Você está na página 1de 33

UNIVERSIDAD NACIONAL JORGE BASADRE GROHMANN

FACULTAD DE INGENIERA
ESCUELA PROFESIONAL DE INGENIERA METALRGICA

COLEGIO DE INGENIEROS DEL PER - TACNA

APLICACIONES DEL MICROSCOPIO


ELECTRNICO DE BARRIDO

ING. JULIAN NIETO QUISPE

2016
Un microscopio es un sistema ptico que transforma un
objeto en una imagen. Nosotros generalmente estamos
interesados en obtener una imagen mucho ms grande
que el objeto, este aumento puede hacerse de muchas
maneras.
TRES ERAS DE LA MICROSCOPIA
Inovacin Evolucin Revolucin
MICROSCOPA ELECTRNICA
En esta ocasin se mostrar la tcnicas y aplicaciones del
microscopio electrnico de barrido (SEM) para obtener imgenes
agrandadas de objetos muy pequeos, pero muchos de los principios
bsico considerados son iguales a los del microscopio ptico,
desarrollado durante los ltimos 400 aos con la nica diferencia que
estaremos tratando de haz de electrones en lugar de rayos de luz.
MICROSCOPIO ELECTRNICO DE TRANSMISIN
Emite un haz de electrones dirigido hacia la
muestra. Una parte de los electrones rebotan o
son absorbidos por la muestra y otros lo
atraviesan formando una imagen aumentada de la
muestra.
Permite la observacin de muestras de cortes muy
finos. No mayores de un par de miles de
ngstroms (1 ngstrom es igual a 0.0000000001
metros)

MICROSCOPIO ELECTRNICO DE BARRIDO


Explora la superficie de la imagen punto por
punto, y recorre la muestra con un haz muy
concentrado de electrones. Cada punto ledo
de la muestra corresponde a un pxel en el
monitor. A medida que el haz de electrones
barre la muestra, se presenta la imagen de
sta en el monitor.
Microscopio Electrnico de Barrido para
Transmisin (STEM)
Combina el microscopio electrnico de
barrido (MEB o SEM) y el microscopio
electrnico de transmisin MET o TEM).
Tiene un detector de electrones secundarios.
Lleva asociado una sonda de rayos X, lo que
permite analizar qumicamente puntos
determinados de la muestra.

Microscopio Electrnico de Barrido de


Congelacin (Cryo-SEM)
Basa su funcionamiento sobre muestras
congeladas. La congelacin de la muestra se
realiza una vez puesta sobre el pedestal
introducindola en nitrgeno lquido.
Se acopla a una la unidad de alto vaco del
SEM que mantiene la congelacin.
MICROSCOPIO OPTICO Y MICROSCOPIO
ELECTRONICO

En estas imgenes tenemos a la derecha, el microscopio electrnico y


a la izquierda, un microscopio ptico normal.
MICROSCOPIO OPTICO Y MICROSCOPIO ELECTRONICO

El limite de resolucin de Una alternativa para


un microscopio ptico aumentar la resolucin es
esta definido por: disminuir la longitud de
onda de la fuente de
d= /2xN.A. iluminacin.
Ecuacin de Abbe. Para ello se utiliza un haz
de electrones acelerados
d= Resolucin cuya longitud de onda esta
definida por:
= Longitud de onda
= 0.1(150/v)
N.A.= apertura numrica del
Para voltajes de aceleracin
lente objetivo. inferiores a 60 Kv.
MICROSCOPIO OPTICO Y MICROSCOPIO ELECTRONICO

Breve tabla comparativa de las tres tcnicas


Caracterstica ptico Electrnico STEM
(SEM)
Iluminacin Luz Haz de electrones Haz de electrones
Medio de la muestra Todos Vaco /Bajo Vaco Todos
Profundidad de Pequea Grande Media
campo
Resolucin: X-Y 0.25 m 3 nm a 1.0 nm (FE) 0.1 a 1.0 nm
Z No disponible No disponible 0.01 nm
Aumentos 1X a 1.5X103 10X a 106 X 5X102 a 108 X
Preparacin de la Poca Laboriosa De poca a laboriosa
Muestra
Caractersticas La muestra debe Debe ser La muestra debe
de la muestra ser translcida o compatible con ser relativamente
reflejante de la luz vaco y plana
conductora.
MICROSCOPIO ELECTRNICO DE BARRIDO (SEM)
Construccin bsica
Un Microscopio Electrnico de
Barrido (SEM por sus siglas en
ingles), pertenece a la familia de
Microscopios Electrnicos; este es
un instrumento que utiliza un haz
de electrones acelerados en lugar
de un haz de luz como en
microscopia convencional.
MICROSCOPIO ELECTRNICO DE BARRIDO (SEM)
Construccin bsica
GENERACION DEL HAZ DE ELECTRONES
Filamento de tungsteno en forma de V
La mayora de los SEM emplean fuentes de emisin
termoinica de un filamento de tungsteno
calentado. A temperaturas por encima de 2 700 K por
ejemplo, un alambre de tungsteno emite abundante luz
y electrones; en una bombilla de luz se utiliza slo la
luz, pero en un can de electrones los electrones son Alambre de unas 100m de
acelerados a travs de una diferencia de potencial de dimetro.
decenas o cientos de kilovoltios (KV) para generar Radio de curvatura de la
punta de 100m
una haz de electrones de energa controlada ( y por
Temperatura de operacin
lo tanto de longitud de onda conocida). de 2250 a 2400 C

Otros tipos, con las que se obtienen mejores


prestaciones de imagen, son el hexaboruro
de lantano y las fuentes de emisin de
campo, FESEM, que a su vez pueden ser de
ctodo fro, de ctodo caliente, o de efecto
Schottky
INTERACCIN DEL HAZ DE ELECTRONES CON LA MUESTRA
Seales generadas en el SEM
VOLUMEN DE INTERACCIN EN LA MUESTRA
INTERACCIN DEL HAZ DE ELECTRONES
CON LA MUESTRA
Informacin proporcionada
por las seales
DETECTORES EN EL SEM
MICROSCOPIO ELECTRNICO DE BARRIDO
Proporciona informacin
sobre :
La Topografa
Las caractersticas de
superficie de la muestra
tal como se ve en
Pseudomonas aeruginosa realidad", su textura.
La Morfologa
La forma y el tamao de las
partculas de la muestra.
La Composicin
Los elementos y los
compuestos de la muestra.
La Cristalografa
Cmo se organiza los
CaCO3 (Carbonato de Calcio)
tomos en la muestra.
CAMPOS DE APLICACIN DE LA MICROSCOPIA
ELECTRONICA

Ciencia e Ingeniera de Materiales: Geologa:


-Caracterizacin morfolgica y
Una eficaz ayuda en estudios
analtica de materiales
geomtricos y morfolgicos
-Estudio de superficies
-Procesos de difusin relacionados con la
-Segregacin mineraloga y metalurgia.
-Anlisis de fallos El microscopio electrnico de
-Control de calidad
barrido -SEM- es el mejor
mtodo adaptado al estudio de
-Irregularidades de piezas
la morfologa de las superficies
fabricadas en cadena
CAMPOS DE APLICACIN DE LA MICROSCOPIA
ELECTRONICA

Metalurgia: Biologa:
- Determinacin de composicin de -Observacin de los distintos organelos
materiales intracelulares
- Fenmenos de difusin -Diferenciacin de clulas
- Composicin de aleaciones -Estructura y ultra estructura de tejidos y
- Crecimiento de granos rganos animales y vegetales
- Estudios de corrosin de metales -Inmunocitolocalizacin de
y aleaciones macromolculas
-Patologas animales y vegetales

Otros: -Estudios forenses (bsqueda de partculas,

- Biodeterioro de obras de arte tejidos, hilos, semen)


FABRICANTES DE MICROSCOPIOS ELECTRONICOS

Los fabricantes importantes incluyen:


Aspex Corporacin
Grupo de Delong
FEI Company - los E.E.U.U.
(combinados con Philips La ptica
de electrn)
FOCO GmbH - Alemania
Hitachi - Japn
Nion Company - los E.E.U.U.
JEOL Ltd. - Japn (laboratorio de
la ptica del electro de Japn)
TESCAN - EU
Carl Zeiss NTS GmbH Alemania
MICROSCOPIO ELECTRNICO DE BARRIDO
TESCAN VEGA II
Marca: TESCAN
Modelo: VEGA II LMU

Filamento: Tungsteno.
Resolucin:
En alto vaco modo SE 3.0 nm a 30 KV
En bajo vaco modo BSE 3.5 nm a 30KV
Aumento: Continuo desde 4x a 1 000 000x
Voltaje de aceleracin: 200 V a 30KV
Probe current: 1pA a 2A
Dimensin interna: 230 mm
Puerta: 148 mm (alto)

Fabricante de Microscopios Micro analizador:


Electrnicos de Barrido. Marca: OXFORD
(Convencionales y de Emisin Modelo: INCA PentaFETx3
de Campo-FE), establecido en
la Republica Checa
DIVERSOS MODOS DE ESCANEO

Resolution Depth Field Wide Field Rocking Beam


Dos tipos de vaco (dos tipos
de ambientes)
Alto vaco 10-3 Pa
Bajo vaco presin
variable o modo Uni-vac
150-500 Pa
Esta condicin permite el
estudio de materiales no
conductores
DETECTOR DE ELECTRONES SECUNDARIOS
DETECTOR DE ELECTRONES RETRODISPERSOS
INCA ENERGY SYSTEM OXFORD
Componentes del Microanalizador
EDX
Computadora
Tarjeta de comunicacin IEEE 1394
Software INCA Energy
Sistema de captura de imagen:
INCA mics box
Procesador de pulsos y control
del detector: INCA x-stream
Detector: EDS; con resolucin
para 129 ev para Mn Ka
Enfriador de detector: Frasco Deward
para LN2
GENERACIN DE RAYOS X

Rayos X continuos Rayos X caractersticos


TRABAJOS REALIZADO

Material
TiO2691
Muestra
007a
Aumento
5000X
TRABAJOS REALIZADO

Element Weight% Atomic%


SK 37.66 55.19
Zn K 62.34 44.81
Totals 100.00
TRABAJO REALIZADO

Element Weight% Atomic%


SK 14.38 52.05
Pb M 85.62 47.95
Totals 100.00
TRABAJO REALIZADO

Element Weight% Atomic%


CK 56.78 63.89
OK 42.37 35.78
Si K 0.25 0.12
Cl K 0.13 0.05
KK 0.29 0.10
Ca K 0.18 0.06
Totals 100.00
TRABAJO REALIZADO

Element Weight% Atomic%


OK 2.93 5.08
Al K 78.71 81.03
Si K 9.97 9.86
Mn K 1.16 0.59
Fe K 4.58 2.28
Cu K 2.65 1.16
Totals 100.00
GRACIAS
(THANK YOU)