- DocumentoУстройство и способ получения наночастицenviado porRostislav V. Lapshin
- DocumentoDevice and Method to Produce Nanoparticlesenviado porRostislav V. Lapshin
- DocumentoРаспределённая калибровка сканера зондового микроскопа в нанометровом диапазонеenviado porRostislav V. Lapshin
- DocumentoAFM investigation of highly ordered nanorelief formation by anodic treatment of aluminum surfaceenviado porRostislav V. Lapshin
- DocumentoMethod of Correction of Surface Images Obtained Using Scanning Probe Microscope and Distorted With Driftenviado porRostislav V. Lapshin
- DocumentoСпособ коррекции искаженных дрейфом изображений поверхности, полученных на сканирующем зондовом микроскопеenviado porRostislav V. Lapshin
- DocumentoProcedure of Movement of Sonde of Scanning Microscope-nanolithograph in Field of Coarse X-Y Positionerenviado porRostislav V. Lapshin
- DocumentoMethod of Automatic Distributed Calibration of Probe Microscope Scannerenviado porRostislav V. Lapshin
- DocumentoСпособ автоматической распределенной калибровки сканера зондового микроскопаenviado porRostislav V. Lapshin
- DocumentoCurriculum Vitaeenviado porRostislav V. Lapshin
- DocumentoОбъектно-ориентированное сканирование для зондовой микроскопии и нанотехнологииenviado porRostislav V. Lapshin