Informe Interferometra

Autores Daniel Gau Carlos Vega (Laboratorio 3a Licenciatura en Fsica, Facultad de ciencias de Uruguay)

Resumen:
En esta serie de experiencias se utilizo el interfermetro de Michelson para medir la longitud de onda de un lser de helio-nen, luego se estudi la dependencia del ndice de refraccin del aire con la presin, se calculo el ndice de refraccin de un tipo de vidrio y por ltimo se estudiaron las vibraciones de un parlante.

Introduccin:
El interfermetro de Michelson, desarrollado por este cientfico a fines del siglo XIX, con el objetivo de realizar una medida de suma precisin para encontrar el ter que en esa poca se crea era el medio por el cual se desplazaba la luz, ha encontrado numerosas aplicaciones en la medida de distancias muy pequeas con gran precisin. En un principio se utilizaban con luz proveniente de una lmpara de descarga un filtro y una pequea rendija por la que pasaba la luz. Actualmente se utilizan lseres (que fueron desarrollados en la dcada de 1980 a partir de un principio establecido por Albert Einstein en 1917) y que proporcionan un haz de luz coherente. La combinacin de estos dos dispositivos permite montar un dispositivo simple y de gran precisin.

Fundamento terico:
A continuacin se hace un breve pasaje por algunos de los fenmenos, conceptos y leyes que forman parte de la ptica geomtrica, los cuales utilizaremos en nuestro anlisis ya sea de forma explicita o implcita. Refraccin y reflexin:

incidencia. 2) Ley de Snell: Cuando un haz se propaga un medio con ndice de refraccin con ngulo incidente y se transmite a otro ndice con un ngulo de transmisin encuentra la siguiente relacin: Ecuacin 1 de un de se

Al propagarse la luz en un medio, el campo elctrico de sta polariza las molculas del medio generando dipolos oscilantes que se comportan como antenas que generan nuevas ondas de propagacin, lo cual contribuye a un cambio en la velocidad de fase de la onda original, el cual en general es proporcional a la densidad del material. Se define n como el ndice de refraccin del material el cual es un nmero complejo, la parte imaginaria representa las prdidas de energa de los osciladores moleculares y la real es la que usualmente llamamos ndice de refraccin, la cual se halla como el cociente entre la velocidad de la luz en el vaco y la velocidad de fase. Cuando la luz pasa a travs de una frontera entre dos medios, parte de la luz se refleja y otra se refracta, transmitindose hacia el otro medio. El comportamiento se puede describir mediante tres leyes: 1) Los haces incidente, refractado, reflejado y la normal a la superficie en el punto de incidencia se encuentran en el mismo plano, llamado de

3) Los rayos incidente y reflejado presentan la misma desviacin con respecto a la normal de la superficie de incidencia. . Camino ptico. Si la luz se propaga por un medio una distancia l (camino geomtrico) en un tiempo t, en el mismo tiempo recorre una distancia L ( camino ptico) en el vacio. Dado que la velocidad en el vacio es mayor que en el medio se tiene que L > l. Si solo consideramos un medio con un ndice de refraccin constante tenemos que: Ecuacin 2 Por lo tanto: Ecuacin 3

Interfermetro de Michelson Si se tratara de varios medios homogneos el camino ptico se relaciona con el camino geomtrico de la siguiente manera: Ecuacin 4 Una de las formas para conseguir interferencia de forma artificial con el objeto de hacer un anlisis o estudio de cierta propiedad de inters es mediante el interfermetro de Michelson. ste interfermetro logra la interferencia a partir de la divisin de la amplitud de la onda. Esto es; se divide al haz en dos para luego volver a superponer los dos haces divididos y lograr as una interferencia que va a depender de la diferencia de camino ptico de cada haz. La divisin se hace mediante un divisor indicado con la letra O en la figura 0.1(puede ser un espejo semiplateado).En esta figura M1 y M2 son espejos en los cuales van a reflejar los haces hacindolos incidir nuevamente sobre O para ser superpuestos.

Ley de Bragg. Si una onda se encuentra en determinado instante en una determinada fase , cuando recorre una distancia d se encontrar en la misma fase , si la distancia d es un mltiplo entero de la longitud de onda.

Interferencia La interferencia es cualquier proceso que altera, modifica o destruye una onda durante su trayecto en el medio en que se propaga. La palabra destruccin, en este caso, debe entenderse en el sentido de que las ondas cambian de forma al unirse con otras; esto es, despus de la interferencia normalmente vuelven a ser las mismas ondas con la misma frecuencia. Cuando dos ondas de igual longitud interfieren, el resultado es regido por el principio de superposicin y depender del desfasaje entre los haces; si ambas ondas parten con la misma fase y recorren distintos caminos pticos, el mximo de interferencia se da cuando la diferencia de caminos pticos es un mltiplo entero de o sea Ecuacin 5 De manera semejante los mnimos de interferencia se dan cuando la diferencia de camino ptico se relaciona con mediante la siguiente ecuacin:

Figura 0.1: Esquema del interfermetro de Michelson.

Uno de los haces atraviesa O tres veces mientras que el otro solo una vez. En consecuencia, cada haz cruzar igual espesor de vidrio nicamente si se ubica una placa compensadora C en el brazo OM2, formando un ngulo de 45 con el haz. La diferencia de caminos pticos depende meramente de la distancia a la cual se encuentran los espejos.

Ecuacin 6 Se tienen en cuenta la diferencia de caminos pticos y no de los geomtricos, dado que as se logra mas generalidad previendo que los rayos puedan propagarse por diferentes medios en su recorrido. Si as fuera no tendramos una sola longitud de onda , pero podemos usar como referencia la del vacio.
Figura 0.2reconstruccin del interfermetro de Michelson

tanto, independiente de la frecuencia. El espectro de interferencia es el mostrado en la figura 0.3 del procedimiento experimental. Para entender mejor la formacin de estas franjas se tendr en cuenta la construccin en la figura 0.2. Un observador en la posicin del detector vera ambos espejos a la vez y la fuente sobre el divisor, de acuerdo a esto se puede redibujar todos los componentes del interfermetro de forma que estn alineados. En la figura 0.2 M2 es la imagen de M2 en el divisor y E es la fuente que fue girada para estar alineada al resto.E1 y E2 son las imgenes de la fuente en M1 y M2 respectivamente. Consideramos el punto S cualquiera perteneciente a la fuente , el cual emite luz en todas direcciones. En nuestro diagrama consideramos un rayo ,el cual se refleja en ambos espejos. En la figura 0.2 se observa que podemos considerar a ambos rayos como si provinieran de las imgenes S1 y S2 .Por lo tanto la diferencia de caminos pticos entre los dos rayos es igual: Pero esto no representa un anlisis estricto de la realidad, para poder realizarlo es necesario incorporar la naturaleza atmica de la materia. De acuerdo a Lorentz, las contribuciones de grandes nmeros de tomos pueden promediarse para representar el comportamiento de un medio dielctrico istropo. La dependencia del ndice de refaccin n con la frecuencia de la onda de luz est dada por la intervencin de varios mecanismos de polarizacin elctrica que contribuyen a la frecuencia particular. Es posible derivar una expresin analtica para en trminos de lo que sucede en el medio a nivel atmico. La nube electrnica del tomo est ligada al ncleo positivo por una fuerza elctrica de atraccin que la mantiene en una especie de configuracin de equilibrio. Para pequeos desplazamientos de la posicin de equilibrio, que la fuerza restitutiva cumple lo siguiente: Ecuacin7 Una vez que un electrn ligado haya sido perturbado momentneamente, oscilar alrededor de su posicin de equilibrio con una frecuencia de resonancia dada por la expresin con

Cuando esta diferencia de caminos pticos es igual a un numero entero de longitudes de onda nos encontramos con un mnimo de interferencia dado que la parte de la onda que recorre OM1 es reflejado internamente a diferencia de la que recorre OM2 la cual se refleja externamente en O. O sea , cuando se cumple:

encontraremos un mnimo de interferencia en el detector. Como esta condicin se satisface para el punto S se va a satisfacer tambin para cualquier punto que se encuentre en un crculo de radio OS. Un observador vera entonces una figura de crculos concntricos como se indica en la figura 1.3. Dispersin en un medio dielctrico Un cambio en la velocidad de propagacin se puede producir por un cambio de medio o por las propiedades de ste. Una de las propiedades que puede modificar el ndice de refraccin en un gas es la presin. En el caso de una variacin de presin a volumen constante, lo que se est variando de fondo es el nmero de moles de gas en el recipiente, y por ende la densidad del medio. En la teora de Maxwell se considera a la materia como continua, y el ndice de refraccin es, por

la masa del electrn. Una buena aproximacin de un medio material es representarlo como una agrupacin, en el vaco, de un nmero muy elevado de tomos polarizables, los cuales son pequeos, con respecto a la longitud de onda de la luz, y se consideran muy prximos entre s. Cuando una onda luminosa incide en el medio, cada tomo puede considerarse como un oscilador forzado clsico que est siendo excitado por un campo elctrico variable en el tiempo de la onda, que se supondr por simplicidad aplicado en la direccin x. La fuerza ejercida sobre un electrn de carga por el campo de una onda armnica de frecuencia : Ecuacin 8 Escribiendo la ecuacin del movimiento mediante el planteo de la Segunda Ley de Newton, se tiene:

Ecuacin 9 La solucin de la ecuacin diferencial anterior es: Ecuacin 10 Si ahora se coloca esta solucin en la ecuacin para hallar la amplitud se obtiene

osciladores que tienen frecuencias naturales con j de uno a N.

Ecuacin17 Los trminos , que satisfacen el requisito de

Ecuacin 11

que , son factores de peso denominados fuerzas de oscilador, o probabilidades de transicin. Si introducimos las fuerzas de friccin al anlisis se obtiene la siguiente expresin para la ecuacin de dispersin

El momento dipolar equivale al producto de la carga y su desplazamiento. Si existe un nmero de electrones por unidad de volumen, la polarizacin elctrica es: Ecuacin 12 Combinando ahora esta ecuacin con la ecuacin anterior se obtiene una expresin para el momento dipolar en funcin de la frecuencia.

Ecuacin18.1 En nuestro anlisis nos es de particular importancia considerar la dependencia del ndice de refraccin con la presin. Y sobre todo en el aire que es con el medio que trabajaremos. Para considerar lo anterior en el ndice de refraccin podemos hacer una aproximacin considerando el aire como un gas ideal, obteniendo as la siguiente expresin :

Ecuacin 13 Sabiendo tambin que el momento dipolar se relaciona con el campo elctrico a travs de: Ecuacin 14 Se obtiene como resultado:

Ecuacin18.2 Esta aproximacin es ms acertada cuando menor es la presin del aire.

ndice de refraccin del aire. Ecuacin14 Ahora, si se emplea la relacin En una de las partes de nuestro anlisis trabajaremos con la dependencia del ndice de refraccin del aire con la presin. Para ello podemos establecer una relacin entre estas magnitudes a partir del dispositivo experimental. Utilizamos una celda llena de aire a la cual se le puede variar la presin en su interior (Esto se detalla mas adelante en el procedimiento experimental) la cual es atravesada por un laser con el que trabajaremos. Al variar la presin en la celda cambiamos el camino ptico ,dado que cambia el ndice de refraccin y por lo tanto la longitud de onda del laser en el aire .Esto es debido a que las

Ecuacin 15 y se sustituye en lo anterior, arribamos a una expresin para en funcin de , la cual se conoce como ecuacin de dispersin.

Ecuacin16 Se puede generalizar, suponiendo que hay N molculas por unidad de volumen, cada una con

propiedades del medio por el que atraviesa el lser son alteradas ya que existe una menor cantidad de molculas en el camino del lser, tal como predice la Ecuacin 18. Supongamos que a una presin inicial pi, el trayecto del laser dentro de la celda es un nmero entero de longitudes de onda Ni = 2D/i (tener en cuenta que la celda es atravesada dos veces). Al cambiar la presin en la celda hasta un valor final pf, el numero de longitudes de onda que entran en la celda sern ahora Nf = 2D/ f. As el numero N de longitudes de onda que varia el camino ptico del laser por pasar por celda ser N = NfNi =2D (1/ f 1/ i) Ecuacin 19 Considerando que el ndice de refraccin se puede expresar como:

en la figura 0.3 el ngulo de inclinacin del prisma , ngulo que mediremos para la experiencia. Y t es el ancho del prisma por el cual atraviesa el rayo del laser.

Figura 0.3: esquema del rayo del laser al hacerse incidir sobre el prisma de vidrio cuando ste se encuentra en el interfermetro.

= no

Ecuacin 20

Se har solo un bosquejo de la deduccin de la ecuacin 24 a los efectos de tener una nocin de sta.

Podemos sustituir esto en la Ecuacin 19 obteniendo N=2D(nf ni)/ o, reescribiendo:

nf ni = No/(2D)

Ecuacin 21

Considerando los puntos marcados en la figura definimos la funcin H del ngulo de incidencia como el camino ptico que sigue el laser en ir desde el divisor de onda O hasta el espejo fijo M2, esto es: H()= Ecuacin 25

Suponiendo que la relacin n(p) es lineal podemos escribir: Ecuacin 22 Sustituyendo la Ecuacin 21 en 22 obtenemos Ecuacin 23 Linealidad que constatamos en la practica . ndice de refraccin en el vidrio: Por medio de un anlisis geomtrico del procedimiento explicado mas abajo para la determinacin del ndice de refraccin del vidrio, se llega a la siguiente ecuacin: Ecuacin 24 Donde N es el numero de franjas que se cuentan pasar, es el ngulo de incidencia del laser sobre el prisma de vidrio, siendo tambin como se muestra

Considerando la geometra en la figura se puede reescribir H() como: H()= Ecuacin 26 +

Siendo el angulo refractado. Para un ngulo 0 tenemos: H(0)= Ecuacin 27

Cuando se varia el ngulo desde 0 hasta la variacin de camino ptico se puede obtener contando las lneas de los mximos de interferencia que pasan(ver procedimiento experimental) mediante la siguiente relacin: H()-H(0)= Ecuacin 28

Restando las ecuaciones 26 y 27 e igualando a la ecuacin 28 obtenemos:

Ecuacin 29 Por otra parte consideremos la ley de Snell en el vidrio: Ecuacin30 y la igualdad trigonomtrica : Ecuacin 31

superposicin e igualdades trigonomtricas, con lo cual se obtiene:

Donde se puede apreciar que es la componente temporal de una onda, de frecuencia y de amplitud: .

De estas dos ecuaciones se obtiene una expresin para que se sustituye en la ecuacin 29. Luego de sustituir ,mediante identidades trigonomtricas eliminamos y desarrollando llegamos a la expresin para n indicada en la ecuacin 24. Amplitud y frecuencia en una oscilacin mecnica: Los anlisis que se realizan, tienen como objetivo comn variar el camino ptico de un haz de luz y as modificar el patrn de interferencia generado al superponerse con otro haz. Una de las aplicaciones que puede hacerse, es utilizar los patrones as generados para medir la amplitud de una oscilacin mecnica peridica, as como su frecuencia de oscilacin. Para ello se estudia como vara la intensidad de luz del patrn, en un punto dado, a medida que se cambia el camino ptico de uno de los haces. Se asume que cada haz proviene de la misma fuente, su polarizacin, su amplitud ( ) y su frecuencia ( ) sern las mismas. Al interferir en un punto P de la pantalla las ecuaciones de los campos elctricos asociados a cada haz pueden escribirse como

Por otro lado, la intensidad de una onda sinusoidal en el vaco est dada por el valor promedio en un ciclo del vector de Poynting ( ).

Aplicado esto a la onda se obtiene:

, de amplitud

La expresin que alcanza su mximo valor cuando , es decir, cuando los haces alcanzan en fase al punto P, esto implica que la interferencia es totalmente constructiva. En dicho punto . Llamamos a esta intensidad, entonces se obtiene:

Como se mencion, la diferencia de fase ( ) es la originada por la diferencia de camino ptico ( ), cuyo vnculo esta dado a travs de la expresin:

Las expresiones dependen nicamente del tiempo ya que no aporta al problema trabajar con la parte espacial asociada al campo elctrico. La diferencia de fase () que aparece en es la originada por la diferencia de camino ptico ( ). Para determinar la resultante de dicha interferencia simplemente se aplica el principio de

Donde representa la longitud de onda del haz incidente. Vinculando las dos ecuaciones anteriores se llega a una expresin para la intensidad en funcin de la diferencia de caminos y la longitud de onda del haz utilizado. Por otro lado, en el interfermetro de Michelson, debido a la disposicin de sus elementos, un desplazamiento del espejo mvil implica una diferencia en el recorrido de un haz con respecto al otro de .

imposibilita las medidas. En esta experiencia se impone un movimiento sinusoidal al espejo, con lo cual la posicin del mismo estar descrita por, donde es la amplitud de dicho movimiento y su frecuencia. Entonces: Alineacin del lser: 1. Se coloc la base del interfermetro sobre la mesada del laboratorio (que fue el lugar ms firme que se encontr, lo que es muy importante ya que el interfermetro es muy sensible a vibraciones) cuidando que el tornillo micromtrico que regula la posicin del espejo quede mirando hacia afuera de forma de facilitar luego su manipulacin. 2. A la izquierda de la base se coloco el lser Pasco, sobre su soporte correspondiente, de forma que ste quede aproximadamente perpendicular a la base del interfermetro. 3. Luego se coloca el espejo mvil en el lugar indicado sobre el banco del interfermetro y se lo ajusta para que quede firme. 4. Se encendi el lser y se lo hizo incidir aproximadamente sobre el centro del espejo mvil ajustando los tornillos de la base del banco del lser una vez conseguido esto. Para chequear que el haz del lser fuera paralelo a la base del interfermetro se colocamos una hoja de papel frente al lser antes y despus de la base y nos aseguramos que incidieran en el mismo lugar. 5. En los pasos anteriores se ajusto la altura del laser, ahora para ajustar su posicin lateral se movi el laser junto con su base horizontalmente hasta que luego de que el laser se reflejara en el espejo incidiera nuevamente en su orificio de salida.

Al combinar las ecuaciones se obtiene lo siguiente:

Que al sustituir permite obtener la variacin de la intensidad en un punto de la pantalla en funcin del tiempo:

Dispositivo experimental:
Nuestra herramienta a lo largo de toda la practica fue el interfermetro de Michelson cuya historia o parte de ella se relata en la introduccin de este articulo. El interfermetro utilizado para esta prctica, Pasco modelo OS-9255A, permite varias configuraciones que pueden ser utilizadas para realizar diversos estudios, estas son la configuracin de Michelson, la de Twiman-Green y la de Fabri-Perot. Nuestros objetivos son medir la longitud de onda de un lser, medir el ndice de refraccin del vidrio, estudiar la dependencia del ndice de refraccin del aire con la presin y estudiar la vibracin de un parlante, para todas stas experiencias la primera de stas configuraciones es la adecuada, por sta razn fue la nica utilizada. A continuacin pasamos a describir como se realizo su montaje y su calibracin. Armado del dispositivo: Para esta prctica se utilizo el laser Pasco que viene con el Kit del interfermetro. Es fundamental para el correcto funcionamiento del interfermetro en cualquiera de sus configuraciones una buena alineacin entre el lser y la base del mismo. Si esto no se consigue se obtendr un patrn de interferencia borroso o varios superpuestos lo que

Figura 1.1

La alineacin del lser es igual para todas las configuraciones, habindola terminado comenzamos con el montaje del interfermetro en su configuracin de Michelson. El montaje para esta configuracin es como sigue: Se utilizaran: un beamspleatter (espejo semiplateado), el espejo mvil que ya se mencion en la alineacin del lser, un espejo ajustable, dos lentes, para hacer el patrn ms

visible, que van montados sobre soportes y una pantalla donde ste se reflejar. 1. Se asegura el espejo ajustable a la base mediante dos tornillos y lo mismo se hace para los soportes debindose colocar uno frente al lser y otro frente al espejo ajustable. 2. Luego se coloca el beamspleatter formando 45 con el haz del lser de forma que ste se refleje en el espejo fijo aproximadamente en su centro. 3. Sobre la pantalla utilizada para visualizar el patrn de interferencia se deben ver a esta altura 2 pares de puntos debidos al pasaje del haz por el sistema ptico, cada par debe tener uno de sus puntos ms brillantes, se ajusta ahora el ngulo del beamspleatter de forma que estos dos puntos coincidan o estn lo ms cercanos posibles. Luego de haber logrado esto se fija su posicin ya que no se deber mover ms durante el resto de la prctica. 4. Mover los tornillos que se encuentran en la parte posterior del espejo ajustable hasta que los dos puntos brillantes coincidan. 5. Por ltimo se colocan lentes de 18 mm FL sobre la parte magntica de los soportes para que queden asegurados. Habiendo montado los componentes de esta forma se observaron ya los patrones de interferencia circulares sobre la pantalla colocada para tal propsito(figura 1.3), y el dispositivo se vea de la siguiente forma:

Figura 1.3

Procedimiento experimental
A continuacin se detallan los procedimientos experimentales de cada una de las experiencias. Determinacin de la longitud de onda En la primera parte de la experiencia se intento determinar la longitud de onda del lser utilizado. Para lograr esto se mueve el tornillo micromtrico que se ve en la parte inferior de la Figura 1.2 en sentido anti horario lo que produce una variacin en la longitud del camino ptico del sistema como se explico en el fundamento terico, como consecuencia sobre la pantalla colocada de frente al espejo mvil se observa un corrimiento de los mximos y los mnimos del patrn de interferencia. Contando la cantidad de lneas brillantes (mximos) del patrn de interferencia que cruzan un punto marcado sobre la pantalla se puede calcular la longitud de onda del lser utilizando la relacin establecida para los mximos de interferencia en la Ecuacin 5. En este caso N es la cantidad de mximos de interferencia que se cuentan pasar, adems de ser tambin la cantidad de longitudes de onda que cambia el camino ptico. Estudio de la variacin del ndice de refraccin del aire con la presin. Para esta parte de la prctica se utilizo el montaje de la parte anterior y adems la celda de vaco que viene en el kit del interfermetro junto con la bomba de vaco que permite sacar el aire de la celda,

Figura 1.2

Luego de terminar el montaje se comprob que el sistema es muy sensible a vibraciones, las que producan una distorsin muy importante del patrn de interferencia, por lo que se tuvo que tener cuidado de no tocar la mesada mientras se realizaban las medidas.

se coloca en la base del interfermetro obtenindose la siguiente configuracin:

La tcnica que utilizamos para encontrar el ndice de refraccin del vidrio puede ser valida para la mayora del resto de los materiales slidos, esta tcnica consiste bsicamente en hacer variar la distancia que el haz recorre en el sistema ptico dentro del material a utilizar. Esto se logra rotando la lmina de vidrio alrededor de su eje central.

La celda consiste en una celda translcida que est conectada a la bomba con la que se puede sacar el aire del interior de la celda lo que disminuye su presin. La presin dentro de la celda puede ser medida con un instrumento que ya viene integrado en el accesorio como se ve en la figura. Tenemos que considerar que al medir la presin obtenemos la medida en relacin a la presin atmosfrica, por lo que tenemos que utilizar la relacin: P(abs)=P(atm)-P(medida) Al retirar el aire progresivamente de la celda, partiendo de una presin inicial igual a la presin atmosfrica, se observa que el patrn de interferencia se mueve. El lser pasa por la celda de vaco dos veces, fuera de ella el sistema ptico permanece inalterado. Por lo tanto si tenemos una diferencia de /2 en el nmero de longitudes de onda que entran en la longitud de la celda, esto provoca una variacin de en el camino ptico, por lo que se ve que un mximo se corre un lugar en la pantalla. El procedimiento para esta parte de la prctica fue al igual que en la determinacin de la longitud de onda relevar el nmero de lneas que pasaban por un punto en la pantalla para ciertos valores de la variacin de presin. ndice de refraccin del vidrio:

Procedimiento: 1. Colocar el Puntero Rotatorio entre el Beamspleatter y el espejo mvil de forma que este quede perpendicular a la trayectoria del lser. 2. Colocar el vidrio a ser analizado en la parte magntica del soporte para que este quede fijo. 3. Colocar el puntero de forma que se marque cero en la escala del Vernier en la base del interfermetro. 4. Colocar la pantalla 5. Colocar la lente de difraccin 6. Variar muy lentamente el puntero a travs de la escala y contar la cantidad de mximos que pasan por un punto determinado de la pantalla (el montaje requiere que se realicen variaciones de al menos 10) Observacin: Al colocar el Puntero Rotatorio en lo que se indicaba como cero en la Vernier y comenzar a girarlo veamos que luego de una pequea variacin en el ngulo los mximos invertan el sentido en el que se movan. Esto se debe a que en realidad la placa de vidrio no se encontraba bien alineada. Por esta razn el cero verdadero se determin como el punto en el cual los mximos invertan el sentido en el que se movan. Se tom una serie de 4 medidas en las que se hizo variar el Puntero Rotatorio 10 y se contaron el nmero de mximos que pasaban por un punto de la pantalla

Medicin de Amplitud y frecuencia de una oscilacin mecnica: El montaje para esta experiencia consisti nuevamente en un interfermetro de Michelson ,pero esta vez en lugar del espejo fijo en el montaje para medir la longitud de onda del laser ,se puso un espejo adherido a un parlante con el fin de vincular las oscilaciones del parlante con

el movimiento de las franjas en el espectro de interferencia. Dado que las franjas se mueven al cambiar la distancia que recorre uno de los rayos que interfieren. Es de esperar que las franjas nos revelen informacin sobre el movimiento del parlante.

figura 2.1:Montaje usado para medir la amplitud de oscilacin de un parlante

4. interfermetro y alinearlo para que el haz incida de forma perpendicular 5. Colocar una lente de 18mm para amplificar el patrn de interferencia y as lograr que el fotodiodo tenga mayor discernimiento entre un mximo y un mnimo 6-Conectar el parlante a un generador de funciones. 6. 7. Conectar el fotodiodo a travs de su correspondiente amplificador a la interface. 8. Encender el generador, seleccionar forma de onda sinusoidal, fijar una amplitud (que no debe variarse durante la prctica). Variar la frecuencia 9. la seal y levantar los datos con la interfaz.

Anlisis de datos
Determinacin de la longitud de onda. Como las lneas se movan muy rpidamente al girar el tornillo se tomaron 4 medidas de la longitud que se mova el tornillo al hacer pasar 100 mximos por el punto marcado en la pantalla. Con los resultados obtenidos se hizo un promedio que dio como resultado: Longitud de onda del lser: 647,5 nm Estudio de la variacin del ndice de refraccin del aire con la presin. Dato s: =633 nm (longitud de onda del lser) , D=3cm (ancho de la celda dada por el fabricante) Graficamos el nmero de mximos contados en funcin de la presin para obtener la figura 2.2:

En la figura 2.1 se muestra un esquema del dispositivo usado .En la parte inferior de la figura se observa un foto sensor ,cuya funcin fue convertir la variacin de la intensidad de la luz, en una variacin de voltaje ,que fue registrada por una interface. Se ubicaron tambin dos lentes con el fin de amplificar el fenmeno de interferencia y obtener un mejor registro. Las oscilaciones del parlante se consiguieron al conectar ste a un generador de funciones. La frecuencia del parlante esta dada por el generador. Puede que la amplitud en el generador este relacionada con la amplitud de la oscilacin del parlante pero no es necesario conocer esta relacin para nuestro propsito, dado que la ecuacin 42 no incluye al voltaje del generador. Podemos trabajar con esta ecuacin o contar la cantidad de mximos de intensidad entre ambas amplitudes del parlante, debido a que cada mximo que vemos pasar implica un corrimiento del camino ptico del rayo en una distancia de una longitud de onda. Las oscilaciones del parlante no tienen por que estar en fase con el voltaje sinusoidal en el generador, esto es debido a la impedancia del circuito que incluye al parlante el que consta de un bobinado. Procedimiento: 1. Alinear el parlante con el lser para que el haz incida en su centro y de forma perpendicular 2. Colocar el Beamspleatter 3. Colocar el espejo mvil en el

La pendiente de este grafico segn la Ecuacin 23 debe ser: pend=

ndice de refraccin del vidrio Se calcul el ndice de refraccin del vidrio para cada medida del ngulo, utilizando la ecuacin 24

Figura 3.1: Grafico del nmero de mximos contados en funcin de la presin.

Realizando el promedio para cada ngulo tomado se obtuvo un ndice de refraccin para el vidrio de 1.41.

Esta grafica evidencia la linealidad entre la presin y el nmero de mximos contados. Dado que el nmero de mximos N segn la Ecuacin 21 es lineal con el ndice de refraccin, la presin debe ser lineal con el ndice de refraccin. La Figura 3.1 por lo tanto verifica la linealidad asumida en el fundamento terico. Luego consideramos dos valores de presin pi y p f fijamos el nmero de mximos al cambiar la presin al ir de pi a pf para obtener a partir de la Ecuacin 23 los valores del ndice de refraccin para cada presin. El grafico de estos resultados del ndice de refraccin en funcin de la presin son mostrados en la Figura 3.2.

Medicin de Amplitud y frecuencia de una oscilacin mecnica: En las Figuras 3.3 se muestran las graficas de los datos obtenidos en la interface para varias frecuencias conjuntamente con la seal en el generador. Cada mximo en estas graficas implica un mximo en la intensidad de la luz que detecta el foto sensor. En estas graficas se aprecian los puntos de retroceso del parlante, en los cuales en un intervalo de tiempo la amplitud de la intensidad de la luz varia poco en relacin al resto del recorrido del parlante (se visualizan en la curva como un mximo mas ancho que sus mximos adyacentes).
5.12 5.1 5.08 5.06 5.04 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100

10 5 0 -5 -10

10

20

30

40

50

60

70

80

90

100

Figura 3.2: Grafico del ndice de refraccin en funcin de la presin.

Figura 3.3.1:intensidad para 20Hz en funcin del tiempo, para los datos obtenidos de la interface (arriba) y en el generador (abajo).

5.14 5.12 5.1 5.08 5.06 5.04 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100

5.14 5.12 5.1 5.08 5.06 5.04 0 10 20 30 40 50 60

10 5 0 -5 -10

10 5 0 -5 -10

10

20

30

40

50

60

70

80

90

100

10

20

30

40

50

60

Figura 3.3.2: Intensidad para 40Hz en funcin del tiempo, para los datos obtenidos en la interface (arriba) y en el generador(abajo).

Figura 3.3.4: Intensidad para 60Hz en funcin del tiempo, para los datos obtenidos por la interface (arriba) y la funcin terica (abajo).

5.14 5.12 5.1 5.08 5.06 5.04 0 10 20 30 40 50 60

10 5 0 -5 -10 5.14 5.12 5.1 5.08 5.06 5.04 0 10 20 30 40 50 60 5.14 10 5 0 -5 5.04 -10 0 10 20 30 40 50 60 10 0 10 20 30 40 50 60 5.12 5.1 5.08 5.06

10

20

30

40

50

60

Figura 4.2.5: Intensidad para 70Hz en funcin del tiempo, para los datos obtenidos con la interface (arriba) y la seal en el generador(abajo).

Figura 3.3.3: Intensidad para 50Hz en funcin del tiempo, para los datos obtenidos con la interface (arriba) y la seal del generador(abajo).

5 0 -5 -10

10

20

30

40

50

60

Figura 3.3.6: Intensidad para 80Hz en funcin del tiempo, para los datos obtenidos en la interface (arriba) y la seal en el generador(abajo).

5.14 5.12 5.1 5.08 5.06 5.04 0 10 20 30 40 50 60

5.12 5.11 5.1 5.09 5.08 5.07 5.06 5.05 5.04 5.03

10 5 0 -5 -10

10

20

30

40

50

60

10

20

30

40

50

60

70

80

90

100

Figura 3.3.7: Intensidad para 90Hz en funcin del tiempo, para los datos obtenidos con la interface (arriba) y la seal en el generador(abajo).

Figura 3.4 Seal en la interfaz (rojo) superpuesta con la funcin terica (verde) para 20hz.

5.14 5.12 5.1 5.08 5.06 5.04 0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50

10 5 0 -5 -10

10

15

20

25

30

35

40

45

50

Figura 3.3.8: Intensidad para 100Hz en funcin del tiempo, para los datos experimental (arriba) y la funcin terica (abajo).

Para determinar la amplitud del parlante a cada frecuencia lo que hicimos fue encontrar la cantidad de longitudes de onda que entran en el recorrido de medio periodo del desplazamiento del parlante. El paso de cada mximo de interferencia por el foto sensor implica una longitud de onda en el desplazamiento del parlante. Pero el recorrido del parlante no tiene por que ser un numero entero de longitudes de onda, esto implica que el punto de retroceso del parlante visualizado en las figuras 3.3 puede estar en una intensidad intermedia entre el mximo y el mnimo en la interferencia. Considerando esto podemos tener resultados bien aproximados de las amplitudes. La siguiente tabla muestra las amplitudes del parlante para cada frecuencia en funcin de la longitud de onda.

Amplitud(1e-6m)

Frecuencia (hz) 20 30 50 60 70 80 90 100

Amplitud( m) 4,875 4,750 3,750 3,500 3,250 3,000 2,875 2,500

Amplitud vs tiempo 3.2 3 2.8 2.6 2.4 2.2 2

Tambin en estas curvas puede visualizarse que el voltaje en el generador no esta en fase con el del parlante, como habamos predicho. En la figura 3.4 se superponen la seal en la interface y la curva terica que sta dada por la Ecuacin 42.

1.8 1.6 1.4 20

30

40

50

60 70 frecuencia(hz)

80

90

100

A medida que hicimos crecer la frecuencia ,la amplitud del parlante decreci, esto se puede visualizar en la figura 3.5 , la cual no muestra un mximo, por lo tanto no muestra cual es la frecuencia de resonancia del parlante.
Figura 3.5: Amplitud vs frecuencia (curva de resonancia).

Conclusiones:
Se observo que el resultado obtenido para la longitud de onda del lser en la experiencia es muy similar al dado por el fabricante, de hecho calculando el error porcentual utilizando el valor del fabricante (633nm) y el obtenido encontramos que este es de 2,29%. Dado que el error porcentual fue de apenas unos 2,29% , podemos concluir que los resultados obtenidos fueron correctos. Consultando tablas de valores se encontr que el ndice de refraccin del vidrio normal oscila entre 1.43 y 1.70, por lo que los resultados pueden considerarse aceptables, si se conociera el tipo de vidrio del que est hecha la placa se podra hacer una comparacin ms detallada. Para las oscilaciones del parlante obtuvimos una curva de resonancia de la cual solo podemos decir que se encuentra por debajo de los 20hz. Contrario a lo que intuamos en el momento de levantar los datos. Conclusiones generales: Para cada una de las prcticas se observ un

patrn de interferencia claro por lo que se consider que tanto la alineacin del lser como el armado del interfermetro se realizaron correctamente. La longitud de onda del lser de HeNe esta en muy buen acuerdo con el valor proporcionado por el fabricante, ndice de refraccin del vidrio obtenido experimentalmente est dentro de los valores tericos experimentales y las amplitudes de vibracin del parlante fueron del orden de los micrmetros, que tambin se considera dentro de los valores esperados. Por lo tanto podemos concluir que los datos obtenidos en cada una de las partes de las prcticas son buenos. Tambin podemos concluir que el interfermetro es un instrumento muy til y verstil que puede utilizarse para diversas aplicaciones, dando resultados muy precisos.