8

Propagação de Incertezas
Através de Módulos
Fundamentos da Metrologia
Científica e Industrial

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 Motivação
 Algumas vezes é necessário compor
sistemas de medição reunido módulos já
existentes.
 O comportamento metrológico de cada
módulo é conhecido separadamente.
 Qual o comportamento metrológico do
sistema resultante da combinação dos
vários módulos?

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 2/24)

Transdutores
UTS
0.000

0.000

0.000

0.000

Dispositivos 0.000
mostradores

6.414

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 3/24)

 Composição de sistemas de
medição

sistema de medição

Módulo Módulo ... Módulo

1 2 n
ESM SSM

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 4/24)

 8.2
Modelo Matemático

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 Modelo matemático para um
módulo
Módulo
E(M1) 1 S(M1)

Idealmente:
K(M1) : sensibilidade S(M1) = K(M1) . E(M1)
C(M1) : correção
Em função dos erros:
u(M1) : incerteza padrão

S(M1) = K(M1) . E(M1) – C(M1) ± u(M1)

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 6/24)
 Modelo para dois módulos
S(M1)
Módulo 1 Módulo 2
E(M1) S(M2)
E(M2)

S(M1) = K(M1) . E(M1) - C(M1) ± u(M1)

S(M2) = K(M2) . E(M2) – C(M2) ± u(M2)
E(M2) = S(M1)
S(M2) = K(M2) . [K(M1) . E(M1) – C(M1) ± u(M1)] – C(M2) ± u(M2)
S(M2) = K(M1) . K(M2) . E(M1) - [C(M1). K(M2) + C(M2)] ± [u(M1). K(M2) + u(M2)]
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 7/24)
 8.3
Sensibilidade Equivalente

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 Modelo matemático para n módulos

Módulo Módulo Módulo

...
1 2 n
E(SM) S(SM)

K(M1), C(M1), u(M1) K(M2), C(M2), u(M2) K(Mn), C(Mn), u(Mn)

sensibilidade
S(SM) = K(M1) . K(M2) . ... . K(Mn) . E(SM)
K(SM) = K(M1) . K(M2) . ... . K(Mn)

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 9/24)

 8.4
Correção Relativa Equivalente

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 Modelo matemático para n módulos
correção
Cr(SM) = Cr(M1) + Cr(M2) + ... + Cr(Mn)
sendo:
Cr = correção relativa, calculada por:
C(M k )
Cr(M k )  para o módulo “k”
S(M k )
CE(SM) CS(SM)
Cr(SM )   para o sistema de medição
E(SM) S(SM)
CE(SM) = correção na entrada do SM
CS(SM) = correção na saída do SM
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 11/24)
 8.5
Incerteza Padrão Relativa
Equivalente

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 Modelo matemático para n módulos
incerteza
ur(SM)2 = ur(M1)2 + ur(M2 )2 + ... + ur(Mn )2
sendo:
ur = incerteza relativa, calculada por:
u(M k )
ur(M k )  para o módulo “k”
S(M k )
uE(SM) uS(SM)
ur(SM)   para o sistema de medição
E(SM) S(SM)
uE(SM) = incerteza na entrada do SM
uS(SM) = incerteza na saída do SM
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 13/24)
 Modelo matemático para n módulos
graus de liberdade efetivos

ur ( SM ) 4 ur ( M 1 ) 4 ur ( M 2 ) 4 ur ( M n ) 4
   ... 
 ( SM )  (M 1 )  (M 2 )  (M n )

sendo:
 (SM ) número de graus de liberdade efetivo do sistema de medição
ur (SM ) a incerteza padrão relativa combinada do sistema de medição
ur ( M i ) a incerteza padrão relativa do i-ésimo módulo
 (M i ) n de graus de liberdade da incerteza padrão relativa do i-ésimo módulo

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 14/24)

 Modelo matemático para n módulos
 Se o número de graus de liberdade com que cada
incerteza padrão é determinada é o mesmo, a
equação também pode ser escrita em termos da
incerteza expandida como:

Ur(SM)2 = Ur(M1)2 + Ur(M2 )2 + ... + Ur(Mn )2

U(M k )
Ur(M k )  para o módulo “k”
S(M k )
UE(SM) US(SM)
Ur(SM)   para o sistema de medição
E(SM) S(SM)
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 15/24)
 8.6
Correção e Incerteza em Termos
Absolutos

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 Correção e Incerteza
Na entrada do SM:

CE SM  ESM .CrSM
uE SM  ESM .urSM

Na saída do SM:

CSSM  S SM .CrSM
uSSM  S SM .urSM

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 17/24)

 8.7
Problema Resolvido

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 Problema:
 A indicação do voltímetro abaixo é 2,500 V.
Determine o resultado da medição do
deslocamento, efetuado com o sistema de
medição especificado abaixo, composto de:

transd. amplifi- voltí-

ESM= ? indutivo cador metro 2,500 V

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 19/24)

 transd. amplifi- voltí-
ESM= ? indutivo cador metro 2,500 V

transd. indutivo de deslocamentos

faixa de medição: 0 a 20 mm
sensibilidade: 5 mV/mm
correção: - 1 mV unidade de tratamento de sinais
u = 2 mV faixa de medição: ± 200 mV (entrada)
amplificação: 100 X disp. mostrador: voltímetro digital
correção: 0,000 V faixa de medição: ± 20 V
u = 0,2 % (VFE) correção: 0,02% do valor indicado
u = 5 mV
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 20/24)
 5,00 mm 25,00 mV 2,500 V

transd. amplifi- voltí-

ESM= ? indutivo cador metro 2,500 V

KT = 5 mV/mm KUTS = 0,1 V/mV KDM = 1 V/V

CT = - 1 mV CUTS = 0,000 V CDM = 0,02 % . 2,5V
uT = 2 mV uUTS = 0,2 % . 20 V uDM = 5 mV
CrT = - 1/25 = -0,04 CrUTS = 0,000 CrDM = 0,0005/2,5
urT = 2 /25 = 0,08 urUTS = 0,04/2,5 = 0,0002
= 0,016 urDM = 0,005/2,5
= 0,002
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 21/24)
sensibilidade
KSM = KT . KUTS . KDM = 5 mV/mm . 0,1 V/mV . 1 V/V

KSM = 0,5 V/mm

correção
CrSM = CrT + CrUTS + CrDM = -0,0400 + 0,0000 +0,0002
CrSM = -0,0398
na entrada:
CESM = CrSM . ESM = -0,0398 . 5,000 mm = -0,199 mm
CESM = -0,199 mm

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 22/24)

incerteza
(urSM)2 = (urT)2 + (urUTS)2 + (urDM)2
(urSM)2 = (0,08)2 + (0,016)2 + (0,002)2
(urSM)2 = 0,0001 . [64 + 2,56 + 0,04]
urSM = 0,0815
na entrada:
uESM = urSM . ESM = 0,0815. 5,000 mm
uESM = 0,4075 mm

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 23/24)

graus de liberdade efetivos

4
urSM ur14 ur24 urn4
   ... 
 SM 1  2 n
4 4 4 4
(0,0815) (0,080) (0,016) (0,002)
  
 SM 16 20 96
 SM  17,2

UESM = t . uESM = 2,16 * 0,4075 = 0,88 mm

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 24/24)

 Resultado da medição

RM = I + CESM ± UESM
RM = 5,000 + (-0,199) ± 0,88
RM = (4,80 ± 0,88) mm

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - (slide 25/24)