Amostras

Tratamento e anlise
Populao
dos dados

Amostra

Estatstica

Inferncia sobre a populao

Amostra: quantidade de valores observados pertencentes ou representativos de uma

populao.
Populao: lote de produtos/servios ou perodo de tempo que se quer analisar.
Nomenclatura

Parmetros: so as medidas descritivas da populao, geralmente desconhecidas.

Estatsticas: so as medidas descritivas calculadas em funo dos elementos da

amostra.

Parmetros Estatsticas
(populao) (amostra)

Mdia x
Desvio padro s
Proporo p p
Curva normal e desvio padro

68,27%

95,45%

99,73%

99,9937%

99,999943%

99,9999998%
Tipos de cartas de controle Variveis

As cartas de controle por variveis so usadas para monitorar o processo quando a

caracterstica de interesse mensurada em uma escala de intervalo ou de razo.
Estes grficos so geralmente utilizados em pares. Os grficos R e S monitoram a
variao de um processo, enquanto os grficos X monitoram a mdia do processo. O
grfico que monitora a variabilidade deve ser examinado sempre em primeiro lugar,
pois se ele indicar uma condio fora do controle a interpretao do grfico para a
mdia ser enganosa.

Carta -X / R Mdias e amplitudes

Carta ~X / R Medianas e amplitudes

Variveis
Carta -X / S Mdias e desvio padro

Carta I / MR Valores (indivduos ) e

amplitude mvel
Convenes

n = tamanho da amostra
k = nmero (quantidade) de amostras
=
x = mdia das mdias das amostras (mdia global)
_
s = desvio-padro amostral mdio
_
R = amplitude amostral mdia

A2, A3, D3, D4, etc. = fatores de correo

Grfico de controle X/R
Mdias e amplitudes Construo

Este grfico usado para acompanhar, controlar e analisar um processo com valores
contnuos de qualidade do produto, como o comprimento, o peso ou a concentrao.
Tais valores fornecem grande quantidade de informaes sobre o processo.

O uso dos grficos de controle X e R deve ocorrer sempre que uma caracterstica da
qualidade observada expressa em unidades reais como peso em quilogramas,
comprimento em centmetros, temperatura em graus celsius.

Este grfico composto por dois grficos que devem ser analisados em conjunto:

X, que monitora as mdias dos subgrupos

R, que monitora a amplitude entre os subgrupos

O tamanho de cada subgrupo (n) deve ser constante, sendo que sempre devemos ter
2 ou mais subgrupos.
Grfico de controle X/S
Mdias e desvio padro Caractersticas

Estes grficos so similares aos grficos X-barra e R, embora o clculo do desvio

padro da amostra (S) seja mais difcil do que o da amplitude (R).

O uso dos grficos de controle X e S deve ocorrer sempre que uma caracterstica da
qualidade observada expressa em unidades reais como peso em quilogramas,
comprimento em centmetros, temperatura em graus celsius.

Este grfico composto por dois grficos que devem ser analisados em conjunto:

X, que monitora as mdias dos subgrupos

S, que monitora a variabilidade entre os subgrupos

O tamanho de cada subgrupo (n) deve ser constante, sendo que sempre devemos
ter 2 ou mais subgrupos.

Quando so adotadas amostras maiores (n > 10), a amplitude j no eficiente para

avaliar a variabilidade do processo, e devemos usar S.
Grfico de controle I/Rm
Valores (indivduos ) e amplitude mvel
Os grficos de controle I/Rm monitoram dados contnuos quando somente uma
unidade pode (ou faz sentido) ser obtida. Temos k subgrupos com tamanho de
amostra igual a um (n = 1). No grfico so plotadas as observaes individuais x1,
x2, ... ,xk.

Analisamos dois grficos:

I, que monitora valores individuais
Rm (amplitude mvel), que monitora a variabilidade

LSCx = x + E2. Rm
LMx = x
LICx = x E2. Rm

LSCRm = D4. Rm
LMRm = Rm
LICRm = D4. Rm
Tabelas de fatores do CEP

~
Frmulas para cartas de variveis

1. Cartas da mdia e da amplitude

LSC X X A 2 R LICX X A 2 R R

d2
LSC R D 4 R LICR D 3 R

2. Cartas da mdia e do desvio padro

LSC X X A 3 S LICX X A 3 S S

C4
LSCS B 4 S LICS B3 S

3. Cartas da mediana e da amplitude

~ ~ ~ ~ R
LSC X~ X A 2 R LICX~ X A 2 R
d2
LSC R D 4 R LICR D 3 R

4. Carta de individuais e amplitude mvel

LSC X X E 2 R LICX X E 2 R R

d2
LSC R D 4 R LICR D 3 R
Tipos de cartas de controle Atributos

Existem duas situaes em que se utilizam atributos:

1) Quando as medidas no so possveis, como caractersticas inspecionadas

visualmente (cor, brilho, arranhes e danos).
2) Quando as medidas so possveis mas no so tomadas por questes
econmicas, de tempo, ou de necessidades. Em outras palavras: quando o dimetro
de um furo pode ser medido com um micrmetro interno mas utiliza-se um calibre
passa/no-passa para determinar a sua conformidade com as especificaes.

Carta p Proporo de no-

conforme
Carta np Nmero de no-conforme
Atributos
Carta c Nmero de no-
Dados discretos conformidades
Carta u Mdia de no-
conformidades
Tipos de cartas de controle Atributos
Classificao X Contagem

Pergunta: a amostra tem alguma defeito?

SIM NO SIM SIM NO

Atributos do tipo SIM/NO so analisados atravs de grficos do tipo p ou np.

Pergunta: quantos defeitos tem a amostra?

1 0 2 3 0

Atributos que consistem na contagem de defeitos so analisados atravs de grficos do tipo c ou u.

Convenes

n = tamanho da amostra
k = nmero (quantidade) de amostras
d = nmero de defeituosos
p = frao defeituosa
_
p = frao defeituosa mdia
c = nmero de defeitos
_
c = nmero mdio de defeitos
u = nmero de defeitos por unidade
_
u = nmero mdio de defeitos por unidade
 Carta p Proporo de no-conforme

A carta p utilizada quando se deseja monitorar a proporo de peas no-

conformes.
As amostras coletadas devero ser classificadas em conforme e no-conforme. Assim,
antes de iniciar o processo de coleta inicial certifique-se que as pessoas envolvidas
esto capacitadas no critrio estabelecido e que o critrio est claro.
O tamanho das amostras pode ser varivel. Quanto maior o tamanho da amostra,
melhor pois a probabilidade de peas no-conformes aparecer ser maior.
A frao defeituosa da amostra a razo entre o nmero de defeituosos encontrado na
amostra (d) e o tamanho da amostra (n) [p=d/n].
A distribuio da frao defeituosa binomial, porm quando os tamanhos das
amostras forem grandes o suficiente a distribuio pode ser aproximada para a curva
normal.

= > Jarra
Critrios: conforme
= > Jarra no-conforme, tem 2 no-
conformidades

Carta np Nmero de itens no-conformes: Este grfico similar a carta p, com a

diferena de que se deseja marcar o nmero de defeituosos na amostra.
Carta c Nmero de no-
conformidades/Defeitos na amostra

Caractersticas:
Utiliza-se a carta c para monitorar a quantidade mdia de defeitos por amostra coletada.
As amostras devem ter tamanho constante e geralmente abaixo de dez.
Aplicamos geralmente onde, em funo do histrico do processo, h a possibilidade de
ocorrer vrios tipos de defeitos de vrias origens em um processo contnuo, ou ento
quando em uma nica amostra podem haver vrias ocorrncias.

Exemplo carta c
Amostras = 10
N de defeituosos na amostra = 4

3
Carta u Nmero de no-
conformidades/Defeitos na unidade de
inspeo
Caractersticas:
Utiliza-se a carta u para monitorar a quantidade de defeitos por unidade de
inspeo.
As amostras podem ter tamanho variado e geralmente ficam em no mnimo dez.

Carta u
N total de defeitos encontrados = 4
Unidade de inspeo = 10
N de defeitos/Unidade de inspeo = 4 / 10 = 0,4

3
Frmulas para cartas de atributos

1. Carta p - Proporo de peas no- conformes

p (1 p) p (1 p)
LSC p p 3 LICp p 3
n n
2. Carta np - Nmero de itens no-conformes
d d
LSC np d 3 d . (1 ) LICnp d 3 d . (1 )
n n
3. Carta c - Nmero de no-conformidades na amostra
LSCc c 3 c LICc c 3 c

4. Carta u N de no-conformidades na unidade de inspeo

u u
LSC u u 3 LICu u 3
n n
Capacidade do processo

Os limites 3 so conhecidos como limites naturais de tolerncia:

LNST = + 3 (limite natural superior de tolerncia)

LNIT = - 3 (limite natural inferior de tolerncia)

O limite de 6 sobre a distribuio de uma caracterstica de qualidade do produto vem a ser a

capacidade do produto, onde o desvio padro do processo otimizado e estvel (sob
controle):

Capacidade do produto = 6

Como o valor de , em geral, desconhecido, para obter a capacidade do

processo usa-se um estimador:

= R / d2
(onde
Se n > 10 e foi feito R ademdia
o grfico das
controle x amplitudes dasde
s , o estimador amostras
: e d2 um valor que
depende do tamanho da amostra (n 10))
= (x - x) / n 1 (onde n o tamanho da amostra e x a mdia das amostras)
d2 - fator para clculo de capacidade de
processo

n D3 D4 D c4 d2
2 - 3,267 0,709 0,798 1,128
3 - 2,574 0,524 0,886 1,693
4 - 2,282 0,446 0,921 2,059
5 - 2,114 0,403 0,940 2,326
6 - 2,004 0,375 0,952 2,534
7 0,076 1,924 0,353 0,959 2,704
8 0,136 1,864 0,338 0,965 2,847
9 0,184 1,816 0,325 0,969 2,970
10 0,223 1,777 0,314 0,973 3,078

FONTE: MONTGOMERY, D.C. Introduction to statistical quality control. 2 ed. New York, John Wiley, 1991.
ndice de Capacidade Potencial do
Processo (Cp)

No existe uma relao matemtica ou estatstica entre limite de controle e limite de

especificao. Os limites de controle so definidos em funo da variabilidade do
processo e medido pelo desvio padro. Os limites de especificao so
estabelecidos no projeto pelos engenheiros, pela administrao ou pelo cliente.

A melhor forma de se verificar a adequao de um processo s necessidade da

engenharia de produto atravs do estudo de capacidade do processo ou da relao
entre a capacidade do processo e a diferena entre os limites de especificao. Esta
relao conhecida como ndice de capacidade potencial do processo - Cp.
Cp: ndice de capacidade potencial do processo, leva em considerao a disperso
do processo (curto prazo) em relao aos limites de especificao.

Sendo:
LSE = limite superior de
LSE LIE especificao;
Cp LIS = limite inferior de
6
R/d especificao;
2
6 = capacidade do processo.
ndice de Capacidade Nominal do Processo
(Cpk)

Na prtica, nem sempre o processo esta centrado na mdia, ou seja, pode-se chegar
a concluses erradas quanto a capacidade do processo. Se o processo no se
encontrar centrado na mdia, Kane (1986) props a utilizao do ndice de
Performance (Cpk):

Cpk: ndice de capacidade nominal do processo, leva em considerao a disperso

do processo (curto prazo) e centragem do processo em relao aos limites de
especificao.

LSE X X LIE
Cps Cpi
3 R / d 3 R / d
2
2

LSE X X LIE
Cpk min ,
3 R / d2
3 R / d 2