Propriedades dos minerais dependem de: a. qumica (composio) b.

estrutura (dependendo de T e P) Grafita (C) Diamante (C)

Tcnicas com raios X

Determinao da composio qumica Determinao da estrutura cristalina

1. FLUORESCNCIA DE RAIOS-X:
MICROSSONDA ELETRNICA, EDX

2. DIFRAO DE RAIOS-X
... entre muitas outras ...

PRINCPIO
Fonte de radiao primria Remoo de um eltron de camada interna Substituio desse eltron por um outro de camada externa

Configurao de Mn

Transies diferentes: K, K L, L M, M, ...

com energias e diferentes
h = Planck constant, c = velocidade da luz

Emisso de um fton fluorescente com energia determinada comprimento de onda determinada

K tem mais energia que K K tem menos intensidade que K

(energia)

Energia K < K, energia L < L Energia K > L, energia L > M

Intensidade K > K, intensidade L > L Intensidade K > L, intensidade L > M

K tem mais energia que K K tem menos intensidade que K K tem mais energia que L K tem mais intensidade que L

para excitar p.e. K de La, precisa de 33.44 KeV da fonte se somente excitar L: a intensidade do sinal ser menor o limite de deteo bem mais alto

Excitao

Microssonda: 20-30 kV
(tem que sem maior do que a energia da fluorescncia)

Acelerador sncrotron: > 100 kV

Dependendo da energia de excitao, podem ser analisados elementos diferentes

Duas opes principais de anlise:

anlise de comprimento de onda (p.e., microssonda)

anlise da energia (disperso da energia, EDX, EDAX: energy-dispersive X-ray analysis)

Microssonda electnica, dispersiva de comprimento de onda

Determinao pontual (2-4 m)

Fonte de eltrons: filamento de W

Elementos maiores e trao Amostra na forma de lmina ou no Metalizao da amostra Anlises quantitativas a partir de padres

Wavelength-dispersive WDS, microssonda

difrao da fluorescncia por um cristal analisador antes de entrar no detetor monocromator: seleo de um comprimento de onda s, por mudando o ngulo do cristal

Esquema de uma microssonda eletrnicacom WDS e EDS

quantitativo distribuio qualitativo e semi-quantitativo

4 espectrmetros com cristais

Cristais comums:
LiF: Fluoreto de ltio ADP: ammonium dihydrogen phosphate TAP: Thallium hydrogen phthalate

Elementos maiores: Sem problema

Terras raras: somente possvel de excitar L com 4.65 KeV, que tem menos intensidade, que dizer, um limite de deteo muito mais alto

Back-scattered
Imagem back-scattered, Apatita Ca5(PO4)3(OH,F)

Imagem back-scattered, Zonao em feldspato (K,Na)AlSi3O8

Distibuio
Distribuio de K em feldspato (K,Na)AlSi3O8

Distribuio de Cr, Si, Fe e Mn em mineral

ons secondrios
Imagem de ons secundrios, foraminfera
Similrio ao MEV

Imagem de ons secundrios, mineral antofilita

Quantitativo: WDS (ou EDS) Olivina (Mg,Fe,Ca)2SiO4

xidos Ctions
SiO2 Al2O3 Fe2O3 MgO CaO

em moles 36.60 0.983

0.51 1.28 33.90 0.50 0.016 0.026 1.357 0.014

MnO
FeO Total

0.54
26.20 99.53

0.012
0.588 2.996

Qual mineral esse ?

xidos
SiO2 Al2O3 44.3 31.26

Ctions
1.071 0.890

Fe2O3
CaO Na2O K2O Total

0.86
0.02 17.21 6.2 99.85

0.016
0.001 0.806 0.191 2.975

Nefelina (Na,K)AlSiO4

Qual mineral esse ?

xidos
SiO2 TiO2 Al2O3 Fe2O3 52.31 0.13 1.11 2.6

Ctions
1.960 0.004 0.049 0.073

MgO
CaO MnO FeO

12.71
23.78 0.57 5.78

0.710
0.955 0.018 0.181

Clinopiroxnio (Ca,Mg,Fe)2Si2O6

Na2O
Total

0.69
99.68

0.050
4.000

Qual mineral esse ?

xidos
SiO2 TiO2 Al2O3 Fe2O3 CaO MnO FeO 51.29 0.01 0.04 0.1 47.54 0.38 0.05

Ctions
1.997 0.000 0.002 0.003 1.983 0.013 0.002

Wollastonita Ca2Si2O6

Total

99.41

4.000

Qual mineral esse ?

xidos
SiO2 TiO2 35.31 3.23

Ctions
2.896 0.199

Al2O3
Fe2O3 MgO CaO MnO FeO Na2O Total

6.88
18.18 0.32 33.31 0.45 1.81 0.1 99.59

0.665
1.222 0.039 2.827 0.031 0.124 0.016 8.019

Granada (Ca,Mg,Fe2+)3 (Fe3+,Al)2(SiO4)3

EDX, EDS, EDAX: disperso de energia

Solid-state detetor Semi-condutor, Si-Li

Detetor Si-Li, mantido em temperatura baixa com nitrognio lquido

Agitao de baixa energia

* Microscpio eletrnico de varradura MEV * Scanning electron microscope SEM

Formiga

Agitao de alta energia

Acelerador Sincrotron

Mineral burbankita: (Na,Ca)3(Sr,Ba,Ce)3(CO3)5 Espectro com fonte convencional, EDX linhas K linhas L

Espectro com fonte sncrotron

linhas L

linhas K

Difrao de raios-X, XRD

IDENTIFICAO DE MINERAIS (por caratersticas da cristalografia)

EQUIPAMENTO AJUSTADO PARA IDENTIFICAO DE ESTRUTURAS CRISTALINAS (no necessriamente as composies)

QUALITATIVA SEMI-QUANTITATIVA AMOSTRAS PULVERIZADAS OU IMPREGNADAS SOBRE LMINAS (PORTA AMOSTRA)

Difratometria de raios-X
Fenmeno encontrado enquanto ondas (ssmicos, acsticos, ondas de gua, ondas eletromagnticos, luz visvel, rdio ondas, raios X) encontram um obstculo

teia de aranha rede cristalogrfica

Lei de Bragg

m * = 2d * sen
d m comprimento de onda distncia entre os planos do cristal ngulo da onda refratada nmero integral, a ordem da onda refratada (1, 2, 3 ...)

William Lawrence Bragg 1890-1971

William Henry Bragg 1862-1942

refrao das ondas pelos tons interferncia das ondas

m * = 2d * sen

Interferncia construtiva: diferncia das ondas em fase 2d * sen

em fase significa: diferen de 1 , 2 , 3 ...

mudar o ngulo at tiver interferna = pico

Difratmetro de raios-X

Linhas K de Rh (rdio)

Fonte: Rh , Cu, ou Co tubos que produzem radiao determinada ()

m * = 2d * sen

d: dependendo exclusivamente do tamanho e geometria da cela unitria cada pico representa um plano e pode ser caraterizado por ndices de Miller em caso de alta simetria (cbico, hexagonal), fcil de identificar os planos correspondendo aos picos
intensidade cps

Quartzo SiO2

1. Anlise de amostras pulverizadas: anlise qualitativa e quantitativa da abundnica de minerais

determinao da cristalinidade (grau de cristalinidade) de um mineral / material determinao de fases polimrficos com a mesma composio qumica (SiO2: -quartzo, -quartzo, tridimita, stishovita, ...) case de aumento de T, incio de fundimento (perda da estrutura cristalina e perda dos picos

identifiao e quantificao da mineralogia de uma amostra pulverizada

Quartzo (SiO2)

Cristobalita (SiO2)

Stishovita (SiO2)

Anlise Rietveld: identificao de minerais e determinao da estrutura (menores quadrados)

Miller ndices

2. Determinao da estrutura cristalina (localizao de cada um tomo) de um mineral desconhecido ou sinttico: estrutura atmica de um cristal singular
d = distncia entre os planos do cristal