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Amostras

Amostras Tratamento e análise dos dados Amostra Estatística População Inferência sobre a população Amostra : quantidade
Tratamento e análise dos dados Amostra Estatística
Tratamento e análise
dos dados
Amostra
Estatística

População

Inferência sobre a população
Inferência sobre a população

Amostra: quantidade de valores observados pertencentes ou representativos de uma população. População: lote de produtos/serviços ou período de tempo que se quer analisar.

Nomenclatura

Nomenclatura Parâmetros : são as medidas descritivas da população, geralmente desconhecidas. Estatísticas : são as medidas

Parâmetros: são as medidas descritivas da população, geralmente desconhecidas.

Estatísticas: são as medidas descritivas calculadas em função dos elementos da amostra.

Média

Desvio padrão

Proporção

 

Parâmetros

Estatísticas

(população)

(amostra)

x

s

  • p

pˆ

Curva normal e desvio padrão

Curva normal e desvio padrão 68,27% 95,45% 99,73% 99,9937% 99,999943% 99,9999998%
Curva normal e desvio padrão 68,27% 95,45% 99,73% 99,9937% 99,999943% 99,9999998%
Curva normal e desvio padrão 68,27% 95,45% 99,73% 99,9937% 99,999943% 99,9999998%
Curva normal e desvio padrão 68,27% 95,45% 99,73% 99,9937% 99,999943% 99,9999998%

68,27%

95,45%

99,73%

99,9937%

99,999943%

99,9999998%

Tipos de cartas de controle Variáveis

Tipos de cartas de controle – Variáveis As cartas de controle por variáveis são usadas para

As cartas de controle por variáveis são usadas para monitorar o processo quando a característica de interesse é mensurada em uma escala de intervalo ou de razão.

Estes gráficos são geralmente utilizados em pares. Os gráficos R e S monitoram a

variação de um processo, enquanto os gráficos X monitoram a média do processo. O gráfico que monitora a variabilidade deve ser examinado sempre em primeiro lugar, pois se ele indicar uma condição fora do controle a interpretação do gráfico para a média será enganosa.

Variáveis
Variáveis
- Carta X / R ~ Carta X / R - Carta X / S
-
Carta X / R
~
Carta X / R
-
Carta X / S
Carta I / MR
Carta I / MR

Médias e amplitudes

Medianas e amplitudes

Médias e desvio padrão

Valores (indivíduos ) e amplitude móvel

Convenções

Convenções n = tamanho da amostra k = número (quantidade) de amostras = x = média

n = tamanho da amostra k = número (quantidade) de amostras = x = média das médias das amostras (média global) _ s = desvio-padrão amostral médio _ R = amplitude amostral média

A2, A3, D3, D4, etc. = fatores de correção

Convenções n = tamanho da amostra k = número (quantidade) de amostras = x = média

Gráfico de controle X/R Médias e amplitudes Construção

Gráfico de controle X/R Médias e amplitudes – Construção Este gráfico é usado para acompanhar, controlar

Este gráfico é usado para acompanhar, controlar e analisar um processo com valores

contínuos de qualidade do produto, como o comprimento, o peso ou a concentração.

Tais valores fornecem grande quantidade de informações sobre o processo.

O uso dos gráficos de controle X e R deve ocorrer sempre que uma característica da qualidade observada é expressa em unidades reais como peso em quilogramas, comprimento em centímetros, temperatura em graus celsius.

Este gráfico é composto por dois gráficos que devem ser analisados em conjunto:

X, que monitora as médias dos subgrupos R, que monitora a amplitude entre os subgrupos

O tamanho de cada subgrupo (n) deve ser constante, sendo que sempre devemos ter 2 ou mais subgrupos.

Gráfico de controle X/S Médias e desvio padrão Características

Gráfico de controle X/S Médias e desvio padrão – Características Estes gráficos são similares aos gráficos

Estes gráficos são similares aos gráficos X-barra e R, embora o cálculo do desvio padrão da amostra (S) seja mais difícil do que o da amplitude (R).

O uso dos gráficos de controle X e S deve ocorrer sempre que uma característica da

qualidade observada é expressa em unidades reais como peso em quilogramas, comprimento em centímetros, temperatura em graus celsius.

Este gráfico é composto por dois gráficos que devem ser analisados em conjunto:

X, que monitora as médias dos subgrupos S, que monitora a variabilidade entre os subgrupos

O tamanho de cada subgrupo (n) deve ser constante, sendo que sempre devemos ter 2 ou mais subgrupos.

Quando são adotadas amostras maiores (n > 10), a amplitude já não é eficiente para

avaliar a variabilidade do processo, e devemos usar S.

Gráfico de controle I/Rm

Valores (indivíduos ) e amplitude móvel

Gráfico de controle I/Rm Valores (indivíduos ) e amplitude móvel Os gráficos de controle I/Rm monitoram

Os gráficos de controle I/Rm monitoram dados contínuos quando somente uma unidade pode (ou faz sentido) ser obtida. Temos k subgrupos com tamanho de amostra igual a um (n = 1). No gráfico são plotadas as observações individuais x1,

x2,

...

,xk.

Analisamos dois gráficos:

I, que monitora valores individuais

Rm (amplitude móvel), que monitora a variabilidade

LSCx = x + E2. Rm LMx = x

LICx = x E2. Rm

LSCRm = D4. Rm

LMRm = Rm LICRm = D4. Rm

Tabelas de fatores do CEP

Tabelas de fatores do CEP Tamanho e R ) Cartas ( Cartas ( e S )

Tamanho

e R ) Cartas ( Cartas ( e S ) __ X __ X 2 X
e R ) Cartas ( Cartas ( e S ) __ X __ X
e R ) Cartas ( Cartas ( e S ) __ X __ X
e R ) Cartas ( Cartas ( e S ) __ X __ X
e R ) Cartas ( Cartas ( e S ) __ X __ X
e R ) Cartas ( Cartas ( e S ) __ X __ X
e R ) Cartas ( Cartas ( e S ) __ X __ X

e R )

Cartas (

Cartas (

e S )

__

X

__

X

A 2

X

__

Carta

Tamanho

Amostra

   
   

Carta

X

Carta S

__

Carta R

d

2

D

D 4

A 3

C4

B 3

B 4

3

2

3

4

6

7

9

10

11

5

Tamanho e R ) Cartas ( Cartas ( e S ) __ X __ X 2

8

Carta

Carta R

Carta R

Carta X

~

X

Amostra

     
           
  • 2 1,128

1,880

  • - 2,660

3,267

1,128

  • - 3,267

  • 3 1,693

1,187

   
  • - 1,772

2,574

1,693

 
  • - 2,574

  • 4 2,059

0,796

   
  • - 1,457

2,282

2,059

 
  • - 2,282

  • 5 2,326

0,691

   
  • - 1,290

2,114

2,326

 
  • - 2,114

  • 6 2,534

0,548

   
  • - 1,184

2,004

2,534

 
  • - 2,004

  • 7 2,704

0,508

 

0,076

1,924

1,109

2,704

0,076

1,924

  • 8 2,847

0,433

 

0,136

1,864

1,054

2,847

0,136

1,864

  • 9 2,970

0,412

 

0,184

1,816

1,010

2,970

0,184

1,816

10

0,362

3,078

0,223

1,777

0,975

3,078

0,223

1,777

Tabelas de fatores do CEP Tamanho e R ) Cartas ( Cartas ( e S )

Fórmulas para cartas de variáveis

Fórmulas para cartas de variáveis 1. Cartas da média e da amplitude LSC X  X

1. Cartas da média e da amplitude

LSC

X

Fórmulas para cartas de variáveis 1. Cartas da média e da amplitude LSC X  X

X

A

2

R

LSC

R

D

4

R

Fórmulas para cartas de variáveis 1. Cartas da média e da amplitude LSC X  X

LIC

  • X A

X

  • 2 R

LIC

R

D

3

R

σˆ

R

  • d 2

2. Cartas da média e do desvio padrão

LSC

X

Fórmulas para cartas de variáveis 1. Cartas da média e da amplitude LSC X  X

X

A

3

S

LSC

S

B

4

S

LIC

X

Fórmulas para cartas de variáveis 1. Cartas da média e da amplitude LSC X  X

X

A

3

S

LIC

S

B

3

S

σˆ

S

  • C 4

3. Cartas da mediana e da amplitude

LSC X

~

~

X

A ~

2

R

LSC

R

D

4

R

LIC X ~

~

X

A ~

2

R

LIC

R

D

3

R

4. Carta de individuais e amplitude móvel

LSC

X

Fórmulas para cartas de variáveis 1. Cartas da média e da amplitude LSC X  X

X

E

2

R

LSC

R

D

4

R

LIC

  • X R

X

E

2

LIC

R

D

3

R

σˆ

R

  • d 2

σˆ

R

  • d 2

Tipos de cartas de controle Atributos

Tipos de cartas de controle – Atributos Existem duas situações em que se utilizam atributos: 1)

Existem duas situações em que se utilizam atributos:

1) Quando as medidas não são possíveis, como características inspecionadas visualmente (cor, brilho, arranhões e danos).

2) Quando as medidas são possíveis mas não são tomadas por questões

econômicas, de tempo, ou de necessidades. Em outras palavras: quando o diâmetro

de um furo pode ser medido com um micrômetro interno mas utiliza-se um calibre passa/não-passa para determinar a sua conformidade com as especificações.

Atributos Dados discretos
Atributos
Dados discretos
Carta p Carta np
Carta p
Carta np
Carta c Carta u
Carta c
Carta u

Proporção de não-conforme

Número de não-conforme

Número de não- conformidades

Média de não- conformidades

Tipos de cartas de controle Atributos Classificação X Contagem

Tipos de cartas de controle – Atributos Classificação X Contagem Pergunta: a amostra tem alguma defeito?

Pergunta: a amostra tem alguma defeito?

Tipos de cartas de controle – Atributos Classificação X Contagem Pergunta: a amostra tem alguma defeito?

SIM

Tipos de cartas de controle – Atributos Classificação X Contagem Pergunta: a amostra tem alguma defeito?

NÃO

Tipos de cartas de controle – Atributos Classificação X Contagem Pergunta: a amostra tem alguma defeito?

SIM

Tipos de cartas de controle – Atributos Classificação X Contagem Pergunta: a amostra tem alguma defeito?

SIM

Tipos de cartas de controle – Atributos Classificação X Contagem Pergunta: a amostra tem alguma defeito?

NÃO

Atributos do tipo SIM/NÃO são analisados através de gráficos do tipo p ou np.

Pergunta: quantos defeitos tem a amostra?

Tipos de cartas de controle – Atributos Classificação X Contagem Pergunta: a amostra tem alguma defeito?

1

0

2

3

0

Atributos que consistem na contagem de defeitos são analisados através de gráficos do tipo c ou u.

Convenções

Convenções n = tamanho da amostra k = número (quantidade) de amostras d = número de

n = tamanho da amostra

k = número (quantidade) de amostras

  • d = número de defeituosos

p = fração defeituosa

_

p = fração defeituosa média

c

= número de defeitos

_

c

= número médio de defeitos

u = número de defeitos por unidade _ u = número médio de defeitos por unidade

Convenções n = tamanho da amostra k = número (quantidade) de amostras d = número de

Carta p Proporção de não-conforme

Carta p – Proporção de não-conforme A carta p é utilizada quando se deseja monitorar a

A carta p é utilizada quando se deseja monitorar a proporção de peças não- conformes.

As amostras coletadas deverão ser classificadas em conforme e não-conforme. Assim, antes de iniciar o processo de coleta inicial certifique-se que as pessoas envolvidas estão capacitadas no critério estabelecido e que o critério está claro.

O tamanho das amostras pode ser variável. Quanto maior o tamanho da amostra, melhor pois a probabilidade de peças não-conformes aparecer será maior.

A fração defeituosa da amostra é a razão entre o número de defeituosos encontrado

na amostra (d) e o tamanho da amostra (n) [p=d/n].

A distribuição da fração defeituosa é binomial, porém quando os tamanhos das amostras forem grandes o suficiente a distribuição pode ser aproximada para a curva normal.

Critérios:

Carta p – Proporção de não-conforme A carta p é utilizada quando se deseja monitorar a

= > Jarra conforme

Carta p – Proporção de não-conforme A carta p é utilizada quando se deseja monitorar a

= > Jarra não-conforme, tem 2 não-conformidades

Carta np Número de itens não-conformes: Este gráfico é similar a carta p, com a diferença de que se deseja marcar o número de defeituosos na amostra.

Carta c Número de não- conformidades/Defeitos na amostra

Carta c – Número de não- conformidades/Defeitos na amostra Características: • Utiliza-se a carta c para

Características:

Utiliza-se a carta c para monitorar a quantidade média de defeitos por amostra coletada.

As amostras devem ter tamanho constante e geralmente abaixo de dez.

Aplicamos geralmente onde, em função do histórico do processo, há a

possibilidade de ocorrer vários tipos de defeitos de várias origens em um processo contínuo, ou então quando em uma única amostra podem haver várias ocorrências.

Exemplo carta c Amostras = 10 Nº de defeituosos na amostra = 4

2 1 3
2
1
3
Carta c – Número de não- conformidades/Defeitos na amostra Características: • Utiliza-se a carta c para

4

Carta c – Número de não- conformidades/Defeitos na amostra Características: • Utiliza-se a carta c para
Carta c – Número de não- conformidades/Defeitos na amostra Características: • Utiliza-se a carta c para
Carta c – Número de não- conformidades/Defeitos na amostra Características: • Utiliza-se a carta c para
Carta c – Número de não- conformidades/Defeitos na amostra Características: • Utiliza-se a carta c para
Carta c – Número de não- conformidades/Defeitos na amostra Características: • Utiliza-se a carta c para

Carta u Número de não- conformidades/Defeitos na unidade de inspeção

Carta u – Número de não- conformidades/Defeitos na unidade de inspeção Características: • Utiliza-se a carta

Características:

Utiliza-se a carta u para monitorar a quantidade de defeitos por unidade de inspeção.

As amostras podem ter tamanho variado e geralmente ficam em no mínimo dez.

Carta u

Nº total de defeitos encontrados = 4 Unidade de inspeção = 10 Nº de defeitos/Unidade de inspeção = 4 / 10 = 0,4

2 1 3
2
1
3
Carta u – Número de não- conformidades/Defeitos na unidade de inspeção Características: • Utiliza-se a carta

4

Carta u – Número de não- conformidades/Defeitos na unidade de inspeção Características: • Utiliza-se a carta
Carta u – Número de não- conformidades/Defeitos na unidade de inspeção Características: • Utiliza-se a carta
Carta u – Número de não- conformidades/Defeitos na unidade de inspeção Características: • Utiliza-se a carta
Carta u – Número de não- conformidades/Defeitos na unidade de inspeção Características: • Utiliza-se a carta
Carta u – Número de não- conformidades/Defeitos na unidade de inspeção Características: • Utiliza-se a carta

Fórmulas para cartas de atributos

Fórmulas para cartas de atributos 1. Carta p - Proporção de peças não- conformes LSC p

1. Carta p - Proporção de peças não- conformes

LSC

p

p

3

p

(1

p)

n

LIC

p

p

3

p
p

(1

p)

n

2. Carta np - Número de itens não-conformes

LSC

np

d

3

  • LIC

np

d

3

d d . (1  ) n
d
d
. (1 
)
n

3. Carta c - Número de não-conformidades na amostra

LSC

c

c

3

  • LIC

c

c

 

3

c
c

4. Carta u Nº de não-conformidades na unidade de inspeção

LSC

u

u

3

u

n

LIC

u

u

3

u

n

Capacidade do processo

Capacidade do processo Os limites μ ± 3σ são conhecidos como limites naturais de tolerância: LNST

Os limites μ ± 3σ são conhecidos como limites naturais de tolerância:

LNST = μ + 3σ (limite natural superior de tolerância) LNIT = μ - (limite natural inferior de tolerância)

O limite de 6σ sobre a distribuição de uma característica de qualidade do produto vem a ser a capacidade do produto, onde σ é o desvio padrão do processo otimizado e estável (sob controle):

Capacidade do produto = 6σ

Como o valor de σ é, em geral, desconhecido, para obter a capacidade do

processo usa-se um estimador:

σ = R / d2

σ = R / d2

σ = √ Σ (x -

σ = Σ (x -

(onde R é a média das amplitudes das amostras e d2 é um valor que

depende do tamanho da amostra (n ≤ 10)) Se n > 10 e foi feito o gráfico de controle x − s , o estimador de σ é:

x)² / n 1 (onde n é o tamanho da amostra

e x é a média das amostras)

d2 - fator para cálculo de capacidade de

processo

d2 - fator para cálculo de capacidade de processo n D3 D4 D c4 d2 2

n

D3

D4

D

c4

d2

2

-

3,267

0,709

0,798

1,128

3

-

2,574

0,524

0,886

1,693

4

-

2,282

0,446

0,921

2,059

5

-

2,114

0,403

0,940

2,326

6

-

2,004

0,375

0,952

2,534

7

0,076

1,924

0,353

0,959

2,704

8

0,136

1,864

0,338

0,965

2,847

9

0,184

1,816

0,325

0,969

2,970

10

0,223

1,777

0,314

0,973

3,078

FONTE: MONTGOMERY, D.C. Introduction to statistical quality control. 2 ed. New York, John Wiley, 1991.

Índice de Capacidade Potencial do

Processo (Cp)

Índice de Capacidade Potencial do Processo (Cp) Não existe uma relação matemática ou estatística entre limite

Não existe uma relação matemática ou estatística entre limite de controle e limite de especificação. Os limites de controle são definidos em função da variabilidade do processo e medido pelo desvio padrão. Os limites de especificação são estabelecidos no projeto pelos engenheiros, pela administração ou pelo cliente.

A melhor forma de se verificar a adequação de um processo às necessidade da engenharia de produto é através do estudo de capacidade do processo ou da relação entre a capacidade do processo e a diferença entre os limites de especificação. Esta relação é conhecida como índice de capacidade potencial do processo - Cp.

Cp: índice de capacidade potencial do processo, leva em consideração a dispersão do processo (curto prazo) em relação aos limites de especificação.

Cp

LSE LIE

6 ˆ

R / d

2

Sendo:

LSE = limite superior de especificação; LIS = limite inferior de

especificação; = capacidade do processo.

Índice de Capacidade Nominal do Processo

(Cpk)

Índice de Capacidade Nominal do Processo (Cpk) Na prática, nem sempre o processo esta centrado na

Na prática, nem sempre o processo esta centrado na média, ou seja, pode-se chegar a conclusões erradas quanto a capacidade do processo. Se o processo não se encontrar centrado na média, Kane (1986) propôs a utilização do Índice de Performance (Cpk):

Cpk: índice de capacidade nominal do processo, leva em consideração a dispersão do processo (curto prazo) e centragem do processo em relação aos limites de especificação.

Cps

LSE X

3 ˆ

R d

/

2

Cpi

X

LIE

3 ˆ

R d

/

2

Cpk min

LSE X X LIE

3 ˆ

R d

/

2

,

3 ˆ

R d

/

2