DIFRACCION POR UN CRISTAL

JOHONFRI MENDOZA CANTILLO

Estudiante

ESTADO SOLIDO
M.Sc. SAMUEL. ZAMBRANO R

UNIVERSIDAD DE LA GUAJIRA-SUE CARIBE

2012
 INTRODUCCION

Se pueden visualizar directamente los tomos?

No es posible visualizar directamente los tomos, salvo en situaciones muy
particulares, con alto costo y baja resolucin (no se puede hacer microscopa a
nivel atmico en forma rutinaria). Las tcnicas habituales para estudiar las
estructuras cristalinas se basan en el fenmeno de difraccin.

Para explorar la estructura de los cristales , se estudian los diagramas de

difraccin de ondas que interaccionan con los tomos y que tienen una
longitud de onda comparable con los espaciados interatmicos en los cristales.
 Para obtener estas imgenes, los
investigadores utilizaron un
microscopio electrnico de campo de
emisin

Realizadas por un equipo de investigadores del Instituto de Fsica de Kharkov, en

Ucrania, esta es la primera vez que los cientficos son capaces de ver la
estructura del tomo directamente Para obtener estas imgenes, los
investigadores utilizaron un microscopio electrnico de campo de emisin, o
FEEM que actu sobre una pequea cadena rgida de tomos de carbono de
unas decenas de tomos de longitud ... estas primeras imgenes detalladas de
los tomos muestran diversas disposiciones de las nubes de electrones que
rodean un tomo de carbono A y B observndose dos mecanismos diferentes de
las nubes de electrones.
 OBJETIVO GENERAL
Comprender la aplicacin de la difraccin en el anlisis de estructuras cristalinas.

OBJETIVOS ESPECFICOS

Deducir la frmula que relaciona la longitud de onda (), la distancia entre planos
cristalinos (d), el parmetro de red (a) y el ngulo de incidencia de los rayos x ().
Conocer algunos equipos que intervienen en el uso de rayos x para el estudio de la
cristalografa.
Resolver algunos ejemplos sobre la aplicacin de difraccin de rayos x en la
cristalografa.
Recordemos

Difraccin de las ondas

Se denomina difraccin de una onda a la propiedad que tienen las ondas de
rodear los obstculos en determinadas condiciones. Cuando una onda llega a un
obstculo (abertura o punto material) de dimensiones similares a su longitud de
onda, sta se convierte en un nuevo foco emisor de la onda.

Esto quiere decir, que cuando una onda llega a un obstculo de dimensin
similar a la longitud de onda, dicho obstculo se convierte en un nuevo foco
emisor de la onda. Cuanto ms parecida es la longitud de onda al obstculo
mayor es el fenmeno de difraccin.
El fenmeno de interferencia de las ondas dispersadas por cada rejilla se conoce
como difraccin.

Deduccin de la distancia x entre puntos en la diapositiva a partir de la

distancia d entre puntos en el diagrama de difraccin y la distancia l de la
diapositiva a la pantalla.
 EL HAZ INCIDENTE

Se estudia la estructura de un cristal mediante la difraccin de fotones, neutrones

y con menos frecuencia, de electrones. El ngulo bajo en el que se difracta la onda
depende principalmente de la estructura del cristal y de la longitud de onda de la
radiacin.
 RAYOS X
La energa de un fotn de rayos X est ligada a su longitud de
onda por

= h =

En unidades practicas:
12.4
=
()

Las longitudes de onda de algunos rayos X son ms o menos

iguales a la distancia entre planos de tomos de slidos
cristalinos. Cuando una radiacin electromagntica incide sobre
una superficie provista de un gran nmero de elementos
espaciados regularmente a intervalos aproximadamente iguales a
la longitud de onda de la radiacin, se produce el fenmeno de
difraccin, consistente en la separacin del rayo incidente en una
serie de haces que se dispersan en todas direcciones.

Este espaciado es del orden de , que es la misma magnitud de la

longitud de onda de los rayos X, stos ltimos pueden ser
difractados por el slido que acta como rejilla de difraccin. Los
elementos de la rejilla son las partculas constituyentes del slido
y ms precisamente sus electrones, que al recibir la radiacin la
remiten haciendo las veces de nuevas fuentes de radiacin.
 NEUTRONES
La energa de un neutrn est relacionada con la longitud de onda de de
Broglie por

2
= 2 2, donde es la masa del neutrn

En unidades practicas:
0.28
()
[(eV)]1/2

La difraccin de neutrones es un mtodo cristalogrfico para determinar la

estructura de un material, la cual se basa en la dispersin elstica de los
neutrones sobre un medio, lo que quiere decir que los neutrones conservan
su energa al colisionar con los tomos que constituyen el medio pero no su
direccin.
 NEUTRONES

El haz de neutrones ha de tener una longitud asociada del orden de 1, es

decir que la energa cintica <0.1 eV, a estos neutrones se les conoce como
neutrones trmicos.

Debido a la ausencia de carga los neutrones al interactuar con la materia lo

hacen esencialmente con los ncleos atmicos y prcticamente no son vistos
por los electrones (excepto en materiales magnticos donde el scattering
electrnico es apreciable).

La difraccin de neutrones es una tcnica cara.

El tamao de muestra para que la difraccin de neutrones funcione es
relativamente grande .

La difraccin de neutrones es usada para distinguir entre tomos que tienen

similar poder de dispersin de los rayos X, tal como el manganeso, el fierro o el
cobalto y nquel.
 ELECTRONES
La energa de un electrn est relacionada con la longitud de onda de de Broglie por

2
= , donde es la masa del neutrn
2 2
En unidades practicas:
12
()
[(eV)]1/2

Anlogamente a los rayos X los electrones pueden experimentar dispersin de Bragg. se

usa como dispersor un slido como el grafito, en la pantalla se observarn anillos de
interferencia constructiva en lugar de puntos. Ello se debe a un efecto acumulativo: la
dispersin por una serie de planos paralelos en un microcristal producir, para un orden
dado, un punto de interferencia constructiva en la pantalla; Por tanto por cada serie de
planos paralelos (caracterizada por su distancia interplanar) en un microcristales se
tendr un conjunto de anillos, un anillo por cada orden de la interferencia
 ELECTRONES
En comparacin, los rayos-X interactan con la distribucin espacial de los
electrones en las capas exteriores (electrones de valor), mientras que los neutrones
son dispersados por la fuerza de la interaccin nuclear fuerte del ncleo. Adems, el
momento magntico de los neutrones es diferente de cero, por lo que tambin son
dispersados por campos magnticos. La diferencia en la manera en la que las tres
formas de radiacin interactan con la materia permite que se puedan utilizar en
diferentes tipos de anlisis.

Limitaciones
La difraccin de electrones con un MET tiene varias limitaciones importante.
Primero, la muestra debe ser transparente a los electrones, lo que significa que el
ancho de la muestra de ser del orden de 100 nm o menos.

El estudio de materiales magnticos es difcil dado que los campos magnticos

desvan los electrones por la fuerza Lorentz

No obstante, la mayor limitacin de la difraccin de electrones en un MET es el

alto nivel de interaccin que se requiere del usuario
 LEY DE BRAGG

La hiptesis de Bragg consiste en imaginar la difraccin como una reflexin de los rayos X
originada por unos "espejos" imaginarios formados por planos de tomos de la red cristalina
(mostrados como lneas gruesas en la imagen de la izquierda) y que, debido a la naturaleza
repetitiva del cristal, estaran separados por distancias constantes d.
Por lo tanto, si un par de haces de rayos X inciden
sobre un conjunto de "espejos" con un ngulo ,
se reflejarn sobre dichos "espejos" slo si la
diferencia de caminos recorridos por los frentes
de onda OF y OH (lneas naranja) es un nmero
entero de longitudes de onda:

FG + GH = n.

pero: FG = GH y sen = FG / d

por lo que la expresin se convierte en:

2 d sen = n.
 LEY DE BRAGG

Si tenemos en cuenta la hiptesis de partida y nos fijamos con atencin en esta ltima
ecuacin, no resultar difcil darnos cuenta de que:

Los planos reticulares se comportan como espejos que reflejan la "luz X" slo en
algunas posiciones dadas por:
= arc sen (n . / 2 . d)
Para unas condiciones experimentales dadas ( y d) se obtienen valores discretos
del ngulo de difraccin que corresponden a los diferentes valores del nmero
entero n.
No hay infinitos rdenes de difraccin (sen 1) y su nmero mximo depende de
las condiciones experimentales (cristal y longitud de onda):
nmax = 2 . d /

La geometra de la difraccin (los ngulos de difraccin ) depende slo de la

geometra de la red
 INTERPRETACIONES Y SOLUCIONES DE LA LEY DE BRAGG

Suponiendo que , d y son dados.

Para que los haces emergentes estn en fase, n tiene que ser un entero.
Se observar que no siempre hay solucin; en tal caso no habr reflexiones.

Analicemos ahora las soluciones de Bragg en que solo y d son datos fijos

Verificamos si puede caber al menos justo una vez en la diferencia de camino ptico, y
buscamos el ngulo apropiado. Ntese que si los datos iniciales son tales que es mayor que 2d,
no habr ni siquiera solucin para n=1; en tal caso el problema no tiene soluciones.

La ecuacin de Bragg da la relacin entre las posiciones angulares de los haces difractados
reforzados en funcin de la longitud de onda () de la radiacin de rayos x incidente y del
espaciado interplanar dhkl de los planos cristalinos. En muchos casos se utiliza el primer orden
de difraccin, donde n=1, y en este caso la ley de Bragg resulta:

=
 METODOS EXPERIMENTALES DE DIFRACCION

Las tcnicas usadas para medir los ngulos y la intensidad de los haces de difraccin han
evolucionado a lo largo del tiempo.

Durante los primeros aos de la Cristalografa estructural (desde 1920 hasta 1970) se hizo uso
extensivo de los mtodos fotogrficos, y entre ellos se deben destacar los mtodos de Laue,
Weissenberg, precesin y oscilacin.

Para que se satisfaga la ley de Bragg es necesario barrer ya sea en longitud de onda o en ngulo
de incidencia.
 METODOS EXPERIMENTALES DE DIFRACCION

MTODO DE LAUE.- En el mtodo de

Laue, un cristal se encuentra fijo dentro
de un haz de rayos X de un espectro
amplio de longitudes de onda. El cristal
selecciona y difracta los valores discretos
de cuyos planos existentes espaciados
una distancia d y ngulo de incidencia
satisfacen la ley de Bragg.
 METODOS EXPERIMENTALES DE DIFRACCION

MTODO DE CRISTAL EN ROTACION.- En este mtodo, un monocristal se mantiene en rotacin

alrededor de un eje fijo, al incidir un haz de rayo X monocromtico.
La variacin del ngulo de incidencia al ser girado el cristal, da lugar a que diferentes planos
atmicos cumplan con la ley de Bragg.

Normalmente el cristal se gira en un rango angular limitado en lugar de girar los 360, con el fin de
reducir la posibilidad de un traslapamiento de reflexiones.
Los difractmetros actuales cuentan con contadores en la deteccin de la radiacin difractada.
 METODOS EXPERIMENTALES DE DIFRACCION

Es indudable que mediante este tipo de diagramas se consigue informacin

sobre los perodos de repeticin de la red directa, ya que la separacin entre las
lneas que contienen las manchas de difraccin es proporcional a la distancia
entre planos recprocos.
 METODOS EXPERIMENTALES DE DIFRACCION

MTODO DE POLVOS.- En el mtodo de polvos, un haz de rayos X monocromtico incide sobre

una muestra cristalina finamente pulverizada, o bien sobre una muestra policristalina de grano
pequeo, la cual es contenida en un tubo capilar.

Este mtodo es adecuado ya que no se requieren monocristales. Los haces difractados provienen
de los cristalitos individuales que estn orientados adecuadamente, cuyos planos hacen un
ngulo de incidencia con el haz, que satisface la ecuacin de Bragg.
Los haces difractados por la muestra generan conos concntricos con el haz incidente.
 ANLISIS POR DIFRACCIN DE RAYOS X DE LAS ESTRUCTURAS CRISTALINAS

MTODO DE ANLISIS DE POLVO POR DIFRACCIN DE RAYOS X:

Los datos de los anlisis de rayos x por difraccin de las celdas unitarias pueden
simplificarse expresando la longitud de onda as:

Para estructuras cristalinas cubicas

Finalmente

Empleando la anterior ecuacin junto con los datos de difraccin de rayos x

podemos determinar si una estructura es cbica centrada en el cuerpo (BCC) o
cbica centrada en las caras (FCC). Para esto debe conocerse cules planos
cristalinos son planos de difraccin para cada tipo de estructura cristalina
ANLISIS POR DIFRACCIN DE RAYOS X DE LAS ESTRUCTURAS
CRISTALINAS
Reglas para determinar los planos de difraccin {hkl} en los cristales cbicos:

ndices de Miller de los planos de difraccin para las redes BCC y FCC:
 ANLISIS POR DIFRACCIN DE RAYOS X DE LAS ESTRUCTURAS
CRISTALINAS
Un caso sencillo que permite ilustrar cmo se puede emplear este anlisis es diferenciar entre
las estructuras cristalinas BCC y FCC de un metal cbico. Supngase que se tiene un metal con
una estructura cristalina BCC o FCC y que se pueden identificar los planos de difraccin
principales y los valores de 2 correspondientes.

Despejando y elevando al cuadrado ambos lados se tiene:

A partir de los resultados experimentales de difraccin de rayos x se pueden obtener los valores
de 2 para una serie de planos principales de difraccin {hkl}. Como y se pueden eliminar estos
valores con la relacin de dos valores de sin2.
 ANLISIS POR DIFRACCIN DE RAYOS X DE LAS ESTRUCTURAS
CRISTALINAS

Para la estructura cristalina BCC los dos primeros planos principales son {1 1 0} y {2 0 0}. Sustituyendo
h, k y l en la ecuacin anterior se tiene

Para la estructura cristalina FCC los dos primeros planos principales son {1 1 1} y {2 0 0}. Sustituyendo
h, k y l en la ecuacin anterior se tiene:
 APLICACIONES
Una muestra de hierro BCC se coloca en un difractmetro de rayos X utilizando rayos X
incidentes de longitud de onda = 0,1541 nm. La difraccin a partir de los planos {1 1 0}
se obtiene a 2 = 44,704 . Calcule el valor de la constante de red a para el hierro BCC,
suponga un orden de difraccin de n = 1.
 APLICACIONES
El difractograma de un elemento que tiene estructura cbica BCC o FCC presenta picos
de difraccin en los ngulos 2 siguientes: 40, 58, 73, 86.8, 100.4 y 114.7. La longitud de
onda de los rayos X incidentes utilizados es de 0. 154 nm.
a) Determine la estructura cbica del elemento.
b)Determine la constante de red del elemento.
c)Identifique al elemento.
DEDUCCION DE LAUE DE LA AMPLITUD DE
LA ONDA DIFUNDIDA
Una componente del campo
elctrico de la onda incidente

= (.)

La respuesta de la onda difundida,

por un centro difusor

=

()
.

=

La cual es una solucin de la
ecuacin de onda radial
2 2 1 2
+ () = 0
2 2
DEDUCCION DE LAUE DE LA AMPLITUD DE
LA ONDA DIFUNDIDA
Aplicando teoremas trigonomtricos y
despreciando algunos trminos podemos llegar
a:

(1 cos , + )

La idea es sumar las ondas elementales

difundidas por todos los centros en el cristal.
Al combinar los factores de fase espaciales

(.+) = .(,)
De donde se deduce que el factor de fase,
puede escribirse

,
(.+) = . . = .
DEDUCCIN DE LAUE DE LA AMPLITUD DE
LA ONDA DIFUNDIDA

La expresin se escribe ahora para la onda difundida en el

centro

= exp(-i .)

La difusin total en una direccin dada, se obtiene

sumando todos los de todos los puntos de la red. La
magnitud mas interesante es la suma de todos los factores
de fase:

exp( . )

 DEDUCCIN DE LAUE DE LA AMPLITUD DE
LA ONDA DIFUNDIDA

Difusin por una red de atomos puntuales

Consideremos un cristal finito en forma de paralelepido. Existen centros difusores

idnticos en cada punto de la red
= + + , , , 0 .

+ + . ,

Donde a es la amplitud de difusin

 DEDUCCIN DE LAUE DE LA AMPLITUD DE
LA ONDA DIFUNDIDA

Kitel, CHARLES, INTRODUCCION A LA FISICA DEL ESTADON SOLIDO, editorial revert.

Cuarta edicin.
http://ocw.uniovi.es/file.php/39/1C_C11812_A/contenidos%20en%20pdf%20para%2
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