Você está na página 1de 25

8 Propagao de Incertezas Atravs de Mdulos

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI

Motivao


Algumas vezes necessrio compor sistemas de medio reunido mdulos j existentes. O comportamento metrolgico de cada mdulo conhecido separadamente. Qual o comportamento metrolgico do sistema resultante da combinao dos vrios mdulos?
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 2/24)

Transdutores

UTS
0.000 0.000 0.000 0.000

Dispositivos mostradores

0.000

6.414

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 3/24)

Composio de sistemas de medio


sistema de medio Mdulo 1 Mdulo 2 Mdulo n

...

ESM

SSM

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 4/24)

8.2
Modelo Matemtico

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI

Modelo matemtico para um mdulo


E(M1) Mdulo 1 S(M1) Idealmente: K(M1) : sensibilidade C(M1) : correo u(M1) : incerteza padro Em funo dos erros: u(M1) S(M1) = K(M1) . E(M1)

S(M1) = K(M1) . E(M1) C(M1)

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 6/24)

Modelo para dois mdulos


E(M1) Mdulo 1 S(M1) E(M2) S(M1) = K(M1) . E(M1) - C(M1) u(M1) S(M2) = K(M2) . E(M2) C(M2) u(M2) E(M2) = S(M1) S(M2) = K(M2) . [K(M1) . E(M1) C(M1) u(M1)] C(M2) u(M2) S(M2) = K(M1) . K(M2) . E(M1) - [C(M1). K(M2) + C(M2)] [u(M1). K(M2) + u(M2)]
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 7/24)

Mdulo 2

S(M2)

8.3
Sensibilidade Equivalente

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI

Modelo matemtico para n mdulos


Mdulo 1 Mdulo 2 ... Mdulo n

E(SM)

S(SM)

K(M1), C(M1), u(M1) K(M2), C(M2), u(M2)

K(Mn), C(Mn), u(Mn)

sensibilidade S(SM) = K(M1) . K(M2) . ... . K(Mn) . E(SM) K(SM) = K(M1) . K(M2) . ... . K(Mn)

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 9/24)

8.4
Correo Relativa Equivalente

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI

Modelo matemtico para n mdulos


correo Cr(SM) = Cr(M1) + Cr(M2) + ... + Cr(Mn) sendo: Cr = correo relativa, calculada por:

C(M k ) para o mdulo k Cr(M k ) ! S(M k ) ES SS para o sistema de medio S ! ! ES SS


CE(SM) = correo na entrada do SM CS(SM) = correo na sada do SM
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 11/24)

8.5
Incerteza Padro Relativa Equivalente

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI

Modelo matemtico para n mdulos


incerteza ur(SM)2 = ur(M1)2 + ur(M2 )2 + ... + ur(Mn )2 sendo: ur = incerteza relativa, calculada por:

u( ur( k ) ! ( S S ! S

) para o mdulo k k) SS para o sistema de medio ! SS


uE(SM) = incerteza na entrada do SM uS(SM) = incerteza na sada do SM
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 13/24)

Modelo matemtico para n mdulos


graus de liberdade efetivos
4 4 4 4

ur ( SM ) R ( SM )
sendo:

ur ( M n ) ur ( M 1 ) ur ( M 2 )   ...  R (M 1 ) R (M 2 ) R (M n )

R (SM ) ur (SM )

nmero de graus de liberdade efetivo do sistema de medio a incerteza padro relativa combinada do sistema de medio a incerteza padro relativa do i-simo mdulo nr de graus de liberdade da incerteza padro relativa do i-simo mdulo
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 14/24)

ur (M i ) R (M i )

Modelo matemtico para n mdulos




Se o nmero de graus de liberdade com que cada incerteza padro determinada o mesmo, a equao tambm pode ser escrita em termos da incerteza expandida como:
Ur(SM)2 = Ur(M1)2 + Ur(M2 )2 + ... + Ur(Mn )2

U(M k ) para o mdulo k Ur(M k ) ! S(M k ) UE(SM) US(SM) para o sistema de medio Ur(SM) ! ! E(SM) S(SM)
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 15/24)

8.6
Correo e Incerteza em Termos Absolutos

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI

Correo e Incerteza
Na entrada do SM:

CE SM ! ESM .CrSM uE SM ! ESM .urSM


Na sada do SM:

CS S ! S SM .CrSM uS S ! S SM .urSM

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 17/24)

8.7
Problema Resolvido

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI

Problema:


A indicao do voltmetro abaixo 2,500 V. Determine o resultado da medio do deslocamento, efetuado com o sistema de medio especificado abaixo, composto de:
transd. indutivo amplificador voltmetro

ESM= ?

2,500 V

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 19/24)

ESM= ?

transd. indutivo

amplificador

voltmetro

2,500 V

transd. indutivo de deslocamentos faixa de medio: 0 a 20 mm sensibilidade: 5 mV/mm correo: - 1 mV unidade de tratamento de sinais u = 2 mV faixa de medio: 200 mV (entrada) amplificao: 100 X disp. mostrador: voltmetro digital correo: 0,000 V faixa de medio: 20 V u = 0,2 % (VFE) correo: 0,02% do valor indicado u = 5 mV
Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 20/24)

5,00 mm

25,00 mV

2,500 V

ESM= ?

transd. indutivo

amplificador

voltmetro

2,500 V

KT = 5 mV/mm CT = - 1 mV uT = 2 mV CrT = - 1/25 = -0,04 urT = 2 /25 = 0,08

KUTS = 0,1 V/mV CUTS = 0,000 V uUTS = 0,2 % . 20 V CrUTS = 0,000 urUTS = 0,04/2,5 = 0,016

KDM = 1 V/V CDM = 0,02 % . 2,5V uDM = 5 mV CrDM = 0,0005/2,5 = 0,0002 urDM = 0,005/2,5 = 0,002

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 21/24)

sensibilidade KSM = KT . KUTS . KDM = 5 mV/mm . 0,1 V/mV . 1 V/V KSM = 0,5 V/mm correo CrSM = CrT + CrUTS + CrDM = -0,0400 + 0,0000 +0,0002 CrSM = -0,0398 na entrada: CESM = CrSM . ESM = -0,0398 . 5,000 mm = -0,199 mm CESM = -0,199 mm

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 22/24)

incerteza (urSM)2 = (urT)2 + (urUTS)2 + (urDM)2 (urSM)2 = (0,08)2 + (0,016)2 + (0,002)2 (urSM)2 = 0,0001 . [64 + 2,56 + 0,04] urSM = 0,0815 na entrada: uESM = urSM . ESM = 0,0815. 5,000 mm uESM = 0,4075 mm

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 23/24)

graus de liberdade efetivos

ur R SM

4 SM

ur ur ur   ...  R1 R 2 Rn
4 4

4 1

4 2

4 n

(0,0815 ) R SM

(0,080 ) (0,016 ) (0,002 )   16 20 96

R SM ! 17 ,2
UESM = t . uESM = 2,16 * 0,4075 = 0,88 mm

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 24/24)

Resultado da medio
RM = I + CESM UESM 0,88

RM = 5,000 + (-0,199) RM = (4,80 0,88) mm

Fundamentos da Metrologia Cientfica e Industrial - Captulo 8 - (slide 25/24)

Você também pode gostar