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CONTENIDO

INTRODUCCIN SEM PREPARACIN DE MUESTRAS EQUIPO Y FUNCIONAMIENTO IMPORTANCIA Y APLICACIONES ARTICULO

ES UNA TCNICA IMPRESCINDIBLE EN DISTINTOS TIPOS DE ESTUDIO


EN 1965, LA CAMBRIDGE INSTRUMENT CO. LANZ EL PRIMER SEM SCANNING ELECTRON MICROSCOPY SEM

El microscopio electrnico de barrido utiliza electrones en lugar de luz para formar una imagen.

Un dispositivo genera un haz de electrones iluminando la muestra. Diferentes detectores recogen los electrones generados de la interaccin con la superficie para crear una imagen que refleja las caractersticas superficiales de la muestra.

Proporcionando informacin de las formas, texturas y composicin qumica de los constituyentes de la muestra.

SE DISTINGUE SEGN EL TIPO DE MUESTRA QUE SE QUIERE ANALIZAR

Muestra orgnica no conductora

Muestra inorgnica conductora

Monturas

Limpiador Ultrasnico

Cintas Conductoras

Plata Coloidal

Plastilina Conductora

Celulosa

Tcnicas de recubrimiento de las muestras en un SEM


Sputtering

Evaporacin Trmica

CAN DE ELECTRONES

OBJETIVOS (LENTES)

CMARA DE LA MUESTRA

DETECTORES

CMARA DE VACO

Produccin de un haz de electrones

El haz golpea la muestra

Electrones secundarios son emitidos por la muestra

Recorrido del haz a travs de la cmara de vaco

El haz pasa por las lentes objetivas

Los electrodos secundarios son atrados por un detector

Modificacin del trayecto del haz por las bobinas

El haz atraviesa las lentes electromagnticas

Los electrones son convertidos en puntos de mayor y menor luminosidad (Luz visible)

GEOLOGA

ESTUDIO DE MATERIALES

METALURGIA

ODONTOLOGA

PALEONTOLOGA Y ARQUEOLOGA

CONTROL DE CALIDAD

MEDICINA FORENSE

BOTNICA, BIOMEDICINA Y MEDICINA

ESTUDIO QUMICO Y ESTRUCTURAL DE OBRAS DE ARTE

PERITACIONES CALIGRFICAS

ELECTRNICA

OBJETIVO PRINCIPAL: El objetivo revelar algunas de las caractersticas estructurales de los materiales cermicos, para esto se muestran micrografas tomadas por Microscopio Electrnico de Barrido (SEM) de polvos y de los cermicos sinterizados, as mismo se comparan algunas de las propiedades de los cermicos respecto a otros materiales restaurativos en la practica odontolgica actual.

La evolucin de los materiales cermicos avanza dinmicamente y el futuro de los mismos como materiales de uso estomatolgico (dental) va en direccin de la sustitucin de los materiales metlicos y hacia una mayor hibridacin con materiales polimricos.

Se observa que la estructura del vitrocermico es mas sensible al grabado acido (proporcionar superficie porosa), siendo materiales cermicos mas sensibles, mas frgiles y menos densos. Por este motivo su uso mas indicado para carillas en zonas anteriores o como recubrimientos de ncleos cermicos o metlicos. Se puede observar una microestructura compacta y homognea, pero resultan tan compactas que tienen problemas adhesin con las resinas compuestas cementantes y en sus interfaces con otro cermicos. Este cermico es el material que mayor resistencia presenta por lo que puede ser usado en zonas posteriores para sustituir los metales.

Es posible observa una microestructura compacta pero con un tamao de grano mayor y menos homogneo con una forma de grano mas variable casi que hexagonal. La almina se conoce por su alta dureza por lo que provoca un potencial desgaste de las piezas naturales que la rodeen. La formacin de grietas en lo vrtices de las huellas indican que es relativamente frgil a la fractura, por tanto no es conveniente para confeccionar estructuras protsicas extensas de ncleos de almina pues pueden colapsar en su punto mas dbil ante fuerzas biomdicas compresivas.

Cermicos poseen buenas propiedades estticas y resistencia mecnica, pero su punto dbil se encuentra en su relativa fragilidad ante la fractura, lo cual deber ser tomado en cuenta al momento de la eleccin de material para la restauracin en la practica clnica. La evolucin de los materiales cermicos avanza dinmicamente acelerando la sustitucin de los materiales metlicos y hacia su hibridacin con materiales polimricos.

DYKSTRA, M. Biological electron microscopy: theory, tehniques and troubleshooting. Plenum press, 1992.
HAYAT, M. Fixation for electron microscopy, Academic Press,1981. RENAU-PIQUERAS, Jaime. FAURA, Magdalena. Principios bsicos del Microscopio Electrnico de Barrido. GONZALES LORENZO, Carlos David. Preparacin de muestras para un microscopio electrnico de barrido I. Universidad Nacional de Ingeniera. 9 de Mayo del 2009

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