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1
2
1
2
(
)
2
0
Siendo:
f(t)>0; < < ; < <
:
Funcin de confiabilidad de la ley
normal de falla
0
=
1
2.
(
1
2
[
]
2
)
= 1 (
)
Ley normal de falla.-
La ley normal de falla representa un modelo
apropiado para los componentes en los cuales la
falla se debe a algunos efectos de desgaste. Una
de las desventajas que posee la distribucin
normal para modelar fenmenos observables en
la teora de la confiabilidad es que existen
tiempos de vida que se extienden a , es decir
a tiempos de falla negativos.
Ley normal de falla.-
Sin embargo, si la funcin de
distribucin normal posee un valor
medio relativo relativamente alto y una
desviacin estndar relativamente
pequea, el tema de discusin para
tiempos de falla negativos no presenta
ningn problema. En otras palabras, la
funcin normal, tiende rpidamente a
cero lejos de su mximo. Esta
distribucin se utiliza, por ejemplo,
para modelar los tiempos de vida de los
cartuchos de impresin para
computadoras.
Ley exponencial de falla.-
Aplicable al estudio de la confiabilidad de
componentes que an no estn afectados por
problemas de vejez o desgaste.
Ley exponencial de falla.-
Un modelo matemtico para la probabilidad de fallo es
definir la variable aleatoria como el tiempo durante el
que el elemento funciona satisfactoriamente antes de
que se produzca la falla. La funcin confiabilidad ser
entonces:
= > =
()
0
= 1
()
(t)+
(t)).
Funcin de confiabilidad de la ley
exponencial de falla
= 1
0
=
=
1
0
La confiabilidad R
T
(t) representa, en este caso, la
probabilidad de que el dispositivo, caracterizado
por una tasa de fallas constante, no se avere durante el
tiempo de funcionamiento t. Es importante destacar que
la frmula anterior se aplica a todos los elementos
que han sufrido un uso adecuado que permita excluir las
fallas iniciales caracterstica de la tasa de fallas. Adems,
aplicando la primera frmula se observa que la misma es
independiente de t y slo depende de t; es decir, que el
artculo en cuestin podr ser considerado como si fuera
nuevo mientras perdure su funcionamiento.
Ley de Weibull.-
En 1951 Weibull propuso que la expresin
emprica ms simple que poda representar una
gran variedad de datos reales poda obtenerse
escribiendo :
= (
0
t0 - parmetro inicial de localizacin
h - parmetro de escala o vida caracterstica
- parmetro de forma
Ley de Weibull.-
Esta distribucin se caracteriza por considerar a la tasa de fallos variable. Esta
distribucin es utilizada por su gran flexibilidad, al poder ajustarse a una gran
variedad de funciones de fiabilidad de dispositivos.
La distribucin de Weibull es una generalizacin de la distribucin
exponencial y normal
Sabemos que la tasa de fallos se puede escribir, en funcin de la fiabilidad, de
la siguiente forma:
R (t) = exp [ - (t) d t]
Siendo:
(t) - Tasa de fallos
R (t) - Fiabilidad
F (t) - Infiabilidad o Funcin acumulativa de fallos
t - Tiempo
Distribucion de Weibull
La distribucin de Weibull se representa normalmente por la
funcin acumulativa de distribucin de fallos F (t):
=
(
Siendo la funcin densidad de probabilidad:
=
La tasa de fallos para esta distribucin es:
=