Tema 3.

Microscopa Electrnica

Tema 3. Microscopa Electrnica

Hoy en da la Microscopa Electrnica es una poderosa herramienta que permite la caracterizacin de materiales utilizando para ello un haz de electrones de alta energa que interacta con la muestra.

Puede mostrar desde la forma de un cristal hasta el ordenamiento de los tomos en una muestra

Tcnica de uso habitual por los investigadores que trabajan en las Ciencias Fsicas, Qumicas o Biolgicas es importante observar, analizar y explicar fenmenos que ocurren a nanoescala

La incorporacin de dispositivos para anlisis elemental en los microscopios electrnicos stos se convierten en instrumentos analticos de gran resolucin composicional espacial

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FUNDAMENTO La Microscopa electrnica de transmisin se basa en un haz de electrones que manejado a travs de lentes electromagnticas se proyecta sobre una muestra muy delgada situada en una columna de alto vaco.

Los

electrones

del

haz

atraviesen la muestra

Los electrones choquen con un tomo de la muestra y terminen su viaje

INFORMACIN Se obtiene informacin estructural especfica de la muestra segn las prdidas especficas de los diferentes electrones del haz. El conjunto de electrones que atraviesan la muestra son proyectados sobre una pantalla fluorescente formando una imagen visible o sobre una placa fotogrfica registrando una imagen latente. Se puede evaluar detalladamente las estructuras fsicas y biolgicas proporcionando unos 120.0000 aumentos sobre la muestra.

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APLICACIONES Observar y fotografiar zonas de la muestra, desde 10 aumentos a 200.000, con una resolucin espacial de 5 nm. Medida de longitudes nanomtricas. Distincin, mediante diferentes tonos de grises, de zonas con distinto nmero atmico medio. Anlisis cualitativo y cuantitativo de volmenes de muestra en un rango de una a varios millones de micras cbicas. Mapas de distribucin de elementos qumicos, en los que se puede observar simultneamente la distribucin de hasta ocho elementos, asignando un color diferente a cada uno. Perfiles de concentracin, es decir, la curva de variacin de la concentracin de un elemento qumico entre dos puntos de la muestra. Observas la ultraestructura de clulas, bacterias, etc. Localizacin y diagnstico de virus. Control del deterioramiento de los materiales. Control de tratamientos experimentales. Grado de cristalinidad y morfologa. Defectos en semiconductores, etc.

AREAS DE TRABAJO Medicina, Biologa, Qumica, Fsica, e Ingenieras

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Microscopa Electrnica de Transmisin (TEM)

EL MICROSCOPIO ELECTRNICO EN ESENCIA Fundamentos: Las radiaciones electromagnticas poseen una longitud de onda de propagacin muy corta. Los electrones se desvan de su trayectoria recta de propagacin cuando atraviesan un campo magntico circular. Al producirse un alto vaco los electrones se desprenden de la fuente luminosa formada por wolframio incandescente.

Fuente y flujo de electrones La fuente es un ctodo constituido por un filamento de wolframio incandescente. Los electrones son trmicamente arrancados a baja velocidad. Los electrones son acelerados mediante la creacin de un alto potencial (cilindro de Wehnelt), el cual permite una trayectoria rectilnea de los electrones de muy baja longitud de onda. Los electrones se desvan de su trayectoria al atravesar un acampo electromagntico (lente electromagntica). La desviacin se acenta al colocar varias lentes Un haz muy desviado, muy abierto, se recoge en una pantalla fluoroscpica para poder ser visible al ojo humano.

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FORMACIN DE LA IMAGEN

Cuando el flujo de electrones incide sobre una muestra estos pueden interaccionar con los tomos. Algunos electrones son absorbidos en funcin del grosor y composicin de la muestra. Contrastre de amplitud de la Imagen Otros electrones se dispersan a bajos ngulos Contrastre de fase de la Imagen En muestras cristalinas, los electrones se dispersan en direcciones muy diferentes (en funcin de la estructura del cristal) Contrastre de difraccin de la Imagen

El contraste de amplitud y de fase contribuyen a la formacin de la imagen de muestras no cristalinas, mientras que el contraste de difraccin es el factor ms importante para formar la imagen de muestras cristalinas.

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PODER RESOLUTIVO Poder resolutivo de un miscroscopio: capacidad de poder distinguir dos puntos muy prximos entre s, o mximo nmero de lneas que aparecen a la observacin separadas entre s en la unidad de superficie. Resolucin del ojo humano = 0.1 mm. Imposibilidad distinguir puntos separados por una distancia menor Los microscopios aumentan una imagen hasta la resolucin visual humana. Dimetro de la imagen aumentada, d:

K d= nsen
d = 0.2 micras

Ec.

Abbe

K, cte del medio de la lente; n, ndice de refraccin del espacio lente-objeto; , hemingulo de incidencia Microscopio luz ordinaria: Au = x 550 Au = x 1000 Microscopio luz ultravioleta: d = 0.1 micras Microscopio electrnico:

d = 510 amstrong Au = x 166000

Al aumentar una imagen no se aumenta el poder resolutivo, la imagen se ve ms borrosa. El aumento mximo til es aquel en el que los objetos se separen por la distancia lmite de resolucin del ojo humano (0.1 mm)

0.1mm Au = d

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FUENTE DE ELECTRONES En el filamento los electrones se desprenden por el mecanismo de emisin termoinica. Los electrones de desprenden de un metal por calentamiento elctrico, al oponer una resistencia al paso de corriente. El metal ha de poseer baja afinidad electrnica y baja vaporizacin (larga vida del filamento). Mnima oxidacin del filamento: - Realizar el vaco - Suministrarle la menor temperatura Duracin mxima depende de: - Punto fusin del metal - Temperatura de trabajo - Voltaje de aceleracin de los electrones El filamento ms comn es de W (baja afinidad electrnica y alto punto de fusin). Otro filamentos: Ni-Sr, W-Th Para la aceleracin de los electrones desprendidos se promueve una diferencial de potencial entre el ctodo y el nodo.

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EL ELECTRN Y SUS PROPIEDADES Cuando un electrn es acelerado y alcanza ciertas velocidades experimenta un aumento de masa.

La fuerza del electrn:

F = M A

E = M V

En el caso del desplazamiento de los electrones en el microscopio electrnico, el campo magntico y elctrico tienen igual direccin. El desplazamiento de un electrn al atravesar un campo magntico uniforme es helicoidal. Los electrones acelerados son desviados por campos elctricos o magnticos. El ngulo de desviacin es proporcional a la magnitud de la tensin o corriente elctrica. Desviacin electrosttica

El valor del ngulo de desviacin O viene dado por: la tensin aceleradora, tensin desviadora aplicada a las placas deflectoras, la longitud de estas y la separacin entre las mismas

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Desviacin magntica

El haz de electrones se desva por accin magntica al atravesar el campo magntico perpendicularmente. La desviacin angular es proporcional a la induccin magntica Las lentes electromagnticas proporcionan mayores ngulos de desviacin que las lentes elctricas La desviacin en las lentes electromagnticas est en funcin de: - Relacin carga/masa del electrn (direc. proporcional) - Raiz cuadrada de la tensin aceleradora (inv. proporcional)

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ABERRACIONES

La discordancia que existe entre la imagen que se forma y la que se debiera formar; segn la teora de la produccin de imgenes en ptica fotnica y electrnica, se expresa en las aberraciones Aberraciones cromticas: producidas por la variacin de los ndices de refraccin segn las distintas longitudes de onda. Aberraciones geomtricas: producidas aunque el haz sea monocromtico. Las aberraciones se deben tanto a los defectos de construccin del las lentes o forma del campo magntico, as que tambin son consecuencia de la aplicacin de las leyes de refraccin de los haces electrnicos al atravesar dichas lentes. Tipos de aberraciones: - Cromtica - De esfericidad - En coma - Astigmatismo - Fenmeno de distorsin - Fenmeno de difraccin Las diferentes aberraciones pueden ser corregidas en gran manera manipulando el microscopio.

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Microscopia Electrnica de Barrido (SEM)

LA FORMACIN DE LA IMAGEN En la microscopia SEM es formada mediante la focalizacin de una fina fuente de electrones sobre la superficie de la muestra. La fuente de electrones barre la muestra en una serie de lneas y redes, construyndose una imagen de la superficie en un monitor. Los electrones bombardean una pequea rea: - Reflexin elstica sin prdida de energa - Absorbidos por la muestra y producir electrones secundarios de baja energa (+ rayos X) - Absorbidos por la muestra y producir luz visible La imagen se forma a partir de los electrones secundarios. Los electrones secundarios son atrados hacia el portamuestras (reflectante) mediante un potencial positivo (50 volt). Al atravesar la muestra e incidir sobre el portamuestras se genera una luz que mediante un fotomultiplicador se convierte en una seal de voltaje, la cual se convierte en imagen. La magnificacin de la imagen se produce al barrer un rea muy pequea. Las imgenes SEM se pueden obtener sobre cualquier especie en masa (no han de ser muy finas como en TEM).

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COMPONENTES DEL MICROSCOPIO SEM Una fuente de electrones que proporciona la iluminacin. Consta normalmente de un filamento de W el cual es calentado, y los electrones son acelerados mediante un campo de 30 kV. Sistema ptico de iluminacin que consta de dos lentes magnticas. Su funcin es focalizar lo mximo posible la fuente de electrones. Un juego de tornillos que permite que la radiacin se movida sobre la superficie de la muestra. Un portamuestras y lentes objetivo. La resolucin obtenida por el microscopio depende de las propiedades de estas lentes y su distancia a la muestra. Un sistema de deteccin PREPARACIN DE LA MUESTRA La muestra ha de ser necesariamente conductora Las muestras aislantes son recubiertas con una pelcula delgada de un material conductor (C, Au, Cr) Existe posibilidad de perder informacin al recubrir la superficie de la muestra SEM de alto vaco (todo tipo de muestras)

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Energy Dispersion Absorption X-ray Spectroscopy (EDAXS)

La interaccin de la radiacin con la muestra tambin produce una radiacin de tipo X que puede ser recogida por el detector (cristal de silicio). La absorcin individual de cada rayo X genera un fotoelectrn que lleva a la formacin de un par hueco-electrn y este forma un pulso de carga. Un amplificador convierte los pulsos de carga en pulsos de voltaje, y este se amplifica y se convierte en un histograma en el que se representa la intensidad vs. energa Ventajas: - El detector tiene la capacidad de recoger al mismo tiempo todas las energa de rayos X. - Se puede determinar con precisin la naturaleza y cantidad de los elementos presentes La desventaja es que la intensidad de estas radiaciones es pequea y la resolucin energtica es baja Dificulta la identificacin de ciertos elementos y existe confusin con artefactos La tcnica es muy aplicada en el rea de Ciencia de los Materiales, pero apenas se usa en Biologa.

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