Fsica del Estado Slido

DIFRACCIN DE RAYOS X
n
n
d cos d.n

Dr. Andrs Ozols

k
k
d

d c os d.n

Facultad de Ingeniera
Universidad de Buenos Aires

2009

TEMARIO
Objetivo
Naturaleza de los rayos X
Generacin de los rayos X
Interaccin con la materia
Difraccin de rayos X
Equipo experimental
Factor de estructura y funciones de distribucin
Estructura de los materiales: orden de corto rango, de
rango intermedio y de largo rango

OBJETIVO

Determinacin de la Estructura Cristalina por

Difraccin de Rayos X

Longitud de onda distancia inter-atmica

NATURALEZA DE LOS RAYOS X

0.5 - 5

Tubo de GENERACIN RAYOS X

RayosX

Agua de refrigeracin

Haz de
Electrones
- Filamento

Antictodo
Fe, Mo, Cu

Colimador de haz

Ventana de Berilio

EQUIPO de DIFRACCIN de RAYOS X

DIFRACTOMETRO de RAYOS X
Gonimetro tipo
Radiacin Molibdeno ( lnea K )

GENERACIN RAYOS X
Energa cintica
de los electrones

Ec = e V
10-50 KeV
los electrones
frenados generan

Disipacin de energa
en el frenado

en los tomos
E0

CALOR

transiciones electrnicas

Ef

e- h

RAYOS X

ESPECTRO DE RAYOS X

Espectro caracterstico

Espectro continuo
K
K
Intensidad de la

Intensidad de la

Longitud de onda

Longitud de onda

Es funcin del potencial V

radiacin

Cuando este supera un valor Vc

radiacin
(dependiente del material) aparece
el espectro caracterstico

lneas de series K, L, M, N

ESPECTRO DE RAYOS X

Intensid a d de la
Longitud de onda

LONGITUDES DE ONDA CARACTERSTICAS

Elemento

Ca
Ti
V
Cr
Mn
Fe
Co
Ni

3.357
2.766
2.521
2.295
2.117
1.945
1.796
1.664

3.085
2.528
2.302
2.088
1.923
1.765
1.635
1.504

Cu
Zn

1.548
1.448

1.403
-

FILTRADO de Lneas de RAYOS X

Radiacin X

KK

Filtros + monocromador
Radiacin Filtro

Cu

Ni

Mo

Zr

Co

Fe

Intensida d de la radia

Intensida d de la
Longitud de onda

Lnea K filtrada

Longitud de onda

DIFRACCION de RAYOS X en CRISTALES

caminos pticos = 2d sin

dsen

Si hay interferencia
Ley
de Bragg
constructiva

2d sin =
d1
d2

Familiasde planoscon separacionesd1 yd2

cada familia (d, d1, d2)

de planos tiene un
ngulo que satisface
esta ley

DIFRACTOGRAMAS de RAYOS X

Intensidad

100

60
80

Si O2Cuarzo policristalino (en polvo)

Radiacin K del Cu

40

20

20

30

40

50

60

70

80

90

POSICIONES de las REFLEXIONES en DISTINTOS PLANOS

IDENTIFICACION de COMPUESTOS Base de compuestos inorgnicos

y orgnicos)
Tarjeta del Joint Committee of Powder Diffraction Files (JCPDF)

TARJETA de IDENTIFICACIN de COMPUESTO

Joint Committee of Powder Diffraction Files (JCPDF)

APLICACIONES de la DIFRACCION de RAYOS X

La difraccin de rayos X es una tcnica verstil,

no-destructiva y analtica para la determinacin
de:Fases
Estructura
Textura
Tensiones
Que pudieran estar presentes
slidos, polvos, y lquidos

en

materiales

APLICACIONES a MATERIA CONDENSADA

Temario
Bases de la teora de difraccin de rayos X
Aplicacin de la teora de difraccin de rayos X
Aberraciones geomtricas
Tamao de cristalito
Imperfecciones de la red
Medidas del ancho de lnea
Formulacin de Von Laue de la difraccin de rayos x por un
cristal
Equivalencia de las formulaciones de Bragg y Von Laue
Difraccin por una red con una base monatmica
Factor de estructura geomtrico
Difraccin por un cristal poliatmico
El factor atmico de forma

INTENSIDAD I() DISPERSADA

sen2 N11, sen2 N22, sen
2 N3
3,
I I0
sen2 1,
3,
sen2 2, sen2

1,2 y 3 a las direcciones de vectores base de la red de Bravais

es la mitad del ngulo de dispersin, entre direcciones de los haces
incidente y el dispersado.
es la longitud de onda del haz de rayos X incidente.
Nl , N2 y N3 representan la cantidad total de nodos en cada direcciones

Difractograma caracterstico
(intensidad relativa en funcin de 2).

Intensidad

100
60

Si O2Cuarzo policristalino (en polvo)

Radiacin K del Cu

80
40

20

20

30

40

50

60

70

80

90

INTENSIDAD I() DISPERSADA

f

senN

sen

mximos de intensidad estn dados por la ley de Bragg

2dhklsen n
d

dhkles la distancia o espaciado reticular

de familia de planos (h k l)
n = 1,2,3,... es orden de la difraccin

dsen

d1
d2
Familiasde planoscon separacionesd1 yd2

Aplicacin de la teora de difraccin de rayos X

i) Aberraciones geomtricas
Funcin de las caractersticas del equipo de
difraccin y los parmetros de control del
gonimetro:
Rango
de barrido
2o0 -paso
2f de
barrido (2-100) Gonimetro tipo
Resolucin
angular
(0.01-1)
Velocidad de barrido 2/min (0.1-2/min)
Tensin de la fuente (20-60 KV)
Corriente de filamento
Combinacin de rendijas para colimacin y
filtrado de RX

CONFIGURACION del EQUIPO de DIFRACCIN de RAYOS X

ii) Tamao de cristalito

Estructura policristalina

granos

granos con
orientaciones
cristalogrficas
diferentes

iii) Imperfecciones de la red

Macla

Dislocacin de borde

Dislocacin helicoidal

Medidas del ancho de lnea

Semi-ancho

B1/2

I2 I2
2

Ip

Ip/2
B 1/2

Ip
2

22

AREA
B 1/2

AREA
2 Ip
2

Bi 1 I 2 d 2 Ancho integral Bi
IP
Varianza o desviacin cuadrtica Standard

2 2 I2d2
I

W2

2 d 2

FORMULACIN de VON LAUE de la DIFRACCIN

Diferencia de caminos de los rayos

d cos d cos d. nn

dispersados

interferencia constructiva
k
d

d cos d.n

d.nn m

d c os d.n

d = R es vector de la red de Bravais

Multiplicando x 2/

d. k k 2m
R. k k 2m

FORMULACIN de VON LAUE de la DIFRACCIN

R. k k 2m

i(kk).R

R red de Bravais

condicin de Laue
K/2

K red de Recproca
plano de Bragg
K/2

k
k

k K k

iK.R

k.

K= k-k

K k.K 1 K
2
K

EQUIVALENCIA de las FORMULACIONES de BRAGG y VON LAUE

K kk

red de Recproca

K= k-k

k sen

k y k con el mismo y perpendicular al

plano de K

K = n K0

K0vector de la red recproca de

-k

k sen

longitud mnima = 2/d

k = 2/
K = 2k sen

2n
d

2d sen = n

reflexin de Bragg

DIFRACCIN por una RED con una BASE MONATMICA

Red de Bravais

cristal

n- tomos de una base

=
d1

d2
d4

d3
d5

FACTOR de ESTRUCTURA GEOMTRICO

K kk

K.(di d j)

pico de Bragg

diferencia de la fase

e iK.(did j )
diferencia de
amplitudes
dj

di

eiK.d1
iK.d
Amplitud
total

S
K
e
amplitudes de los rayos dispersados en d1,.., dn,
n

j1

Intensidad total

eiK.dn
SK

DISPERSION por un ATOMO

Dispersin incoherente

dimensiones atmicas

+
CB-AD diferencia de
camino de Z repecto Z

DIFRACCIN por un CRISTAL POLIATMICO

Si iones de base

SK f j K e
n

iK.d j

j1

fj factor de forma o dispersin atmico

f K e
j

jrdr

iK.r

e
Depende de la estructura del in

j distribucin de carga electrnica del in

nmero de electrones que rodean un tomo

f0 r
0

senkr
kr

dr