Anlisis de materiales

A.L.A
espectrmetro de emisin ptica -analiza todo tipo de
metales

.
Microscopio electrnico de barrido (o SEM, de
Scanning Electron Microscopy)

El Microscopio electrnico de barrido (o

SEM, de Scanning Electron Microscopy), es
aquel que usa electrones en lugar de luz para
formar una imagen. Tiene una gran
profundidad de campo, la cual permite que se
enfoque a la ez una gran parte de la muestra.
Tam!i"n produce imgenes de alta resolucin,
que significa que caracter#sticas espacialmente
cercanas en la muestra pueden ser e$aminadas
a una alta magnificacin. tam!ien tiene
analizador por %&.
'icroscopio electronico con %&

METALES Y ORGANICOS

Anlisis morfolico ! fractorfico"

Anlisis de incl#siones"

Corrosin de s#perficies !
o$idaciones"

Est#dio% anlisis ! e&al#acin de fases"

Cartoraf'a de elementos (#'micos"

Ata(#es s#perficiales por alteracin"

Espesores ! distrib#cin de capas"

'icroscopio electrnico de !arrido-(E'-con
analizador de espectros de %&
)luorescencia de %&- analiza elementos desde sodio *asta
+ranio-desde ,--. *asta partes por milln
%&
)luorescencia %&-manual
%&

ES)ECTROMETR*A +E RAYOS ,

/uando los ra0os & con suficiente frecuencia (energ#a)

interaccionan con una sustancia, los electrones de las capas
interiores del tomo se e$citan a or!itales ac#os e$ternos, o !ien
son eliminados completamente, ionizndose el tomo. La a!sorcin
o frecuencias de emisin (energ#as) son caracter#sticas de cada
tomo espec#fico. Adems, para un tomo espec#fico se producen
peque1as ariaciones de frecuencia (energ#a) que son
caracter#sticas del enlace qu#mico.

. La a!sorcin de ra0os & 0 la espectroscopia de emisin se usan

en qu#mica 0 ciencias de los materiales para determinar la
composicin elemental 0 el enlace qu#mico, fases cristalinas.
Espectrometria %&
2/3

)lasma Acoplado Ind#cti&amente Con

Espectrmetro de Masa -IC).MS/
El e(#ipo anali0a metales alcan0ando
ni&eles de l'mites de deteccin de
partes por trilln" El acoplamiento a la
cromatoraf'a l'(#ida permite la
identificacin de Ars1nico ! Cromo
presentes en alimentos ! m#estras
ambientales"
2/3-inductiel0 coupled plasma ( plasma de acoplamiento
inductio)-analiza metales *asta partes por trilln.
2/3
Espectrmetro por A!sorcin atmica-elementos
A)'
El microscopio de A2M p#ede reali0ar dos tipos de medidas3 imaen !
f#er0a" Se #sa para materiales cond#ctores ! no cond#ctores
En el modo de imaen la superficie es !arrida en el plano de la superficie
(&-4) por la punta. 5urante el !arrido la fuerza interatmica entre los
tomos de la punta 0 los tomos en la superficie muestral prooca una
fle$in del listn. En medidas de f#er0a la punta se *ace oscilar
erticalmente mientras se registra la fle$in del listn. La medida se
e$presa entonces representando fuerza ()) frente a altura (6) so!re la
muestra. Las medidas de fuerza son 7tiles en estudios de fuerzas de
ad*esin 0 permiten estudiar a niel de una sola mol"cula interacciones
espec#ficas entre mol"culas (e89 interaccin ant#geno-anticuerpo, interaccin
entre *e!ras complementarias de A5:) o interacciones estructurales de las
!iomol"culas (plegado de prote#nas) as# como caracterizar la elasticidad de
pol#meros. Tam!i"n es 7til en estudios de indentacin de materiales
!landos (pol#meros) que permitan caracterizar propiedades elsticas de la
muestra como el mdulo de elasticidad o iscoelsticas.
..
A)'
A)'
A)'
Atomic force microscope

.
A)'
(T'- scanning tunneling microscope
Se #sa para materiales cond#ctores ! anali0a atomo
por atomo"

El microscopio de efecto t7nel ((T') es un instrumento

que permite isualizar regiones de alta o !a8a densidad
electrnica superficial, 0 de a*# inferir la posicin de
tomos indiiduales o mol"culas en la superficie de una
red. La ;o!seracin< atmica se *a uelto una tarea
com7n en muc*os la!oratorios de!ido al !a8o costo de
este tipo de microscop#a en comparacin con la
microscop#a electrnica.

Las t"cnicas de microscop#a de !arrido por sondeo

((3'9 (canning pro!ing microscop0) que inclu0en al
(T' 0 al A)' se utilizan en reas de la ciencia que an
desde la !iolog#a *asta la f#sica del estado slido
(canning tunneling microscope
(T'
(T'
(canning tunneling microscope

.
(T'
espectrmetro de emisin ptica analiza todo tipo de
metales

.
)in