Estat CEP

7- Controle Estatstico
de Processos
Pedro Paulo Balestrassi www.iem.efei.br/pedro 35-3629-1161
1
CEP- Controle
Estatstico de
Processos
de Processos
2
Dados do tipo variveis
ou atributo?
Defeitos ou %
de defeituosos
Tamanho do
lote constante?
u p
No Sim
Defeitos ou
Defeituosos
c np
Alto ou Baixo
Volume
Baixo
Alto
Valores individuais
e amplitude mvel
X-Bar&R
ou X-Bar&S
Varivel Atributo
Tipo de Grfico
de Processos
3
Dois tipos de grficos de controle
Utiliza valores medidos
Tempo de um ciclo, comprimento, Dimetro,
temperatura, etc.
Geralmente uma caracterstica por grfico
Passa/No-Passa, Bom/Ruim
Podem existir muitas caractersticas por grfico
Grficos para variveis
Grficos para atributos
Valores contnuos
Distribuio Normal
Valores discretos
Distribuio Poisson ou Binomial
O Grfico para Variveis
contm mais informao
que o grfico de Atributos
de Processos
4
O propsito do controle estatstico de processos indicar:
quando um processo est funcionando de forma ideal
(apenas causas comuns de variao esto presentes)
Nenhuma ao corretiva necessria.
Aes desnecessrias podem na verdade aumentar
a variabilidade.
Quando um processo est desordenado e necessita
algum tipo de ao corretiva (causas especiais de
variao esto presentes)
Propsito do CEP
de Processos
5
Exemplos de causas especiais da
variao
Lote isolado de matria-prima com
problema
Desregulagem ocasional do
equipamento
Quebra de equipamento de medio
Falhas humanas ou de
comportamento
Exemplos de causas comuns de
variao
Compra sistemtica de materiais com
baixa qualidade
Inexistncia de treinamento
Falta de padronizao das operaes
Causas de Variao
4
6
8
10
12
14
16
18
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30 32 34 36 38 40 42 44 46 48 50
<- CAUSA ESPECIAL
ELIMINAO DE ->
CAUSAS COMUNS
<- NVEL HISTRICO
NOVO NVEL ->
de Processos
6
X Bar: uma representao grfica da mdia de amostras
ao longo do tempo (Between)
R: representao da amplitude de uma amostra ao longo
do tempo. (Within)
S: representao do desvio padro de uma amostra ao
longo do tempo. (Within)
Valores individuais: uma representao dos valores
individuais ao longo do tempo.
Amplitude mvel: uma representao da amplitude mvel
(para duas observaes |X
i
- X
i-1
|) ao longo do tempo.
Grficos de Controle
para Variveis
de Processos
7
Exemplo: Os dados da
planilha ao lado foram obtidos
em um sistema de controle de
qualidade de bombas para o
exrcito americano. As
medidas, em polegadas,
referem-se s alturas de uma
parte da base das bombas.
Grficos de Controle para Variveis
Cep.mtw
de Processos
8
Xbar&R
01435 , 0 83115 , 0 = = R X
de Processos
9
Variao Within e Between
Test Results
for Xbar
Chart
TEST 4. 14
points in a
row
alternating
up and down.
Test Failed
at points: 20
de Processos
10
25 20 15 10 5 0

LM
LSC
LIC
3
2
1
25 20 15 10 5 0

LM
LSC
LIC
3
2
1
Runs tests
de Processos
11
Regras do Minitab
1. Um ponto alm da zona A.
2. Nove pontos em seqncia na zona C ou alm. (Todos do mesmo lado da
linha mdia)
3. Seqncia crescente ou decrescente de seis ou mais pontos.
4. Quatorze pontos em seqncia alternados para cima e para baixo.
5. Dois de trs pontos em seqncia na zona A ou alm.
6. Quatro de cinco pontos em seqncia na zona B ou alm.
7. Quinze pontos em seqncia na zone C, acima ou abaixo da linha mdia.
8. Oito pontos em seqncia alm da zona C, acima ou abaixo da linha mdia.
-3
-2
+2
+3
-1
+1
C
C
B
B
A
A
de Processos
12
Exibindo variao aleatria em torno da linha
mdia
Processo sob controle
Limite superior de controle (LSC)
Linha mdia (LM)
Limite inferior de controle (LIC)
de Processos
13
Processo Fora de controle
Uma seqncia de nove ou mais pontos do mesmo
lado da linha mdia
Limite superior de controle (LSC)
Limite inferior de controle (LIC)
Linha mdia (LM)
LSC
LM
LIC
de Processos
14
Um ou mais pontos alm dos limites de controle
LSC
LM
LIC
LSC
LM
LIC
de Processos
15
LSC
LM
LIC
LSC
LM
LIC
Seis ou mais pontos em seqncia crescente ou
decrescente
de Processos
16
Xbar&R - Exemplo
O arquivo Xbar_r.mtw(coluna= Torno) contm dados medidos do
dimetro de um eixo. Os dados esto em subgrupos de tamanho 3.
A especificao .060 +/- .003 polegadas
1. Verifique a estabilidade com um grfico sequencial (run chart). Verifique
tambm a normalidade.
2. Com o Minitab, crie um grfico Xbar&R. Quais suas concluses?
3. As especificaes dadas tm alguma relao com os limites de controle do
grfico? Se sim, como essa relao?
4. Utilize os dados e as especificicaes para estimar a capabilidade desse
processo de usinagem.
5. Como o controle do processo est relacionado com a capabilidade do
processo?
de Processos
17
Xbar&R - Torno
de Processos
18
O processo est sob controle mas sua capabilidade no muito
boa de quem a responsabilidade por essa situao? Do
operador ou da gerncia? Por qu?
Xbar&R - Capabilidade
Capabilidade
um tema central
em 6 Sigma
de Processos
19
Xbar&R - Capabilidade
de Processos
20
No confunda limites de controle com limites de
especificao.
Os limites de especificao so externos ao processo.
Eles podem representar requisitos de engenharia para
satisfazer um CTQ.
Limites de controle so internos ao processo, eles refletem
a faixa esperada de variao do processo.
Controle x Especificao
de Processos
21
Por exemplo, no grfico Xbar:
Limites de controle so para mdias dos subgrupos. A
maioria das especificaes so para valores individuais.
USL
UCL
LCL
LSL
Limite superior de controle
Limite superior de especificao
Subgrupo
Mdia de um subgrupo
Controle x Especificao
de Processos
22
O Arquivo Xbar_r.mtw(coluna= pH) contm dados de pH,
tirados no tempo, de um banho para um revestimento protetivo.
Cinco leituras so feitas a cada hora. O valor mnimo permitido
para o valor do pH 4.15.
Crie um grfico Xbar & S.
Quais suas concluses?
Qual a capabilidade do processo?
Xbar&S - Exerccio
de Processos
23
I/MR
Exemplo:
O tempo de espera na fila de
um supermercado um CTQ
muito importante para os
clientes deste servio. A cada
4 horas, um cliente ao acaso
selecionado e o seu tempo de
espera cronometrado (em
minutos).
Que concluses podem ser
tiradas deste estudo?
Cep.mtw
de Processos
24
I/MR
de Processos
25
Exemplo: I/MR
Os dados no arquivo IMR.mtw (coluna comprimento)
so referentes ao comprimento de um eixo torneado
para 25 peas consecutivas.
Crie o grfico I/MR.
Analise seus resultados. Eles indicam uma condio
fora do controle? Liste as indicaes, se houverem.
O que est acontecendo com esse processo?
de Processos
26
0 Subgroup 5 10 15 20 25
24,95
25,05
25,15
25,25
I
n
d
i
v
i
d
u
a
l

V
a
l
u
e
1
5 5 5
2
2 2
Mean=25,09
UCL=25,22
LCL=24,96
0,00
0,05
0,10
0,15
M
o
v
i
n
g

R
a
n
g
e
2
2
R=0,04792
UCL=0,1566
LCL=0
I and MR Chart for Comprimento
I/MR
de Processos
27
Os dados para 24 medidas consecutivas do batimento de
um dimetro usinado esto no arquivo IMR.mtw
(coluna=batimento). Os valores esto em micrmetros.
Usando o minitab, crie um grfico I & MR.
Quais so suas concluses?
Que ao, se existe alguma, que deve ser tomada?
Exerccio: I/MR
de Processos
28
0 Subgroup 5 10 15 20 25
0
10
20
I
n
d
i
v
i
d
u
a
l

V
a
l
u
e
Mean=11,58
UCL=21,30
LCL=1,870
0
5
10
M
o
v
i
n
g

R
a
n
g
e
R=3,652
UCL=11,93
LCL=0
I and MR Chart for Batimento
Exerccio: I/MR
de Processos
29
teis quando a caracterstica medida no uma varivel.
Baseados em contagem ou classificao (Passa/No-Passa,
Bom/Ruim).
Baseados nas distribuies de Poisson ou Binomial
Os limites de controle so calculados de forma diferente dos
grficos para variveis mas seu significado e interpretao so
similares.
Um grfico (c, u) pode cobrir qualquer nmero de caractersticas,
mas nesse caso pode ser mais difcil analisar os sinais.
Um grfico ao invs de dois (No existe variao Within).
So necessrias definies operacionais inequvocas para os defeitos. Essas
definies operacionais devem ser aplicadas por todos os inspetores.
Grfico para
Atributos
de Processos
30
Uma unidade que contm um ou mais defeitos
SI M N O SI M SI M N O
Grfico P e NP
Classificao: Um item defeituoso
de Processos
31
3 0 1 0 2
Uma nica caracterstica que no atende os requisitos
Grfico C e U
Contagem: Um item com defeitos
de Processos
32
Exemplo: Em uma fbrica de
meias, 200 pares so analisados
diariamente. Nos 25 dias teis de
um ms obtiveram-se os nmeros
de pares defeituosos como na
planilha ao lado. Analise tal
processo usando o grfico de
proporo de defeituosos.
Cep.mtw
P e NP
de Processos
33
( ) ( ) p d n
i i
=

( )
p
p p
n
i

3
1
Grfico P e NP
p = =
250
5000
0 05
.
,
( )( )
0 05 3
0 05 0 95
200
,
, ,
LIC = 0,004 LSC = 0,096

x(200)
de Processos
34
No arquivo P_chart.mtw, a coluna falhas contm dados
dirios para o nmero de peas contendo falhas no
revestimento, encontradas na inspeo do processo de
revestimento. A coluna subgrupo contm o nmero de peas
inspecionadas.
Crie um grfico P.
Quais suas observaes?
Exemplo Grfico P
Grfico parafrao/percentual de defeituosos
de Processos
35
Grfico P - Falha
de Processos
36
Faturas so checadas em busca de erro de preenchimento
como entrada errada dos preos dos servios, erros no
preenchimento da identificao do cliente, etc. O nmero de
faturas preenchidas erroneamente por ms registrado. O
arquivo P_chart.mtw contm dados referentes aos ltimos
13 meses.
Crie um grfico P.
Exerccio Grfico P
de Processos
37
Exerccio Grfico P
de Processos
38
Grfico NP
No arquivo Np_chart.mtw, a coluna chaves contm
dados da inspeo de 25 lotes consecutivos de chaves
eltricas.
O tamanho de cada lote de 100 chaves.
Crie um grfico NP dos dados.
de Processos
39
Uma clnica atende 60 pacientes por dia. Eles pedem
aos pacientes que classifiquem, em uma escala de 1 a
5, a qualidade do atendimento recebido. Cinco timo e
um pssimo.
O nmero de pacientes que classifica o atendimento
como sendo 3 ou inferior considerado de insatisfeitos
e registrado todos os dias. Os dados esto no arquivo
Np_chart.mtw, coluna insatisfeitos.
Faa um grfico np dos dados.
Avalie a capabilidade do processo.
Exerccio Grfico NP
de Processos
40
Grfico C e U
Exemplo: O trabalho de uma
datilgrafa, em fase de
treinamento, verificado
atravs da contagem dos
erros em unidades de 10
pginas datilografadas. Para
os seguintes dados, construir
o grfico de controle
correspondente.
de Processos
41
c = =
1393
25
55 72
.
,
c = 7 46 ,
LSC :
LIC :
c c
c c
+ =
=
3 78 10
3 33 34
,
,
c
c c c
k
k
=
+ + +
1 2
K
c c 3
Grfico C e U
de Processos
42
Exemplo Grfico C
Dados de fabricao de uma pea indicam perdas devido a defeitos de
soldagem. Os registros dos defeitos encontrados para cada pea
ensaiada so mantidos pelos responsveis pelo controle do processo.
Os dados observados no tempo para subgrupos de 2 peas esto na
coluna Solda_I da planilha C chart.mtw.
1. Crie um grfico C.
2. As no conformidades que so observadas so devido a causas
comuns ou causas especiais de variao.
3. Que tipo de ao pode ser tomada para tentar reduzir as no
conformidades desse processo?
de Processos
43
Exemplo Grfico C
de Processos
44
Exemplo Grfico C - Parte II
Uma ao que foi implementada para tentar diminuir o nmero de
defeitos em solda foi melhorar o treinamento dos operadores. Dados de
defeitos em peas fabricadas aps essa ao (tambm em subgrupos
de duas peas) esto na coluna Solda_II da planilha C_chart.mtw. Essa
ao foi efetiva na reduo das no-conformidades?
1. Crie um grfico C.
2. O novo processo est sob controle estatstico?
3. O treinamento melhorou o processo?
4. Como isso pode ser avaliado estatisticamente?
de Processos
45
Caiu significativamente?
...estatisticamente (2 sample t) e em termos de meta de projeto?
Exemplo Grfico C - Parte II
de Processos
46
Exerccio Grfico C
O arquivo C_chart.mtw (coluna=contratos), contm
dados referentes a contratos com plantas de gerao de
energia eltrica.
Crie um grfico C dos dados.
de Processos
47
Exerccio Grfico C
de Processos
48
Grfico U
No arquivo U_chart.mtw, a coluna erros contm dados ordenados
no tempo referentes a erros no preenchimento dos pedidos para os
clientes. Um defeito definido como informaes inexatas
encontradas na requisio. Diariamente, o nmero de defeitos e o
nmero de requisies preenchidas so registrados.
Construa um grfico U dos dados.
de Processos
49
Grfico U
O Grfico U o mesmo que o grfico C, exceto
pelo tamanho da unidade que varivel.
de Processos
50
Exerccio Grfico U
Duas partes de um readiador de autmvel so montadas
juntas. O nmero de vazamentos detectados no tempo
assim como o nmero de radiadores montados esto no
arquivo U_chart.mtw.
Construa um grfico U para esse processo.
Quais so suas concluses?
de Processos
51
Tamanhos dos subgrupos
Selecione um tamanho de subgrupo que fornea uma
mdia de defeitos/defeituosos:
Para que os limites de controle sejam simtricos em torno da mdia. (evitar LIC = 0)
C, U, NP > 5.0
:
Para os grficos P, selecionar os subgrupos de forma que
pelo menos 95% dos subgrupos contenham pelo menos um
defeituoso. Use a relao aproximada
N ~ 5 / P
de Processos
52
Durante as primeiras investigaes coloque os grficos
nas variveis de Sada (Y) que no esto sob
controle.
Aps as investigaes, coloque as grficos nas variveis
crticas de Entrada (X).
Se um grfico implantado no estiver proporcionando
informao de valor e gerando aes, remova-o.
Objetivo: Monitorar e controlar Entradas (X) e, com
tempo, eliminar os grficos de controle na Sada (Y).
Estratgia 6 Sigma
para uso de Grficos
de Controle
Y=f(X)
de Processos
53
Principais finalidades dos
grficos de controle
Reduzir refugo e retrabalho e melhorar produtividade.
Prevenir defeitos. Processo sob controle significa menor chance de produzir
unidades no-conformes.
Prevenir de ajustes desnecessrios no processo atravs da distino entre
causas comuns e causas especiais de variao.
Fornecer informao para diagnstico de forma que um operador experiente
possa determinar o estado de seu processo analisando padres de
variabilidade. O operador pode ento fazer as alteraes necessrias para
melhorar a performance do processo.
Fornecer informaes importantes sobre os parmetros do processo ao
longo do tempo.
Significando:
n Custos mais baixos de fabricao
n Padres de trabalho corretos
n Processos previsveis quanto ao desempenho
n Especificaes realistas
n Menos inspees
n Melhor relacionamento com clientes
n Menor tempo de ciclo
n Melhor qualidade de produto
de Processos
54
Livro Texto: Montgomery/Runger
Captulo 15:
Exemplo 15.1
Seo 15.5
Seo 15.6
Seo 15.8
Finalizando...
Fazer
Exerccios
usando o
Minitab

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7- Controle Estatstico

LIC = 0,004 LSC = 0,096

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