wz ou outro parmetro de amplitude, e o espaamento mnimo uma porcentagem do comprimento de amostra.

3.2.7 elemento de perfil pico de um perfil e vale de um perfil adjacentes . Ver figura 3.
NOTA - A poro positiva ou negativa do perfil em avaliao, tanto no trecho inicial como no final do comprimento de amostragem deve sempre ser considerada como um pico de um perfil ou um vale de um perfil. Quando se determinar o nmero de elementos do perfil em vrios comprimentos de amostragem sucessivos, os picos e os vales do perfil em avaliao no incio e no final so considerados apenas uma vez no incio de cada comprimento de amostragem.

Figura 3 - Elemento do perfil 3.2.8 valor de ordenada Z(x) altura do perfil avaliado em qualquer posio x
NOTA - A altura considerada negativa se a ordenada estiver abaixo do eixo X e considerada positiva em caso contrrio.

Cpia no autorizada

6 6
3.2.9 inclinao local

NBR ISO 4287:2002

DZ dX
inclinao do perfil avaliado na posio xi Ver figura 4.
NOTAS 1 O valor numrico de uma inclinao local, e assim tambm os parmetros Pq, Rq e Wq, dependem fortemente do espaamento X. 2 A frmula para a estimativa da inclinao local :

1 dZ = x ( Z i +3 - 9 Z i+ 2 + 45 Z i +1 - 45Z i+1 + 9Z i +2 - Z i+3 ) dX 60X

Onde Zi a altura do i-simo ponto do perfil e X o espaamento entre dois pontos adjacentes do perfil. conveniente utilizar a frmula acima para o espaamento estipulado especificado na ISO 3274 em funo do filtro utilizado.

Figura 4 - Inclinao local 3.2.10 altura de pico do perfil Zp Distncia entre o eixo X e o ponto mais alto dos picos do perfil. Ver figura 3. 3.2.11 profundidade do vale do perfil Zv distncia entre o eixo X e o ponto mais baixo dos vales do perfil. Ver figura 3. 3.2.12 Altura de um elemento do perfil Zt soma da altura do pico e profundidade do vale de um elemento do perfil. Ver figura 3. 3.2.13 largura de um elemento do perfil Xs comprimento de um segmento do eixo X que intercepta um elemento do perfil. Ver figura 3.

Cpia no autorizada

NBR ISO 4287:2002


3.2.14 comprimento real do perfil no nvel c Ml(c)

soma dos comprimentos nas sees que interceptam um elemento do perfil por uma linha paralela ao eixo X a um dado nvel c. Ver figura 5.

Figura 5 - Comprimento portante 4 Definio dos parmetros de perfil 4.1 Parmetros de amplitude ( pico e vale) 4.1.1 Altura mxima do pico do perfil Pp, Rp, Wp Maior altura dos picos do perfil Zp no comprimento de amostragem. Ver figura 6.

Figura 6 - Altura mxima dos picos do perfil (exemplo de um perfil de rugosidade)

Cpia no autorizada

8 8
4.1.2 Profundidade mxima do vale do perfil Pv, Rv, Wv Maior profundidade do vale do perfil no comprimento de amostragem. Ver figura 7.

NBR ISO 4287:2002

Figura 7 - Profundidade mxima do vale do perfil (exemplo de um perfil de rugosidade) 4.1.3 Altura mxima do perfil Pz, Rz, Wz Soma da altura mxima dos picos do perfil Zp e a maior das profundidades dos vales do perfil Zv, no comprimento de amostragem. Ver figura 8.
NOTA - Na ISO 4287-1:1984, o smbolo Rz era usado para indicar a altura das irregularidades sobre dez pontos. Em alguns pases existem instrumentos para medio da rugosidade de superfcies em uso que medem o parmetro Rz antigo. Por isso deve-se tomar cuidado ao usar documentos tcnicos e desenhos existentes, porque os resultados obtidos com diferentes tipos de instrumentos apresentam diferenas nem sempre desprezveis.

4.1.4 Altura mdia dos elementos do perfil Pc, Rc, Wc O valor mdio das alturas dos elementos do perfil Zt no comprimento de amostragem. Pc, Rc, Wc Ver figura 9.
NOTA - Os parmetros Pc, Rc, Wc necessitam de alturas e espaamento definidos. Quando no especificado, adotar a condio padro para a altura que 10% de Pz, Rz, Wz respectivamente, e o espaamento padronizado deve ser 1% do comprimento de amostragem. Ambas as condies devem ser satisfeitas.

1 n Zt i m i =1

Cpia no autorizada

NBR ISO 4287:2002

4.1.5 Altura total do perfil Pt, Rt, Wt Soma das maiores alturas de pico do perfil Zp e das maiores profundidades dos vales do perfil Zv no comprimento de avaliao.
NOTAS 1 Uma vez que Pt, Rt e Wt so definidos no comprimento de avaliao e no no comprimento de amostragem, a seguinte relao ser sempre vlida para qualquer perfil: Pt> = Pz; Rt> = Rz; Wt> = Wz 2 No caso de condies padronizadas Pz, igual a Pt, neste caso se recomenda o uso de Pt.

4.2 Parmetros da amplitude (mdia das ordenadas) 4.2.1 Desvio aritmtico mdio do perfil avaliado Pa, Ra, Wa Mdia aritmtica dos valores absolutos das ordenadas Z(x) no comprimento de amostragem. Pa,Ra,Wa =

1 Z (x )dx l 0

Com l = lp, lr ou lw, conforme o caso.

Cpia no autorizada

10 10

NBR ISO 4287:2002

Figura 9 - Altura dos elementos do perfil (exemplo de um perfil de rugosidade) 4.2.2 Desvio mdio quadrtico do perfil avaliado Pq, Rq, Wq Raiz quadrada da mdia dos valores das ordenadas, Z(x), no comprimento de amostragem. Pq, Rq, Wq =

1 2 Z (x )dx l 0

Com l = lp, lr ou lw conforme o caso 4.2.3 Fator de assimetria do perfil avaliado (skewness) Psk, Rsk, Wsk Quociente entre o valor mdio dos valores das ordenadas Z(x) e Pq, Rq ou Wq ao cubo, respectivamente, no comprimento de amostragem

Rsk =

1 Rq 3

1 lr 3 Z (x )dx lr 0

NOTAS: 1 A equao acima vale tanto para Rsk como para Psk e Wsk. 2 Psk, Rsk e Wsk so indicadores da assimetria da funo densidade de probabilidade dos valores das ordenadas. 3 Esses parmetros so fortemente influenciados por picos isolados ou vales isolados.

4.2.4 Fator de achatamento do perfil avaliado (kurtosis) Pku, Rku, Wku Quociente entre o valor mdio dos valores das ordenadas Quarta potncia e o valor Pq, Rq ou Wq quarta potncia respectivamente no comprimento de amostragem.

Rku =

1 Rq 4

1 lr 4 Z (x )dx lr 0

NOTAS 1 A equao acima vale tanto para Rku como para Pku e Wku. 2 Pku, Rku e Wku so indicadores do achatamento da funo densidade de probabilidade dos valores das ordenadas. 3 Esses parmetros so fortemente influenciados por pico isolados ou vales isolados.

Cpia no autorizada

NBR ISO 4287:2002


3 Parmetros de espaamento 4.3.1 Largura mdia dos elementos do perfil PSm, RSm, WSm Valor mdio da largura dos elementos do perfil, Xs, no comprimento de amostragem. PSm, RSm, WSm = Ver figura 10.

11

1 m Xsi m i =1

NOTA - Os parmetros PSm, RSm e WSm necessitam de alturas e espaamento definidos. Quando no especificado, adotar a condio padro para a altura que 10% de Pz, Rz, Wz respectivamente; o espaamento padronizado deve ser 1% do comprimento de amostragem. Ambas as condies devem ser satisfeitas.

4.4 Parmetros hbridos 4.4.1 Inclinao quadrtica mdia do perfil avaliado Pq, Rq, Wq Raiz quadrada da mdia das inclinaes, dZ/dX, no comprimento de amostragem.

Figura 10 - Largura dos elementos do perfil 4.5 Curvas e parmetros relacionados


NOTA - Todas as curvas e parmetros relacionados so definidos em relao ao comprimento de avaliao no lugar do comprimento de amostragem, uma vez que isto permite obter curvas e parmetros relacionados mais estveis.

4.5.1 Razo material do perfil Pmr(c), Rmr(c), Wmr(c) Razo do comprimento material do elemento de um perfil Ml(c) a um dado nvel c do comprimento avaliado. Pmr(c), Rmr(c),Wmr(c) =

Ml (c ) ln

4.5.2 Curva da razo portante do perfil (Curva de Abbott Firestone) Curva que representa a razo do comprimento material como uma funo de nvel. Ver figura 11.
NOTA - Esta curva pode ser interpretada como uma amostra acumulativa da funo probabilidade do valor da ordenada Z(x), no comprimento de avaliao.

Cpia no autorizada

12 12

NBR ISO 4287:2002

Figura 11 - Curva da razo de comprimento material 4.5.3 Diferena de altura na seo do perfil Pc, Rc, Wc Distncia vertical entre o nvel de duas sees para uma dada razo portante. Rc = C(Rmr1- C(Rmr2); Rmr1< Rmr2 4.5.4 Razo portante relativa Razo portante determinada em uma seo do perfil a uma altura Rc, em relao referncia CO Pmr, Rmr, Wmr = Pmr, Rmr, Wmr(C1) onde: C1 = C0 - Rc ( ou Pc, ou Wc) C0 = C(Pmr0, Rmr0, Wmr0) Ver figura 12.

Figura 12 - Razo relativa do comprimento portante

Cpia no autorizada

NBR ISO 4287:2002


4.5.5 Curva de amplitude das alturas do perfil Funo densidade de probabilidade da amostra das ordenadas Z(x) no comprimento de avaliao. Ver figura 13.
NOTA - Para os parmetros da curva de amplitude das alturas ver 4.2.

13

________________

/ANEXO

Cpia no autorizada

14 14
Anexo A (normativo) Texto equivalente

NBR ISO 4287:2002

De modo a facilitar a notao alfanumrica por meio do computador recomenda-se a seguinte equivalncia para o texto Parmetro Pq Rq Wq Pq Rq W q Equivalente no texto Pdq Rdq Wdq Pdc Rdc Wdc Ls Lc Lf

s c f

________________ /ANEXO B

Cpia no autorizada

NBR ISO 4287:2002


Anexo B (informativo) Diagrama para avaliao da superfcie Diagrama para caracterizao da superfcie

15

Escala de sada

Registro do perfil Perfil de rugosidade Perfil primrio Filtro do perfil c Algortmo da ondulao Algortmo da rugosidade Funo caracterstica Parmetros da rugosidade, ondulao e perfil primrio Filtro do perfil f Perfil de ondulao

Algortmo do perfil primrio

________________ /ANEXO C

Cpia no autorizada

16 16

NBR ISO 4287:2002


ANEXO C (informativo) Comparao dos termos bsicos e smbolos dos parmetros entre ISO 4287-1:1984 e NBR ISO 4287:2002 Tabela C.1 - Termos fundamentais Item da edio de 2002 Termos fundamentais da edio de 1996 Comprimento de amostragem Comprimento de avaliao Valor da ordenada Inclinao local Altura de pico do perfil Profundidade do vale do perfil Altura de um elemento do perfil Largura de um elemento do perfil Comprimento da portante do perfil no nvel c Edio de 1984 L Ln Y yp Yv np Edio de 1996 Lp, lw, lr1) ln Z(x) dZ/dX Zp Zv Zt Xs Ml(c)

3.1.9 3.1.10 3.2.8 3.2.9 3.2.10 3.2.11 3.2.12 3.2.13 3.2.14


1)

Os comprimentos de amostragem para os trs diferentes perfis so denominados : lp (perfil primrio), lw (perfil de ondulao), lr (perfil de rugosidade).

Tabela C.2 - Parmetros da textura da superfcie Item da edio de 2002 4.1.1 4.1.2 4.1.3 4.1.4 4.1.5 4.2.1 4.2.2 4.2.3 4.2.4 4.3.1 4.4.1 4.5.1 4.5.3 4.5.4 1) 2)

Determinada no Parmetros da edio de 1996 Edio 1984 Edio 2002 Rp 2) Rv Rz Rt Ra Rq


2) 2)

Comprimento de avaliao

Comprimento de amostragem 1) x x x x

Altura mxima do pico do perfil Profundidade mxima do vale do perfil Altura mxima do perfil Altura mdia do perfil Altura total do perfil Desvio aritmtico mdio do perfil em avaliao Desvio mdio quadrtico do perfil em avaliao Fator de assimetria do perfil em avaliao Fator de achatamento do perfil em avaliao Largura mdia de um elemento do perfil Inclinao mdia quadrtica do perfil em avaliao Razo portante do perfil Diferena de altura na seo do perfil Razo portante relativa Altura dos dez pontos (eliminado como parmetro da ISO)

Rp Rm Ry Rc Rs Rq Sk Sm

Rc2)
2) 2) 2) 2) 2)

x x x x x x x
2)

Rsk

Rku

Rsm2) Rq Rc
2)

q
Rp Rz

Rmr(c)
2) 2)

x x

Rmr

Esse comprimento de amostragem lr, lw e lp para os parmetros R-, W-, P- respectivamente; lp igual a ln Parmetros que so definidos para trs perfis: perfil primrio, perfil de ondulao e perfil de rugosidade. Somente o parmetro do perfil de rugosidade indicado na tabela. Por exemplo, os trs parmetros que so escritos Pa (perfil primrio), Wa (perfil de ondulao) e Ra (perfil de rugosidade).

________________

/ANEXO D

Cpia no autorizada

NBR ISO 4287:2002


Anexo D (informativo) Relao ao modelo matricial GPS Para detalhes completos sobre o modelo matriz GPS, ver ISO/TR 14638. D.1 Informao sobre esta Norma e sua aplicao

17

A NBR ISO 4287 uma reviso maior e uma reorganizao da ISO 4287-1:1984, que juntamente com as ISO 11562 e ISO 3274, define, adicionalmente, perfil de ondulao, perfil primrio e seus parmetros de uma maneira mais consistente. D.2 Posio no modelo matriz GPS Esta norma NBR-ISO 4287 uma norma geral padro GPS, que influencia o elo 6 da cadeia de normas de rugosidade, ondulao e perfil primrio na matriz geral GPS, como mostrado graficamente na figura D.1. D.3 Padres internacionais relacionados Os padres internacionais relacionados so aqueles indicados na cadeia de padres da figura D.1. Normas globais GPS Normas gerais GPS Nmero de elo na cadeia Tamanho Distncia Raio ngulo Forma da linha independente da origem Forma da linha dependente da origem Normas fundamentais GPS Forma da superfcie independente da origem Forma da superfcie dependente da origem Orientao Localizao Batimento circular Batimento total Origens Perfil de rugosidade Perfil da ondulao Perfil primrio Imperfeies da superfcie Extremidades Figura D.1 1 2 3 4 5 6

________________

/ANEXO E

Cpia no autorizada

18 18
Anexo E (informativo) Bibliografia [1] ISO/TR 14638:1995, Geometrical product specifications (GPS) - Masterplan. [2] VIM:1993 International vocabulary IUPAP,OIML.

NBR ISO 4287:2002

of basic ans general terms in metrology, BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC,

________________