Tiempo Medio Entre Fallas Explicacion y Standares

Tiempo medio entre fallas: explicacin y estndares
Por Wendy Torell y Victor Avelar
Informe interno N 78
Resumen ejecutivo
El tiempo medio entre fallas (MTBF) es un trmino de confiabilidad que se utiliza con demasiada ligereza en muchas industrias y, en algunas, su uso ya es abusivo. Con el correr de los aos, el significado original de este trmino fue modificndose, y ahora causa confusin y cinismo. En gran medida, el MTBF se basa en supuestos; por eso, la definicin de falla y una mirada atenta a estos detalles cobran vital importancia para lograr una interpretacin correcta. En este informe se explican las complejidades y los errores subyacentes del MTBF, y los mtodos disponibles para calcular este valor.
2004 de American Power Conversion. Todos los derechos reservados. Queda prohibida la utilizacin, reproduccin, fotocopiado, transmisin o almacenamiento parcial o total de esta publicacin, en cualquier sistema de recuperacin de cualquier tipo, sin el consentimiento escrito del titular del derecho de autor. www.apc.com Rev 2004-0
Introduccin
El tiempo medio entre fallas (MTBF) se ha utilizado por ms de 60 aos como fundamento para varias decisiones. Con el correr de los aos, se desarrollaron ms de 20 mtodos y procedimientos para predecir la vida til de los productos. Por lo tanto, no resulta extrao que el MTBF sea un tema central en eterno debate. Un rea en particular en la que esto se hace evidente es el diseo de infraestructuras de misin crtica que albergan equipos informticos y de telecomunicaciones. Cuando apenas unos minutos de inactividad pueden afectar en forma negativa el valor de mercado de una empresa, es crucial que la infraestructura fsica que sustenta este entorno de red sea confiable. Sin una slida comprensin del MTBF, es posible que no se alcance el objetivo de confiabilidad de la empresa. En este informe se explican con ejemplos todos los aspectos del MTBF, con la intencin de simplificar la complejidad y esclarecer los errores.
Qu es una falla? Cules son los supuestos?

Estos interrogantes deben responderse de inmediato cuando se analiza cualquier valor de MTBF. Sin las respuestas a estas preguntas, el anlisis carece prcticamente de valor. Muchas veces se cita el MTBF sin ofrecer una definicin de falla. Esta prctica no solo induce a errores, sino que carece de utilidad alguna. Sera similar a promocionar el rendimiento del combustible en un automvil expresado en millas por tanque sin definir la capacidad del tanque en litros o galones. Para despejar esta ambigedad, se podra argumentar que existen dos definiciones bsicas para las fallas: 1) 2) Finalizacin de la capacidad de un producto en su conjunto para realizar la funcin requerida.1 Finalizacin de la capacidad de cualquier componente individual para realizar la funcin requerida, pero sin la finalizacin de la capacidad de un producto en su conjunto para funcionar.2
Mediante los siguientes dos ejemplos se ilustra cmo un modo de falla en particular podra clasificarse o no como falla, segn la definicin que se elija.
Ejemplo 1: Si falla un disco redundante en un sistema RAID, la falla no impide que el sistema RAID cumpla la funcin requerida de proporcionar datos crticos en ningn momento. Sin embargo, la falla del disco impide que un componente del sistema de discos realice la funcin requerida de proveer capacidad de almacenamiento. Por lo tanto, segn la definicin 1, no se trata de una falla pero, segn la definicin dos, s constituye una falla.
1 2
IEC-50 IEC-50
Ejemplo 2: Si falla el inversor de un sistema UPS y el sistema UPS conmuta al modo de bypass esttico, la falla no impide que el sistema UPS cumpla la funcin requerida, que es alimentar a la carga crtica. Sin embargo, la falla del inversor impide que un componente del sistema UPS realice la funcin requerida de proveer energa acondicionada. Al igual que en el ejemplo anterior, se tratara de una falla solo de acuerdo con la segunda definicin. Si existieran tan solo dos d efiniciones, la determinacin de las fallas sera bastante sencilla. Lamentablemente, cuando est en juego la reputacin de un producto, el asunto es casi tan complicado como el MTBF en s. En realidad, existen ms de dos definiciones de fallas; de hecho, la cantidad es infinita. Segn el tipo de producto, los fabricantes pueden tener diversas definiciones de fallas. Los fabricantes que se preocupan por la calidad aplican un control de procesos a todos los modos de fallas, lo cual, entre otros beneficios, elimina los defectos de los productos. Por lo tanto, se necesitan preguntas adicionales que definan el concepto de falla con precisin.
Se considera falla una mala aplicacin por parte del cliente? Los diseadores podran haber omitido factores humanos y as surgira la tendencia de los usuarios a aplicar mal el producto. Se consideran fallas las cadas de carga que ocasiona el tcnico del distribuidor? Es posible que el diseo del producto en s aumente la probabilidad de fallas en un procedimiento de por s riesgoso? Si fallara un indicador LED de una computadora, se considerara falla aunque no haya afectado el funcionamiento de la computadora? El desgaste natural de un insumo, por ejemplo, una batera, se considerara falla si presentara anomalas en forma prematura? Se consideran fallas los daos sufridos durante el transporte? Podran indicar una deficiencia en el diseo del embalaje. Es claro que la importancia de definir una falla debe ser obvia y debe comprenderse antes de tratar de interpreta r cualquier valor de MTBF. Preguntas como estas son las que fijan los cimientos sobre los que pueden tomarse decisiones acerca de la confiabilidad.
Se dice que los ingenieros nunca se equivocan; solo parten de supuestos errneos. Lo mismo puede decirse de aquellos que calculan los valores de MTBF. Es preciso basarse en supuestos para simplificar el proceso de clculo del MTBF. Sera virtualmente imposible recabar los datos para calcular un nmero exacto. Sin embargo, todos los supuestos deben ser razonables. A lo largo de este informe, se describen los supuestos que acostumbran a utilizarse para calcular el MTBF.
Definicin de confiabilidad, disponibilidad, MTBF y MTTR

El MTBF tiene incidencia tanto en la confiabilidad como en la disponibilidad. Antes de p roceder a explicar los mtodos de clculo del MTBF, es importante tener una idea slida de estos conceptos. La diferencia
entre confiabilidad y disponibilidad suele ignorarse y malinterpretarse. Alta disponibilidad y alta confiabilidad a menudo van de la m ano, pero no son trminos que puedan utilizarse indistintamente.
Confiabilidad es la capacidad de un sistema o componente para desempear las funciones requeridas en las condiciones establecidas por un determinado perodo de tiempo [IEEE 90].
En otras palabras, es la probabilidad de que un sistema o componente realice las funciones en forma satisfactoria durante el tiempo que dure la misin especificada, sin presentar anomalas. La misin de una aeronave es un ejemplo perfecto para ilustrar este concepto. Cuando una aeronave despega para cumplir su misin, se tiene en cuenta un objetivo: completar el vuelo, segn lo planeado, en forma segura (sin fallas catastrficas).
Disponibilidad, por otra parte, es el grado de funcionalidad y accesibilidad que presenta el sistema o componente cuando se lo necesita [IEEE 90].
Puede pensarse como la probabilidad de que el componente o sistema est en condiciones para cumplir con la funcin requerida en determinadas circunstancias y en determinado momento de un pero do. La disponibilidad est determinada por la confiabilidad de un sistema y tambin por el tiempo de recuperacin ante una falla. Cuando los sistemas funcionan constantemente por perodos prolongados (por ejemplo, un centro de datos de 10 aos), las fallas son inevitables. Suele contemplarse la disponibilidad porque, al producirse una falla, la variable crtica pasa a ser la rapidez con la que el sistema pueda recuperarse. En el ejemplo del centro de datos, contar con un diseo de sistemas confiable es la variable ms crtica pero, al producirse una falla, el factor ms importante debe ser que los equipos informticos y los procesos de la empresa se reactiven y funcionen lo ms pronto posible para reducir al mnimo el tiempo de inactividad.
El MTBF o Tiempo medio entre fallas constituye una medicin fundamental de la confiabilidad de un sistema. Suele expresarse en unidades de horas. A mayor valor de MTBF, mayor confiabilidad presenta el producto. La ecuacin 1 ilustra esta relacin.
Confiabilidad = e
Tiempo MTBF
Ecuacin 1
Unos de los errores ms habituales acerca del MTBF es pensar que equivale a la cantidad de horas que se espera que funcione el sistema antes de que falle, tambin denominada vida operativa. Sin embargo, no es extrao ver valores de MTBF en el orden de los millones de horas, y sera poco razonable pensar que el sistema podra funcionar constantemente por ms de 100 aos sin presentar una falla. La razn por la que estos nmeros suelen ser tan altos es porque se basan en la tasa de fallas del producto mientras an
est en el perodo de vida til o vida normal, y se presupone que continuar con esta tasa por siempre. Sin embargo, en esta etapa de la vida, el producto experimenta la menor (y constante) tasa de fallas. En realidad, los modos de deterioro del producto limitaran la vida mucho antes que lo que expresa la cifra de MTBF. Por lo tanto, no debe hacerse una correlacin directa entre la vida operativa de un producto y la tasa de fallas o MTBF. Es muy factible encontrar productos con un alto grado de confiabilidad (MTBF) y un bajo nivel de vida operativa. Como ejemplo, pensemos en un ser humano: Se constituye una muestra poblacional con 500.000 seres humanos de 25 aos de edad. En el curso de un ao, se recaban datos sobre las fallas (muertes) de esa poblacin. La vida operativa de esa poblacin es de 500.000 x 1 ao = 500.000 personas/ ao. A lo largo del ao, fallaron (murieron) 625 personas. La tasa de fallas es de 625 fallas / 500.000 personas/ ao = 0,125%/ ao. El MTBF es la relacin inversa a la tasa de fallas o 1/0,00125 = 800 aos. Si bien los seres humanos de 25 aos presentan valores de MTBF altos, la expectativa de vida (vida operativa) es mucho ms corta y no existe una correlacin.
La realidad es que los seres humanos no presentan tasas de fallas constantes. A medida que la gente envejece, se producen ms fallas (se deterioran). Por lo tanto, la nica manera real de computar un valor de MTBF que equivalga a la vida operativa sera esperar que toda la muestra poblacional de personas de 25 aos llegara al trmino de la vida. De ese modo, podra calcularse un promedio de es tos intervalos de vida. La mayora concordara que el valor rondara entre los 75 y 80 aos.
Por eso, cul es el MTBF de las personas de 25 aos? 80 u 800? Los dos valores! Pero como podra la misma poblacin presentar dos valores de MTBF tan dispares? Todo se debe a los supuestos.
Si el MTBF de 80 aos refleja con mayor precisin la vida del producto (humanos, en este caso), es el mejor mtodo? Es evidente que es ms intuitivo. Sin embargo, existen muchas variables que limitan el sentido prctico de utilizar este mtodo con productos comerciales como los sistemas UPS. La mayor limitacin es el tiempo. Para poder hacerlo, toda la muestra poblacional debera fallar y, en el caso de muchos productos, estaramos hablando de un uso de 10 o 15 aos. Adems, aun si fuera razonable esperar este perodo de tiempo antes de calcular el MTBF, habra problemas para rastrear los productos. Por ejemplo, cmo sabra el fabricante si los productos siguen en servicio, si estn fuera de servicio y nunca se lo han info rmado?
Por ltimo, incluso si todo esto fuera posible, la tecnologa avanza a tal velocidad que, en el momento en que se pudiera calcular el valor, ya no tendra utilidad alguna. Quin querra el valor de MTBF de un producto que ya ha sido reemplazado por varias generaciones de actualizaciones tecnolgicas?
MTTR, o tiempo medio de reparacin (o recuperacin), es el tiempo que se espera que un sistema tarde en recuperarse ante una falla. Este valor puede incluir el tiempo necesario para diagnosticar el problema, para que el tcnico se acerque a la instalacin y para reparar fsicamente el sistema. Al igual que el MTBF, el MTTR se expresa en unidades de horas. Como puede apreciarse en la ecuacin 2, el MTTR incide en la disponibilidad, pero no en la confi abilidad. A mayor MTTR, peor es el sistema. Para simplificar, si un sistema tarda ms en recuperarse ante una falla, tendr menor disponibilidad. La frmula que se detalla a continuacin ilustra cmo la disponibilidad general de un sistema se ve afectada tanto por el MTBF como por el MTTR. Si aumenta el MTBF, aumenta la disponibilidad. Si aumenta el MTTR, disminuye la disponibilidad.
Disponibilidad =
MTBF ( MTBF + MTTR)
Ecuacin 2
Para que las ecuaciones 1 y 2 sean vlidas, debe partirse de un supuesto bsico al analizar el valor de MTBF de un sistema. A diferencia de los sistemas mecnicos, muchsimos de los sistemas electrnicos no estn compuestos por partes mviles. Como consecuencia, suele aceptarse que los componentes o sistemas electrnicos presentan tasas de fa llas constantes durante la vida til operativa. La figura 1, denominada curva en forma de baera de la tasa de fallas, ilustra el origen de este supuesto de que la tasa de fallas es constante, segn ya se mencion. El "perodo operativo normal" o perodo de vida til" de esta curva es la etapa en la que un producto est en uso concreto. Entonces se mide la calidad del producto con respecto a una tasa de fallas constante en relacin con el tiempo. En esta etapa el origen de las fallas puede incluir defectos no detectables, bajos factores de seguridad en el diseo, tensin aleatoria mayor de la esperada, factores humanos y fallas naturales. Con perodos holgados para pruebas de envejecimiento de componentes por parte de los fabricantes, el mantenimiento adecuado y el reemplazo proactivo de partes desgastadas, debera evitarse el tipo de curva rpida de deterioro que representa el "perodo de desgaste". El anlisis anterior brinda un panorama de los conceptos y las diferencias entre confiabilidad y disponibilidad, y permite la interpretacin adecuada del valor de MTBF. En la siguiente seccin, se analizan los distintos mtodos de prediccin del MTBF.
Figura 1 Curva en forma de baera que ilustra la tasa de fallas constante

Perodo anticipado de fallas Perodo operativo normal Perodo de desgaste
Tasa de fallas
Zona de tasa de fallas constante 0
Tiempo
Mtodos de prediccin y clculo de valores de MTBF

A menudo los trminos prediccin y clculo se utilizan indistintamente; sin embargo, no es correcto. Los mtodos que predicen el MTBF calculan un valor basado nicamente en un diseo de sistema, en general, realizado previamente en el ciclo vital del producto. Los mtodos de prediccin tienen utilidad cuando los datos concretos son escasos o inexistentes, como en el caso del trasbordador espacial o nuevos diseos de productos. De haber datos concretos suficientes, no deberan aplicarse los mtodos de prediccin. En vez de estos, habra que recurrir a mtodos que calculan el MTBF porque representan mediciones concretas de las fallas. Los mtodos que calculan el MTBF estiman un valor basado en una muestra de sistemas similares observados, en general, realizados despus de que se ha instalado una gran cantidad de sistemas en entornos concretos. Los mtodos de clculo de MTBF son los ms utilizados para valores de MTBF, principalmente porque se basan en productos reales que estn sometidos a uso concreto.
Todos estos mtodos son de ndole estadstica, lo cual significa que brindan solo una aproximacin al verdadero valor de MTBF. Ningn mtodo se estandariza en toda una industria. Por lo tanto, es vital que el fabricante comprenda y seleccione el mejor mtodo para la aplicacin en cuestin. Los mtodos que se presentan a continuacin, aunque no constituyen la lista completa, ilustran la amplitud de maneras en que se puede obtener un valor de MTBF.
Mtodos de prediccin de confiabilidad

Los primeros mtodos de prediccin de confiabilidad surgieron en la dcada de 1940, gracias a un cientfico alemn de apellido Von Braun y a un matemtico alemn llamado Eric Pieruschka. Mientras
intentaba mejorar diversos problemas de confiabilidad del cohete V-1, Pieruschka asisti a Von Braun en la confeccin de un modelo de confiabilidad para su cohete y as se cre el primer modelo de confiabilidad prospectivo moderno que se haya documentado. Luego, con el crecimiento de la industria nuclear, la NASA aport mayor madurez en el campo del anlisis de confiabilidad. Hoy en da, contamos con numerosos mtodos para predecir el MTBF.
MIL-HDBK 217
Publicado por el ejrcito estadounidense en 1965, se cre el Manual Militar 217 con el fi n de proporcionar un estndar para el clculo de la confiabilidad de equipos y sistemas electrnicos militares de modo de incrementar la confiabilidad de los equipos que se disearan. Sent las bases para comparar la confiabilidad de dos o ms diseos similares. El Manual Militar 217 tambin se denomina Mil Standard 217 o, simplemente, el 217. Segn el 217, existen dos maneras de predecir la confiabilidad: la Prediccin por conjuntos y la Prediccin por anlisis del esfuerzo de las partes.
La Prediccin por conjuntos suele utilizarse para predecir la confiabilidad de un producto en una etapa inicial del ciclo de desarrollo a fin de obtener un clculo de confiabilidad aproximado con respecto al objetivo o especificacin de confiabilidad. Se calcula una tasa de fallas contando los componentes similares de un producto (por ejemplo, capacitores) y agrupndolos en los distintos tipos de componentes (por ejemplo, condensadores de pelcula). Luego, se multiplica la cantidad de componentes de cada conjunto por una tasa de fallas genrica que se encuentra en el manual 217. Por ltimo, se renen las tasas de fallas de los distintos conjuntos de componentes para obtener la tasa de fallas final. Por definicin, este mtodo presupone que todos los componentes estn conectados en serie y requiere que se calculen en forma separada las tasas de fallas para componentes no conectados en serie.
La Prediccin por anlisis del esfuerzo de las partes suele utilizarse mucho ms tarde en el ciclo de desarrollo del producto, una vez que el diseo de los circuitos y el hardware estn a punto de entrar en produccin. Es similar al mtodo por conjuntos, ya que implica una sumatoria de tasas de fallas. Sin embargo, en este mtodo, la tasa de fallas de cada uno de los componentes se calcula en forma individual segn los niveles de esfuerzo especficos a los que se someter cada componente (por ejemplo, humedad, temperatura, vibracin, tensin). Para asignar los niveles de esfuerzo adecuados para cada componente, deben documentarse y comprenderse a fondo el diseo del producto y el entorno esperado. El mtodo por esfuerzo suele arrojar una tasa de fallas inferior a la del mtodo por conjuntos. Por el nivel de anlisis que exige este mtodo, consume mucho tiempo en comparacin con otros.
En la actualidad, rara vez se utiliza el mtodo 217. En 1996, el ejrcito estadounidense anunci que debera discontinuarse el uso del MIL -HDBK-217, ya que se haba "comprobado que no era confiable y su uso
podra arrojar predicciones de confiabilidad errneas y equivocadas"3. El 217 se descart por muchas razones, la mayora de las cuales estn relacionadas con que la confiabilidad de componentes ha experimentado grandes mejoras a tal punto que ya no es la causa principal de fallas en los productos. Las tasas de fallas presentadas en 217 son ms conservadoras (altas) que los componentes comercializados en la actualidad. Una investigacin minuciosa de las fallas en los productos electrnicos de hoy en da revelara que las fallas tenderan a producirse por mala aplicacin (error humano), control de procesos o diseo de producto.
Telcordia
El modelo Telcordia para prediccin de confiabilidad surgi a partir de la industria de las telecomunicaciones y logra imponerse gracias a una serie de modificaciones en el transcurso de los aos. En primer lugar, fue desarrollado por Bellcore Communications Research con el nombre de Bellcore como mtodo para calcular la confiabilidad de los equipos de telecomunicaciones. Si bien Bellcore se basa en el manual 217, sus modelos de confiabilidad (ecuaciones) se modificaron en 1985 de modo de reflejar el desempeo real de sus equipos de telecomunicaciones. La ltima versin de Bellcore fue la TR -332 N 6, de diciembre de 1997. Luego, SAIC adquiri Bellcore en 1997 y lo rebautiz Telcordia. La ltima versin del Modelo de prediccin Telcordia, SR-332 N 1, se public en mayo de 2001 y ofrece una variedad de mtodos de clculo, adems de los del 217. En la actualidad, se sigue aplicando el mtodo Telcordia como herramienta de diseo de productos en esta industria.
HRD5
HRD5 es el Manual de datos de confiabilidad para componentes electrnicos (Handbook for Reliability Data for Electronic Components) que se utiliza en sistemas de telecomunicaciones. Fue desarrollado por British Telecom y se usa principalmente en el Reino Unido. Es parecido al 217 pero no abarca tantas variables ambientales y confecciona un modelo de prediccin de confiabilidad que contempla una amplia variedad de componentes electrnicos, entre ellos, los de telecomunicaciones.
RBD (diagrama de bloques de confiabilidad)

El diagrama de bloques de confiabilidad o RBD es una herramienta de clculo y de esquema representativo utilizada para confeccionar modelos de confiabilidad y disponibilidad para sistemas. La estructura de un diagrama de bloques de confiabilidad define la interaccin lgica de las fallas dentro de un sistema y no necesariamente la conexin lgica o fsica entre ellas. Cada bloque puede representar un componente individual, un subsistema u otra falla representativa. El diagrama puede representar todo un sistema o cualquier subconjunto o combinacin del sistema que requiera un anlisis de fallas, confiabilidad o disponibilidad. Tambin puede servir como herramienta de anlisis para revelar el
Cushing, M., Krolewski, J., Stadterman, T., y Hum, B., 1996, "U.S. Army Reliability Standardization Improvement Policy and Its Impact", IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology, Parte A, Vol. 19, N 2, pp. 277-278
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funcionamiento de cada elemento del sistema o el modo en que cada elemento puede afectar el funcionamiento del sistema en su conjunto.
Modelo de Markov
El mtodo de confeccin de modelos de Markov brinda la capacidad de analizar sistemas complejos, como las arquitecturas e lctricas. Los modelos de Markov tambin se conocen como diagramas de espacioestado o grficos de estado. El espacio-estado se define como un conjunto de todos los estados en los que puede encontrase un sistema. A diferencia de los diagramas de bloques, l os grficos de estado proporcionan una representacin ms precisa del sistema. El uso de grficos de estado tiene en cuenta las relaciones entre fallas de componentes y tambin diversos estados que los diagramas de bloques no pueden representar, por ejemplo, el estado de una unidad UPS cuando funciona a batera. Adems del valor de MTBF, los modelos de Markov brindan una variedad de otras mediciones de los sistemas, entre ellas, la disponibilidad, el valor de MTTR, la probabilidad de encontrarse en algn es tado determinado en determinado momento y muchas otras.
FMEA / FMECA
El FMEA (anlisis de modo de fallas y consecuencias) es un proceso utilizado para analizar los modos de fallas de un producto. Luego se usa esta informacin para determinar el impacto que tendra cada falla en el producto, y as se logra un mejor diseo de producto. El anlisis puede trascender esta funcin y asignar un nivel de gravedad a cada modo de falla. En este caso, se lo denomina FMECA (anlisis de modo de falla, consecuencias y nivel de gravedad). El FMEA se construye desde abajo hacia arriba. Por ejemplo, en el caso de un sistema UPS, el anlisis parte del nivel de placas de circuitos y asciende hasta completar todo el sistema. Adems del uso como herramienta de diseo de productos, puede servir para calcular la confiabilidad general del sistema. Puede resultar difcil obtener los datos de probabilidad de los distintos componentes de los equipos, necesarios para los clculos, en especial si se presentan en diversos estados o modos operativos.
rbol de fallas
El anlisis de rbol de fallas es una tcnica que desarroll Bell Telephone Laboratories para realizar evaluaciones de seguridad del Sistema de control de lanzamiento de misiles Minuteman. Despus se aplic al anlisis de confiabilidad. Los rboles de fallas pueden ser tiles para detallar la va de una circunstancia, ya sea en casos normales como de fallas, que derivan en una falla de los componentes o evento no deseado que est en investigacin (desde abajo hacia arriba). La confiabilidad se calcula convirtiendo un rbol de fallas completo en un grupo de ecuaciones equivalentes. Se logra mediante la aplicacin del lgebra de eventos, que tambin se denomina lgebra booleana. Como el FMEA, los datos probabilsticos para los clculos pueden resultar difciles de obtener.
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HALT
La tcnica de prueba de vida acelerada (HALT) es un mtodo utilizado para incrementar la confiabilidad general de un diseo de producto. Tambin se utiliza para establecer cunto tarda un producto en alcanzar el punto de quiebre, sometindolo a esfuerzos cuidadosamente medidos y controlados, como temperatura y vibracin. Se vale de un modelo matemtico para calcular la cantidad de tiempo real que el producto tardara en fallar en el uso concreto. Si bien HALT sirve para calcular el valor de MTBF, la funcin principal es mejorar la confiabilidad de diseos de producto.
Mtodos para el clculo de confiabilidad

Mtodo de prediccin por elementos similares
Este mtodo ofrece un medio rpido para calcular la confiabilidad basado en datos histricos de confiabilidad de un elemento similar. La eficacia de este mtodo depende mayormente de la similitud entre el equipo nuevo y el existente, del cual se tienen datos concretos. Debe existir similitud entre los procesos de fabricacin, entornos operativos, funciones y diseos de los productos. En productos que evolucionan con el tiempo, este mtodo de produccin es especialmente til ya que aprovecha la experiencia concreta del pasado. Sin embargo, deben investigarse con sumo cuidado las diferencias y quedar reflejadas en la prediccin final.
Mtodo de medicin de datos concretos

Este mtodo se basa en la experiencia real de los productos. Quiz sea el ms utilizado por los fabricantes, ya que es parte integral del programa de control de calidad de la fbrica. Estos programas suelen denominarse Gestin de crecimiento de confiabilidad. Al rastrear la tasa de fallas de productos en uso concreto, los fabricantes pueden identificar y solucionar rpidamente los problemas e ir e liminando defectos de los productos. Dado que se basa en fallas concretas, este mtodo contempla modos de falla que los mtodos de prediccin suelen excluir. El mtodo consiste en rastrear una muestra poblacional de nuevos productos y reunir los datos de l as fallas. Una vez recabados estos datos, se calculan los valores de MTBF y la tasa de fallas. La tasa de fallas es el porcentaje de una poblacin de unidades que se espera que "fallen" en un ao calendario. Adems de utilizar estos datos para control de calidad, tambin se usan para brindar a clientes y vendedores informacin acerca de la confiabilidad del producto y los procesos de calidad. Al emplearse tanto entre los fabricantes, sirven de base para comparar valores de MTBF. Estas comparaciones permiten que los usuarios evalen las diferencias de confiabilidad relativa entre productos, lo cual ofrece una herramienta para la toma de decisiones de compra o determinacin de especificaciones. Como en toda comparacin, es fundamental que las variables crticas sean las mismas en todos los sistemas que se comparen. De lo contrario, es probable que se tomen decisiones equivocadas que podran provocar un impacto econmico negativo. Si desea ms informacin sobre comparacin de valores relativos de MTBF, consulte el Informe interno N 112 de APC, Comparaciones eficaces de valores MTBF para infraestructuras de centros de datos.
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Conclusiones
MTBF es una sigla de moda que se acostumbra utilizar en la industria informtica. Se publican cifras sin comprender qu expresan en realidad. Si bien el MTBF es un indicador de confiabilidad, no representa la vida operativa que se espera de un producto. Por ltimo, los valores de MTBF carecen de sentido sin una definicin de falla y con supuestos poco razonables o ausentes.
Referencias
1. Pecht, M.G., Nash, F.R., Predicting the Reliability of Electronic Equipment, Proceedings of the IEEE, Vol. 82, N 7, julio de 1994 2. 3. 4. 5. Leonard, C., MIL-HDBK-217: Its Time to Rethink It, Electronic Design, 24 de octubre de 1991 http://www.markov-model.com MIL-HDBK-338B, Electronic Reliability Design Handbook , 1 de octubre de 1998 IEEE 90 Institute of Electrical and Electronics Engineers, IEEE Standard Computer Dictionary: A Compilation of IEEE Standard Computer Glossaries. New York, NY: 1990
Acerca de los autores:

Wendy Torell es Ingeniero en Disponibilidad en la planta de APC en W. Kingston, Rodhe Island. Brinda asesoramiento a los clientes respecto de los enfoques cientficos sobre disponibilidad y prcticas de diseo para optimizar la disponibilidad de los entornos de los centros de datos. Recibi el ttulo de Bachelor en Ingeniera Mecnica del Union College, en Schenectady, NY. Wendy cuenta con una certificacin de la ASQ en el campo de la ingeniera en confiabilidad.
Victor Avelar es Ingeniero en Disponibilidad en APC. Es el responsable de proveer asesoramiento y anlisis sobre la disponibilidad para las arquitecturas elctricas y el diseo de los centros de datos de los clientes. Victor recibi el ttulo de Bachelor en Ingeniera Mecnica del Rensselaer Polytechnic Institute en 1995 y es miembro de ASHRAE y la American Society for Quality.
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Qu es una falla? Cules son los supuestos?

Definicin de confiabilidad, disponibilidad, MTBF y MTTR

MTBF ( MTBF + MTTR)

Figura 1 Curva en forma de baera que ilustra la tasa de fallas constante

Zona de tasa de fallas constante 0

Mtodos de prediccin y clculo de valores de MTBF

Mtodos de prediccin de confiabilidad

RBD (diagrama de bloques de confiabilidad)

Mtodos para el clculo de confiabilidad

Mtodo de medicin de datos concretos

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