Proof.

: Lita Soto Nieto

C aractersticas principales de los instrumentos DC.

CONSUMO ESPECFICO: Io, Vo SENSIBILIDAD: SI Y SV RESISTENCIA INTERNA: RA Y RV CLASE DE INSTRUMENTO Q(calidad) LINEALIDAD DE LA ESCALA TIPO DE RESPUESTA EN EL TIEMPO

Continua Caract. de inst. DC

CONSUNO ESPECFICO (Ce ): es la potencia absorbida por el

instrumento de medicin con respecto al rango de trabajo . Es la potencia consumida en el tiempo, por el instrumento de medicin en su escala mnima cuando se produce una deflexin mxima. CONSUMO ESPECFICO DEL VOLTMETRO (Cev): siempre el Cev es constante Cev= Pab/Rang = [V.I/V] Cev= I en A o en mA por este motivo se disipa energa por el efecto Joule x y

Ex > Ey

Continua Caract. De Inst. DC

Rm

Rg

+ V -

V = Io (Rm +Rg) Io = V /Rm + Rg [V/R] luego: Cev = Io Const

Mientras el consumo especfico es mas pequeo es mejor

Continua Caract. De Inst. DC

CONSUMO ESPECFICO DEL AMPERMETRO (CeA) : Rm

Rm

Rs

Rs

Rg

Ampermetro Elemental CeA = Constante CeA = V.I/I = [V] CeA = Io Rg CeA = (I Io).Rs

Ampermetro Ayrton CeA = variable CeA = Io(Rg + Rs) CeA = (I - Io ) Rs CeA = Io (Rg+Rs) no es Const

Ce :

Cev = Io ( A ) CeA= Vo (mV)

Continua caract. Inst. DC.

SENSIBILIDAD:
Mnima energa requerida para desplazar la aguja a escala

completa. Mnima cantidad de int. de corriente que producir un desplazamiento de una unidad de longitudUna mnima cantidad de I V detectada por el amp. o el volt. SI = L(mm)/A , Sv = L(mm) / mV S = /V , S = 1 / Io . Sensibilidad del voltmetro: inversa de la corriente mxima de deflexin.

Continua Caract. Inst. DC

Ejemplo: Resistencia total del voltmetro Rt= 600 K y la I= 1 mA Resistencia total del voltmetro Rt = 300 K y la I= 1 mA

Resistencia total del voltmetro Rt = 60 K y la I= 1 mA SV = Rv/escala Luego: Sv1 = Sv2 = Sv3 = 1000 /V

LINEALIDAD DE LA ESCALA DEL VOLTMETRO Y DEL AMPERMETRO: . Significa que las escalas estn divididas en tramos iguales y estas escalas pueden ser del Amp. y del volt.

Continua Cract. Inst. DC

Cmo determinar si una escala es lineal? En forma prtica determinaremos que una escala del Amp. o

del Vol. Es lineal comparando con un Amp. o Vol. Patrn cuya escala sea lineal. Ampermetro patron = instrumento de referencia = Ar Ampermetro en prueba = inst. En estudio = Ae Al graficar Ae vs Ar la pendiente tendr un ngulo de 45 Ar Para esta prueba se require: 30 ------Fuente de volt. De buena calidad, Ri 1 0 --- 45 Ae pequea y debe ser regulable y estable -La resistencia Rs = fija + mvil.

Cntinuacin Caract. Inst. DC

R es tal que cubre todo el rango de medida (R es variable) Ar instrumento de medicin patrn que sea precisa y de

escala ntida. Dividir el rango de medida en n partes. En instrumentos de campo radial uniforme depende de la distribucin interna (densidad de flujo magntico B y entrehierro) Para probar la linealidad de un instrumento trabajamos con un instrumento de rango alto y con un instrumento de rango pequeo como un Amp. O con dos Amp..

Continua.caract. Inst. DC
RESISTENCIA INTERNA DE UN AMPERMETRO Y DE

UN VOLTMETRO: Ri = RA/amp. Ideal si RA O y esta instalado en serie en el ckto. Ri = RV /el voltmetro ideal RV va paralelo al ckto. Ri = Rg / galvanmetro Rg = f(material, ,n) MATERIAL: debe ser resistencia de alta temperatura y el coeficiente de temperatura estable. Por tanto ser de cobre, constantan o manganina. Se requiere una corriente mnim:a para una mxima deflexin: Ig = mnima para max.

Continua caract. Inst. DC

Ig = Kt[] /nBA o Ig = Kg [] [] = Ig/Kg Kg = Kt/nBA , Kt 0 , n=grande, A yB=gran Ig = Kg[] ley de deflexin esttica de los instrumentos de

campo radial. Kg= const. Del galvanmetro, Kt = const. De elasticidad del muelle, B = densidad de flujo Magntico, n = # de espiras, A = rea, Kt = f(, material, longitud del espiral), l = longitud Del espiral no debera ser ni muy grande ni muy pequeo El instrumento se vuelve frgil. B = f(entrehierro y material) Entrehierro mnimo se hace muy delicado, material aleacin de acero con aluminio, A no se debe variar por que hace lento al instrumento y aumenta el volumen, mayor # de espiras hacen pesado al sistemas.