Anlisis de materiales

A.L.A

espectrmetro de emisin ptica -analiza todo tipo de metales

Microscopio electrnico de barrido (o SEM, de Scanning Electron Microscopy) El Microscopio electrnico de barrido (o SEM, de Scanning Electron Microscopy), es aquel que usa electrones en lugar de luz para formar una imagen. Tiene una gran profundidad de campo, la cual permite que se enfoque a la vez una gran parte de la muestra. Tambin produce imgenes de alta resolucin, que significa que caractersticas espacialmente cercanas en la muestra pueden ser examinadas a una alta magnificacin. tambien tiene analizador por RX.

Microscopio electronico con RX

METALES Y ORGANICOS Anlisis morfolgico y fractogrfico. Anlisis de inclusiones. Corrosin de superficies y oxidaciones. Estudio, anlisis y evaluacin de fases. Cartografa de elementos qumicos. Ataques superficiales por alteracin. Espesores y distribucin de capas.

Microscopio electrnico de barrido-SEM-con analizador de espectros de RX

Fluorescencia de RX- analiza elementos desde sodio hasta Uranio-desde 100% hasta partes por milln

RX

Fluorescencia RX-manual

RX
ESPECTROMETRA DE RAYOS X Cuando los rayos X con suficiente frecuencia (energa) interaccionan con una sustancia, los electrones de las capas interiores del tomo se excitan a orbitales vacos externos, o bien son eliminados completamente, ionizndose el tomo. La absorcin o frecuencias de emisin (energas) son caractersticas de cada tomo especfico. Adems, para un tomo especfico se producen pequeas variaciones de frecuencia (energa) que son caractersticas del enlace qumico. . La absorcin de rayos X y la espectroscopia de emisin se usan en qumica y ciencias de los materiales para determinar la composicin elemental y el enlace qumico, fases cristalinas.

Espectrometria RX

ICP
Plasma Acoplado Inductivamente Con Espectrmetro de Masa (ICP-MS) El equipo analiza metales alcanzando niveles de lmites de deteccin de partes por trilln. El acoplamiento a la cromatografa lquida permite la identificacin de Arsnico y Cromo presentes en alimentos y muestras ambientales.

ICP-inductively coupled plasma ( plasma de acoplamiento inductivo)-analiza metales hasta partes por trilln.

ICP

Espectrmetro por Absorcin atmica-elementos

AFM

El microscopio de AFM puede realizar dos tipos de medidas: imagen y fuerza. Se usa para materiales conductores y no conductores En el modo de imagen la superficie es barrida en el plano de la superficie (X-Y) por la punta. Durante el barrido la fuerza interatmica entre los tomos de la punta y los tomos en la superficie muestral provoca una flexin del listn. En medidas de fuerza la punta se hace oscilar verticalmente mientras se registra la flexin del listn. La medida se expresa entonces representando fuerza (F) frente a altura (Z) sobre la muestra. Las medidas de fuerza son tiles en estudios de fuerzas de adhesin y permiten estudiar a nivel de una sola molcula interacciones especficas entre molculas (ej: interaccin antgeno-anticuerpo, interaccin entre hebras complementarias de ADN) o interacciones estructurales de las biomolculas (plegado de protenas) as como caracterizar la elasticidad de polmeros. Tambin es til en estudios de indentacin de materiales blandos (polmeros) que permitan caracterizar propiedades elsticas de la muestra como el mdulo de elasticidad o viscoelsticas.

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AFM

AFM

AFM

Atomic force microscope

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AFM

STM-

scanning tunneling microscope

Se usa para materiales conductores y analiza atomo por atomo. El microscopio de efecto tnel (STM) es un instrumento que permite visualizar regiones de alta o baja densidad electrnica superficial, y de ah inferir la posicin de tomos individuales o molculas en la superficie de una red. La observacin atmica se ha vuelto una tarea comn en muchos laboratorios debido al bajo costo de este tipo de microscopa en comparacin con la microscopa electrnica. Las tcnicas de microscopa de barrido por sondeo (SPM: Scanning probing microscopy) que incluyen al STM y al AFM se utilizan en reas de la ciencia que van desde la biologa hasta la fsica del estado slido

Scanning tunneling microscope

STM

STM

Scanning tunneling microscope

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STM

espectrmetro de emisin ptica analiza todo tipo de metales

Fin
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