MICROSCOPIO ELECTRNICO

DE BARRIDO
Thania Stehphania Cortez Venegas

DEFINICION:

Instrumento que permite la observacin y caracterizacin superficial de materiales inorgnicos y orgnicos, entregando informacin morfolgica del material analizado. A partir de l se producen distintos tipos de seal que se generan desde la muestra y se utilizan para examinar muchas de sus caractersticas.

El microscopio electrnico de barrido puede estar equipado con diversos detectores, entre los que se pueden mencionar: un detector de electrones secundarios para obtener imgenes de alta resolucin SEI (Secundary Electron Image), un detector de electrones retrodispersados que permite la obtencin de imgenes de composicin y topografa de la superficie BEI (Backscattered Electron Image), y un detector de energa dispersiva EDS ( Energy Dispersive Spectrometer) permite colectar los Rayos X generados por la muestra y realizar diversos anlisis e imgenes de distribucin de elementos en superficies pulidas.

Un MEB moderno consta esencialmente de las siguientes partes :

Una unidad ptica-electrnica, que genera el haz que se desplaza sobre la muestra. Un portamuestra, con distintos grados de movimientos. Una unidad de deteccin de las seales que se originan en la muestra, seguida de un sistema de amplificacin adecuado. Un sistema de visualizacin de las imgenes ( tubo de rayos catdicos ). Un sistema de vaco, un sistema de refrigeracin y un sistema de suministro elctrico, relativamente similares a los del MET. Un sistema de registro fotogrfico, magntico o de video. Un sistema de procesamiento de la imagen con ayuda computacional ( optativo ).

PREPARACIN DE MUESTRAS:

La preparacin de muestras es, en general, sencilla. Los requisitos indispensables que deben cumplir son ausencia de lquidos, es decir, la muestra tiene que estar seca y adems debe ser conductora de la corriente elctrica. Este ltimo requisito se cumple en los metales pero no as en otro tipo de materiales, por lo que para hacer a la muestra conductora sela recubre de una capa de algn material conductor tal como el carbn o el oro. Este recubrimiento ha de ser suficientemente grueso como para que circule la corriente elctrica que se deposita en la muestra y suficientemente delgado para que no enmascare o tape las caractersticas superficiales de inters.

ELECTRONES SECUNDARIOS
La seal de electrones secundarios es la que se emplea normalmente para obtener una imagen de la muestra. Es la seal que nos proporciona una imagen ms real de la superficie que estemos estudiando, se considera un electrn secundario aquel que emerge de la superficie de la muestra con una energa inferior a 50 eV(electronvoltios), y un electrn retrodispersado el que lo hace con una energa mayor.

ELECTRONES RETRODISPERSADOS
Estos electrones proceden en su mayora del haz incidente que rebota en el material despus de diferentes interacciones La intensidad de la seal de retrodispersados, para una energa dada del haz, depende del numero atmico del material (a mayor numero atmico mayor intensidad) Este hecho permite distinguir fases de un material de diferente composicin qumica. Las zonas con menor Z se vern mas oscuras que las zonas que tienen mayor nmero atmico. Esta es la aplicacin principal de la seal de retrodispersados.

ANALIZADOR DE RAYOS X

En el analizador EDS de rayos X del MEB se realizan diversos anlisis representados con histogramas e imgenes de distribucin de los elementos qumicos presentes en la muestra. La formacin de un espectro EDS de Rayos x se obtiene mediante un software (INCA) que recoge durante un determinado tiempo (minutos) los fotones emitidos por la muestra, clasificndolos segn su energa. El espectro se presenta como un histograma en donde el eje de las X tiene unidades de energa (Kiloelectrovolts) y el eje de las Y el Nmero de cuentas o intensidad. En el espectro se realiza de forma automtica la identificacin y el anlisis cualitativo y cuantitativo de los diferentes elementos a travs de picos en la campana de Gauss observados en el histograma. En una muestra se elige uno o varios sitios de inters para ver si toda la muestra contiene los mismos elementos o hay variacin de estos en un cm

ALGUNAS APLICACIONES:

Geologa Investigaciones geomineras, cristalogrficas, mineralgicas y petrolgicas. Estudio morfolgico y estructural de las muestras. Estudio de materiales Caracterizacin microestructural de materiales. Identificacin, anlisis de fases cristalinas y transiciones de fases en diversos materiales tales como metales, cermicos, materiales compuestos, semiconductores, polmeros y minerales. Composicin de superficies y tamao de grano. Valoracin del deterioro de materiales, determinacin del grado de cristalinidad y presencia de defectos. Identificacin del tipo de degradacin: fatiga, corrosin, fragilizacin, etc. Metalurgia Control de calidad y estudio de fatiga de materiales, caractersticas texturales. Anlisis de fractura (fractomecnica) en materiales.

Paleontologa y Arqueologa Caracterizacin de aspectos morfolgicos. Control de Calidad En este campo, el microscopio electrnico de barrido es de gran utilidad para el seguimiento morfolgico de procesos y su aplicacin en el control de calidad de productos de uso y consumo. Algunas industrias que lo utilizan son: Fibras En fibras textiles el Microscopio Electrnico de Barrido se utiliza para examinar: Detalles superficiales de fibras. Modificaciones en las formas de las fibras o en detalles superficiales. Daado de fibras. Construccin de hilos y tejidos. Fractografa de fibras rotas por diferentes causas. Urdimbre. Dimensiones de caractersticas de fibras desde diferentes ngulos.

La columna debe mantener un alto vaco, bsicamente por cuatro razones: 1.- Para permitir el desplazamiento de electrones. Como la distancia entre el can de electrones y la pantalla es de aproximadamente un metro, se debe evacuar el gas de toda la columna. En caso contrario, los electrones seran dispersos o detenidos por molculas de gas, dada la escasa energa cintica de ellos. La forma ideal de trabajo sera remover todo el aire de la columna, pero esto es imposible. Gases, principalmente aire y vapor de agua, penetran en el sistema y deben extraerse continuamente.

2.- Para evitar descargas de alta tensin en el can electrnico. Cualquier molcula de gas presente entre el filamento y la placa andica se convierte en un in positivo al ser bombardeado por los electrones. Esto producira una descarga elctrica entre el filamento y el nodo, lo que impedira la formacin de una haz estable de electrones, adems de interferir en el contraste de la imagen. 3.- Para evitar contaminacin del espcimen y de las aberturas. Los gases residuales se condensan en el espcimen y lo contaminan.

4.- Para incrementar la vida til del filamento. A bajo vaco, la vida del filamento se reduce significativamente por oxidacin del tungsteno. Esta oxidacin tambin afecta la eficiencia de filamento para emitir electrones

ALGUNAS APLICACIONES

Peritajes Estudios de muestras de cualquiera de las reas antes mencionadas. Medicina Forense Anlisis morfolgico de pruebas. Botnica, Biomedicina y Medicina Estudio morfolgico. Estudio qumico y estructural de obras de arte, alteracin de monumentos, control de calidad, identificacin de pigmentos (restauracin, autentificacin) Peritaciones Caligrficas Estudio de trazos. Electrnica Control y calidad de partes electrnicas.