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3

O Erro de Medio
Fundamentos da Metrologia
Cientfica e Industrial

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MCI

Erro de Medio
sistema de
medio

indicao

mensurando

valor verdadeiro

erro de
medio
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 2/67)

Um exemplo de erros...

Teste de preciso de tiro de canhes:

Canho situado a 500 m de alvo fixo;


Mirar apenas uma vez;
Disparar 20 tiros sem nova chance para
refazer a mira;
Distribuio dos tiros no alvo usada
para qualificar canhes.

Quatro concorrentes:
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 3/67)

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 4/67)

Ea

Ea

Es

Es
A

Ea

Ea

Es

Es

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 5/67)

3.1
Tipos de erros

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Tipos de erros

Erro sistemtico: a parcela


previsvel do erro. Corresponde ao
erro mdio.

Erro aleatrio: a parcela


imprevisvel do erro. o agente que
faz com que medies repetidas
levem a distintas indicaes.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 7/67)

Preciso & Exatido

So parmetros qualitativos
associados ao desempenho de um
sistema.

Um sistema com tima preciso


repete bem, com pequena disperso.

Um sistema com excelente exatido


praticamente no apresenta erros.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 8/67)

3.2 e 3.3
Caracterizao e
componentes do erro de
medio
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Exemplo de erro de medio


(1000,00 0,01) g

E = I - VVC

E = 1014 - 1000
1014
g

1014
0g

E = + 14 g
Indica a mais do
que deveria!

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 10/67)

Erros em medies repetidas

111
1014
1015
1017
0g

1010

erro mdio

(1000,00
(1000,00
(1000,00
0,01)
0,01)
0,01)
g g g

1014 g
1015 g
1017 g
1012 g
1015 g
1018 g
1014 g
1015 g
1016 g
1013 g
1016 g
1015 g

disperso

1020

1000
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 11/67)

Clculo do erro sistemtico


Es I VV

VV

I
mdia de infinitas indicaes

condies:
valor verdadeiro conhecido exatamente
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 12/67)

Estimativa do erro sistemtico


Td I VVC

VVC

tendncia

Td U Td
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 13/67)

3.4
Erro sistemtico, tendncia e
correo

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MCI

Algumas definies

Tendncia (Td)

Valor Verdadeiro Convencional (VVC)

uma estimativa do Erro Sistemtico


uma estimativa do valor verdadeiro

Correo (C)

a constante que, ao ser adicionada


indicao, compensa os erros
sistemticos
igual tendncia com sinal trocado

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 15/67)

Correo dos erros sistemticos

Td

C = -Td

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 16/67)

Indicao corrigida
N
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
mdia

I
1014
1015
1017
1012
1015
1018
1014
1015
1016
1013
1016
1015
1015

C
-15
-15
-15
-15
-15
-15
-15
-15
-15
-15
-15
-15
-15

Ic
999
1000
1002
997
1000
1003
999
1000
1001
998
1001
1000
1000

Ea
-1
0
2
-3
0
3
-1
0
1
-2
1
0
0

C = -Td

C VVC I
C = 1000 - 1015
C = -15 g

995

1000

1005

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 17/67)

3.5
Erro aleatrio, incerteza
padro e repetitividade

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Erro aleatrio e repetitividade

Ea i I i - I
-5

O valor do erro aleatrio imprevisvel.


A repetitividade define a faixa dentro da qual
espera-se que o erro aleatrio esteja contido.

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 19/67)

Distribuio de probabilidade
uniforme ou retangular

1/6

Probabilidade (1/6)

probabilidade

1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
0

1 2 3 4 5 6
Lanamento de um dado

Valores

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 20/67)

Distribuio de probabilidade
triangular
probabilidade (1/36)
6
4
2
1,0

1,5

2,0

2,5

3,0

3,5

4,0

4,5

5,0

5,5

6,0

Mdia de dois dados


Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 21/67)

Distribuio de probabilidade
triangular
Probabilidade (1/36)

7
6
5
4
3
2
1
0
0

Mdia de 2 dados

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 22/67)

Lanamento de um dado
Probabilidade (1/6)

1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
0

Valores

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 23/67)

Mdia de dois dados


P rob a b ilid ade (1/36)

7
6
5
4
3
2
1
0
0

M di a d e 2 d ado s

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 24/67)

Mdia de trs dados


P r o bab ilid ade (1/2 16)

30
25
20
15
10
5
0
0

M di a d e 3 d ado s

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 25/67)

Mdia de quatro dados


P ro bab ilid a d e (1 /12 96)

16 0
14 0
12 0
10 0
80
60
40
20
0
0

M di a d e 4 d ado s

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 26/67)

Mdia de seis dados


P ro b a bili dad e ( 1/ 466 56)

500 0
450 0
400 0
350 0
300 0
250 0
200 0
150 0
100 0
50 0
0
0

M di a d e 6 d ado s

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 27/67)

Probabilidade (1/1679616)

Mdia de oito dados


160000
140000
120000
100000
80000
60000
40000
20000
0
0

Mdia de 8 dados

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 28/67)

Teorema do sopo

Quanto mais
ingredientes
diferentes forem
misturados mesma
sopa, mais e mais o
seu gosto se
aproximar do gosto
nico, tpico e
inconfundvel do
"sopo".
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 29/67)

Teorema central do limite

Quanto mais variveis aleatrias


forem combinadas, tanto mais o
comportamento da combinao se
aproximar do comportamento de
uma distribuio normal (ou
gaussiana).

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 30/67)

Curva normal
pontos de inflexo

desvio padro
mdia

assntota

assntota

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 31/67)

Efeito do desvio padro

>>

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 32/67)

Clculo e estimativa do
desvio padro
clculo exato:
(da populao)

estimativa:
(da amostra)
n

lim
n

Ii
I
n

2
(
I

I
)
i
i 1

2
(
I

I
)
i
i 1

n 1

i-sima indicao
mdia das "n" indicaes
nmero de medies repetitivas efetuadas

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 33/67)

Incerteza padro (u)

medida da intensidade da componente


aleatria do erro de medio.
corresponde estimativa do desvio
padro da distribuio dos erros de
medio.
u=s

Graus de liberdade ():

corresponde ao nmero de medies


repetidas menos um.
=n-1

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 34/67)

rea sobre a curva normal

95,45%

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 35/67)

Estimativa da repetitividade
(para 95,45 % de probabildiade)
A repetitividade define a faixa dentro da qual,
para uma dada probabilidade, o erro aleatrio
esperado.
Para amostras infinitas:
Re = 2 .

Para amostras finitas:


Re = t . u

Sendo t o coeficiente de Student para = n - 1


graus de liberdade.
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 36/67)

Coeficiente t de Student

1
2
3
4
5
6
7
8
9

t
13.968
4.527
3.307
2.869
2.649
2.517
2.429
2.366
2.320

10
11
12
13
14
15
16
17
18

t
2.284
2.255
2.231
2.212
2.195
2.181
2.169
2.158
2.149

19
20
25
30
35
40
50
60
70

t
2.140
2.133
2.105
2.087
2.074
2.064
2.051
2.043
2.036

80
90
100
150
200
1000
10000
100000

t
2.032
2.028
2.025
2.017
2.013
2.003
2.000
2.000
2.000

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 37/67)

Exemplo de estimativa da
repetitividade

(1000,00 0,01) g

1
1014
g

1014
0g

1014 g
1015 g
1017 g
1012 g
1015 g
1018 g
1014 g
1015 g
1016 g
1013 g
1016 g
1015 g

mdia: 1015 g

12

2
(
I

1015
)
i
i 1

12 1

u = 1,65 g
= 12 - 1 = 11
t = 2,255
Re = 2,255 . 1,65
Re = 3,72 g

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 38/67)

Exemplo de estimativa da
repetitividade
-3,72

1010

1015

1015

+3,72

1020

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 39/67)

Efeitos da mdia de medies


repetidas sobre o erro de medio

Efeito sobre os erros sistemticos:

Como o erro sistemtico j o erro


mdio, nenhum efeito observado.

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 40/67)

Efeitos da mdia de medies


repetidas sobre o erro de medio

Efeitos sobre os erros aleatrios

A mdia reduz a intensidade dos erros


aleatrios, a repetitividade e a incerteza
padro na seguinte proporo:

ReI
ReI
n

uI
uI
n

sendo:
n o nmero de medies utilizadas para calcular a
mdia
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 41/67)

Exemplo

No problema anterior, a repetitividade da


balana foi calculada:

ReI = 3,72 g

Se vrias sries de 12 medies fossem


efetuadas, as mdias obtidas devem
apresentar repetitividade da ordem de:

Re I12

3,72

1,07 g
12

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 42/67)

3.6
Curva de erros e erro mximo

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Curva de erros
Td + Re
Td
Td - Re

erro
Emx
15

1015

- Emx

indicao

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 44/67)

Algumas definies

Curva de erros:

o grfico que representa a distribuio


dos erros sistemticos e aleatrios ao
longo da faixa de medio.

Erro mximo:

o maior valor em mdulo do erro que


pode ser cometido pelo sistema de
medio nas condies em que foi
avaliado.

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 45/67)

3.7
Representao grfica dos
erros de medio

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Sistema de medio perfeito


(indicao = VV)
indicao
960
980

1000

1020

1040

960

1000

1020

1040

980

mensurando
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 48/67)

Sistema de medio com erro


sistemtico apenas
indicao
960
980

1000

1020

1040

+Es

960

980

1000

1020

1040

mensurando
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 49/67)

Sistema de medio com erros


aleatrios apenas
indicao
960
980

Re

1000

1020

1040

960

1000

1020

1040

980

mensurando
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 50/67)

Sistema de medio com erros


sistemtico e aleatrio
indicao
960
980

Re

1000

1020

1040

+Es

960

980

1000

1020

1040

mensurando
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 51/67)

3.8
Erro ou incerteza?

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Erro ou incerteza?

Erro de medio:

o nmero que resulta da diferena entre


a indicao de um sistema de medio e o
valor verdadeiro do mensurando.

Incerteza de medio:

o parmetro, associado ao resultado de


uma medio, que caracteriza a faixa dos
valores que podem fundamentadamente
ser atribudos ao mensurando.

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 53/67)

3.9
Fontes de erros

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Fontes de erros:
fatores externos

sinal de
medio
retroao

mensurando

operador

sistema de medio
indicao
fatores
internos

retroao

fatores externos

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 55/67)

Erros provocados por fatores


internos

Imperfeies dos componentes e


conjuntos (mecnicos, eltricos etc).
No idealidades dos princpios fsicos.
alongamento

regio linear

fora
regio no linear

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 56/67)

Erros provocados por fatores


externos

Condies ambientais

temperatura
presso atmosfrica
umidade

Tenso e freqncia da rede eltrica


Contaminaes

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 57/67)

Erros provocados por retroao

A presena do sistema de
medio modifica o
mensurando.

65 C
20 C

70 C

65 C

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 58/67)

Erros induzidos pelo operador

Habilidade
Acuidade visual
Tcnica de medio
Cuidados em geral
Fora de medio

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 59/67)

Dilatao trmica

Propriedade dos materiais modificarem


suas dimenses em funo da variao
da temperatura.
T
b
c
c'

b'

b = b' - b
c = c' - c

b = . T . b
c = . T . c

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 60/67)

Temperatura de referncia

Por conveno, 20 C a
temperatura de referncia para a
metrologia dimensional.
Os desenhos e especificaes
sempre se referem s caractersticas
que as peas apresentariam a 20 C.

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 61/67)

Dilatao trmica:
distintos coeficientes de expanso trmica
I = 40,0

I = 44,0

>
I = 38,0

20C

40C

10C

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 62/67)

Dilatao trmica:
mesmos coeficientes de expanso trmica

I = 40,0

I = 40,0

=
I = 40,0

20C

40C

10C

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 63/67)

Dilatao trmica:
Ce

Sabendo que a
20C
Ci = Ce
=
Ci

Qual a resposta
certa a 40C?
(a) Ci < Ce
(b) Ci = Ce
(c) Ci > Ce
(d) NRA

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 64/67)

Dilatao trmica:

(a) Ci < Ce
(b) Ci = Ce
(c) Ci > Ce
(d) NRA
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 65/67)

Micrmetro

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 66/67)

Correo devido
dilatao trmica
SM
Mat Temp.
A 20 C
A TSM 20 C
A TSM
A 20 C
A TSM 20 C
A TSM

Pea a medir
Mat Temp.
A 20 C
A TP = TSM
A TSM TP
B 20 C
B TSM = TP
B TSM TP

Correo devido temperatura


C=0
C=0
C = A . L . (TSM - TP)
C=0
C = (A - B). (TSM - 20C) . L
C = [A . (TSM - 20C) - B . (TP - 20C)] . L

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 3 - (slide 67/67)