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CAPTULO 5

MEDIDA DE GRANDEZAS NO ELCTRICAS POR VIA ELCTRICA

Captulo 5

Medida de Grandezas No-Elctricas por Via Elctrica 5.1 INTRODUO Existem quatro blocos fundamentais em que podemos dividir, do ponto de vista funcional, um instrumento de medida: transdutor; condicionador de sinal; transmisso; processamento e representao. Na Figura 5.1 encontra-se representado o diagrama de blocos funcional de um instrumento de medida.
Medida Transdutor Condicionador de sinal Transmisso (telemetria) Processamento Representao

Grandeza fsica

Fluxo de informao

Figura 5.1- Diagrama de blocos funcional de um instrumento de medida.

O transdutor transforma a informao da grandeza fsica a medir (mensurando) num sinal que lhe proporcional e que dever ser compatvel com as caractersticas de entrada do condicionador de sinal. Dado o desenvolvimento e as vantagens associadas ao condicionamento (analgico ou digital) de sinais elctricos, a grande maioria dos transdutores so do tipo elctrico sendo o sinal na sua sada uma tenso ou corrente elctrica proporcional grandeza fsica que se pretende medir. O condicionador de sinal efectua um conjunto de operaes que tm por objectivo aumentar a sensibilidade ou resoluo da medida. usualmente efectuado com circuitos elctricos ou electrnicos que efectuam o tratamento do sinal de sada dos transdutores e cujas funes incluem tipicamente: amplificao; converso tenso-corrente; converso corrente-tenso;

converso carga-tenso; adaptao de nvel e de impedncias; linearizao; isolamento galvnico; filtragem; converso analgico-digital. A transmisso de dados distncia utilizada quando a grandeza a medir (mensurando) est afastada do ponto de observao ou de representao da medida (telemedida). A adaptao do sinal ao meio de transmisso

5.1

efectuada geralmente com base em tcnicas de modulao sendo a sua recuperao obtida com base na tcnica inversa da anterior, denominada desmodulao. A modulao e desmodulao so utilizadas quer quando a transmisso de um sinal no pode ser efectuada em banda de base (conjunto de frequncias que contribuem para a sua definio) quer quando se impe minimizar a distoro devida transmisso. O bloco de processamento e representao efectua o tratamento de dados de modo a representar o valor da medida da forma mais adequada num visor (display), impressora ou registador.

A converso da grandeza fsica (ex: temperatura, presso, deslocamento, acelerao) num sinal elctrico (ex: tenso, corrente, carga) representativo, determinante na caracterizao de um sistema de medida, fazendo do transdutor um elemento fundamental na caracterizao de um instrumento de medida. Actualmente o prprio transdutor pode incluir circuitos para processamento de sinal e fornecer informao do tipo analgica ou digital. Neste caso as funes desempenhadas pelo transdutor incluem o condicionamento de sinal. Este tipo de transdutores so designados por transdutores inteligentes (Smart or intelligent sensors) e alguns deles podem ser interligados directamente a uma rede de comunicao de dados (ex: Field Bus). Do ponto de vista tecnolgico alguns transdutores utilizam tcnicas idnticas s utilizadas no fabrico de circuitos integrados. Estes transdutores so designados por transdutores integrados. Para estes transdutores, as dimenses e capacidades parasitas que se obtm tm um valor muito reduzido, permitindo a utilizao de ritmos de processamento de sinal muito elevados. Este processamento, podendo ser analgico ou digital, na grande maioria das aplicaes do tipo digital por motivo das vantagens associadas quer do ponto de vista de implementao quer do ponto de vista da exactido e flexibilidade que possvel obter no tratamento da informao digitalizada.

5.2 PARMETROS DE SELECO DE UM TRANSDUTOR A escolha de um transdutor para uma determinada aplicao deve ter em considerao as caractersticas estticas e dinmicas requeridas face aos
5.2

objectivos que se pretendem alcanar. Os objectivos podero estar relacionados com diferentes caractersticas do transdutor podendo ser determinado pela exactido da medida ou por outros aspectos importantes para o fim em vista, como por exemplo a robustez necessria face s condies ambientais de utilizao. portanto conveniente definir de uma forma clara as principais

caractersticas que podero determinar a escolha de um transdutor.

Sensibilidade A sensibilidade definida pelo quociente entre a variao do sinal de sada e a variao unitria do sinal de entrada.

Alcance (Range) O alcance ou campo de medida definido pelo intervalo de variao da grandeza fsica em que se pode aplicar um determinado transdutor.

Exactido (Accuracy) A exactido definida pela amplitude mxima dos erros estticos ou dinmicos associados com a utilizao de um determinado transdutor.

Preciso A preciso definida pela repetibilidade dos valores medidos quando o transdutor utilizado em condies de medida equivalentes (mesmo valor da grandeza a medir, mesmo mtodo de medida, mesmo utilizador, mesmas condies ambientais).

Resoluo A resoluo o intervalo mnimo de variao da grandeza fsica a medir ao qual est associado uma variao do sinal de sada do transdutor.

Reprodutibilidade A reprodutibilidade definida pela repetibilidade dos valores medidos quando o transdutor de medida utilizado em condies de medida diferentes mas

5.3

para um mesmo valor da grandeza a medir. Uma das causas mais comum para variao dos valores medidos a variao das condies ambientais ou o prprio envelhecimento do transdutor. O efeito negativo destas variaes pode ser minimizado utilizando calibraes peridicas do transdutor.

Caractersticas do sinal de sada As caractersticas dos sinal de sada do transdutor so definidas usualmente pela grandeza elctrica disponvel na sada do transdutor e pela sua impedncia de sada. Estas caractersticas devem ser compatveis com as caractersticas de entrada do sistema de medida ou controlo associado ao transdutor.

Rudo A amplitude do rudo na sada do transdutor deve ser adequado em funo da relao sinal-rudo que se pretende obter. Tcnicas de filtragem ou deteco sncrona podero ser necessrias para aumentar a relao sinalrudo do sinal de sada do transdutor.

Resposta em frequncia O transdutor deve apresentar um erro inferior a um determinado limite, definido pela sua exactido, em toda a banda de frequncias da grandeza a medir. O limite inferior da banda de frequncias tipicamente zero, uma vez que a grandeza a medir muitas vezes constante no tempo ou tem um ritmo de variao muito reduzido.

Alimentao elctrica Esta caracterstica tpica dos transdutores passivos e define o tipo de alimentao elctrica, em tenso ou corrente, e as exigncias de potncia para o correcto funcionamento do transdutor.

Condies ambientais Os transdutores reagem no apenas grandeza a medir mas tambm a outras grandezas fsicas que os influenciam. Duas destas grandezas de

5.4

influncia so a temperatura e a humidade. O funcionamento do transdutor fora da condies ambientais requeridas afecta a sua exactido e pode conduzir em situaes extremas sua prpria destruio. O efeito das grandezas de influncia pode no entanto ser minimizado com a utilizao de transdutores adicionais de compensao. Custo Do ponto de vista da escolha evidente que o custo tambm um factor determinante na seleco de um transdutor. Sob este ponto de vista deve ser seleccionado o transdutor mais barato que satisfaa os requisitos de medida. No entanto, muitas vezes no escolhido o transdutor mais barato que satisfaz os requisitos de medida dando-se preferncia ao fabricante por motivos de maior garantia nas caractersticas especificadas. Este

procedimento no deve no entanto ser regra pois poder ser responsvel por uma escolha menos apropriada do transdutor.

5.5

5.3 Mtodos bsicos para reduo de erros em sistemas de medida com transdutores Os transdutores no so ideais. Eles reagem no apenas grandeza que se pretende medir mas tambm a outras grandezas que os influenciam. Quer sejam activos ou passivos, os transdutores geram rudo internamente que pode at alterar a prpria grandeza fsica que se pretende medir (loading effect). Para alm do rudo interno, podem captar rudo electromagntico ambiental e aumentar por essa via a distoro do sinal de medida. Vamos analisar trs mtodos elementares para reduzir os erros de medida com origem nos transdutores.

5.3.1 Utilizao de transdutores diferenciais Este tipo de transdutores permite linearizar a caracterstica de transferncia esttica de transdutores cujo comportamento isolado seria fortemente no linear. Um transdutor diferencial consiste na associao de dois transdutores idnticos de forma a que a grandeza a medir produza efeitos de sinal oposto em cada um deles e as grandezas de influncia produzam efeitos de sinal idntico em ambos os transdutores. O vez que o sinal processado pelo condicionador corresponde diferena dos sinais gerados por cada um dos transdutores, consegue-se duplicar a sensibilidade do sistema de medida e simultaneamente minimizar o efeito de perturbao das grandezas de influncia. Iremos de seguida exemplificar, de forma analtica, as vantagens associadas utilizao de um transdutor diferencial. Exemplo: Considerando que um transdutor, na ausncia de grandezas de influncia, tem uma resposta grandeza a medir (x) dada por:
f ( x ) = k1 1 x0 + x

(5.1)

onde k1 e x0 representam valores constantes e independentes de x, admitindo que o comportamento do transdutor afectado linearmente pela temperatura ambiente (T) e que no existem mais grandezas que o influenciem, a resposta global do transdutor dada por:

g( x , T) = f ( x ) + k 2 (T T0 ) = k1

1 + k 2 (T T0 ) x0 + x

(5.2)

5.6

onde o coeficiente k2 representa a sensibilidade do transdutor a variaes trmicas em relao temperatura ambiente (T0). Se o coeficiente k2 for da mesma ordem de grandeza de k1 e se o transdutor estiver sujeito a variaes de temperatura significativas, a parcela associada variao da resposta do transdutor com a temperatura poder exceder, em valor absoluto, a parcela associada com a variao da grandeza a medir (x). Este facto poder inviabilizar a utilizao do transdutor caso ele seja utilizado isoladamente. Assumindo que o valor de x0 muito maior que x, a sensibilidade do transdutor dada por:
Sg = x dg 1 k x k = k1 1 1 2 1 se x 0 << x 2 2 dx x0 x0 x0 (x 0 + x )2

(5.3)

Considerando que se utilizam dois transdutores em montagem diferencial, a resposta de cada um deles dada por: 1 + k 2 (T T0 ) x0 + x 1 g 2 ( x , T ) = k1 + k 2 (T T0 ) x0 x g1 ( x, T) = k1

(5.4)

e o sinal diferencial gD(x) correspondente diferena dos sinais de sada de cada um dos transdutores dado por:

g D ( x ) = g1 ( x, T) g 2 ( x, T) = k1

1 1 k1 x0 + x x0 x

(5.5)

A expresso anterior permite concluir que a parcela de erro associada grandeza de influncia (T) cancelada e que a sensibilidade do transdutor diferencial dada por:
2 dg D d 2x 2k1 x 2k k1 2 2 1 + 21 se x 0 << x = = 2 x dx dx x0 x x0 0 x0

Sg D x

(5.6)

Comparando as expresses (5.3) e (5.6) verifica-se que a sensibilidade do transdutor duplicou e simultaneamente que o erro de linearidade diminuiu, uma vez que para valores de x muito inferiores a x0:
x x << x x0 0
2

(5.7)

Como concluso podemos referir que a utilizao de transdutores diferenciais permite: reduzir o erro das grandezas de influncia, linearizar as

5.7

caractersticas do transdutor e aumentar a sua sensibilidade. Como grandezas de influncia podemos referir as condies ambientais (presso, temperatura, humidade), variaes de frequncia e contedo harmnico da prpria tenso de alimentao.

5.3.2 Utilizao de transdutores de compensao Este mtodo pode ser utilizado se existir uma grandeza de perturbao dominante que afecta a resposta do transdutor. Neste caso, a utilizao de um segundo transdutor idntico ao transdutor de medida mas apenas submetido grandeza de perturbao (transdutor de compensao), pode cancelar os efeitos de variao da resposta causados pela grandeza perturbadora. Se o sinal do transdutor de medida, tambm designado por transdutor activo, for dado por:

ga ( x, T) = k1x + k 2 ( T T0 )
perturbao.

(5.8)

onde x representa a grandeza a medir e T representa a grandeza de

Caso seja utilizado um transdutor de compensao, apenas submetido grandeza de perturbao, o seu sinal de sada dado por:

gc ( T) = ga ( x, T) x =0 = k 2 ( T T0 )

(5.9)

Subtraindo ao sinal do transdutor activo o sinal do transdutor de compensao, o sinal de sada dado por: g( x) = ga ( x, T) gc ( T) = k1x sendo anulado o efeito da grandeza de perturbao. de realar que a utilizao deste mtodo exige que os transdutores utilizados tenham caractersticas de transferncia linear para que o efeito subtractivo no altere a relao entre o sinal de sada do transdutor e a grandeza a medir. Exemplo: se os sinais de sada do transdutor activo e do transdutor de compensao forem dados respectivamente por:
ga ( x, T) = k1 + k 2 ( T T0 ) x0 + x

(5.10)

(5.11)

5.8

gc ( T ) =

k1 + k 2 ( T T0 ) x0

(5.12)

neste caso subtraindo ao sinal do transdutor activo o sinal do transdutor de compensao, obtemos:
g ( x ) = g a ( x , T ) g c (T ) = k1 x x0 + x x0

(5.13)

Da anlise da expresso anterior podemos concluir que o factor multiplicativo (x/x0) altera o comportamento do transdutor em relao ao seu

comportamento isolado e essa alterao pode-se traduzir numa diminuio do sinal de sada significativa, ou seja numa diminuio de sensibilidade, caso se tenha x<<x0. Para terminar convm referir que para que esta tcnica seja efectiva e se possa aplicar a vrias grandezas de perturbao, o efeito destas grandezas na resposta do transdutor dever ser aditivo sendo o nmero de transdutores de compensao igual ao nmero de grandezas de perturbao.

5.3.3 Correco do erro de resposta dinmica de um transdutor

Este mtodo pode ser utilizado quando a resposta dinmica de um transdutor conhecida. Sendo essa resposta de uma forma geral do tipo passa-baixo com um plo dominante, a funo de resposta em frequncia dada por:
G ( j ) = k 1 + j / c

(5.14)

onde k representa o ganho esttico e c representa a frequncia de corte associada a uma atenuao de 3 dB. A associao em cascata do transdutor com um filtro passa-alto pode permitir uma melhoria da resposta em frequncia do transdutor custa de uma reduo do seu ganho esttico. Representa-se na Figura 5.2 a associao em cascata de um transdutor com um filtro RC do tipo passa-alto utilizado para reduzir o erro de resposta dinmica de um transdutor.

5.9

TRANSDUTOR 1 1+ j /c

FILTRO C R1 R2

Figura 5.2 - Correco do erro de resposta dinmica de um transdutor

utilizando um filtro passa-alto.

A funo de resposta em frequncia da associao do transdutor com o filtro dada por: H( j ) = G( j ). G F ( j ) (5.15)

onde GF(j) representa a funo de resposta em frequncia do filtro que dada por: G F ( j ) = R2 1 + jR1C1 R 2 1 + jR1C1 = R1 + R 2 1 + j R1. R 2 C R1 + R 2 1 + jR PC1 1 R1 + R2
(5.16)

onde RP representa a resistncia equivalente associao paralelo de R1 e R2. Admitindo que os efeitos de carga so nulos a funo de transferncia da associao em cascata do transdutor e do filtro finalmente dada por:
H( j ) = k R 2 1 + jR1C1 1 + j / c R1 + R 2 1 + jR PC1

(5.17)

Se fizermos R1C1=1/c, de (5.17) podemos obter:


H( j ) = R2 k k' = ' R1 + R 2 1 + jR PC1 1 + j / c

(5.18)

onde, k ' = k

1 R2 R .R , 'c = e RP = 1 2 . R1 + R 2 R PC1 R1 + R 2 'c R = 1+ 1 c R2 k' R2 = k R1 + R2

Das expresses anteriores possvel obter: (5.19)

(5.20)

Pelo que podemos concluir que o mtodo apresentado permite aumentar a frequncia de corte custa de uma reduo do ganho esttico do transdutor uma vez que o valor de (5.19) sempre superior unidade e o valor de

5.10

(5.20) sempre inferior unidade. tambm possvel verificar que vlida a seguinte relao:
'c k ' = c k

(5.21)

ou seja que se mantm constante o produto do ganho pela largura de banda, que no caso de um filtro passa-baixo corresponde frequncia de corte. O limite de utilizao deste tipo de correco determinado pelo nvel do rudo do sinal sada do transdutor. De uma forma geral, o factor de ganho, em termos de largura de banda, inferior centena. Este mtodo tambm pressupe um valor constante e conhecido da frequncia de corte caracterstica do transdutor (c). Se este valor variar no tempo a eficcia deste mtodo diminui uma vez que o cancelamento entre o plo e o zero, da funo de resposta em fequncia (5.17), deixa de se verificar.

5.3.4 Concluses

Para alm dos trs mtodos anteriormente referidos, existem outros que permitem reduzir os erros dos transdutores, nomeadamente: utilizao de circuitos com retroaco, linearizao srie e utilizao de tcnica de modulao e desmodulao. Os transdutores inteligentes podem utilizar processamento digital de sinal ou circuitos adicionais para verificar e auto-corrigir erros de offset e ganho, efectuar a linearizao da caracterstica de resposta, efectuar autocalibrao, estabelecer de forma automtica os limites de medida (alcance), efectuar a filtragem do sinal de sada aumentando a sua relao sinal-rudo e efectuar a correco da resposta em frequncia sem afectar o ganho esttico do transdutor.

5.11

5.4 Circuitos de medida Transdutores resistivos

As variaes de resistncia neste tipo de transdutores podem ser provocadas por aco mecnica ou por aces no-mecnicas que afectem o valor da resistncia intrnseca do transdutor. Os circuitos de medida utilizados so os usualmente utilizados para medida de resistncias e consistem, em geral, em pontes de Wheatstone ou fontes de corrente calibradas. Os erros causados pelas resistncias dos fios de ligao e da sua variao com a temperatura, se forem significativos, podem ser minimizados com a utilizao de ligaes a trs ou quatro fios do transdutor.

5.4.1 Transdutor potenciomtrico

Estes transdutores so utilizados para medida de deslocamentos lineares ou angulares. O potencimetro pode ser alimentado por uma fonte de corrente ou por uma fonte de tenso e a varivel de sada do transdutor corresponde tenso elctrica entre o terminal de referncia do potencimetro e o seu ponto mdio (cursor). Iremos de seguida analisar a forma como varia a tenso de sada do transdutor alimentado por uma fonte de tenso (E) em funo da grandeza a medir (x) e da resistncia do voltmetro de medida (RV). O circuito de medida encontra-se representado na Figura 5.3.

E + _

RP

UV R

V RV

Figura 5.3 - Circuito de medida de um transdutor potenciomtrico alimentado

por uma fonte de tenso.

5.12

Sendo RV o valor da resistncia interna do voltmetro e admitindo uma relao de proporcionalidade directa entre o valor da resistncia R e o valor da grandeza a medir (x), tem-se:
R = kx

(5.22)

O valor total da resistncia do potencimetro (RP) est associado ao valor mximo da grandeza a medir dado por:
x max = RP k R RP

(5.23)

De (5.22) e (5.23) concluimos que se tem:


x x max =

(5.24)

Aplicando a lei de Ohm ao circuito da Figura 5.3 e considerando que temos R<<RV possvel obter:
UV R RP R E 1 R V x RP E 1 x RV max

(5.25)

Utilizando o resultado obtido em (5.24) obtem-se:


UV x x max

(5.26)

Do resultado obtido podemos concluir que o valor finito da resistncia interna do voltmetro introduz um erro de linearidade proporcional relao RP/RV. Uma forma possvel de minimizar este tipo de erro consiste em utilizar o circuito representado na Figura 5.4 que utiliza um amplificador operacional (AMPOP) na interligao do voltmetro ao circuito de medida.

+Vcc + -

E + _

RP

-Vcc

UV

V RV

Figura 5.4 - Minimizao do erro causado pela resistncia interna do

voltmetro num circuito de medida de um transdutor potenciomtrico alimentado por uma fonte de tenso.

5.13

Para minimizar o efeito dos fios de ligao do transdutor pode ser utilizada a ligao em ponte de Wheatstone representada na Figura 5.5.

RW R1 E + _ R1 UD
+Vcc + -

U0

RW R RW RP

-Vcc

Figura 5.5 - Ligao de um transdutor potenciomtrico a trs fios numa

configurao em ponte de Wheatstone (RW- resistncia dos fios de ligao, kganho do amplificador de instrumentao).

Nestas circunstncias consegue-se minimizar a influncia da resistncia dos fios da ligao uma vez que a derivada da tenso UD em relao a RW se anula para R=RP/2, ou seja, para x=xmax/2 (valor mdio da grandeza a medir).
Verificao do anulamento da derivada dUD/dRW para R=RP/2

Aplicando a lei de Ohm ao circuito da Figura 5.5 possvel obter:


1 R + RW U D = E 2 R + 2R P W

(5.27)

Derivando a expresso anterior em ordem a RW obtem-se:


dU D R P 2R = E dR W (R P + 2R W )2

(5.28)

O anulamento da derivada anterior para R=RP/2 garante a minimizao do valor quadrtico mdio do erro de medida causado pelo valor finito dos fios da ligao. A mesma concluso podia ser obtida tendo em conta que para R=RP/2, o equilbrio da ponte de Wheatstone no alterado ao adicionarmos resistncias de valor igual (RW) a dois braos contguos da ponte.
5.4.2 Transdutores resistivos de temperatura

5.14

A dependncia com a temperatura de um condutor metlico pode ser descrita pela seguinte aproximao polinomial:
+ R (T) = R 0 1 + 1 (T T0 ) + 2 (T T0 )2 + 3 (T T0 )3 + ... = R 0 1 + i (T T0 )i (5.29) i =1

onde R0 representa o valor da resistncia para uma temperatura T0 e os coeficientes i representam os coeficientes da aproximao polinomial, correspondentes variao da resistncia com a temperatura, caractersticos do material utilizado na RTD (Resistive Temperature Detector). Como nos casos usuais se tem:
i +1 < 103, i i

(5.30)

aceitvel a aproximao linear para o polinmio definido em (5.29) desde que as variaes sejam inferiores a um determinado limite e abaixo de um limite de preciso pr-definido. Neste caso aceitvel a seguinte aproximao:

R (T) = R 0 [1 + 1 (T T0 )]

(5.31)

As RTDs mais utilizadas so as de platina ou nquel (Pt100, Ni100) mas na sua utilizao em circuitos de medida convm que as correntes utilizadas sejam inferiores a 10 mA para minimizar os erros de auto-aquecimento por efeito de Joule. Os circuitos de medida mais vulgarizados para RTDs consistem na utilizao de fontes de corrente ou pontes de Wheatstone. No primeiro caso a leitura da tenso aos terminais da RTD por meio de um voltmetro d-nos uma indicao da temperatura. Representa-se na Figura 5.6 o circuito de medida para uma RTD com base em fonte de corrente.

R(T)

UV

V RV I<10 mA

Figura 5.6 - Circuito de medida para uma RTD com base em fonte de

corrente.

5.15

Aplicando a lei de Ohm ao circuito da Figura 5.6 e considerando que temos R<<RV possvel obter:
R (T ) I U V R (T )1 RV

(5.32)

Tal como foi referido anteriormente, a utilizao de um seguidor de tenso na ligao ao voltmetro ou a utilizao de um voltmetro de alta impedncia reduz os erros associados ao valor finito da resistncia interna do voltmetro. Utilizando um circuito de medida com base numa ponte de Wheatstone usual compensar o efeito da resistncia dos fios de ligao (RW). Representase na Figura 5.7 o circuito de medida em ponte de Wheatstone para uma RTD com ligao a dois fios.

R E + _ R1

R RC

RW R(T)

RW

Figura 5.7 - Circuito de medida em ponte de Wheatstone utilizando uma RTD

com ligao a dois fios. No circuito da Figura 5.7 o valor da resistncia de compensao (RC) ajustado de modo a que a associao srie desta resistncia com a resistncia dos fios da ligao tenha um valor fixo que usualmente de 20 , ou seja:

RC + 2 RW = 20
o equilbrio da ponte para uma dada temperatura T=T0 verifica-se se:

(5.33)

Nestas circunstncias se desprezarmos a variao com a temperatura de RW,

R( T0 ) + 2 R W + R C = R1 R( T0 ) + 20 = R1

(5.34)

5.16

No caso da RTD do tipo Pt100, o equilbrio da ponte para uma temperatura T0=0C verifica-se para um valor de R1=120 . Para grandes distncias entre a RTD e o circuito de medida, o efeito da variao com a temperatura de RW pode no ser desprezvel sendo conveniente uma ligao da RTD a trs fios. Representa-se na Figura 5.8 o circuito de medida em ponte de Wheatstone para uma RTD com ligao a trs fios.

R + _ E RC R W (T) R1 RC R W (T) R(T)

R W (T)

Figura 5.8 - Circuito de medida em ponte de Wheatstone utilizando uma RTD

com ligao a trs fios.

Neste caso a condio de equilbrio para uma determinada temperatura (T0) no depende do valor de RW e verifica-se para:

R( T0 ) = RC + R1

(5.35)

e o efeito da resistncia dos fios da ligao e da sua variao com a temperatura so automaticamente compensados pelo tipo de interligao utilizada.
Uma comparao entre RTDs e termopares

Uma resistncia Pt100 varia 38 para uma variao de temperatura entre 0C e 10C enquanto que para a mesma variao de temperatura a resistncia Ni100 tem uma variao de 62 . Para uma corrente mxima de 10 mA, quelas variaes de resistncia esto associadas variaes de tenso de 380 mV e 620 mV, respectivamente. A variao de tenso de um termopar, para a mesma variao de temperatura, de aproximadamente 5 mV (5.37 mV para um termopar tipo J). As RTDs so portanto cerca de 100

5.17

vezes mais sensveis que os termopares e do ponto de vista da exactido, o erro de uma RTD cerca de uma ordem de grandeza inferior ao erro dos termopares. A 20C uma Pt100 de classe A tem uma tolerncia de 0,19C enquanto que um termopar tipo K de classe 2 tem uma tolerncia de 2,5C. Como desvantagem, as RTDs apresentam uma resposta mais lenta a variaes de temperatura e, devido s suas dimenses, fazem uma medida do valor da temperatura mdia. As maiores vantagens dos termopares, em relao s RTDs, consistem na sua melhor resposta dinmica, na sua capacidade de efectuar medidas de temperatura pontuais e no seu maior alcance de medida. Exemplo: dimensione o valor de R, no circuito a seguir representado, de modo a que a corrente na Pt100 seja de 5 mA para uma temperatura T=T0=0C. Considere que E=5 V, R1=120 , RC+2RW=20 .

R E + _ R1 I RW
Pt100

R RC RW

R(T)
Figura 5.9 - Dimensionamento da resistncia R num circuito de medida em

ponte de Wheatstone que utiliza uma resistncia PT100 interligada a dois fios. Para T=T0 tem-se R(T0)=100 e portanto:
R 1 = R ( T0 ) + R C + 2 R W

(5.36)

Uma vez que a ponte est em equilbrio o valor da corrente I que percorre a resistncia Pt100 dado por:
I= E R + R1

(5.37)

Para que a corrente I seja igual a 5 mA devemos ter: R=880 (5.38)

5.18

5.4.3- Termstor

A variao de resistncia dos termstores com a temperatura pode atingir vrios pontos percentuais por grau centgrado. Esta maior sensibilidade est contudo associada a um comportamento fortemente no linear. Os termstores tm geralmente uma variao resistiva negativa com a

temperatura (NTC- Negative Temperature Coefficient) e seguem uma lei de variao do tipo exponencial:
1 1 b T T 0

R (T) = R 0 .e

(5.39)

onde R0 representa o valor da resistncia do termstor para uma temperatura T0 e b um coeficiente caracterstico do material semicondutor que constitui o termstor. A resistncia dos termstores usualmente muito superior das RTDs sendo desprezvel, neste caso, a resistncia dos fios de ligao. Por este facto, os circuitos de medida para termstores so vantajosos para medidas de temperatura a grandes distncias dispensando as tcnicas de ligao a 3 fios anteriormente referidas. Ainda que a linearizao das caractersticas dos termstores possa ser obtida numericamente, vamos analisar dois circuitos analgicos de medida capazes de linearizar a resposta dos termstores a variaes de temperatura. No primeiro caso o circuito de linearizao encontra-se representado na Figura 5.10 e vamos dimensionar o valor da resistncia R de modo a linearizar a resposta em torno da temperatura T=T0.

+Vcc + -Vcc

R(T)

UV

V RV

Figura 5.10 - Linearizao da resposta de um circuito de medida com

termstor utilizando uma resistncia em paralelo.

5.19

Considerando a impedncia de entrada do AMPOP infinita o valor da tenso UV dada por:

U V = R ( T) / / R . I

(5.40)

Para linearizar a resposta do circuito em torno da temperatura T0 vamos impor o anulamento da segunda derivada da tenso UV em ordem a T, para T=T0. O anulamento desta derivada verifica-se para um valor de R igual a:
2

R=2

R ' ( T0 ) R '' ( T0 )

R ( T0 )

(5.41)

onde R(T) e R(T) representam o valor da primeira e segunda derivada de R(T) em ordem a T, respectivamente. Utilizando o variao exponencial definida em (5.39) e substituindo os valores das derivadas em (5.41), obtm-se:
R = R ( T0 ) b 2 T0 b + 2 T0

(5.42)

Para que a linearizao seja possvel, utilizando o mtodo descrito, necessrio que se tenha: b>2T0 uma diminuio de sensibilidade, uma vez que se tem:
d [R (T) // R ] = dR (T) R dT dT R (T ) + R
2

(5.43)

Convm no entanto referir que a linearizao obtida conseguida custa de

(5.44)

sendo o factor multiplicativo da direita inferior unidade. Uma outra forma possvel de linearizar a resposta do termstor, consiste em utilizar o amplificador logartmico representado na Figura 5.11.

R(T)

UR

k ln( ) UV V RV

5.20

Figura 5.11 - Linearizao da resposta de um circuito de medida com

termstor utilizando um amplificador logartmico.

Neste caso, supondo que a resistncia de entrada do amplificador infinita, teremos:


U R = R ( T ). I

(5.45)

Admitindo que, neste caso, se utiliza uma resistncia de coeficiente de temperatura positivo (PTCPositive Temperature Coefficient) cuja

caracterstica de variao dada por:


R (T) = R 0 .e b (T T0 )

(5.46)

a tenso de sada do circuito representado na Figura 5.11 dada por:

U V = k[ln(R 0 I ) + b(T T0 )]

(5.47)

estando representada na Figura 5.12 a respectiva variao em funo de (TT0).

UV /k c (T-T0 )

c=ln(R0I) tg()=b

Figura 5.12 - Variao da tenso UV em funo de (T-T0) para um termstor

PTC inserido num circuito de medida com amplificador logartmico.

5.4.4 Extensmetros

Neste caso o transdutor transforma um deslocamento numa variao de resistncia. Esta variao de resistncia pode ser causada por variao das caractersticas geomtricas ou por variao da resistividade do material que constitui o extensmetro, consoante se utilizam resistncias metlicas ou semicondutores, respectivamente. A resistncia de um condutor metlico dada por:
R= l S

(5.48)

5.21

onde representa a resistividade do material condutor, l representa o comprimento do condutor e S a sua seco. A sensibilidade de um extensmetro (G) definida por:

G=

R R l l

(5.49)

onde R/R representa a variao relativa de resistncia e l/l representa a variao relativa do comprimento do extensmetro que se pressupe ser proporcional grandeza a medir. O factor G aproximadamente igual a dois para extensmetros metlicos e pode atingir valores da ordem das dezenas (50 a 200) para extensmetros de semicondutor. Neste caso, os circuitos de medida tero que ser mais complexos devido s caractersticas no lineares dos extensmetros de semicondutor e sua sensibilidade a grandezas de influncia. So trs as principais grandezas de influncia que afectam a exactido das medidas efectuadas com extensmetros: - variao com a temperatura da resistncia do extensmetro; - efeitos termoelctricos, que geram diferenas de potencial quando existem junes entre materiais diferentes (ex: a fora electromotriz de origem trmica de uma juno cobre-constantan de aproximadamente 47 V/C); - diferentes coeficientes de dilatao trmica entre o material que constitui o extensmetro e o objecto de medida, que so responsveis por foras aparentes de origem trmica. Para compensar as grandezas de influncia usual a interligao de extensmetros de compensao no circuito de medida. Representa-se na Figura 5.13 um circuito de medida em ponte de Wheatstone que utiliza dois extensmetro, um activo e outro de compensao.

R1 E + _ A V R3

R 2(F,T) B R 4 (T)

5.22

Figura 5.13 - Circuito de medida em ponte de Wheatstone com dois

extensmetros (R2- extensmetro activo, R4- extensmetro de compensao). A tenso lida no voltmetro, desprezando o valor finito da sua resistncia interna, dada por:
VAB = R3 R 4 ( T) E E R1 + R 3 R 2 ( F, T) + R 4 ( T)

(5.50)

Admitindo que os dois extensmetros so idnticos e que esto submetidos s mesmas variaes trmicas e considerando que a grandeza a medir nula (F=0), a derivada da tenso VAB em ordem a T nula, o que significa que o circuito da Figura 5.13 compensa os erros causados pela variao de temperatura. A resistncia dos fios de ligao e a sua variao com a temperatura tambm originam erros que se podem tornar significativos quando a distncia entre os extensmetros e a ponte de medida se torna significativa. Nestes casos so frequentemente utilizadas ligaes dos extensmetros a trs e quatro fios. Simultaneamente para aumentar a sensibilidade do circuito de medida so utilizados conjuntos de dois ou quatro extensmetros que funcionam alternadamente traco e compresso. Representa-se na Figura 5.14 um circuito de medida em ponte de Wheatstone que utiliza quatro extensmetros activos, estando dois em traco e os outros dois compresso.

RW R+R R- R R- R R+R

RW E + _ V UV RW

RW
Figura 5.14 - Circuito de medida em ponte de Wheatstone utilizando quatro

extensmetros activos (RW- resistncias dos fios de ligao).

5.23

Desprezando o valor finito da resistncia interna do voltmetro a tenso UV dada por:


UV = E R 2RW + R

(5.51)

Uma forma de minimizar os erros de no linearidade causados por RW consiste em alimentar a ponte de Wheatstone com uma fonte de corrente. Neste caso os extensmetros que esto submetidos a esforos do mesmo tipo (traco ou compresso) devem ser colocados em braos contguos. As pequenas diferenas de resistncia entre os extensmetros existentes mesmo na ausncia de foras aplicadas, leva a que seja necessrio um equilbrio inicial da ponte de Wheatstone. Duas solues so geralmente utilizadas para alcanar esse objectivo: -utilizao de uma resistncia varivel em srie com um dos extensmetros; -utilizao de um brao de equilbrio adicional na ponte de Wheatstone constitudo por resistncias de valor bastante superior dos extensmetros. Representa-se na Figura 5.15 um circuito de medida que utiliza a ltima soluo numa ponte de Wheatstone com dois extensmetros activos.

RW R E + _ R1 RP R R1 RW V R- R RW R+R

Figura 5.15 - Circuito de medida em ponte de Wheatstone utilizando um

brao de balanceamento e dois extensmetros activos (RW- resistncias dos fios de ligao).

Uma vez que a tenso de sada dos circuitos de medida anteriormente representados (Fig. 5.13-5.15) da ordem de grandeza de alguns milivolt, o voltmetro est geralmente ligado por meio de um amplificador de instrumentao. As principais vantagens na utilizao dos amplificadores de instrumentao residem na sua elevada resistncia interna, no seu elevado

5.24

factor de rejeio de modo comum (CMRR) e na sua capacidade de interligao em modo diferencial. A alimentao da ponte de Wheatstone, em tenso ou corrente constante, utiliza frequentemente um amplificador operacional (AMPOP) com realimentao negativa de modo a estabilizar os valores de tenso ou corrente de alimentao. Estas solues podem tambm ser utilizadas nos circuitos de medida para RTDs ou termstores, anteriormente referidos. Representa-se na Figura 5.16 uma ponte de Wheatstone alimentada a corrente constante e que utiliza um amplificador de instrumentao de ganho igual a G. R1=R3=R4=R R2=R+R
+VCC
R2 G R3 R4

R1 RA + -

V0

VZ

RS

-V CC

Figura 5.16 - Circuito de medida com ponte de Wheatstone alimentada a

corrente constante e com amplificador de instrumentao na sada.

Considerando o AMPOP e o amplificador de instrumentao ideais, a tenso de sada V0 dada por:


V0 = G VZ R R 4 RS 1+ 4R

(5.52)

Representa-se na Figura 5.17 o circuito equivalente ao representado na Figura anterior mas com alimentao a tenso constante.

5.25

RA R+ R R- R G R- R R+ R

+VCC

VZ

V0

-V CC
Figura 5.17 - Circuito de medida com ponte de Wheatstone alimentada a

tenso constante e com amplificador de instrumentao na sada.

Neste caso o valor da tenso de sada V0 dado por:


V0 = G . VZ R R

(5.53)

Por vezes so utilizadas tenses alternadas (AC) nas alimentaes das pontes e a utilizao de detectores de fase permite obter a relao de fase entre as tenses e desse modo distinguir o esforo de traco ou compresso aplicado aos extensmetros. Nestes casos torna-se necessrio compensar as capacidades dos extensmetro, especialmente se a frequncia utilizada for elevada. As pontes alimentadas com tenso alternada requerem a utilizao de detectores sintonizados e so aplicadas em medidas estticas e dinmicas at uma frequncia de aproximadamente 1 kHz. Os esquemas de interligao dos extensmetros a trs e quatro fios, representados nas Figuras 5.14 e 5.15, devem tambm ser utilizados nos esquemas das Figuras 5.16 e 5.17 se as distncias dos extensmetros aos circuitos de medida forem significativas.

5.4.5 Transdutores capacitivos

Nestes transdutores o deslocamento utilizado para fazer variar a capacidade de um condensador, que no caso de um condensador plano, dada por:
C= A x

(5.54)

onde representa o permitividade dielctrica, A a rea das armaduras do condensador e x a espessura do dielctrico.

5.26

Se o transdutor utilizar como princpio de medida a variao da espessura do dielctrico a sua sensibilidade dada por:
SC = x dC C = dx x

(5.55)

mostrando a expresso anterior que a sensibilidade mais elevada para pequenos valores de x, exibindo o transdutor um comportamento no linear. A linearizao pode ser obtida com base num transdutor capacitivo diferencial cujo esquema se representa na Figura 5.18.
d d

Figura 5.18 - Transdutor capacitivo diferencial por variao da espessura

do dielctrico (x).

Neste caso um determinado valor de deslocamento x, origina variaes de capacidade simtricas nos dois elementos capacitivos que constituem o transdutor. Considerando que C1 representa a capacidade do condensador que utiliza a armadura esquerda do transdutor representado na Figura anterior e que C2 representa a capacidade do condensador que utiliza a armadura direita, uma variao de posio (x) na armadura mvel ou central, causa uma variao de capacidade dada por:

2x C = C 2 C1 = A d 2 x2
que para valores de x<<d pode ser aproximada por:

(5.56)

2x C = C 2 C1 A d2
a medir (x).

(5.57)

o que traduz uma relao linear entre a variao de capacidade e a grandeza

Representa-se na Figura 5.19 um circuito de medida para um transdutor capacitivo diferencial que utiliza uma configurao em ponte de Wheatstone para correntes alternadas.

5.27

U N1
N1:N2

C1 C2

U N2 2 N1

C1

V
U N2 2 N1

C2

Figura 5.19 - Circuito de medida em ponte de Wheatstone para um

transdutor capacitivo diferencial.

Representando N1 o nmero de espiras do enrolamento primrio e N2 o nmero total de espiras dos dois enrolamentos secundrios o valor da tenso lida pelo voltmetro dado por:
V= N2 U x N1 2 d

(5.58)

O circuito de medida representado na Figura anterior tambm pode ser utilizado numa configurao dual onde o gerador e o detector trocam de posio entre si. Os circuitos de medida para transdutores capacitivos so usualmente pontes em corrente alternada com acoplamento directo ou por transformador. Nos circuitos de medida tambm podem ser utilizados elementos resistivos adicionais de modo a compensar as resistncias de fuga dos elementos capacitivos. Se o transdutor no for do tipo diferencial as variaes de capacidade, em relao ao seu valor nominal, devero ser inferiores a 10% de forma a minimizar os erros de no linearidade. Uma outra forma de realizar circuitos de medida para transdutores capacitivos consiste em utilizar circuitos osciladores cuja frequncia de oscilao seja determinada pelo valor da capacidade do transdutor. Representa-se na Figura 5.20 um circuito de medida para transdutores capacitivos que utiliza um circuito temporizador (Timer 555) em montagem astvel.

5.28

+VCC
RA 7 RB 6 555 2 C 1 0.01 uF 4 8 3 5

V0

Figura 5.20 - Circuito de medida para transdutores capacitivos com base no

temporizador 555 em montagem astvel.

Sendo C a capacidade do transdutor ou do seu paralelo com um condensador adicional, a frequncia de oscilao do sinal V0 dada por:
FOSC 1.44 (R A + 2R B )C
RA + RB % RA + 2R B

(5.59)

e o seu ciclo de trabalho (duty cycle) dado por:


D = 100

(5.60)

5.4.6 Transdutores indutivos

Nestes transdutores o deslocamento, linear ou angular, utilizado para fazer variar a relutncia de um circuito magntico constitudo geralmente por materiais ferromagnticos. Os transdutores indutivos so constitudos geralmente por uma ou mais bobinas e a grandeza a medir (x) convertida numa variao do coeficiente de auto-induo dessa bobina ou do coeficiente de induo mtua entre bobinas. A indutncia de uma bobina depende do seu nmero de espiras (N), das caractersticas geomtricas do circuito magntico e da permeabilidade magntica do ncleo. A lei de variao da indutncia de uma bobina pode ser aproximada pela seguinte expresso:
L= N2 Rm

(5.61)

onde N representa o nmero de espiras e Rm representa a relutncia do circuito magntico.

5.29

O valor da relutncia magntica dado por:


Rm = 1 l A

(5.62)

onde representa a permeabilidade magntica, l representa o comprimento do circuito magntico e A representa a sua seco eficaz. Os transdutores indutivos utilizam geralmente a variao da espessura de um entreferro (gap) e o valor da sua indutncia dado por:
L = 0 N 2A x

(5.63)

onde x representa a espessura do entreferro. Neste caso o valor da sensibilidade do transdutor dada por:
SL = x dL L = dx x

(5.64)

As caractersticas no lineares da variao da indutncia (L) em relao ao mensurando (x) implicam que na generalidade das aplicaes deste transdutor sejam utilizadas montagens diferenciais ou mesmo transdutores do tipo diferencial. Um exemplo tpico desta ltima situao consiste na utilizao da LVDT (Linear Variable Differential Transformer). Representa-se na Figura 5.21 um transdutor indutivo diferencial que utiliza a variao da espessura do entreferro.
d d

x
Figura 5.21 - Transdutor indutivo diferencial com variao da espessura do

entreferro (x).

Neste caso, um determinado valor de deslocamento (x) origina variaes de indutncia simtricas nos dois elementos indutivos que constituem o transdutor. Considerando que L1 corresponde indutncia do enrolamento da esquerda e que L2 corresponde indutncia do enrolamento da direita, uma

5.30

variao de posio x na armadura mvel ou central causa uma variao de indutncia:


L = L2 L1 = 0N 2A x d x2
2

(5.65)

que para valores de x<<d pode ser aproximada por:


L 0N 2A x d2

(5.66)

o que traduz, tal como verificado anteriormente para o transdutor capacitivo diferencial, uma relao linear entre a variao de indutncia e a grandeza a medir (x). Os circuitos de medida para transdutores indutivos so do mesmo tipo dos circuitos de medida para transdutores capacitivos, representando-se na Figura 5.22 a interligao de um transdutor indutivo diferencial numa ponte de Wheatstone em corrente alternada.

jX1 U N1
N1:N2

U N2 2 N1

jL 1

V jX2

V
U N2 2 N1

jL 2

Figura 5.22 - Circuito de medida em ponte de Wheatstone para um

transdutor indutivo diferencial.

O valor da tenso lida pelo voltmetro dada por:


V= U N2 x 2 N1 d

(5.67)

de realar que tal como anteriormente (5.58), a tenso (V) varia linearmente com a grandeza a medir e o seu valor independente da frequncia do gerador. Na Figura 5.23 representa-se um circuito de medida em ponte de Wheatstone, sem acoplamento por transformador, que pode ser utilizado para transdutores indutivos do tipo diferencial.

5.31

R0

jX1 V

U
R0

jX2

Figura 5.23 - Circuito de medida em ponte de Wheatstone para um

transdutor indutivo diferencial sem acoplamento por transformador.

Neste caso, o valor da tenso lida pelo voltmetro dada por:


V=U x d

(5.68)

Tal como foi referido anteriormente para os circuitos de medida para transdutores capacitivos, tambm neste caso podem ser utilizados circuitos de medida baseados em osciladores cuja frequncia de oscilao determinada pelo valor de uma indutncia que depende directamente da grandeza a medir (x).

5.4.7 Termopares

Estes transdutores baseiam o seu funcionamento no efeito de Seebeck. Geram uma fora electromotriz que funo da diferenas de temperatura existente entre duas junes metlicas de materiais diferentes. Sendo T1 e T0 a temperatura da juno quente e da juno fria, respectivamente, a fora electromotriz gerada , numa aproximao de primeira ordem, dada por:
U = k AB (T1 T0 )

(5.69)

onde kAB um coeficiente caracterstico do par de condutores (A/B) que constituem a juno do termopar. Para variaes de temperatura significativas, que no caso dos termopares podem atingir centenas de graus centgrados (-200C a 2100C), a expresso (5.69) deixa de ser uma boa aproximao e em lugar dela devem ser consideradas aproximaes polinomiais de ordem superior primeira. Nestas condies em lugar de (5.69) devemos considerar a seguinte expresso:

5.32

U = k iAB (T1 T0 )i
i =1

(5.70)

Uma vez que a tenso gerada por um termopar depende da diferena e no do valor absoluto da temperatura a medir (T1), os circuitos de medida com termopares devem garantir um valor de temperatura da juno de referncia (juno fria) fixo, de modo a que seja possvel estabelecer uma relao unvoca entre o valor da tenso (U) e o valor da temperatura (T1) que se pretende medir. Uma das formas de garantir um valor fixo para a temperatura da juno de referncia, consiste em introduzir essa juno num banho de gelo fundido de 0C. Porm, esta tcnica requer condies especficas e a sua utilizao s justificada para medidas de alto rigor efectuadas em laboratrios de medida. Geralmente a temperatura da juno de referncia mantida num valor constante, tipicamente entre 50C e 60C, usando uma caixa de terminais isotrmica, comum a vrios termopares, e regulando automaticamente a sua temperatura com base em circuitos de controlo electrnicos. No caso dos sistemas de medida automticos, baseados em PCs, a regulao de temperatura deixa de ser necessria uma vez que ela pode ser detectada com um transdutor adicional, e o seu valor serve de base correco automtica, por clculo numrico especfico, para cada um dos tipos de termopares utilizados. Uma outra possibilidade de efectuar a correco automtica dos erros causados pela variao da temperatura na juno de referncia consiste em utilizar um circuitos de compensao dessas variaes. Representa-se na Figura 5.24 um circuito de medida que efectua a compensao de variaes de temperatura na juno de referncia utilizando um conjunto de quatro resistncias interligados em ponte de Wheatstone.

5.33

0
R Cu(T) R

UPS

+
R

UC
R

U0

Cu

Cu

UT () 1
Figura 5.24 - Circuito de medida para um termopar com compensao de

()

variaes de temperatura na juno de referncia.

Neste caso no necessrio que o valor da temperatura de referncia (T0) seja constante. Se esta temperatura variar a tenso de compensao (UC) varia de forma a que a tenso de sada (U0) dada por:
U 0 = UC + U T

(5.71)

permanea constante para um dado valor da temperatura a medir (T1). O circuito de compensao baseado numa ponte de Wheatstone que contm uma RTD num dos seus braos. Esta resistncia geralmente de cobre e o valor da tenso (UPS) ajustado de forma a que se tenha:
dUC dU = T dT0 dT0

(5.72)

sendo a tenso UC dada por:


UC = UPS R Cu ( T) R 2 RCu ( T) + R

(5.73)

Depois de referir alguns mtodos de compensao de variaes de temperatura na juno de referncia, convm relembrar que os circuitos de medida para termopares so circuitos especializados para medir pequenas tenses uma vez que a diferena de potencial gerada da ordem das dezenas de mV ou inferior. Representa-se na Figura 5.25 um circuito de medida para um termopar baseado num amplificador de instrumentao.

5.34

+ X1 1 () () 0 UT X2 +

R R aR R R bR

bR X3 + Uo

Figura 5.25 - Circuito de medida para um termopar baseado num

amplificador de instrumentao.

Para o circuito da Figura anterior a tenso de sada (U0) dada por:

2 U 0 = b1 + U T a

(5.74)

onde o factor (1+2/a) representa o ganho do amplificador de instrumentao, constitudo pelos AMPOPs X1 e X2, diferena. Uma outra forma possvel de medir a temperatura associada fora electromotriz gerada por um termopar consiste em medir a corrente que lhe est associada. Representa-se na Figura 5.26 um circuito de medida para um termopar que utiliza um conversor I/I (corrente/corrente) baseado numa montagem com um amplificador operacional.

e o factor b o ganho do circuito

R3

() () 0 UT

X +

0 +

Rg Ci

R2

R1

Figura 5.26 - Circuito de medida para um termopar que utiliza um conversor

I/I baseado numa montagem com um AMPOP.

No circuito da Figura anterior Rg representa a resistncia interna do galvanmetro ou ampermetro e Ci representa a sua constante de corrente.

5.35

A relao entre a corrente de sada (I0) e a corrente da malha do termopar (IT) dada por:
R I 0 = 1 + 2 IT R1

(5.75)

Utilizando a definio de constante de corrente (Ci) e admitindo que vlida a aproximao:


U T = k (T1 T0 )

(5.76)

onde UT representa a tenso gerada pelo termopar, o desvio angular () de um instrumento de medida analgico ser dado por:
= 1 1 R2 1 + k (T1 T0 ) Ci R 3 R1

(5.77)

onde o desaparecimento do sinal negativo na expresso anterior justificado pela inverso da polaridade da interligao do instrumento de medida em relao ao sentido de referncia utilizado para a corrente I0. O valor da resistncia da malha do termopar (R3) deve ser aproximadamente de 20 e o dimensionamento do circuito deve ter em considerao a eventual saturao do AMPOP por limite de corrente ou por limite de tenso. Sendo (I0)max a corrente mxima de sada do AMPOP devemos ter:
1 R2 1 + k[(T1 ) max T0 ] < (I0 ) max R3 R1

(5.78)

Para que a tenso de sada seja inferior tenso de saturao do AMPOP (VSAT) devemos ainda ter:
R .R R g + 1 2 I0 < VSAT R1 + R 2

(5.79)

Iremos finalmente referir circuitos de medida para termopares que utilizam tecnologia integrada (IC - Integrated Circuit). Neste caso a compensao da variao da temperatura da juno de referncia e a linearizao da caracterstica feita automaticamente pelo circuito integrado, sendo possvel estabelecer uma relao linear entre a tenso de sada do IC e a temperatura a medir (T1). Os circuitos integrados so especficos para cada tipo de termopar e podemos referir, como exemplo do fabricante Analog Devices, a utilizao do componente AD594 para termpares do tipo J ou do AD595 para termopares do tipo K. Em ambos os casos, a tenso de sada tem uma
5.36

variao nominal de 10 mV/C, a largura de banda de 15 kHz, a tenso de alimentao pode ser unipolar ou bipolar e variar em mdulo entre 5 e 15 V, sendo o erro de medida, aps calibrao, inferior a 1C. Representa-se na Figura 5.27 o diagrama de interligaes do IC-AD595 para um termopar do tipo K.
+V CC

()
K

14 13 12

11 10

()

AD595
1 2 3 4 5 6 7

U0

Figura 5.27- Diagrama de interligaes do IC-AD595 para um termopar do

tipo K.

A tenso de sada (U0), aps a calibrao efectuada temperatura de 25C, pode ser aproximada com um erro inferior a 1C, pela seguinte expresso:
U0 = 0. 01 T1 (V)

(5.80)

onde T1 representa a temperatura que se pretende medir em graus centgrados. A relao entre a tenso gerada pelo termopar (UT) e a tenso de sada (U0) definida pelo fabricante do IC pela seguinte relao:
UT = U0 11 V 247. 3

(5.81)

5.4.8 Transdutores piezoelctricos

Os transdutores piezoelctricos so utilizados na medida de foras, presses e aceleraes variveis no tempo, at um limite de frequncia de aproximadamente 100 kHz. Estes transdutores tm o seu princpio de funcionamento baseado no efeito piezoelctrico existente em determinados materiais (ex:cristais) que se polarizam electricamente quando so submetidos a esforos mecnicos. As duas principais desvantagens dos transdutores piezoelctricos esto associadas ao facto de no poderem ser utilizados na medida de grandezas estticas e de serem difceis de calibrar.

5.37

Representa-se na Figura 5.28 o esquema elctrico equivalente de um transdutor piezoelctrico na medida de fora (F), onde Rq corresponde resistncia interna e Cq capacidade interna do cristal.

i(F,t)

Rq

Cq

U0(t)

Figura 5.28- Esquema elctrico equivalente de um transdutor piezoelctrico.

A fonte de corrente produz uma corrente proporcional taxa de variao temporal da grandeza a medir (F), dada por:
i(F, t ) = dQ dF =k dt dt

(5.82)

onde k representa a sensibilidade do transdutor e dQ/dt a taxa de variao temporal da carga associada corrente I. Aplicando a lei de Ohm ao circuito anterior possvel obter:
U0 (t) dU 0 ( t ) + Cq = i(F, t ) Rq dt

(5.83)

Admitindo que a fora a medir um escalo de amplitude igual a F0, e assumindo condies iniciais nulas (Cq descarregado no instante t=0), a soluo de (5.83) dada por:
kF0 R q Cq t U0 ( t ) = e . u( t ) Cq
1

(5.84)

onde u(t) representa a funo escalo de amplitude unitria e o produto RqCq representa a constante de tempo do cristal. No caso de se utilizar o circuito de medida representado na Figura 5.29 para um transdutor piezoelctrico, teramos dois problemas complicados para resolver: - a resistncia interna do voltmetro afectaria significativamente o resultado da medida pois Rq da ordem de 1012 , e a aproximao RV>>Rq nunca seria vlida;

5.38

- como a constante de tempo do cristal (RqCq) pode ser da ordem das dezenas de segundo, o tempo de medida poderia ser muito reduzido visto, que nas condies anteriores (5.84), a tenso U0(t) decai exponencialmente com o tempo.

i(F,t)

Rq

Cq

U0(t)

V RV

Figura 5.29- Circuito de medida para um transdutor piezoelctrico utilizando

apenas um voltmetro (RV- resistncia interna do voltmetro) . Uma das possibilidades de ultrapassar parcialmente os problemas referidos consiste em efectuar a interligao do voltmetro atravs de um amplificador operacional (ver Figura 5.30).
+ -

i(F,t)

Rq

Cq
R1

R2

U 0 (t)

V RV

Figura 5.30- Circuito de medida para um transdutor piezoelctrico utilizando

um AMPOP na interligao do voltmetro (RV- resitncia interna do voltmetro) . Neste caso as limitaes devidas ao valor finito da resistncia interna do voltmetro (RV) so minimizadas desde que a resistncia de entrada do AMPOP seja suficientemente elevada em relao a Rq. portanto conveniente a utilizao de AMPOPs com valores reduzidos de correntes de polarizao que tm geralmente transstores J-FET no andar de entrada, em lugar de transstores bipolares. Se considerarmos as mesma condies de variao da grandeza a medir (F), a tenso U0(t) neste caso dada por:
kF0 R 2 R q C q t 1 + e U0 (t) = .u ( t ) Cq R1
1

(5.85)

5.39

Ainda que o efeito da resistncia interna do voltmetro tenha desaparecido, o decrscimo exponencial da tenso U0(t) leva a que o circuito anterior tenha pouco interesse prtico, sendo o amplificador de carga, representado na Figura 5.31, o circuito de medida mais utilizado para transdutores piezoelctricos.
Rf

Cf
+

i(F,t)

RT

CT

U 0 (t)

V RV

Figura 5.31- Circuito de medida com base num amplificador de carga para

um transdutor piezoelctrico. O valor da capacidade total (CT) resulta da associao em paralelo da capacidade do cristal (Cq), da capacidade do cabo de interligao (CC) e da capacidade de entrada do prprio AMPOP (CA), sendo o seu valor dado por:
CT = Cq + CC + CA

(5.86)

O valor da resistncia total (RT) resulta da associao em paralelo da resistncia do cristal (Rq), da resistncia de fugas do cabo de interligao (RC) e da resistncia de entrada do prprio AMPOP (RA), sendo o seu valor dado por:
RT = 1 1 1 1 + + Rq RC RC

(5.87)

Para que a influncia do cabo de interligao e do AMPOP sejam desprezveis, a interligao do transdutor deve ser feita com cabos de boa qualidade, geralmente coaxiais, ou em alternativa o AMPOP deve ser integrado com o prprio transdutor e dever possuir elevada impedncia de entrada (elevado valor de RA e baixo valor de CA). Analisando o circuito da Figura 5.31 possvel obter a sua resposta a uma escalo de amplitude F0 cujo valor dado por:

5.40

t kF U0 ( t ) = 0 e R f C f . u( t ) Cq

(5.88)

A tenso de sada tende a ser constante quando Rf tende para infinito (integrador ideal). Nestas condies, os transdutores piezoelctricos podem ser utilizados para medir grandezas de variao lenta no tempo. Representase na Figura 5.32 as respostas dos circuitos de medida das Figuras 5.30 e 5.31 a um escalo de amplitude F0.
F(t) F0 (a) t

t0 U0 (t) kF0 (1+R 2 / R1 ) Cq t0 -kF0 (1+R 2 / R1 ) Cq U0 (t) t0 -kF0 Cq

(b) t

(c) t

Figura 5.32- Diagrama temporal das respostas dos circuitos de medidas das

Figuras 5.30 e 5.31 a um sinal de entrada com variao em escalo de amplitude F0: (a) sinal de entrada; (b) resposta do circuito da Figura 5.30; (c) resposta do circuito da Figura 5.31 (Rf=).

5.4.9 Transdutores fotovoltaicos

As clulas fotovoltaicas geram uma tenso elctrica dependente da intensidade e do comprimento de onda da radiao incidente. Uma vez que, do ponto de vista da varivel de sada, estes transdutores tm um comportamento idntico ao dos termopares, os circuitos de medida so do mesmo tipo deixando no entanto de ser necessrios os sub-circuitos de compensao de variaes de temperatura da juno fria. Os circuitos de medida para estes transdutores so geralmente conversores tenso-tenso ou tenso-corrente, que devem possuir em ambos os casos elevada impedncia de entrada e utilizar compensao em relao a

5.41

variaes de temperatura. Esta compensao tem por objectivo minimizar variaes da tenso ou corrente de sada causadas por variaes de temperatura para intensidades de radiao constantes. Representa-se na Figura 5.33 um circuito de medida para transdutores fotovoltaicos com base num conversor tenso-tenso. O somador-inversor do circuito, juntamente com a resistncia R(T), efectua a compensao dos erros causados por variaes trmicas. Assume-se que o transdutor fotovoltaico e o transdutor de compensao (RTD) se encontram mesma temperatura.
R4 R3 R(T) R1 R2 +V CC +

L T Ui (t)

+ -

U 0 (t)

V RV

Figura 5.33- Circuito de medida para um transdutor fotovoltaico com

compensao dos erros causados por variaes trmicas.

A tenso de sada U0(t) dada por:


U0 (t) = R4 R2 R 1 + U i ( t ) 4 VCC R3 R1 R (T )

(5.89)

sendo a tenso Ui(t) dada genericamente por: U i ( t ) = k1L( t ) + k 2 (T( t ) T0 ) (5.90)

onde k1 e k2 so constantes de proporcionalidade, L representa a intensidade da radiao incidente, T(t) representa a temperatura dos transdutores activo e de compensao e T0 representa uma temperatura de referncia, usualmente a temperatura ambiente. Uma outra aplicao tpica dos transdutores fotovoltaicos consiste na sua utilizao como transdutores incrementais de posio linear ou angular. Nestes casos tambm so designados por codificadores digitais (Digital Encoder). Representa-se na Figura 5.34 um circuito de medida capaz de medir a velocidade, linear ou angular, e o sentido de deslocamento utilizando

5.42

transdutores fotovoltaicos. O circuito utiliza dois fototransstores, LS1 e LS2, posicionados de forma a que as suas sadas tenham um desfasamento relativo de avano ou atraso consoante o sentido do deslocamento a medir.

L L
LSi
LS1 LS2

+V CC

Ui(t)

(a) U1 UR
+ X1 -

(b) D Ck
X2 +

Q Q
"DOWN" CONTADOR "UP"

U2

Ck (c)

X1, X2- COMPARADORES

Figura 5.34- Circuito de medida de um transdutor incremental capaz de

detectar o sentido de deslocamento: (a) disco e fototransstores; (b) subcircuito elctrico do fototransstor; (c) circuito de medida.

No circuito da Figura anterior UR representa a tenso de comparao cujo valor deve corresponder ao valor mdio das tenses limites fornecidas pelo fototransstor, ou seja:
UR =

(Ui )max + (Ui )min


2

(VCE )SAT + VCC


2

(5.91)

onde (VCE)SAT representa o valor da tenso de saturao do transstor e VCC representa a tenso de alimentao do respectivo circuito elctrico (ver Fig. 34-b). Nos codificadores digitais os circuitos de medida so idnticos ao da Figura 5.34 existindo no entanto, um detector para cada bit do cdigo binrio correspondente a uma determinada posio linear ou angular que se pretende medir.
5.43

5.4.10 CCDs (Charge-Coupled Devices)

O princpio de funcionamento dos CCDs est baseado no acoplamento de carga em materiais semicondutores. Pequenas quantidades de carga elctrica, designadas de pacotes, so criadas por processos pticos ou elctricos em localizaes especficas de um material semicondutor. Cada uma destas localizaes, designadas por elementos de armazenamento (storage element), criada por aco de um campo elctrico gerado por um par de elctrodos colocados junto da superfcie do semicondutor. Os elementos de armazenamento esto colocado em linha recta e possvel deslocar a carga armazenada, por cada um deles, segundo a direco dessa linha utilizando sinais de relgio apropriados. O conjunto funciona como um registo de deslocamento (shift register) analgico e no final desse registo existe um detector de carga que converte os pacotes de carga armazenada em impulsos de tenso elctrica, que por suas vez so convertidos para digital por meio de um ADC (Analog-to-Digital Converter). Representa-se na Figura 5.35 um circuito de medida para uma CCD utilizada como transdutor de imagem.

Imagem
UP UX U1 U2 LPS TG CD ADC PC DSP

Figura 5.35- Diagrama de blocos de um circuito de medida para CCDs

(LPS- line of photosites; TG- transfer gate; TR- transport register).

Na Figura anterior U1 e U2 representam os sinais de relgio, UP e UX representam os sinais de controlo, CD representa o detector de carga (Charge Detector), ADC representa o conversor A/D e o bloco final pode ser um computador pessoal ou um processador digital de sinais (DSP- Digital Signal Processor).

5.44

5.4.11 Detectores de posio- PSD (Position Sensing Devices)

Um outro tipo mais recente de transdutores fotoelctricos de posio so designados por PSD (Position Sensing Device). A sua configurao bsica, representada na Figura 5.36, consiste em dois dodos PIN (P-Intrisec-N) com um ctodo comum.

IA
P I N

LUZ

IB L-x

I0

Figura 5.36- Configurao bsica de um detector PSD unidimensional.

A corrente gerada por efeito fotoelctrico divide-se em duas componentes IA e IB, dadas por:
IA = I0 I B = I0 Lx RL Rx = I0 RL L x Rx = I0 RL L

(5.92) (5.93)

Com base nas expresses anteriores possvel obter:


IA I B 2x = 1 IA + I B L x= L 2I B 2 IA + IB

(5.94)

(5.95)

Representa-se na Figura 5.37 um circuito de medida para um detector de posio- PSD que utiliza um divisor analgico de dois quadrantes e quatro amplificadores inversores.

5.45

kR

IA

+ R

VA R
R

k=L/2
+ 2kR

IB

X
R R +

R +

VB

U0

Figura 5.37- Circuito de medida para um detector de posio- PSD.

Convm referir que o circuito de medida representado na Figura anterior pode ser substancialmente simplificado se for utilizado clculo numrico (converso A/D). Neste caso s sero necessrios os dois AMPOPs que fazem a converso corrente-tenso pois os clculo associados obteno de x (95) sero efectuados digitalmente (PC ou DSP).

5.46

Apndices

1. Sensibilidade de ajuste da condio de equilbrio de uma ponte de Wheatstone

Admitindo que a ponte de Wheatstone, representada na Figura A.1, utilizada para medir a resistncia R1, o mdulo da sensibilidade da corrente no ramo do detector (Id) relativamente a variaes da resistncia R1, dado por: S1 = R1R 4 (R1 + R 3 )[R d (R 2 + R 4 ) + R 4 (R1 + R 2 )] (A.1)

sendo a sensibilidade (S1) definida por: S1 = Id E.(R1 R1 ) (A.2)

R1 E + _ R3

Id Rd

R2

R4

Figura A.1 - Configurao de uma ponte de Wheatstone em corrente

contnua.

Exprimindo o valor das resistncias relativamente a R1, podemos definir o seguinte conjunto de coeficientes:
m= R2 R1 n= R3 R1 p= Rd R1

(A.3)

sendo possvel re-escrever (A.1) da seguinte forma:


S1 = 1 1 1 1 = 2 R1 f (m, n, p ) R1 (1 + n ) p + (1 + m )(1 + n ) n

(A.4)

O valor mximo da sensibilidade, para um determinado valor de R1 que se pretende medir, obtm-se para uma escolha dos coeficientes (m,n,p) que tornem mnima a funo f(m,n,p), definida por:

5.47

f (m, n, p ) =

(1 + n )2 p + (1 + m )(1 + n )
n

(A.5)

Da anlise da funo anterior possvel concluir que: - dados n e p, fnp(m) uma funo linear crescente com m; - dados m e n, fmn(p) uma funo linear crescente com p; - dados m e p, fmp(n) uma funo no linear que apresenta um mnimo para:
n= p 1+ m + p

(A.6)

Relativamente escolha da diagonal onde se deve colocar o detector para obter maior sensibilidade devemos escolher a configurao para a qual se tenha:
f (m, n , p ) < f (n , m, p )

(A.7)

A partir da expresso anterior podemos concluir que o detector deve ser colocado entre o n que une as duas maiores resistncias e n que une as duas menores resistncias.

2. Configuraes e condies de equilbrio da ponte de Wheatstone em corrente alternada

No caso geral a condio de equilbrio de uma ponte de Wheatstone em corrente alternada, representada na Figura A.2, dada por:
Z1 Z4 = Z2 Z3

(A.8)

Z1 U Z3 Zd

Z2

Z4

Figura A.2 - Configurao de uma ponte de Wheatstone em corrente

alternada.

5.48

Tal como anteriormente, na ponte de Wheatstone em corrente contnua, a escolha dos parmetros de ajuste no arbitrria e podem existir pares de parmetros para os quais o equilbrio da ponte no possvel. Convm relembrar que o anulamento da corrente alternada no ramo do detector implica o anulamento em mdulo e fase da corrente pelo que no mnimo so necessrios dois parmetros de ajuste. Vamos apresentar de seguida algumas configuraes de pontes de Wheatstone em corrente alternada e as respectivas condies de equilbrio.

A 2.1- Ponte de Maxwell

L1 R1 R2

U
R3 R4 C4

Figura A.3 - Ponte de Maxwell.


R1 = R2 R3 R4 L1 = R2 R 3C4

(A.9)

A 2.2- Ponte de Hey

L1 R1 R2

U
R4 R3 C4

5.49

Figura A.4 - Ponte de Hey.

R1 = L1 =

(R 4C4 )2 R 3 R 2 2 1 + (R 4C 4 ) R 4
1 + (R 4C 4 )2 R 2 R 3C 4

(A.10)

A 2.3- Ponte de Schering

RS C CS
2

U
R3 R4 C4

Figura A.5 - Ponte de Schering.

C4 C2 R4 CS = C2 R3 RS = R 3

(A.11)

A 2.4- Ponte de Wien

R1 R2 C1 C
2

U
R3 R4

5.50

Figura A.6 - Ponte de Wien.

R1 =

1 1 + ( R 2 C 2 )
2

R3 R2 R4
R 4 C2 R3

1 C1 = 1 + ( R C )2 2 2

(A.12)

A 2.5- Ponte de Wien-Robinson

R 3 =2R4

R4

Figura A.7 - Ponte de Wien-Robinson.

1 RC

(A.13)

5.51

Bibliografia

[5.1] - Giro, P.M.B. da Silva "Instrumentao e Medidas" AEIST 1990 [5.2] - Rangan, C.S.; Sarma, G.R.; Mani, V.S.V. "Instrumentation, Devices and Systems" McGraw-Hill 1992 [5.3] - Lang, Tran Tien "Electronics of Measuring Systems" Wiley 1987 [5.4] - Malmstadt; Enke; Crouch "Electronics and Instrumentation for Scientists" Benjamin / Cummings Publishing Company, Inc. 1981 [5.5] - Oliver, Bernard M.; Cage, John M. "Electronic Measurements and Instrumentation" McGraw-Hill 1975 [5.6] - Silva, J.F. Borges da Electrotecnia Terica I e II" AEIST 1985/86 [5.7] - Doebelin, Ernest O. "Measurement Systems - Application and Design McGraw-Hill International Editions 1990 [5.8] - Morris, Alan S. "Principles of Measurements and Instrumentation Prentice Hall International 1988

5.52