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Controle de

Processo
Plano de Controle
Controle Estatstico de Processo
Anlise de Capabilidade de Processo

Diego Rodrigues & Franciele Borba


Plano de Controle

Diego Rodrigues & Franciele Borba


Plano de Controle
O Plano de Controle derivado do FMEA;
O Plano de Controle inclui todos controles previstos em cada
operao listada no Fluxograma de Processo;
Tcnicas Prova de Erro (Poka Yoke / Mistake Proofing)
devem ser preferidas a controles convencionais;
Estabelecer as caractersticas a serem verificadas, os
mtodos e o plano de reao em cada etapa aplicvel do
processo;
Pode ser incorporado s Folhas de Processos.

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Formulrio
Cabealho

Diego Rodrigues & Franciele Borba


Formulrio

Identificao da
Etapa do
Processo onde o
controle
aplicado Diego Rodrigues & Franciele Borba
Formulrio

Descrio das
caractersticas
controladas

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Caractersticas Especiais
Controle Robusto

Dispositivo Prova Controle Estatstico de


de Erro Processo Inspeo 100%
Poka Yoke / Cartas de Controle e Anlise de
Mistake Proofing Capabilidade

Preferencial Recomendvel Conteno (85% eficaz)

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Formulrio

Detalhes sobre o
mtodo de
controle

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Formulrio

Plano de Reao

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Exemplos

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Exemplos

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Interface com outros documentos
Fluxograma de Processo

PFMEA

Plano de Controle

Op. 30 Chiado Experiment


Colocar Cevar a Queimar a Gosto gua muito
gua na
cuia
erva erva amargo quente
da
chaleira
ar
chimarro Folhas
de
Processo

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Controle Estatstico de Processos -
CEP
Controle Estatstico de Processo (Statistical Process Control
SPC).
Definio: mtodo preventivo de se comparar, continuamente,
os resultados de um processo com referenciais, identificando a
partir de dados estatsticos as tendncias para variaes
significativas, a fim de eliminar ou controlar essas variaes;
Objetivo: reduzir a variabilidade de um processo atravs da
eliminao das causas especiais de variao.

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Conceitos Bsicos
Variao;
Distribuio Normal;
Causas Especiais e Causas Comuns;
Controle estatstico.

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Variao (Disperso)

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Medidas de Variao
Amplitude (A ou R):
R = Maior leitura menor leitura
Desvio padro (s):informa quanto os dados
esto dispersos em torno da mdia. Para
variaes pequenas o desvio padro
pequeno.


1 x 2


S i
2 i
x
n 1 n

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Distribuio Normal

Desvio
Padro
Mdia

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Tipos de Variao
Aleatria: No Aleatria:
Inerentes ao processo; Devido a razes
Podem ser eliminadas identificveis
somente atravs de (assinalveis);
melhorias no Podem ser eliminadas
processo; atravs de aes do
Tipicamente 15% dos operador ou da
problemas; gerncia;
Causas comuns. Tipicamente 85% dos
problemas;
Causas especiais.

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Causas comuns x Causas especiais

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Variabilidade e Previsibilidade
Todos os processos tm Processo sob ao de
variao... Mas causas comuns
somente variao
devido a causas
comuns previsvel.
Um processo est sob
controle estatstico
quando somente Processo sob ao de
causas comuns esto causas especiais
presentes.

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Controle de Processo

Processo sob controle:


Causas especiais eliminadas
Presena somente de causas comuns de variao
Processo estvel
Processo previsvel

Processo fora de controle:


Presena de causas especiais
Processo instvel Implementao de
Processo no previsvel Controle de Processo

m Diego Rodrigues & Franciele Borba


Grfico de Controle

LSE Causa
Especial
LSC

Mdia Grficos de
controle mostram
a variao do
processo ao
LIC longo do tempo

LIE

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Nmero da Amostra
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Cartas de Controle: objetivo

Identificar causas especiais


de variao.

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Principais Tipos de Cartas de Controle
Dados Tipo Atributos
Para itens defeituosos (carta p)
Para defeitos (carta c)
Dados Tipo Variveis
X e AM (individuais e amplitude mvel)
X e R (mdia e amplitude)

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Cartas: apresentao
Composta de dois grficos:
Grfico das mdias (X) ou dos valores
individuais (I)
Mostram a localizao do processo
Tipicamente possuem Limites Inferiores e
Superiores de Controle (LIC / LSC)
Grfico das amplitudes (R) ou amplitude
mvel (mR)
Mostram a variao (dispero) do processo
Possuem somente Limite Superior de
Controle (LSC)
Diego Rodrigues & Franciele Borba
Processo Estvel = Sob Controle
Histograma: fotografia Carta de controle:
do processo comportamento ao longo
do tempo

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Determinao dos Limites de Controle

Limites para grfico Xbar

x1 + x2 + ... xk
=
x= k
= =
LSC = x + A2R LIC = x - A2R

Onde: Aproximadamente igual a 3


Desvios Padro
=
x = mdia das mdias das amostras

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Critrios para identificao de causas especiais nas
cartas de controle

8 ou mais pontos acima ou abaixo


6 ou mais pontos Subindo ou Deslocamento da Mdia
da Linha Central
Descendo Possveis causas:
Possveis causas:
Possveis causas: Novo Mtodo
Mudana no ajuste de mquina
Desgaste de Ferramenta Nova Mquina
Processo, mtodo ou material diferente
Gradual desgaste do equipamento Melhoria de Qualidade
Avaria de um componente na mquina
Desgaste relacionado ao Novo Lote de Material
Quebra de mquina
instrumento de medio
Grande variao no material recebido

Pontos fora dos Limites de Controle


Periodicidade dos Pontos
Possveis causas:
Possveis causas:
Erro na medio ou digitao
No-uniformidade na matria-prima recebida
Quebra de ferramenta
Rodzio de Operadores, Gabaritos e
Instrumento de medio desregulado
instrumentos
Operador no consegue identificar a medida
Diferena entre turnos

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Processo Instvel = Fora de Controle

Presena de causas
especiais

Presena de causas
especiais

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Exemplos
Criao de uma carta:
Virtual Machine
Formulrio Carta de Controle
Exemplo 1
Exemplo 2

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Seleo de Cartas de Controle

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Capabilidade de Processo - Conceitos

Tolerncias: especificaes de engenharia que representam requisitos do


produto.
Capabilidade do Processo: representa o melhor desempenho do processo e
determinada pela variao das causas comuns. Isso demonstrado quando o
processo est sendo operado sob controle estatstico.
A capabilidade potencial do processo (Cp) a entre tolerncia e a
variabilidade do processo.
A capabilidade efetiva do processo (Cpk) mede a localizao da variao do
processo com relao aos limites de especificao. a condio real de
operao do processo. Considera a variao dentro dos subgrupos sc (desvio
padro estimado por Rbar/d2) estudo de curto prazo.
Desempenho do Processo: representa o desempenho geral do processo
considerando todas as variaes presentes.
O desempenho potencial e efetivo do processo (Pp/Ppk) tem conceito similar
ao da capabilidade, porm utiliza a variao entre os subgrupos sp, que a
variao total do processo (desvio padro amostral s longo prazo.

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Clculo da Capabilidade do Processo

ndice de Capabilidade Potencial


do Processo

Amplitude da tolerncia
Cp = Amplitude do processo

LSE LIE Onde:_


Cp = sc = R
6sc d2

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Calculando Cp

Exemplo:
Dimenso = 9,0mm 0.5mm
Mdia do processo = 8,80 mm
Amplitude mdia = 0,33 mm
Tamanho da amostra = 5

LSE LIE Onde:_


Cp = sc = R
6sc d2

9.5 - 8.5
Cp = = 1,17
6 (0,33/2,326)

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Clculo da Capabilidade do Processo

ndice de Capabilidade efetiva


do Processo

_ _
Cpk = mnimo x - LIE LSE - x
;
3sc 3sc

Onde:_
sc = R
d2

Diego Rodrigues & Franciele Borba


Calculando Cpk

Exemplo:
Dimenso = 9,0mm 0.5mm
Mdia do processo = 8,80 mm
Amplitude mdia = 0,33 mm
Tamanho da amostra = 5
_ _
Cpk = mnimo x - LIE LSE - x
;
3sc 3sc

0,70 1,64

8.80 - 8.50 9.50 - 8.80


Cpk = mnimo ; 3 (0,33/2,326)
= 0,70
3 (0,33/2,326)

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Representao da Capabilidade

Cp = 1,17
Cpk = 0,70
LIE LSE

_
8,5 X 9,0 9,5

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Processos capazes e no capazes
Limites de
Especificao
(a) Variao natural
excede os limites de
especificao; processo
no capaz de atender
as especificaes o tempo
todo.
Processo
Limites de
Especificao

(b) Limites de especificao e


variao natural so iguais;
processo capaz de atender
as especificaes a maior
parte do tempo.
Processo
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Processos capazes e no capazes
Limites de
Especificao

(c) Limites de especificao


maiores que a variao
natural do processo; o
processo capaz de
atender a especificao
ao longo do tempo.
Processo
Limites de
Especificao
(d) Limites de especificao
maiores que a a variao natural
do processo, mas o processo
est descentralizado. Processo
capaz mas alguns resultados
no vo atender o limite
superior de especificao.
Processo
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Anlise da capabilidade
Cp < 1: a capabilidade do
processo inadequada
tolerncia exigida.
1 Cp 1,33: a
capabilidade do processo
est em torno da diferena
entre as especificaes.
Cp > 1,33: a capacidade do
processo adequada
tolerncia exigida (resta 30%
de folga na tolerncia).

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Desempenho do Processo

ndice de Desempenho Potencial


do Processo

Amplitude da tolerncia
Pp = Amplitude do processo

LSE LIE Onde: sp = s


Pp =
6sp

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Resultados da Anlise de Capabilidade

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Exemplos
Clculo de Capabilidade
Virtual Machine
Formulrio Estudo de Capabilidade
Exemplo 1
Exemplo 2

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