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CONTROL DE CALIDAD
Walter Shewhart
Equipo N 1
ARELLANO CANTON MIGUEL ANGEL
ESPEJEL TORRES JORGE
MOLINA VILLEGAS JESUS ADRIAN
MOLINA VILLEGAS JESUS ARMANDO
PANIAGUA TAPIA MARIA DEL ROCIO
VALDEZ HUERTA VCTOR HUGO
VEGA FLORES ESTEFANY AIMEE
Walter Shewhart
Es considerado por muchos como el
verdadero padre de la calidad, aunque
algunos le nombran ms bien "el
abuelito", ya que fue maestro de los
otros dos "padres": Deming y Juran.
Naci en Illinois, USA el 18 de marzo de
1891 y estudi en las universidad de
California en Berkeley hasta obtener la
maestra y el doctorado en fsica en
1917.
CONTROL ESTADSTICO DE
LA PRODUCCIN
CARTAS DE CONTROL POR VARIABLES
CARTAS DE CONTROL POR ATRIBUTOS
Cartas de Control
La
carta
control
desarrollada por Shewhart
es un dispositivo grfico
para detectar modelos no
naturales de variacin en
los datos resultantes de
procesos repetitivos.
Una carta de control es
un grfico en el cual se
representan los valores de
algn tipo de medicin
realizada
durante
el
funcionamiento
de
un
proceso continuo, y que
sirve para controlar dicho
Importante
herramienta
utilizada en
control de calidad
de procesos.
Ventajas
Los grficos de control pueden
dar indicios sobre las causas del
problema.
Inspeccin por
parte de
especialistas
Tendencias en el
comportamiento,
ciclos, etc.
Informacin sobre el tipo o
causa del problema que
puede estar generando la
salida del control.
Caracterstica de calidad
VARIABLE
Caracterstica cuantitativa;
puede expresarse mediante un
nmero real o ser medida o
recogida en una escala continua.
Dureza, peso,
friabilidad
ATRIBUTO
Caracterstica cualitativa; se
observa si un artculo posee o no
dicha caracterstica.
La caracterstica no responde
a una escala de medida y debe
ser clasificada dentro de un
conjunto
de categoras.
Color,
rajaduras
VENTAJAS DE DIAGRAMAS DE
CONTROL POR ATRIBUTOS
Los diagramas de control de atributos tienen
la ventaja de que hacen posible considerar
varias caractersticas de calidad al mismo
tiempo y clasificar el artculo como
disconforme
si
no
satisface
las
especificaciones
requeridas.
Hay
una
evidente sencillez asociada al diagrama de
atributos en este caso. Adems mediante la
inspeccin por atributos pueden evitarse
mediciones costosas en recursos y tiempo.
C.C. x ATRIBUTOS
Nmero de defectuosos o
disconformes
Grfico P
Proporcin de defectuosos
o disconformes
Grfico C
Nmero de defectos o
disconformidades
Grfico U
Defectos o
disconformidades por
unidad.
Cartas de Control p
Estas cartas miden la proporcin de unidades
no conformes en un grupo de unidades que se
inspecciona. El objetivo es comprobar si la
evolucin de las proporciones mustrales
observadas
son compatibles con un mismo valor
poblacional p.
Este tipo de grafica se puede construir con n
constante o variable por lo que a continuacin
se
muestra el procedimiento para ambos casos.
Grficos de Control por variables de
Shewart
Una de las herramientas estadsticas ms importantes en el
Control Estadstico de Procesos son los Grficos de Control.
Los primeros grficos de control fueron ideados por Walter
Shewart en los aos 20, durante el desarrollo del control
estadstico de la calidad. Han tenido una gran difusin,
siendo ampliamente utilizados y mejorados en el control de
procesos industriales.
Sin embargo, con el nuevo concepto de Calidad y su
extensin a las empresas de servicios y unidades
administrativas y auxiliares, se han convertido en mtodos
de control aplicables a procesos llevados a cabo en
cualquiera de estos campos.
Ejemplo:
En la siguiente tabla se muestran los pesos de los sobres de un
determinado alimento. Cada media hora se realizan 4 mediciones
pormuestra, sumando un total de 20 muestras. Loslmitesde
toleranciason 0,5360 (LST) y 0,4580 (LIT).
El grfico R es el siguiente:
Carta de control np
(Nmero de defectuosos)
La
carta np es un herramienta estadistca usada para
evaluar el nmero de artculos defectuosos o el nmero
de artculos conformes producidos por un procesos.
Pasos:
1. Recopilacin de datos
2. Calculo de la proporcin defectuosa de cada subgrupo (pi)
pi=Proporcin defectuosa por subgrupo
Di=Nmero de partes defectuosas por subgrupo
n = Tamao de la muestra (constante)
3. Calculo de la proporcin defectuosa promedio.
D = Nmero de partes defectuosas por subgrupo
n = Tamao de la muestra (constante)
k = Nmero de subgrupos
i
Ejemplo
En un proceso de manufactura al final de la lnea
de ensamble, antes de empacar, se hace una
inspeccin y prueba final, y en una cata p se
registra la proporcin de artculos defectuosos. En
esta misma carta se combinan las fallas de los
diferentes componentes.
Para ello, de cada lote de componentes W se
decide inspeccionar una muestra de n= 120,
inmediatamente que salen de su proceso(antes
de ser ensamblados). Los datos obtenidos en 20
lotes consecutivos se muestran en la siguiente
tabla
Lote
Lote
11
10
12
20
10
13
12
14
10
15
10
16
14
17
13
12
18
19
10
20
11
Total = 183
CARTA DE CONTROL c
(Nmero de
ocurrencias/defectos)
La carta c es una herramienta estadstica usada
para analizar la variabilidad del numero de defectos
por subgrupo.
Las cartas c responden a la pregunta Tiene una
causa especial la variacin causada en la tendencia
central de este proceso para producir un nmero
anormalmente grande o pequeo de ocurrencias
durante el perodo de tiempo observado.
Tome en cuenta que, a diferencia de las cartas p o np,
las cartas c no implican contar los objetos fsicos ms
bien implican contar los eventos. Por ejemplo, cuando
usamos las cartas np uno contara los melocotones
golpeados, cuando usamos las cartas c uno contara
los golpes.
Pasos
ejemplo
Se han observado los defectos de 50
muestras sucesivas de 40 tarjetas
electrnicas de circuitos impresos.
Entonces tenemos ya el
valor de c barra, con esta
informacin calculamos
los lmites de control con
las frmulas de la Figura
3. En la siguiente figura
se muestra la
informacin necesaria
para la construccin del
grfico de control.
CARTA DE CONTROL u
(Nmero de ocurrencias por unidad)
La carta u es una herramienta estadstica
usada para evaluar la variacin del
nmero
promedio
de defectos por articulo o unidad. Se usa
cuando el tamao del subgrupo no es
constante.
En
una
fabrica
se
ensamblan
artculos
electrnicos y al final del
proceso se hace una
inspeccin por muestreo
para detectar defectos
relativamente
menores.
En la siguiente tabla se
presenta el nmero de
defectos observados en
muestreos realizados en
24 lotes consecutivos de
piezas
electrnicas.
Construir una carta de
control u e interpretarla.
Ejemplo:
Con distinto tamao de
muestra.
Unaempresafabrica
tarjetaselectrnicas.
Alfinaldecierto proceso
de produccin se hace
una inspeccin por lotes
de las piezas y se cuenta
el nmero de
defectosencontrados en
cada lote.